电力系统无线测温系统的制作方法

文档序号:23844187发布日期:2021-02-05 10:08阅读:150来源:国知局
电力系统无线测温系统的制作方法

[0001]
本发明涉及温度调节技术领域,尤其涉及电力系统无线测温系统。


背景技术:

[0002]
随着各行各业用电量的剧增,电气火灾发生频率也日渐攀高。公安部公布的火灾数据统计表明,电气火灾的发生率占所有火灾的40%以上,给人民的生命财产安全造成了巨大损失。因此,预测火灾、及时报警,防患于未燃是减少火灾的重要任务,同时,国家颁布实施了gb14287系列国标来规范促进电气火灾探测产品的生产。电气火灾发生的明显征兆主要为设备温度急剧增加。因此,通过对电力系统中各部件的温度进行监控能够有效避免系统内火灾发生的频率。
[0003]
然而,现有技术中的温度监控系统大都只设置一个预设阈值,当电力系统内的温度超出阈值,监控系统就判定电力系统运行异常、发出警报并使电力系统停止运行,无法根据实际的温度值对电力系统内的温度进行调节,同时,现有的温度监控系统即便在能够调节的温度范围内仍会发出停止运行的指令,降低了所述监控系统监控的电力系统的运行效率,针对电力系统的检测效率低。


技术实现要素:

[0004]
为此,本发明提供电力系统无线测温系统,用以克服现有技术中无法根据电力系统中部件的实际温度调节电力系统温度导致的对电力系统检测效率低的问题。
[0005]
为实现上述目的,本发明提供电力系统无线测温系统,包括:
[0006]
多个不同型号的温度检测器,各温度检测器分别与对应信号的待测温元件相连,用以检测待测温元件的温度;在使用测温系统时,中控处理器会根据实际使用的场合以及待测温元件的实际型号选取对应型号的温度检测器;
[0007]
计时器,其与中控处理器相连,用以记录所述温度检测器前次测温的时间间隔,当所述温度检测器完成对待测温元件的测温时,计时器启动以记录时间间隔,当记录时长达到预设的时间间隔时长时,中控处理器控制温度检测器对待测温元件进行重复测温;
[0008]
多个温控器,其分别设置在各所述待测温元件周边,用以调节待测温元件周边温度,当所述温度检测器测得待测温元件的温度超出预设温度值时,温控器会根据超出的温度值选取对应级别的温控预案以对待测温元件周边的环境进行降温;
[0009]
警报器,其与中控处理器相连,用以在单个所述待测温元件的温度超出预设温度时发出警报;当待测温元件温度高于预设温度值时,警报器发出温控警报,当所述温控器使用最高级别的温控预案对待测温元件周边环境降温后待测温元件的温度仍高于预设温度值时,警报器发出高温警报;
[0010]
中控处理器,其分别与各所述温度检测器、所述计时器、各所述温控器和所述警报器无线连接,用以在计时器记录时长达到指定值时接收各温度检测器测得的数据并根据检测值与预设值之间的差值控制温控器选取对应的温控预案或控制警报器发出警报;
[0011]
存储器,其与所述中控处理器相连,用以存储矩阵信息,在使用测温系统时,中控处理器会根据测温系统实际的应用场合从存储器中调取对应的矩阵信息以依次完成对温度检测器的选型以及对时间间隔、预设温度和控温预案的设置;所述存储器中设有预设温差矩阵c0和预设温控预案矩阵a0;对于所述预设温差矩阵c0,c0(c1,c2,c3,c4),其中,c1为第一预设温差,c2为第二预设温差,c3为第三预设温差,c4为第四预设温差,各预设温差按照顺序逐渐增加;对于所述预设温控预案矩阵a0,a0(a1,a2,a3,a4),其中,a1为一级预设温控预案,a2为二级预设温控预案,a3为三级预设温控预案,a4为四级预设温控预案;
[0012]
当测温系统启动时,计时器启动,当计时器记录时长达到第一预设检测时长时,中控处理器控制各温度检测器分别检测对应的所述待测温元件的温度并将测得的温度值输送至中控处理器,中控处理器从所述存储器中调取出预设启动温度值并将检测温度与预设启动温度值进行比对:
[0013]
当检测温度值小于等于预设温度值时,中控处理器判定电力系统在启动阶段正常运行,中控处理器控制计时器重新计时并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时控制各温度检测器检测对应的待测温元件的温度;
[0014]
当检测温度值大于预设温度值时,中控处理器判定电力系统在启动阶段出现异常,电力系统停止运行并在完成对异常元件的检修后重新启动,电力系统重新启动并经过第一预设检测时长时,各温度检测器分别对对应的待测温元件进行重新测温,中控处理器将测得的温度值与预设启动温度值进行比对,若检测温度值仍大于预设温度值,则重复上述步骤直至检测温度值小于等于预设温度值;
[0015]
当所述计时器记录时长达到第二预设检测时长时中控处理器控制各所述温度检测器检测对应的待测温元件的温度并将检测温度值输送至中控处理器,中控处理器从所述存储器中调取出预设运行温度值并将检测温度与预设运行温度值进行比对:
[0016]
当检测温度值小于等于预设运行温度值时,中控处理器判定电力系统运行正常并控制计时器重新计时,并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时重新检测各待测温元件的温度;
[0017]
当检测温度值大于预设运行温度值时,中控处理器判定该温度检测器所在的原件运行温度过高,中控处理器计算检测温度与预设运行温度之间的温差值c并将c与所述c0矩阵中的参数进行比对:
[0018]
