技术总结
本发明公开了一种基于相推法的光器件时延测量方法，预先根据测量需求确定扫频频率范围并在其中选取多个扫频频点；在每一个扫频频点，用该频率的微波调制信号对光载波进行调制，并通过鉴相器测量出调制光信号经过待测光器件前后微波调制信号的相位变化；对所测得的一系列相位变化进行相位展开，并利用相位展开所得到的各扫频频点的展开相位计算出最大扫频频点的整周模糊度，最后根据所述最大扫频频点的整周模糊度计算出待测光器件的时延。本发明还公开了一种基于相推法的光器件时延测量装置。本发明可大幅度减少扫描频点数，从而提高测量效率并减少环境误差对测量的影响。
技术研发人员：潘时龙;李树鹏;卿婷;傅剑斌;潘万胜
受保护的技术使用者：南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司
技术研发日：2019.11.01
技术公布日：2020.01.21