机内测试设计方法及系统与流程

本文涉及但不限于测试技术领域，尤指一种机内测试(bit，built-intest)设计方法及系统。

背景技术：

目前，在军工、航天等领域，装备的集成度、复杂度越来越高，对装备的自测试、自诊断能力要求越来越高，这就要求对此类装备设计先进的机内自测试(bit，built-intest)系统。然而，目前的bit系统，多数针对纯数字信号系统(尤其是计算机应用系统)进行bit设计，对于含有模拟信号和数字信号的混合电路，由于缺乏先进的故障诊断方法做支撑，缺乏有效的bit设计方法。

技术实现要素：

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供了一种机内测试设计方法及系统。

一方面，本公开提供了一种机内测试设计方法，包括：将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。

另一方面，本公开提供一种机内测试设计系统，包括：第一分块模块，配置为将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；第二分块模块，配置为将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；第一机内测试模块，配置为在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。

本公开提供的机内测试设计方法及系统，基于边界扫描测试技术实现分块机内测试设计，快速定位混合电路中的故障区域。

在阅读理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

附图说明

附图用来提供对本公开技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。

图1为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的一示例性流程图；

图2为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的另一示例性流程图；

图3(a)至图3(c)为置换定理的原理示意图；

图4为本公开至少一实施例的待测混合电路的分块示例图；

图5为本公开至少一实施例的模拟子电路的机内测试原理示意图；

图6为本公开至少一实施例的数字子电路的机内测试示意图；

图7为本公开至少一实施例的边界扫描块的测试扫描链路的示意图；

图8为本公开至少一实施例的机内测试设计系统的示例图。

具体实施方式

本公开描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本公开所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。

本公开包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本公开已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本公开中示出或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。

此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本公开实施例的精神和范围内。

图1为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的流程图。如图1所示，本实施例提供的机内测试设计方法可以包括步骤101至104。

步骤101、将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。

步骤102、将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，其中，边界扫描块可以包括一个或多个边界扫描芯片。边界扫描芯片可以为带有边界扫描结构的芯片。

步骤103、在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向边界扫描块提供控制信号，接收边界扫描块根据控制信号产生的测试输出数据，并根据测试输出数据的分析结果，确定边界扫描块是否存在故障。

步骤104、针对非边界扫描块，利用环绕非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定非边界扫描块是否存在故障。

在一些示例性实施方式中，所述将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路，可以包括：依据多端口置换定理，将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。

在一些示例性实施方式中，所述将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块，可以包括：将所述数字子电路内的多个边界扫描芯片按照功能划分为一个或多个边界扫描块。在本示例性实施例中，按照功能将多个边界扫描芯片进行分块，可以减小扫描链的长度，从而提高测试效率。

在一些示例性实施方式中，针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障，可以包括：根据环绕所述非边界扫描块的边界扫描块，确定与所述非边界扫描块的输入输出管脚对应的边界扫描芯片的管脚；通过比较与非边界扫描块的输入输出管脚相关的测试输出数据与所述非边界扫描块无故障时的数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。在本示例性实施例中，利用环绕非边界扫描块的边界扫描芯片，可以对非边界扫描块进行集中测试，从而提高测试效率。

在一些示例性实施方式中，所述边界扫描控制装置可以包括：主控制器和边界扫描控制器，其中，所述主控制器配置为控制所述边界扫描控制器产生所述控制信号，所述控制信号包括：测试模式信号、测试时钟信号以及测试输入数据。

在一些示例性实施方式中，本实施例的机内测试设计方法还可以包括：对所述模拟子电路进行区块划分，得到多个模拟子电路块；确定任两个模拟子电路块之间的撕裂节点、每个模拟子电路块内的诊断用测试节点；通过电路仿真分析，获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值；在机内测试过程中，对模拟子电路和数字子电路之间的撕裂节点、任两个模拟子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集模拟子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值；根据所述模拟子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定模拟子电路块是否存在故障。在本示例性实施例中，通过对模拟子电路进行区域划分、测试和诊断，可以提高测试效率，使得故障定位更灵活、准确。

在一些示例性实施方式中，所述根据所述模拟子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定模拟子电路块是否存在故障，可以包括：当所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值相同，则确定所述模拟子电路没有故障；当所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值不相同，则确定所述模拟子电路存在故障。

本示例性实施例提供的机内测试设计方法，可以提供对待测混合电路进行全面系统地测试诊断，使得对混合电路的机内测试设计更有系统性、更全面和高效。

图2为本公开至少一实施例的机内测试设计方法的示例流程图。如图2所示，本实施例提供的机内测试设计方法可以包括步骤201至207。

步骤201、将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。

步骤202、将数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，其中，边界扫描块可以包括一个或多个边界扫描芯片。边界扫描芯片可以为带有边界扫描结构的芯片。