当c≤c1时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行一级温控预案a1以对该元件周边环境进行降温;
[0019]
当c1<c≤c2时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行二级温控预案a2以对该元件周边环境进行降温;
[0020]
当c2<c≤c3时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行三级温控预案a3以对该元件周边环境进行降温;
[0021]
当c3<c≤c4时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行四级温控预案a4以对该元件周边环境进行降温;
[0022]
当c>c4时,中控处理器控制所述警报器发出高温警报;
[0023]
当所述温控器完成对指定位置元件的降温时,中控处理器控制计时器重新计时并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时控制各检测器重新检测对应的待测温元件的
运行温度;
[0024]
当位于单个所述元件周边的温控器使用四级温控预案对该元件进行降温后该元件的实际温度与预设温度的差值c仍处于c3和c4之间的区间,中控处理器控制所述警报器发出高温警报。
[0025]
进一步地,所述存储器中还设有预设场合矩阵d0、元件预设型号矩阵r0和检测器预设型号矩阵组s0;对于所述预设场合矩阵d0,d0(d1,d2,d3,d4),其中,d1为第一预设场合,d2为第二预设场合,d3为第三预设场合,d4为第四预设场合;对于所述元件预设型号矩阵r0,r0(r1,r2,r3,r4),其中,r1为第一预设待测温元件型号,r2为第二预设待测温元件型号,r3为第三预设待测温元件型号,r4为第四预设待测温元件型号;对于所述检测器预设型号矩阵组s0,s0(s1,s2,s3,s4),其中,s1为第一预设温度检测器型号矩阵,s2为第二预设温度检测器型号矩阵,s3为第三预设温度检测器型号矩阵,s4为第四预设温度检测器型号矩阵;对于所述第i预设温度检测器型号矩阵si,i=1,2,3,4,si(si1,si2,si3,si4),其中,si1为第i预设温度检测器第一预设型号,si2为第i预设温度检测器第二预设型号,si3为第i预设温度检测器第三预设型号,si4为第i预设温度检测器第四预设型号;
[0026]
在使用所述测温系统时,工作人员依次向所述中控处理器内输入所述测温系统的使用场合以及各所述待测温元件的型号,中控处理器从所述存储器中依次调取预设场合矩阵d0、元件预设型号矩阵r0和检测器预设型号矩阵组s0并根据测温系统使用场合和待测温元件型号确定各所述温度检测器的型号:
[0027]
当测温系统应用的场合为第一预设场合d1时,中控处理器从s1矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0028]
当测温系统应用的场合为第二预设场合d2时,中控处理器从s2矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0029]
当测温系统应用的场合为第三预设场合d3时,中控处理器从s3矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0030]
当测温系统应用的场合为第四预设场合d4时,中控处理器从s4矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0031]
当中控处理器从si矩阵中选取对应型号的温度检测器时,中控处理器会根据待测温元件的具体型号从si矩阵中选取对应型号的温度检测器:
[0032]
当待测温元件的型号为第一预设待测温元件型号r1时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第一预设型号si1对该待测温元件的温度进行检测;
[0033]
当待测温元件的型号为第二预设待测温元件型号r2时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第二预设型号si2对该待测温元件的温度进行检测;
[0034]
当待测温元件的型号为第三预设待测温元件型号r3时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第三预设型号si3对该待测温元件的温度进行检测;
[0035]
当待测温元件的型号为第四预设待测温元件型号r4时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第四预设型号si4对该待测温元件的温度进行检测。
[0036]
进一步地,所述存储器中还设有预设温度矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),其中,t1为第一预设温度矩阵,t2为第二预设温度矩阵,t3为第三预设温度矩阵,t4为第四预设温度矩阵;当所述温度检测器安装完成时,中控处理器从存储器中调取t0矩阵组,并根据各待测温
元件的型号选取对应的预设温度矩阵:
[0037]
当待测温元件的型号为第一预设待测温元件型号r1时,中控处理器判定选用第一预设温度矩阵t1对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0038]
