一种单点激光测试平台的制作方法

本发明实施例涉及实验测试设备技术领域，具体涉及一种单点激光测试平台。

背景技术：

激光错误注入是指在芯片运行过程中，在特定物理位置、特定的时刻注入能量、持续时间等多参数可调的精准激光束，以导致芯片出现特定错误，并利用其有目的的修改程序流程，篡改存储器读写内容甚至获取密钥等敏感信息。

现有技术存在以下不足：芯片在实验测试是需要进行夹持固定放置，夹持不稳定，容易影响测试实验操作，芯片工作过程中会产生大量的热量，高温容易影响测试结果。

技术实现要素：

为此，本发明实施例提供一种单点激光测试平台，通过设置可伸出的活动支座，方便芯片固定夹持在活动台与压紧台之间，利用导热叶进行吸收，配合散热风扇带动气流运动，实现散热效果，方便样品芯片的固定安装，方便对测试过程中产生的热量进行散热，避免芯片产生的高热量影响测试的准确性，避免影响测试结果，以解决现有技术中由于芯片安装固定不便，芯片产生的高热量影响测试实验导致的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种单点激光测试平台，包括基座，所述基座顶部两侧均固定设置有设备机架，两个所述设备机架之间固定设置有固定板，所述固定板底部固定设置有操作平台，所述固定板中部固定设置有定位平台；

所述操作平台中部活动设置有活动支座，所述活动支座顶部固定设置有固定台，所述固定台顶部四角固定设置有固定杆，四个所述固定杆顶部固定设置有压紧台，所述固定台与压紧台之间设置有活动台，所述活动台四角分别与四个固定杆活动连接，所述活动台四角底部均设置有压紧弹簧，所述压紧弹簧与固定杆套接设置；

所述活动支座内部活动设置有散热支架，所述散热支架顶部与活动台底部固定连接，所述散热支架内部固定安装有导热叶，所述散热支架底部固定设置有散热风扇，所述散热风扇底部设置有操作拉杆，所述操作拉杆两端均与散热支架固定连接；

所述固定板顶部设置有升降板，所述升降板底部固定设置有固定支架，所述固定支架内部活动设置有定位板，所述定位板表面固定设置有安装套筒，所述安装套筒内部放置有激光笔，所述定位平台表面固定设置有定位窗口，所述定位窗口与活动台竖直共线设置，所述激光笔与定位窗口内部活动连接。

进一步的，所述操作平台和定位平台呈水平平行设置，所述活动支座中部呈u形凹槽设置，所述活动支座底部固定设置有限位板，所述固定台和限位板中部对应活动支座中部呈凹槽设置。

进一步的，所述活动支座顶部两侧均设置有滑轨，所述滑轨与操作平台固定连接，所述固定台两端底部均固定设置有滑轮，所述滑轮与滑轨滑动连接。

进一步的，所述活动支座后端固定设置有连接垫板，所述连接垫板表面和固定板表面均设置有磁铁块，两个所述磁铁块磁性吸引性设置。

进一步的，所述活动台顶部四角均固定设置有限位垫块，所述限位垫块与压紧弹簧套接设置，所述压紧台和活动台中部均为中空设置，所述压紧台底端面和活动台顶端面均固定设置有缓冲胶垫，两组缓冲胶垫对应设置。

进一步的，所述导热叶由高导热金属材料制成，所述导热叶数量设置为多个，且呈竖直平行排列设置，所述散热风扇出风方向呈竖直向下设置，所述操作拉杆中部呈圆弧弯曲设置。

进一步的，所述升降板顶端固定设置有推动板，所述固定板后侧面固定设置有安装板，所述安装板中部固定设置有升降推杆，所述升降推杆输出端与推动板固定连接，所述推动板底部两侧均固定设置有定位杆，所述定位杆与安装板活动连接。

进一步的，所述固定支架俯视形状呈c字形设置，所述固定支架内部固定设置有活动杆，所述定位板后侧固定设置有滑块，所述滑块与活动杆活动连接，所述滑块一侧设置有复位弹簧，所述复位弹簧与活动杆套接，所述固定支架一侧螺纹连接设置有推动螺栓，所述推动螺栓内端与滑块匹配设置。

本发明实施例具有如下优点：

1、本发明通过设置操作平台，将活动支座从操作平台拉伸出，利用活动台放置待检测的样品芯片，压紧弹簧推动活动台向上运动，配合压紧台进行芯片压紧，实现芯片固定，再将活动支座推入操作平台，后续样品芯片的特定位置注入能量，配合激光笔射出的精准激光束，对样品芯片进行测试操作，在样品芯片注入能量后，样品芯片工作，散发的热量由活动台底部的导热叶进行吸收，配合散热风扇带动气流运动，实现散热效果，相对于现有测试平台，方便样品芯片的固定安装，方便对测试过程中产生的热量进行散热，避免芯片产生的高热量影响测试的准确性，避免影响测试结果；