步骤203、在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向边界扫描块提供控制信号，接收边界扫描块根据控制信号产生的测试输出数据，并根据测试输出数据的分析结果，确定边界扫描块是否存在故障。

步骤204、针对非边界扫描块，利用环绕非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定非边界扫描块是否存在故障。

步骤205、对模拟子电路进行区块划分，得到多个模拟子电路块，并确定任两个模拟子电路块之间的撕裂节点、每个模拟子电路块内的诊断用测试节点。

步骤206、通过电路仿真分析，获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值。

步骤207、在机内测试过程中，对模拟子电路和数字子电路之间的撕裂节点、任两个模拟子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集模拟子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值；根据模拟子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定模拟子电路块是否存在故障。

在本示例性实施例中，可以依据多端口的置换定理，将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。置换定理是指在电路的分析过程中，可以用适当的电源(电压源或电流源)去替换掉电路中某条支路的电压源、电流源、电阻，而不改变电路中其它任何支路的电流或电压。换言之，若网络n由两个单口网络n1和n2联接组成，电路中每个支路电压和电流均有唯一解。如图3(a)所示，设子网络n1和n2的端口电压和电流值分别为α和β，则如图3(b)所示，子网络n2(或n1)可以用一个电压为α的电压源置换，或者，如图3(c)所示，子网络n2(或n1)可以用一个电流为β的电流源置换。对子网络n2(或n1)进行置换后，不影响子网络n1(或n2)内每个支路电压和电流的原有数值。该置换定理可以推广至多端口网络。

图4为本公开至少一实施例的待测混合电路的分块示例图。如图4所示，在本示例性实施例中，待测混合电路可以依据多端口的置换定理被划分为模拟子电路401和数字子电路402。模拟子电路401和数字子电路402的连接部分可以只包含模拟信号与数字电路的组合逻辑数字信号。在一些示例中，可以按照以下原则，将混合电路划分为数字子电路402和模拟子电路401：数字子电路402和模拟子电路401之间除了相互连接的可及节点(称为撕裂节点)之外没有耦合，即数字子电路402和模拟子电路401之间除了撕裂节点外，不存在其他公共节点和支路；而且，数字子电路402和模拟子电路401之间的撕裂节点只能为模拟信号或组合逻辑数字信号，即不能为时序逻辑数字信号节点；数字子电路402和模拟子电路401之间不存在控制源和受控对象，即对于含有控制源的网络，控制源和受控对象应划分在同一个子电路中；划分后的模拟子电路401中含有以下类型的可及节点：节点电压值相对于模拟子电路401内所有元器件参数(含组合逻辑数字电路的“逻辑高、低电平”)的灵敏度不为零。其中，上述类型的可及节点的节点电压值对元器件参数的灵敏度可以通过电路仿真分析得到。

需要说明的是，本阶段的电路划分只是一个理论上的设计概念，并不对原混合电路做任何实际的物理分割，只做一个概念标记即可。

如图4所示，依据多端口的置换定理，模拟子电路401可以被划分为多个模拟子电路块，例如，可以被划分为四个模拟子电路块(即模拟子电路块1至4)。上述四个模拟子电路块可以是不同独立功能单元电路块或者现场可更换单元电路块。然而，本实施例对此并不限定。

如图4所示，数字子电路402可以依据需求划分为多个边界扫描块(例如，边界扫描块1至3)和一个非边界扫描块。每个边界扫描块可以包括一个或多个边界扫描芯片。具有相同功能的边界扫描芯片可以被划分在同一个边界扫描块。边界扫描芯片可以指带有边界扫描链的芯片，比如通用输入输出(i/o)、闪存(flash)、现场可编程门阵列(fpga，field-programmablegatearray)、存储器(memory)、中央处理器(cpu)等。

图5为本公开至少一实施例的模拟子电路的机内测试原理示意图。如图5所示，针对模拟子电路，在进行机内测试之前，可以通过施加激励电压源的方式，将模拟子电路划分为两个模拟子电路块(亦可称为模拟子电路网或模拟子网络)n1和n2。换言之，模拟子电路块n1和n2连接可以组成模拟子电路。

在本示例性实施例中，如图5所示，模拟子电路块n1和n2之间的撕裂节点可以包括节点n1、n2、…、ni。需要说明的是，上述电路划分过程只是一个理论上的设计概念，并不对原模拟子电路进行任何实际的物理分割。