当待测温元件的型号为第二预设待测温元件型号r2时,中控处理器判定选用第二预设温度矩阵t2对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0039]
当待测温元件的型号为第三预设待测温元件型号r3时,中控处理器判定选用第三预设温度矩阵t3对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0040]
当待测温元件的型号为第四预设待测温元件型号r4时,中控处理器判定选用第四预设温度矩阵t4对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置。
[0041]
进一步地,对于所述第i预设温度矩阵ti,i=1,2,3,4,ti(tia,tib,tic),其中,tia为第i预设启动温度,tib为第i预设运行温度,tic为第i预设校正温度,tic<tia;当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵ti对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,中控处理器将该温度检测器的预设启动温度值设置为tia,将该温度检测器的预设运行温度值设置为tib,将该温度检测器的预设校正温度值设置为tic。
[0042]
进一步地,当测温系统启动第一预设时长后、所述中控处理器控制第i型号温度检测器检测对应的所述待测温元件的温度值时,中控处理器选取对应的第i预设校正温度值tic与测得的温度值进行比对:
[0043]
当检测温度值大于等于预设校正温度值tic时,中控处理器判定该温度检测器安装合格并判断检测的温度值与所述第i预设启动温度值tia之间的关系;
[0044]
当检测温度值小于预设校正温度值tic时,中控处理器判定该温度检测器安装不合格,电力系统停止运行,工作人员重新安装该温度检测器并在安装完成后重新启动电力系统,温度检测器在第一预设检测时长后重新检测待测温元件温度,中控处理器将新测得的温度值重新与tic值进行比对,若新测得的温度值仍小于tic值,则重复上述步骤直至测得的温度值大于等于tic值。
[0045]
进一步地,所述存储器中还设有预设时长矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),其中,t1为第一预设时长矩阵,t2为第二预设时长矩阵,t3为第三预设时长矩阵,t4为第四预设时长矩阵;当工作人员向所述中控处理器输入测温系统应用的场合时,中控处理器从存储器中调取预设时长矩阵组t0并根据所述测温系统的应用场合选取对应的预设时长矩阵:
[0046]
当测温系统应用的场合为第一预设场合d1时,中控处理器从t0矩阵组中选取t1矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0047]
当测温系统应用的场合为第二预设场合d2时,中控处理器从t0矩阵组中选取t2矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0048]
当测温系统应用的场合为第三预设场合d3时,中控处理器从t0矩阵组中选取t3矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0049]
当测温系统应用的场合为第四预设场合d4时,中控处理器从t0矩阵组中选取t4矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置。
[0050]
进一步地,对于第i预设时长矩阵ti,i=1,2,3,4,ti(tia,tib),其中,tia为第i预设第一检测时长,tib为第i预设第二检测时长;当中控处理器从t0矩阵组中选取ti矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置时,中控处理器将第一预设检测时长值设置为tia,将
第二预设检测时长值设置为tib。
[0051]
进一步地,所述存储器中还设有预设温差修正系数矩阵α0(α1,α2,α3,α4),其中,α1为第一预设温差修正系数,α2为第二预设温差修正系数,α3为第三预设温差修正系数,α4为第四预设温差修正系数;当所述测温系统运行时,中控处理器会根据各待测温元件的型号选取对应的温差修正系数以针对该待测温元件对预设温差矩阵c0中的参数进行修正:
[0052]
当中控处理器判定待测温元件为r1型号时,中控处理器选用α1对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0053]
当中控处理器判定待测温元件为r2型号时,中控处理器选用α2对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0054]
当中控处理器判定待测温元件为r3型号时,中控处理器选用α3对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0055]
当中控处理器判定待测温元件为r4型号时,中控处理器选用α4对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0056]
