1.一种激光测距仪调节结构，其特征在于，包括基座、安装板、激光测距仪及若干第一调节件，所述安装板活动安装于所述基座，所述激光测距仪设于所述安装板，所述安装板上开设有若干第一长条孔，若干第一紧固件穿设所述第一长条孔，用于将所述安装板固定于所述基座，所述第一调节件螺纹连接于所述基座并与所述安装板的端面相抵。
2.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述基座包括本体和设于所述本体的活动板，所述安装板设于所述活动板，所述激光测距仪调节结构还包括若干第二调节件，所述本体开设有若干第二长条孔，若干第二紧固件穿设所述第二长条孔，用于将所述活动板固定于所述本体，所述第二调节件螺纹连接于所述本体并与所述活动板的端部相抵。
3.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述本体开设有滑槽，所述活动板滑设于所述滑槽。
4.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述第二长条孔为直线形。
5.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述活动板形成有弯折部，所述第一调节件螺纹连接于所述弯折部并抵持于所述安装板。
6.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述第一长条孔为圆弧形。
7.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述激光测距仪包括检测头和激光器，所述检测头包括投光部和受光部，所述投光部发射出的激光经工件反射后被所述受光部接收。
8.一种摄像组件，其特征在于，包括相机和权利要求1-7任一项所述的激光测距仪调节结构，所述相机设于所述基座上。
9.一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于，包括权利要求8所述的摄像组件。
10.根据权利要求9所述的检测设备，其特征在于，还包括X轴运动模组和Z轴运动模组，所述Z轴运动模组滑动设于所述X轴运动模组，所述摄像组件设于所述Z轴运动模组。