技术特征：
技术总结
本发明属于仪器校验技术领域，特别涉及一种基于红外测温技术的测温一致性校验方法，包括如下步骤：A采用光照强度均匀的物面作为校正基准，在物面的多种光照强度条件下用待测仪器进行采样，对获得的采样图像进行计算得到校正参数；B将得到的校正参数导入待测仪器的控制系统，用于对采集到的原始图像的亮度进行校正；C以腔式黑体为基准，验证待测仪器的测温一致性，若测温一致性不满足阈值要求，则返回重新校验；若测温一致性满足阈值要求，完成校验。本发明采用均匀性、稳定性高的光源模拟高温热源来对测温仪器进行校正，低成本、高效率、高质量地实现了高温段测温一致性的校正。
技术研发人员：王国耀;李端发;徐勇;刘强;朱义胜
受保护的技术使用者：合肥金星机电科技发展有限公司
技术研发日：2019.06.13
技术公布日：2019.08.20