一种键盘平整度检测装置的制作方法

【技术领域】

本发明涉及一种检测装置，具体是涉及一种键盘平整度检测装置。

背景技术：

在实际组装笔记本电脑键盘过程中，由于组装不当，造成笔记本电脑键盘的键帽不平整，现阶段的检测方式是利用钢尺配合塞尺进行检测，然而，由于该检测方式用到的钢尺及塞尺本身重量会压到键帽，造成误差的增加，又由于塞尺的检测区域有限，需要进行多次检测，从而产生了作业复杂及检测结果不准确的问题。

有鉴于此，实有必要提供一种键盘平整度检测装置，以解决现阶段的检测方式产生的作业复杂、误差增加及检测结果不准确的问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种键盘平整度检测装置，以解决现阶段的检测方式产生的作业复杂、误差增加及检测结果不准确的问题，该键盘平整度检测装置其包括：

框架机构，所述框架机构设置于水平面上，所述框架机构包括一水平板、及两垂直板，所述水平板设置于水平面上，所述垂直板垂直设置于所述水平板的两侧；

滑轨机构，所述滑轨机构设置于所述框架机构上，所述滑轨机构包括第一滑轨结构及第二滑轨结构，所述第一滑轨结构设置于所述垂直板上，所述第二滑轨结构设置于所述水平板的上方，所述第二滑轨结构垂直连接所述第一滑轨结构；

检测机构，所述检测机构设置于所述第二滑轨结构上，所述检测机构包括螺杆结构、凹块、活动块、连接柱、弹簧结构及探头结构，所述螺杆结构设置于所述凹块上，所述螺杆结构的内部设有一推动柱，所述凹块固定于所述第二滑轨结构上，所述活动块设置于所述凹块的中间部位且所述活动块与所述凹块互不干涉，所述连接柱的一端固定于所述活动块上，所述弹簧结构设置于所述连接柱上，所述探头结构的顶端固定于所述活动块的下表面。

可选的，所述第一滑轨结构为纵向滑轨结构，所述第二滑轨结构为横向滑轨结构。

可选的，所述框架结构为u形框架结构。

可选的，所述螺杆结构为旋转式螺杆结构，所述螺杆结构的上端设有一刻度结构。

可选的，所述凹块上设有第一通孔、第二通孔及第三通孔，所述第一通孔及所述螺杆结构的位置对应，所述螺杆结构内部的推动柱于所述第一通孔内进行上下移动，所述第二通孔及所述连接柱的位置对应，所述连接柱于所述第二通孔内进行上下移动，所述第三通孔及所述探头结构的位置对应，所述探头结构于所述第三通孔内进行上下移动。

可选的，所述探头结构的下端为弧形探头结构，所述弧形探头结构的外表面光滑。

可选的，所述第二滑轨结构上设有一连接件，所述连接件连接所述凹块及所述第二滑轨结构。

可选的，所述水平板及所述垂直板的下表面设有一层保护膜，所述保护膜的材料为软胶材料。

相较于现有技术，本发明的键盘平整度检测装置通过横向滑轨结构及纵向滑轨结构带动探头结构移动，从而覆盖整个键盘区域，再通过旋转螺杆结构来调整探头结构的高度，最后通过螺杆结构上端的刻度结构显示的刻度值差异来确认笔记本电脑键盘的键帽不平整，利用本发明的键盘平整度检测装置，不仅通过调整探头结构的高度以适应不同规格笔记本电脑键盘的键帽且作业简便，还实现了无重力压迫键帽，从而减少误差。

【附图说明】

图1是本发明的键盘平整度检测装置的结构示意图。

图2是本发明的键盘平整度检测装置的检测机构的结构示意图。

图3是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第一工作状态的示意图。

图4是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第二工作状态的示意图。

图5是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第三工作状态的示意图。

【具体实施方式】

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的一较佳实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1及图2，图1是本发明的键盘平整度检测装置的结构示意图，图2是本发明的键盘平整度检测装置的检测机构的结构示意图，所述键盘平整度检测装置100包括:

框架机构110，所述框架机构110设置于水平面上，所述框架机构110包括一水平板111、及两垂直板112，所述水平板111设置于水平面上，所述垂直板112垂直设置于所述水平板111的两侧，所述垂直板112用于固定所述滑轨机构120；

滑轨机构120，所述滑轨机构120设置于所述框架机构110上，所述滑轨机构120包括第一滑轨结构121及第二滑轨结构122，所述第一滑轨结构121设置于所述垂直板112上，所述第二滑轨结构122设置于所述水平板111的上方，所述第二滑轨结构122垂直连接所述第一滑轨结构121；