在本示例性实施例中，如图5所示，在模拟子电路被划分为模拟子电路块n1和n2后，可以选择出模拟子电路块n1、n2中的诊断用测试节点。例如，可以在每个模拟子电路块中挑选一个或多个以下类型的可及节点作为诊断用测试节点：节点电压值相对于该模拟子电路块内所有元器件参数(含组合逻辑数字电路的“逻辑高、低电平”)的灵敏度不为零。如图5所示，在模拟子电路块n1中可以选择出三个诊断用测试节点t11、t12、t13；在模拟子电路块n2中可以选择出两个诊断用测试节点t21、t22。然而，本实施例对此并不限定。比如，可以根据需求给每个模拟子电路块选择一个诊断用测试节点。

在本示例性实施例中，在确定模拟子电路块n1和n2之间的撕裂节点、模拟子电路块n1内的诊断用测试节点以及模拟子电路块n2内的诊断用测试节点之后，可以根据模拟子电路的原理图、模拟元器件参数的标称值以及数字芯片型号和逻辑关系，利用电路仿真分析软件分别计算出数字子电路和模拟子电路的撕裂节点处的电压仿真计算值(比如，记为vdm，由于两者之间的撕裂节点通常可以为多个，因此，vdm可以是一个多维电压量，每个撕裂节点对应一个电压值)、两个模拟子电路块n1和n2之间的撕裂节点(比如，图5中的节点n1，n2，…，ni)处的电压仿真计算值(比如，记为vni^o，vni^o可以是一个多维电压量)以及模拟子电路块n1和n2内部的诊断用测试节点(比如，图5中的节点t11、t12、t13和t21、t22)的电压仿真计算值，比如，模拟子电路块n1内的诊断用测试节点的电压仿真计算值记为vt1i^o，模拟子电路块n2内的诊断用测试节点的电压仿真计算值记为vt2i^o。其中，上述电压仿真计算值可以自动存储起来，供后续进行机内测试时使用。

在bit过程中，对数字子电路和模拟子电路之间的撕裂节点施加激励电压vdm，对两个模拟子电路块n1和n2之间的撕裂节点施加激励电压vni^o，并采集每个模拟子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值vt1i^m和vt2i^m。

在本示例性实施例中，通过比较vt1i^o和vt1i^m是否相等，比较vt2i^o和vt2i^m是否相等，即可确定模拟子电路块n1和n2的故障情况。若vt1i^m＝vt1i^o，则模拟子电路块n1无故障，否则有故障；若vt2i^m＝vt2i^o，则模拟子电路块n2无故障，否则有故障。在本示例性实施例中，由于模拟子电路块n1内的诊断用测试节点的数目为三个，则当三个诊断用测试节点的电压仿真计算值分别与对应的测试电压值相等，则确定模拟子电路块n1无故障，当任一个诊断用测试节点的电压仿真计算值和测试电压值不相等，则确定模拟子电路块n1存在故障。同样地，当模拟子电路块n2内的两个诊断用测试节点的电压仿真计算值分别和对应的测试电压值相等，则确定模拟电路块n2无故障，当任一诊断用测试节点的电压仿真计算值和测试电压值不相等，则确定模拟子电路块n2存在故障。

图6为本公开至少一实施例的数字子电路的机内测试示意图。如图6所示，针对数字子电路中的任一待测的扫描边界块，可以通过边界扫描控制装置向待测的边界扫描块提供控制信号，接收边界扫描块根据控制信号产生的测试输出数据。边界扫描控制装置可以包括：主控制器(例如，芯片atmega128)和边界扫描(jtag)控制器(例如，芯片sn74act8990)。主控制器通过地址总线、控制总线和数据总线与边界扫描控制器进行交互，控制边界扫描控制器产生符合边界扫描国际标准ieee1149.1所建议的控制信号，并给出不同信号间的正确时序。边界扫描控制器产生的控制信号可以包括：测试模式信号(tms)、测试时钟信号(tck)以及测试输入数据(tdi)。边界扫描块接收控制信号后，可以产生测试输出数据(tdo)。边界扫描控制器可以回收边界扫描块产生的测试输出数据，并传输给主控制器。主控制器可以对测试输出数据进行分析，实现对边界扫描块内的边界扫描芯片的互连测试和芯片逻辑功能测试，从而确定边界扫描块的故障情况。