当中控处理器选用αi对c0矩阵中的参数进行修正后,i=1,2,3,4,中控处理器针对该待测温元件重新建立预设温差矩阵cαi0(c1*αi,c2*αi,c3*αi,c4*αi),当所述计时器记录时长达到第二预设检测时长且检测温度值大于预设运行温度值时,中控处理器计算检测温度与预设运行温度之间的温差值c并将c与所述cαi0矩阵中的参数进行比对。
[0057]
进一步地,所述存储器中还设有预设环境温度矩阵w0和预设温度系数矩阵β0;对于所述预设环境温度矩阵w0,w0(w1,w2,w3,w4),其中,w1为第一预设环境温度,w2为第二预设环境温度,w3为第三预设环境温度,w4为第四预设环境温度,各预设环境温度的温度值按照顺序逐渐增加;对于所述预设温度系数矩阵β0,β0(β1,β2,β3,β4),其中,β1为第一预设温度系数,β2为第二预设温度系数,β3为第三预设温度系数,β4为第四预设温度系数;
[0058]
当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵ti对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,i=1,2,3,4,所述中控处理器控制各所述温度检测器检测电力系统所处环境的温度w并将w与w0矩阵中的各项参数进行比对:
[0059]
当w≤w1时,中控处理器选用β1对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0060]
当w1<w≤w2时,中控处理器选用β2对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0061]
当w2<w≤w3时,中控处理器选用β3对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0062]
当w3<w≤w4时,中控处理器选用β4对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0063]
当中控处理器选用βi对ti矩阵中的参数进行修正时,中控处理器针对该待测温元件重新建立预设温度矩阵tiβi(tia*βi,tib*βi,tic*βi),当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵tiβi对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,中控处理器将该温度检测器的预设启动温度值设置为tia*βi,将该温度检测器的预设运行温度值设置为tib*βi,将该温度检测器的预设校正温度值设置为tic*βi。
[0064]
与现有技术相比,本发明的有益效果在于,本发明在测温系统中设置中控处理器和存储器,在存储器中存有预设温差矩阵c0(c1,c2,c3,c4)和预设温控预案矩阵a0(a1,a2,a3,a4),当电力系统内单个元件处的温度高于预设温度值时,中控处理器会计算实际温度与预设温度之间的差值并根据求得的差值与所述c0矩阵中参数之间的关系控制温控器选取对应的温控预案以对元件进行调节,能够避免电力系统内温度在能够调节范围内时被强
制停止运行的情况发生,在保证电力系统安全性的同时,提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
[0065]
进一步地,所述测温系统在对电力系统中的部件进行测温时,会分别在第一预设检测时长时检测待测温元件的启动温度以及在第二预设时长时检测待测温元件的运行温度,通过在电力系统启动时检测各待测温元件的启动温度,能够有效防止元件启动温度过高导致元件损坏的情况发生,从而进一步提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
[0066]
进一步地,所述存储器中还设有预设场合矩阵d0(d1,d2,d3,d4)、元件预设型号矩阵r0(r1,r2,r3,r4)和检测器预设型号矩阵组s0(s1,s2,s3,s4),对于所述第i预设温度检测器型号矩阵si,i=1,2,3,4,si(si1,si2,si3,si4),在使用所述测温系统时,工作人员依次向所述中控处理器内输入所述测温系统的使用场合以及各所述待测温元件的型号,中控处理器从所述存储器中依次调取预设场合矩阵d0、元件预设型号矩阵r0和检测器预设型号矩阵组s0并根据测温系统使用场合和待测温元件型号确定各所述温度检测器的型号,中控处理器通过根据所述测温系统具体应用的场合以及待测温元件的型号以依次选取适配于各元件的温度检测器,从而使所述测温系统运行时,各温度检测器能够更加精准的测得对应待测温元件的温度值,在提高了所述测温系统的检测精度。
[0067]
进一步地,所述存储器中还设有预设温度矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),对于所述第i预设温度矩阵ti,i=1,2,3,4,ti(tia,tib,tic),当所述温度检测器安装完成时,中控处理器从存储器中调取t0矩阵组,并根据各待测温元件的型号选取对应的预设温度矩阵,通过根据待测温元件的型号选取对应的预设温度矩阵,能够有效根据不同型号的元件确定该元件在不同运行状态下的温度值,从而保证所述测温系统的判定精度并进一步提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
