一种用于模组显示图像的检测装置的制作方法

本实用新型属于图像检测领域，具体涉及一种用于模组显示图像的检测装置。

背景技术：

在平板外观缺陷自动化检测领域，在模组的表面的cg玻璃与液晶分子之间通常会存在灰尘，异物等缺陷，在cg玻璃表面也是会存在异物，脏污等缺陷，因而在进行外观检测时，需要将玻璃内部及外部的异物进行检测出来，因而就需要使用光源进行照明。将屏幕熄灭，开启侧光源，屏幕上的粒子将会被照亮，在进行aoi检测之前将该灰尘画面进行过滤，以便确认真正的屏幕存在的色偏，暗点，亮点等缺陷。

通常是在屏幕点亮的情况下，用相机进行拍摄检测屏的缺陷，但实际上由于模组表面存在异物会造成误判，在进行检测时会误将灰尘灯缺陷当做屏电路上的缺陷，或者是该处的液晶分子偏转异常。在平板外观缺陷自动化检测领域，通常无法有效区分缺陷是否是真正的缺陷，比如盖板玻璃(cg玻璃)需要贴合在上偏光片或屏幕之上，在cg玻璃与偏光片之间容易夹入了灰尘(particle)，当灰尘为微米级别时，造成cg玻璃与上偏光片之间形成贴合异物缺陷，这种贴合异物缺陷会导致次品产生。而外部有些缺陷(比如灰尘、脏污等)可以通过清洁去掉，并不影响品质，从而造成对良品的误判。

光源的打光方式对缺陷检测尤为重要，直接影响缺陷检测结果。专利文献(cn107228864a)公开了一种显示面板表面缺陷的检测系统，其虽然采用了多层光源系统，但是由于其主要是检测显示面板的凹点缺陷，因此，在设计光源时，使得平行光源与镜头的垂直方向形成特定夹角，在上层的第二层光源，通过调整光源组件中的每个光源，从而使得中心光斑均覆盖被测显示面板，该系统主要在于使得显示面板的凹点缺陷处反射进入面阵相机，然而对于显示面板来说不仅仅存在凹点处缺陷，还存在灰尘脏污，如果光源与镜头的垂直方向具有特定夹角，会使得灰尘脏污缺陷与背景对比度不高，存在不易检出的情况。

技术实现要素：

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本实用新型提供了一种用于模组显示图像的检测装置，其通过第一子光源和第二子光源的放置方式，通过上下两层的侧光源进行打光，高层侧光源放在屏中心上方垂直照射，以用来弥补中心处的亮度，可以将整个屏照明均匀，同时，低层侧光源的光照方式采用平行方式，对于灰尘等缺陷检测效果较为显著，提高了灰尘与背景的对比度，高层侧光源对于气泡等缺陷检测较为明显，从而将屏上存在的灰尘，异物更好更全面地检测出来。

为实现上述目的，按照本实用新型的一个方面，提供了一种用于模组显示图像的检测装置，该检测装置包括检测相机和检测光源，检测相机用于获取待检测模组的线扫图像，

检测光源包括多个第一子光源，以及位于多个第一子光源与检测相机之间的多个第二子光源，多个第一子光源与检测相机之间的垂直距离相等，多个第二子光源与检测相机之间的垂直距离相等；

多个第一子光源工作时位于待检测模组的显示屏上方两侧，其照射方向平行于待检测模组的显示屏；多个第二子光源的照射方向垂直于待检测模组的显示屏。

作为本实用新型的进一步改进，第一子光源为条形光源或线光源。

作为本实用新型的进一步改进，多个第一子光源对称放置于待检测模组两侧。

作为本实用新型的进一步改进，第二子光源在竖直平面上位于相机和第一子光源之间。

作为本实用新型的进一步改进，第二子光源为条形光源或线光源。

作为本实用新型的进一步改进，多个第二子光源对称放置于待检测模组两侧。

总体而言，通过本实用新型所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：

本实用新型的一种用于模组显示图像的检测装置，通过上下两层的侧光源进行打光，低层侧光源的光照方式采用平行光照明可使得灰尘等脏污与背景的对比度更高，对于灰尘等缺陷检测效果较为显著，同时，由于低层侧光源对于待检测屏两端的亮度较高而中心处的亮度较低，此时将高层侧光源放在屏中心上方垂直照射，以用来弥补中心处的亮度，这样整个屏的亮度较为均匀，在进行检测时更利于缺陷检测，并且高层侧光源的打光方式对于气泡等缺陷检测较为明显，从而将屏上存在的灰尘，异物很好地检测出来。

附图说明

图1为本实用新型实施例的一种用于模组显示图像的检测装置的示意图；

在所有附图中，同样的附图标记用来表示相同的元件或结构，具体为：1-检测相机、2-高层侧光源(第二子光源)、3-低层侧光源(第一子光源)和4-待检测模组。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