图7为本公开至少一实施例的边界扫描块的测试扫描链路的示意图。如图7所示，边界扫描块的测试扫描链路701可以连接多个边界扫描芯片，并与边界扫描控制器连接。

在本示例性实施例中，非边界扫描块可以包括不带有边界扫描结构的芯片。由于非边界扫描块原则上不具备“在线”状态的独立“可控性”与“可观性”，因此，通过采用边界扫描芯片对非边界扫描块内的芯片的对外连接引脚的“环绕”设计，实现该非边界扫描块的对外输入输出引脚状态的独立“可控”与“可观”，进而与无故障情况的仿真结果进行比较得出是否存在故障的结论。非边界扫描块的测试可以基于边界扫描控制装置来实现。在一些示例中，可以将非边界扫描块对外的输入输出管脚进行边界扫描芯片的“置入”改造，利用边界扫描芯片的移位寄存器扫描链对非边界扫描块的管脚状态进行“控制”和“观测”。边界扫描控制装置可以获得每个边界扫描块的测试输出数据，然后，根据环绕非边界扫描块的边界扫描芯片，确定与非边界扫描块的输入输出管脚对应的边界扫描芯片的管脚，利用与这些边界扫描芯片的管脚相关的测试输出数据来对非边界扫描块进行“控制”与“观测”，从而实现对非边界扫描块的测试与故障诊断。例如，可以对无故障的非边界扫描块进行仿真得到非边界扫描块无故障时的数据。通过比较非边界扫描块相关的测试输出数据与无故障时的数据，来确定非边界扫描块是否存在故障。当非边界扫描块相关的测试输出数据与无故障时的数据一致，则确定非边界扫描块不存在故障，否则，确定非边界扫描块存在故障。

本示例性实施例提供的机内测试设计方法，可以实现对混合电路的全面设计，可以提高测试效率。

本公开至少一实施例还提供一种机内测试系统，包括：第一分块模块，配置为将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路；第二分块模块，配置为将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片；第一机内测试模块，配置为在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，并接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。

图8为本公开至少一实施例的机内测试设计系统的示例图。如图8所示，本示例性实施例的机内测试设计系统可以包括：第一分块模块801、第二分块模块802、第三分块模块803、第一机内测试模块804、仿真模块805以及第二机内测试模块806。

在本示例性实施例中，第一分块模块801，配置为将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。第二分块模块802，配置为将所述数字子电路划分为一个或多个边界扫描块和非边界扫描块，所述边界扫描块包括一个或多个边界扫描芯片。第一机内测试模块804，配置为在机内测试过程中，针对任一边界扫描块，通过边界扫描控制装置向所述边界扫描块提供控制信号，接收所述边界扫描块根据所述控制信号产生的测试输出数据，并根据所述测试输出数据的分析结果，确定所述边界扫描块是否存在故障；针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。第三分块模块803，配置为对所述模拟子电路进行区块划分，得到多个模拟子电路块，以及确定任两个模拟子电路块之间的撕裂节点、每个模拟子电路块内的诊断用测试节点。仿真模块805，配置为通过电路仿真分析，获取并存储撕裂节点和诊断用测试节点的电压仿真计算值。第二机内测试模块806，配置为在机内测试过程中，对模拟子电路和数字子电路之间的撕裂节点、任两个模拟子电路块之间的撕裂节点施加激励电压，采集模拟子电路块内的诊断用测试节点的测试电压值；根据所述模拟子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定模拟子电路块是否存在故障。

在一些示例性实施方式中，第一分块模块801可以配置为依据多端口置换定理，将待测混合电路划分为模拟子电路和数字子电路。

在一些示例性实施方式中，第二分块模块802可以配置为将所述数字子电路内的多个边界扫描芯片按照功能划分为一个或多个边界扫描块。

在一些示例性实施方式中，第一机内测试模块804可以配置为通过以下方式针对所述非边界扫描块，利用环绕所述非边界扫描块的边界扫描块的测试输出数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障：根据环绕所述非边界扫描块的边界扫描块，确定与所述非边界扫描块的输入输出管脚对应的边界扫描芯片的管脚；通过比较所述非边界扫描块的输入输出管脚相关的测试输出数据与所述非边界扫描块无故障时的数据，确定所述非边界扫描块是否存在故障。

在一些示例性实施方式中，边界扫描控制装置可以包括：主控制器和边界扫描控制器，其中，所述主控制器配置为控制所述边界扫描控制器产生所述控制信号，所述控制信号包括：测试模式信号、测试时钟信号以及测试输入数据。

在一些示例性实施方式中，第二机内测试模块806可以配置为通过以下方式根据所述模拟子电路块内的诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值的比较结果来确定模拟子电路块是否存在故障：当所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值相同，则确定所述模拟子电路没有故障；当所述诊断用测试节点的电压仿真计算值与测试电压值不相同，则确定所述模拟子电路存在故障。

关于本实施例提供的机内测试设计系统的相关说明可以参照上述方法实施例的描述，故于此不再赘述。

此外，本实施例还提供一种计算机可读介质，存储有机内测试设计程序，该机内测试设计程序被执行时实现如上所述的机内测试设计方法的步骤，比如，图1或图2所示的步骤。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

虽然本公开所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本公开而采用的实施方式，并非用以限定本公开。任何本公开所属领域内的技术人员，在不脱离本公开所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本公开的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。