[0068]
进一步地,当测温系统启动第一预设时长后、所述中控处理器控制第i型号温度检测器检测对应的所述待测温元件的温度值时,中控处理器选取对应的第i预设校正温度值tic与测得的温度值进行比对并根据比对结果判定温度检测器是否安装合格,通过设置预设校正温度以预先检测温度检测器的安装情况,能够有效避免温度检测器安装不合格导致在后续测温过程中检测到的温度值出现偏差的问题,从而进一步提高了所述测温系统的检测精度。
[0069]
进一步地,所述存储器中还设有预设时长矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),当工作人员向所述中控处理器输入测温系统应用的场合时,中控处理器从存储器中调取预设时长矩阵组t0并根据所述测温系统的应用场合选取对应的预设时长矩阵,通过针对不同的应用场合选取对应的检测周期,能够有效避免元件在高温状态下长时间运行而未被发现的情况发生,从而进一步提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
[0070]
进一步地,所述存储器中还设有预设温差修正系数矩阵α0(α1,α2,α3,α4),当所述测温系统运行时,中控处理器会根据各待测温元件的型号选取对应的温差修正系数以针对该待测温元件对预设温差矩阵c0中的参数进行修正,通过选取对应的预设温差修正系数对预设温差矩阵中的参数进行修正,能够使修正后的温差矩阵适用于特定型号的待测温元件,在对待测温元件进行检测时,能够根据各待测温元件的实际温度准确判定待测温元件的实际运行状态,从而进一步提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
[0071]
进一步地,所述存储器中还设有预设环境温度矩阵w0(w1,w2,w3,w4)和预设温度
系数矩阵β0(β1,β2,β3,β4),当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵ti对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,i=1,2,3,4,所述中控处理器控制各所述温度检测器检测电力系统所处环境的温度w并将w与w0矩阵中的各项参数进行比对并根据比对结果选用对应的预设温度系数对ti矩阵中的参数进行修正,
[0072]
通过选取对应的预设温度修正系数对预设温度矩阵中的参数进行修正,能够使修正后的预设温度矩阵适用于不同环境温度的情况中,使温度检测器在不同环境温度下均能够准确判定待测温元件的实际运行状态,从而进一步提高了所述测温系统对电力系统的检测效率。
附图说明
[0073]
图1为本发明所述电力系统无线测温系统的结构框图。
具体实施方式
[0074]
为了使本发明的目的和优点更加清楚明白,下面结合实施例对本发明作进一步描述;应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
[0075]
下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是,这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理,并非在限制本发明的保护范围。
[0076]
需要说明的是,在本发明的描述中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系,这仅仅是为了便于描述,而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
[0077]
此外,还需要说明的是,在本发明的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言,可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0078]
请参阅图1所示,其为本发明所述电力系统无线测温系统的结构框图。本发明所述电力系统无线测温系统,包括:
[0079]
多个不同型号的温度检测器,各温度检测器分别与对应信号的待测温元件相连,用以检测待测温元件的温度;在使用测温系统时,中控处理器会根据实际使用的场合以及待测温元件的实际型号选取对应型号的温度检测器;
[0080]
计时器,其与中控处理器相连,用以记录所述温度检测器前次测温的时间间隔,当所述温度检测器完成对待测温元件的测温时,计时器启动以记录时间间隔,当记录时长达到预设的时间间隔时长时,中控处理器控制温度检测器对待测温元件进行重复测温;
[0081]
多个温控器,其分别设置在各所述待测温元件周边,用以调节待测温元件周边温度,当所述温度检测器测得待测温元件的温度超出预设温度值时,温控器会根据超出的温度值选取对应级别的温控预案以对待测温元件周边的环境进行降温;
[0082]
警报器,其与中控处理器相连,用以在单个所述待测温元件的温度超出预设温度时发出警报;当待测温元件温度高于预设温度值时,警报器发出温控警报,当所述温控器使
用最高级别的温控预案对待测温元件周边环境降温后待测温元件的温度仍高于预设温度值时,警报器发出高温警报;
[0083]
中控处理器,其分别与各所述温度检测器、所述计时器、各所述温控器和所述警报器无线连接,用以在计时器记录时长达到指定值时接收各温度检测器测得的数据并根据检测值与预设值之间的差值控制温控器选取对应的温控预案或控制警报器发出警报;
