技术特征：
技术总结
本发明揭示了一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法，乱序包括调度乱序和流水线乱序，所述验证方法包括：S1，基于测试向量分组法的调度乱序验证过程；S2，基于测试向量特征值的流水线乱序验证过程；S3，基于测试向量特征值的丢弃验证过程。本发明有效地解决了芯片测试中测试向量乱序和丢弃所引起的记分板比对失效的问题，同时，解决了传统方法中带来的参考模型复杂度高，与DUT过于耦合等问题。
技术研发人员：唐飞;薛炜澎;常志恒
受保护的技术使用者：盛科网络（苏州）有限公司
技术研发日：2019.05.06
技术公布日：2019.08.06