2、本发明通过设置升降板，利用升降推杆推动升降板顶端的推动板，操控升降板的升降运动，定位杆提供升降板的升降稳定性，通过设置安装套筒用于放置激光笔，通过旋转推动螺栓，利用推动螺栓推动定位板后侧的滑块，带动滑块在活动杆上滑动，压缩复位弹簧，调节定位板的左右位置，方便调节激光笔的输出位置，方便激光束定位照射在样品芯片上，提高测试操作的准确性，提高测试效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。

本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本发明提供的整体结构示意图；

图2为本发明提供的整体剖视结构示意图；

图3为本发明提供图2的a部结构示意图；

图4为本发明提供活动支座的整体结构示意图；

图5为本发明提供活动支座的俯视剖面结构示意图；

图6为本发明提供固定板的后视结构示意图；

图7为本发明提供固定支架的俯视剖面结构示意图；

图中：1基座、2设备支架、3固定板、4操作平台、5定位平台、6活动支座、7固定台、8固定杆、9压紧台、10活动台、11压紧弹簧、12散热支架、13导热叶、14散热风扇、15操作拉杆、16升降板、17固定支架、18定位板、19安装套筒、20激光笔、21定位窗口、22限位板、23滑轨、24滑轮、25连接垫板、26磁铁块、27限位垫块、28缓冲胶垫、29推动板、30安装板、31升降推杆、32定位杆、33活动杆、34滑块、35复位弹簧、36推动螺栓。

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照说明书附图1-4，该实施例的一种单点激光测试平台，包括基座1，所述基座1顶部两侧均固定设置有设备机架2，两个所述设备机架2之间固定设置有固定板3，所述固定板3底部固定设置有操作平台4，所述固定板3中部固定设置有定位平台5；

所述操作平台4中部活动设置有活动支座6，所述活动支座6顶部固定设置有固定台7，所述固定台7顶部四角固定设置有固定杆8，四个所述固定杆8顶部固定设置有压紧台9，所述固定台7与压紧台9之间设置有活动台10，所述活动台10四角分别与四个固定杆8活动连接，所述活动台10四角底部均设置有压紧弹簧11，所述压紧弹簧11与固定杆8套接设置；

所述活动支座6内部活动设置有散热支架12，所述散热支架12顶部与活动台10底部固定连接，所述散热支架12内部固定安装有导热叶13，所述散热支架12底部固定设置有散热风扇14，所述散热风扇14底部设置有操作拉杆15，所述操作拉杆15两端均与散热支架12固定连接；

所述固定板3顶部设置有升降板16，所述升降板16底部固定设置有固定支架17，所述固定支架17内部活动设置有定位板18，所述定位板18表面固定设置有安装套筒19，所述安装套筒19内部放置有激光笔20，所述定位平台5表面固定设置有定位窗口21，所述定位窗口21与活动台10竖直共线设置，所述激光笔20与定位窗口21内部活动连接。

进一步的，所述操作平台4和定位平台5呈水平平行设置，所述活动支座6中部呈u形凹槽设置，所述活动支座6底部固定设置有限位板22，所述固定台7和限位板22中部对应活动支座6中部呈凹槽设置，利用设置的u性凹槽，方便样品芯片的放置与拿去。

进一步的，所述活动支座6顶部两侧均设置有滑轨23，所述滑轨23与操作平台4固定连接，所述固定台7两端底部均固定设置有滑轮24，所述滑轮24与滑轨23滑动连接，方便活动支座6的滑出，方便样品芯片的放置。

进一步的，所述活动支座6后端固定设置有连接垫板25，所述连接垫板25表面和固定板3表面均设置有磁铁块26，两个所述磁铁块26磁性吸引性设置，利用两个磁铁块26的相互吸引，方便对活动支座6的位置定位固定。

进一步的，所述活动台10顶部四角均固定设置有限位垫块27，所述限位垫块27与压紧弹簧11套接设置，所述压紧台9和活动台10中部均为中空设置，所述压紧台9底端面和活动台10顶端面均固定设置有缓冲胶垫28，两组缓冲胶垫28对应设置，利用限位垫块27对活动台10与压紧台9的最相近距离进行限定，利用缓冲胶垫28对夹持固定芯片进行缓冲，提高夹持效果，也对芯片进行保护。