[0084]
存储器,其与所述中控处理器相连,用以存储矩阵信息,在使用测温系统时,中控处理器会根据测温系统实际的应用场合从存储器中调取对应的矩阵信息以依次完成对温度检测器的选型以及对时间间隔、预设温度和控温预案的设置;所述存储器中设有预设温差矩阵c0和预设温控预案矩阵a0;对于所述预设温差矩阵c0,c0(c1,c2,c3,c4),其中,c1为第一预设温差,c2为第二预设温差,c3为第三预设温差,c4为第四预设温差,各预设温差按照顺序逐渐增加;对于所述预设温控预案矩阵a0,a0(a1,a2,a3,a4),其中,a1为一级预设温控预案,a2为二级预设温控预案,a3为三级预设温控预案,a4为四级预设温控预案;
[0085]
当测温系统启动时,计时器启动,当计时器记录时长达到第一预设检测时长时,中控处理器控制各温度检测器分别检测对应的所述待测温元件的温度并将测得的温度值输送至中控处理器,中控处理器从所述存储器中调取出预设启动温度值并将检测温度与预设启动温度值进行比对:
[0086]
当检测温度值小于等于预设温度值时,中控处理器判定电力系统在启动阶段正常运行,中控处理器控制计时器重新计时并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时控制各温度检测器检测对应的待测温元件的温度;
[0087]
当检测温度值大于预设温度值时,中控处理器判定电力系统在启动阶段出现异常,电力系统停止运行并在完成对异常元件的检修后重新启动,电力系统重新启动并经过第一预设检测时长时,各温度检测器分别对对应的待测温元件进行重新测温,中控处理器将测得的温度值与预设启动温度值进行比对,若检测温度值仍大于预设温度值,则重复上述步骤直至检测温度值小于等于预设温度值;
[0088]
当所述计时器记录时长达到第二预设检测时长时中控处理器控制各所述温度检测器检测对应的待测温元件的温度并将检测温度值输送至中控处理器,中控处理器从所述存储器中调取出预设运行温度值并将检测温度与预设运行温度值进行比对:
[0089]
当检测温度值小于等于预设运行温度值时,中控处理器判定电力系统运行正常并控制计时器重新计时,并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时重新检测各待测温元件的温度;
[0090]
当检测温度值大于预设运行温度值时,中控处理器判定该温度检测器所在的原件运行温度过高,中控处理器计算检测温度与预设运行温度之间的温差值c并将c与所述c0矩阵中的参数进行比对:
[0091]
当c≤c1时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行一级温控预案a1以对该元件周边环境进行降温;
[0092]
当c1<c≤c2时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行二级温控预案a2以对该元件周边环境进行降温;
[0093]
当c2<c≤c3时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行三级温控预案a3以对该元件周边环境进行降温;
[0094]
当c3<c≤c4时,中控处理器控制警报器发出温控警报并控制位于所述元件处的温控器运行四级温控预案a4以对该元件周边环境进行降温;
[0095]
当c>c4时,中控处理器控制所述警报器发出高温警报;
[0096]
当所述温控器完成对指定位置元件的降温时,中控处理器控制计时器重新计时并在计时器记录时长达到第二预设检测时长时控制各检测器重新检测对应的待测温元件的运行温度;
[0097]
当位于单个所述元件周边的温控器使用四级温控预案对该元件进行降温后该元件的实际温度与预设温度的差值c仍处于c3和c4之间的区间,中控处理器控制所述警报器发出高温警报。
[0098]
具体而言,所述存储器中还设有预设场合矩阵d0、元件预设型号矩阵r0和检测器预设型号矩阵组s0;对于所述预设场合矩阵d0,d0(d1,d2,d3,d4),其中,d1为第一预设场合,d2为第二预设场合,d3为第三预设场合,d4为第四预设场合;对于所述元件预设型号矩阵r0,r0(r1,r2,r3,r4),其中,r1为第一预设待测温元件型号,r2为第二预设待测温元件型号,r3为第三预设待测温元件型号,r4为第四预设待测温元件型号;对于所述检测器预设型号矩阵组s0,s0(s1,s2,s3,s4),其中,s1为第一预设温度检测器型号矩阵,s2为第二预设温度检测器型号矩阵,s3为第三预设温度检测器型号矩阵,s4为第四预设温度检测器型号矩阵;对于所述第i预设温度检测器型号矩阵si,i=1,2,3,4,si(si1,si2,si3,si4),其中,si1为第i预设温度检测器第一预设型号,si2为第i预设温度检测器第二预设型号,si3为第i预设温度检测器第三预设型号,si4为第i预设温度检测器第四预设型号;
[0099]
在使用所述测温系统时,工作人员依次向所述中控处理器内输入所述测温系统的使用场合以及各所述待测温元件的型号,中控处理器从所述存储器中依次调取预设场合矩阵d0、元件预设型号矩阵r0和检测器预设型号矩阵组s0并根据测温系统使用场合和待测温元件型号确定各所述温度检测器的型号:
[0100]
当测温系统应用的场合为第一预设场合d1时,中控处理器从s1矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0101]