检测机构130，所述检测机构130设置于所述第二滑轨结构122上，所述检测机构130包括螺杆结构131、凹块132、活动块133、连接柱134、弹簧结构135及探头结构136，所述螺杆结构131设置于所述凹块132上，所述螺杆结构131的内部设有一推动柱137，所述凹块132固定于所述第二滑轨结构122上，所述活动块133设置于所述凹块132的中间部位且所述活动块133与所述凹块132互不干涉，所述连接柱134的一端固定于所述活动块133上，所述弹簧结构135设置于所述连接柱134上，所述探头结构136的顶端固定于所述活动块133的下表面，所述螺杆结构131用于带动所述探头结构136向下移动，所述推动柱137用于推动所述活动块133向下移动，所述活动块133用于连接所述探头结构136，所述探头结构136用于检测键帽(如图3所示)是否平整。

其中，所述第一滑轨结构121为纵向滑轨结构，所述第二滑轨结构122为横向滑轨结构，所述纵向滑轨结构用于带动所述检测机构130进行前后移动，所述横向滑轨结构用于带动所述检测机构130进行左右移动。

其中，所述框架结构110为u形框架结构。

其中，所述螺杆结构131为旋转式螺杆结构，所述螺杆结构131上设有一刻度结构(图未视)，所述旋转式螺杆结构用于旋转带动所述推动柱137向下移动，所述刻度结构(图未视)用于测量所述探头结构136向下移动的距离。

其中，所述凹块132上设有第一通孔、第二通孔及第三通孔，所述第一通孔及所述螺杆结构131的位置对应，所述螺杆结构131内部的推动柱137于所述第一通孔内进行上下移动，所述第二通孔及所述连接柱134的位置对应，所述连接柱134于所述第二通孔内进行上下移动，所述第三通孔及所述探头结构136的位置对应，所述探头结构136于所述第三通孔内进行上下移动。

其中，所述探头结构136的下端为弧形探头结构，所述弧形探头结构的外表面光滑，由于所述探头结构136的下端为弧形探头结构，所述弧形探头结构的外表面光滑，使得所述探头结构136接触键帽(如图3所示)的面积减少，从而保证其品质。

其中，所述第二滑轨结构122上设有一连接件138，所述连接件138连接所述凹块132及所述第二滑轨结构122。

其中，所述水平板111及所述垂直板112的下表面设有一层保护膜，所述保护膜的材料为软胶材料，由于所述水平板111及所述垂直板112的下表面设有一层保护膜，所述保护膜的材料为软胶材料，使得所述键盘平整度检测装置100放置于笔记本电脑键盘10(如图3所示)上时，不易划伤笔记本电脑键盘10(如图3所示)，保证其品质。

请参阅图3，图3是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第一工作状态的示意图，于本实施例中，将键盘平整度检测装置100放置于笔记本电脑键盘10上，该键盘平整度检测装置100的水平板111位于笔记本电脑键盘10的一侧，此时，螺杆结构131没有旋转，探头结构136没有向下移动。

请参阅图4，图4是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第二工作状态的示意图，于本实施例中，将键盘平整度检测装置100的水平板111放置于笔记本电脑键盘10的一侧后，旋转螺杆结构131带动探头结构136向下移动，当探头结构136的底端接触键帽20的上表面且没有压迫键帽20向下移动时，记录螺杆结构131上刻度结构(图未视)显示的刻度值，该刻度值为第一刻度值。

请参阅图5，图5是本发明的键盘平整度检测装置于一较佳实施例的第三工作状态的示意图，于本实施例中，探头结构136底端接触键帽20的上表面且没有压迫键帽20向下移动时，通过滑轨机构120将探头结构136进行前后或左右移动，当移动探头结构136接触键帽20时，键帽20被压迫向下移动，说明该笔记本电脑键盘10的键帽20不平整，当移动探头结构136没有接触键帽20时，旋转螺杆结构131从而带动探头结构136向下移动，该探头结构136接触键帽20的上表面且没有压迫键帽20向下移动，此时记录螺杆结构131上刻度结构(图未视)显示的刻度值，该刻度值为第二刻度值，若第一刻度值与第二刻度值不相等，则说明该笔记本电脑键盘10的键帽20不平整。

相较于现有技术，本发明的键盘平整度检测装置100通过横向滑轨结构及纵向滑轨结构带动探头结构136移动，再通过旋转螺杆结构131来调整探头结构136的高度，最后通过螺杆结构131上刻度结构(图未视)显示的刻度值差异来确认笔记本电脑键盘10的键帽20不平整，利用本发明的键盘平整度检测装置100，不仅通过调整探头结构136的高度以适应不同规格笔记本电脑键盘的键帽且作业简便，还实现了无重力压迫键帽，从而减少误差。

需指出的是，本发明不限于上述实施方式，任何熟悉本专业的技术人员基于本发明技术方案对上述实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，都落入本发明的保护范围内。