进一步的，所述导热叶13由高导热金属材料制成，所述导热叶13数量设置为多个，且呈竖直平行排列设置，所述散热风扇14出风方向呈竖直向下设置，所述操作拉杆15中部呈圆弧弯曲设置，利用导热叶13吸收芯片发出的热量，配合散热风扇14带动气流运动，流动穿过导热叶13空气对导热叶13进行散热，提高散热效果，方便对芯片进行散热，避免芯片产生的高热量影响测试的准确性，避免影响测试结果，操作拉杆15方便拉动散热支架12，进而带动活动台10下降。

实施场景具体为：本发明在使用测试平台进行测试操作时，先将活动支座6从操作平台4拉伸出，滑轮24在滑轨23上滑动，将待测试的放置在活动台10上，压紧弹簧11推动活动台10向上运动，配合压紧台9进行芯片压紧，限位垫块27对活动台10与压紧台9的最相近距离进行限定，利用缓冲胶垫28对夹持固定芯片进行缓冲，提高夹持效果，也对芯片进行保护，实现芯片固定，再将活动支座6推入操作平台4，后续样品芯片的特定位置注入能量，配合激光笔20射出的精准激光束，对样品芯片进行测试操作，在样品芯片注入能量后，样品芯片工作，散发的热量由活动台10底部的导热叶13进行吸收，配合散热风扇14带动气流运动，实现散热效果，操作拉杆15方便拉动散热支架12，进而带动活动台10下降，方便样品芯片的固定安装，方便对测试过程中产生的热量进行散热，避免芯片产生的高热量影响测试的准确性，避免影响测试结果。

参照说明书附图2和5-7，该实施例的一种单点激光测试平台，所述升降板16顶端固定设置有推动板29，所述固定板3后侧面固定设置有安装板30，所述安装板30中部固定设置有升降推杆31，所述升降推杆31输出端与推动板29固定连接，所述推动板29底部两侧均固定设置有定位杆32，所述定位杆32与安装板30活动连接，升降推杆31推动推动板29，实现带动升降板16的升降操作，利用定位杆32在安装板3上活动，对升降板16的升降运动进行限定，提高升降稳定性。

进一步的，所述固定支架17俯视形状呈c字形设置，所述固定支架17内部固定设置有活动杆33，所述定位板18后侧固定设置有滑块34，所述滑块34与活动杆33活动连接，所述滑块34一侧设置有复位弹簧35，所述复位弹簧35与活动杆33套接，所述固定支架17一侧螺纹连接设置有推动螺栓36，所述推动螺栓36内端与滑块34匹配设置，方便操作定位板18左右运动，方便激光笔20左右位置调节，方便激光束定位照射在样品芯片上，提高测试操作的准确性，提高测试效果。

实施场景具体为：本发明在操作激光笔20时，升降推杆31推动升降板16顶端的推动板29，操控升降板16的下降，利用定位杆32在安装板3上活动，对升降板16的升降运动进行限定，提高升降稳定性，激光笔20放置在安装套筒19内，激光笔20中部表面设置限位圈，利用限位圈的阻挡，实现激光笔20的放置，旋转推动螺栓36，推动螺栓36推动定位板18后侧的滑块34，带动滑块34在活动杆33上滑动，压缩复位弹簧35，调节定位板18的左右位置，方便调节激光笔20的输出位置，方便激光束定位照射在样品芯片上，提高测试操作的准确性，提高测试效果。

工作原理：

参照附图1-4，在使用测试平台进行测试操作时，先将活动支座6从操作平台4拉伸出，将待测试的放置在活动台10上，压紧弹簧11推动活动台10向上运动，配合压紧台9进行芯片压紧，实现芯片固定，再将活动支座6推入操作平台4，后续样品芯片的特定位置注入能量，配合激光笔20射出的精准激光束，对样品芯片进行测试操作，在样品芯片注入能量后，样品芯片工作，散发的热量由活动台10底部的导热叶13进行吸收，配合散热风扇14带动气流运动，实现散热效果，方便样品芯片的固定安装，方便对测试过程中产生的热量进行散热，避免芯片产生的高热量影响测试的准确性，避免影响测试结果；

参照附图2和5-7，在操作激光笔20时，升降推杆31推动升降板16顶端的推动板29，操控升降板16的下降，定位杆32提供升降板16的升降稳定性，激光笔20放置在安装套筒19内，旋转推动螺栓36，推动螺栓36推动定位板18后侧的滑块34，带动滑块34在活动杆33上滑动，压缩复位弹簧35，调节定位板18的左右位置，方便调节激光笔20的输出位置，方便激光束定位照射在样品芯片上，提高测试操作的准确性，提高测试效果。

虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。