当测温系统应用的场合为第二预设场合d2时,中控处理器从s2矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0102]
当测温系统应用的场合为第三预设场合d3时,中控处理器从s3矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0103]
当测温系统应用的场合为第四预设场合d4时,中控处理器从s4矩阵中选取对应型号的温度检测器;
[0104]
当中控处理器从si矩阵中选取对应型号的温度检测器时,中控处理器会根据待测温元件的具体型号从si矩阵中选取对应型号的温度检测器:
[0105]
当待测温元件的型号为第一预设待测温元件型号r1时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第一预设型号si1对该待测温元件的温度进行检测;
[0106]
当待测温元件的型号为第二预设待测温元件型号r2时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第二预设型号si2对该待测温元件的温度进行检测;
[0107]
当待测温元件的型号为第三预设待测温元件型号r3时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第三预设型号si3对该待测温元件的温度进行检测;
[0108]
当待测温元件的型号为第四预设待测温元件型号r4时,中控处理器判定选用第i预设温度检测器第四预设型号si4对该待测温元件的温度进行检测。
[0109]
具体而言,所述存储器中还设有预设温度矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),其中,t1为第一预设温度矩阵,t2为第二预设温度矩阵,t3为第三预设温度矩阵,t4为第四预设温度矩阵;当所述温度检测器安装完成时,中控处理器从存储器中调取t0矩阵组,并根据各待测温元件的型号选取对应的预设温度矩阵:
[0110]
当待测温元件的型号为第一预设待测温元件型号r1时,中控处理器判定选用第一预设温度矩阵t1对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0111]
当待测温元件的型号为第二预设待测温元件型号r2时,中控处理器判定选用第二预设温度矩阵t2对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0112]
当待测温元件的型号为第三预设待测温元件型号r3时,中控处理器判定选用第三预设温度矩阵t3对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置;
[0113]
当待测温元件的型号为第四预设待测温元件型号r4时,中控处理器判定选用第四预设温度矩阵t4对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置。
[0114]
具体而言,对于所述第i预设温度矩阵ti,i=1,2,3,4,ti(tia,tib,tic),其中,tia为第i预设启动温度,tib为第i预设运行温度,tic为第i预设校正温度,tic<tia;当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵ti对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,中控处理器将该温度检测器的预设启动温度值设置为tia,将该温度检测器的预设运行温度值设置为tib,将该温度检测器的预设校正温度值设置为tic。
[0115]
具体而言,当测温系统启动第一预设时长后、所述中控处理器控制第i型号温度检测器检测对应的所述待测温元件的温度值时,中控处理器选取对应的第i预设校正温度值tic与测得的温度值进行比对:
[0116]
当检测温度值大于等于预设校正温度值tic时,中控处理器判定该温度检测器安装合格并判断检测的温度值与所述第i预设启动温度值tia之间的关系;
[0117]
当检测温度值小于预设校正温度值tic时,中控处理器判定该温度检测器安装不合格,电力系统停止运行,工作人员重新安装该温度检测器并在安装完成后重新启动电力系统,温度检测器在第一预设检测时长后重新检测待测温元件温度,中控处理器将新测得的温度值重新与tic值进行比对,若新测得的温度值仍小于tic值,则重复上述步骤直至测得的温度值大于等于tic值。
[0118]
具体而言,所述存储器中还设有预设时长矩阵组t0(t1,t2,t3,t4),其中,t1为第一预设时长矩阵,t2为第二预设时长矩阵,t3为第三预设时长矩阵,t4为第四预设时长矩阵;当工作人员向所述中控处理器输入测温系统应用的场合时,中控处理器从存储器中调取预设时长矩阵组t0并根据所述测温系统的应用场合选取对应的预设时长矩阵:
[0119]
当测温系统应用的场合为第一预设场合d1时,中控处理器从t0矩阵组中选取t1矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0120]
当测温系统应用的场合为第二预设场合d2时,中控处理器从t0矩阵组中选取t2矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0121]
当测温系统应用的场合为第三预设场合d3时,中控处理器从t0矩阵组中选取t3矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置;
[0122]
当测温系统应用的场合为第四预设场合d4时,中控处理器从t0矩阵组中选取t4矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置。
[0123]
具体而言,对于第i预设时长矩阵ti,i=1,2,3,4,ti(tia,tib),其中,tia为第i预设第一检测时长,tib为第i预设第二检测时长;当中控处理器从t0矩阵组中选取ti矩阵以对测温系统的各项检测时长进行设置时,中控处理器将第一预设检测时长值设置为tia,将第二预设检测时长值设置为tib。
[0124]
具体而言,所述存储器中还设有预设温差修正系数矩阵α0(α1,α2,α3,α4),其中,α1为第一预设温差修正系数,α2为第二预设温差修正系数,α3为第三预设温差修正系数,α4为第四预设温差修正系数;当所述测温系统运行时,中控处理器会根据各待测温元件的型号选取对应的温差修正系数以针对该待测温元件对预设温差矩阵c0中的参数进行修正:
[0125]
当中控处理器判定待测温元件为r1型号时,中控处理器选用α1对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0126]
当中控处理器判定待测温元件为r2型号时,中控处理器选用α2对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0127]
当中控处理器判定待测温元件为r3型号时,中控处理器选用α3对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0128]
当中控处理器判定待测温元件为r4型号时,中控处理器选用α4对所述预设温差矩阵c0中的参数进行修正;
[0129]
当中控处理器选用αi对c0矩阵中的参数进行修正后,i=1,2,3,4,中控处理器针对该待测温元件重新建立预设温差矩阵cαi0(c1*αi,c2*αi,c3*αi,c4*αi),当所述计时器记录时长达到第二预设检测时长且检测温度值大于预设运行温度值时,中控处理器计算检测温度与预设运行温度之间的温差值c并将c与所述cαi0矩阵中的参数进行比对。
[0130]
具体而言,所述存储器中还设有预设环境温度矩阵w0和预设温度系数矩阵β0;对于所述预设环境温度矩阵w0,w0(w1,w2,w3,w4),其中,w1为第一预设环境温度,w2为第二预设环境温度,w3为第三预设环境温度,w4为第四预设环境温度,各预设环境温度的温度值按照顺序逐渐增加;对于所述预设温度系数矩阵β0,β0(β1,β2,β3,β4),其中,β1为第一预设温度系数,β2为第二预设温度系数,β3为第三预设温度系数,β4为第四预设温度系数;
[0131]
当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵ti对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,i=1,2,3,4,所述中控处理器控制各所述温度检测器检测电力系统所处环境的温度w并将w与w0矩阵中的各项参数进行比对:
[0132]
当w≤w1时,中控处理器选用β1对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0133]
当w1<w≤w2时,中控处理器选用β2对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0134]
当w2<w≤w3时,中控处理器选用β3对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0135]
当w3<w≤w4时,中控处理器选用β4对所述ti矩阵中的参数进行修正;
[0136]
当中控处理器选用βi对ti矩阵中的参数进行修正时,中控处理器针对该待测温元件重新建立预设温度矩阵tiβi(tia*βi,tib*βi,tic*βi),当中控处理器判定选用第i预设温度矩阵tiβi对设置在该待测温元件上温度检测器的各项预设温度值进行设置时,中控处理器将该温度检测器的预设启动温度值设置为tia*βi,将该温度检测器的预设运行温度值设置为tib*βi,将该温度检测器的预设校正温度值设置为tic*βi。
[0137]
至此,已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案,但是,本领域技术人员容易理解的是,本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下,本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换,这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。
[0138]
以上所述仅为本发明的优选实施例,并不用于限制本发明;对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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