此外，下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面结合具体实施方式对本实用新型进一步详细说明。

图1为本实用新型实施例的一种用于模组显示图像的检测装置的示意图。如图1所示，一种用于模组显示图像的检测装置，该检测装置包括检测相机和检测光源，检测相机用于获取待检测模组的线扫图像，

检测光源包括多个第一子光源，以及位于多个第一子光源与检测相机之间的多个第二子光源，多个第一子光源与检测相机之间的垂直距离相等，多个第二子光源与检测相机之间的垂直距离相等；

多个第一子光源工作时位于待检测模组的显示屏上方两侧，其照射方向平行于待检测模组的显示屏；多个第二子光源的照射方向垂直于待检测模组的显示屏。

该装置的检测步骤包括：

点亮检测光源并关闭待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第一线扫图像；关闭检测光源并点亮待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第二线扫图像；比对第一线扫图像和第二线扫图像以实现待检测模组的缺陷检测；

点亮检测光源并关闭待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第一线扫图像；关闭检测光源并点亮待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第二线扫图像；比对第一线扫图像和第二线扫图像以实现待检测模组的缺陷检测；

比对第一线扫图像和第二线扫图像具体为：

将第一线扫图像和第二线扫图像b每个像素点的灰阶值相减得到第三线扫图像，检测第三线扫图像的缺陷即为待检测模组的检测缺陷。

作为一个优选的实施例，第一子光源为条形光源或线光源。

作为一个优选的实施例，多个第一子光源对称放置于待检测模组两侧。

作为一个优选的实施例，第二子光源在竖直平面上位于相机和第一子光源之间。

作为一个优选的实施例，第二子光源为条形光源或线光源。

作为一个优选的实施例，多个第二子光源对称放置于待检测模组两侧。

点亮检测光源并关闭待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第一线扫图像a；关闭检测光源并点亮待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第二线扫图像b；比对第一线扫图像和第二线扫图像以实现待检测模组的缺陷检测。作为一个示例，可以将第一线扫图像a和第二线扫图像b上每个像素点的灰阶值相减得到第三线扫图像c，通过检测第三线扫图像c的缺陷就可以得到待检测模组本身存在的缺陷，第三线扫图像c中的缺陷代表屏实际存在的缺陷，作为一个示例，点缺陷通常是屏上存在单个发亮或者是发暗的点，面缺陷通常是某一区域内出现过亮或者是过暗，以及譬如点亮屏的画面为g画面，也就是纯绿色画面，但是画面上出现有除了绿色以外的其他的颜色，如红色斑块，该缺陷称为色偏缺陷，也是面缺陷，点缺陷与面缺陷的区别在于缺陷的面积的大小不同。当然，上述比对第一线扫图像和第二线扫图像的方式仅为一个简单的示例，可依据不同检测手段及检测条件的需求进行相应的调整。

作为一个示例，将第一子光源放置于水平距离屏的边缘处，也可依据需要进行其他位置的方式，第一子光源与屏的高度相同的位置进行固定，两侧光源以屏的中心为对称轴进行对称放置，光源的长度可以比屏的长边或者是屏的宽边要长。使用条形光源时，光源的发散角较大，但是光源的亮度值较低，进行检测时，需要提高相机的曝光时间。使用线光源，亮度值较高，发散角较小，针对于大屏或者是小屏，均可以使用。光源放置距离屏越近越好，距离较远会导致光源的亮度值降低，增加相机的曝光时间。作为一个示例，第一子光源左右两侧放置各一只，光源距离料片的高度及水平距离可根据使用的光源的发散角进行评估，若屏的尺寸较大，每只光源可用于照明半个屏，若屏的尺寸较小，可使得每只光源照明整张屏，这种打光方式相当于前者，照明更均匀，第一子光源可以放在屏的长边两侧，这样放置的好处是可使用发散角较小的线光源。

作为一个示例，将第二子光源放置于水平距离屏的边缘处，也可依据需要进行其他位置的方式，如第二子光源在竖直平面上位于相机和第一子光源之间，由于低层侧光源对于待检测屏两端的亮度较高而中心处的亮度较低，此时将高层侧光源放在屏中心上方垂直照射，以用来弥补中心处的亮度，这样整个屏的亮度较为均匀，在进行检测时更利于缺陷检测，并且高层侧光源的打光方式对于气泡等缺陷检测较为明显，从而将屏上存在的灰尘，异物很好地检测出来。第二子光源与屏的高度相同的位置进行固定，两侧光源以屏的中心为对称轴进行对称放置，光源的长度可以比屏的长边或者是屏的宽边要长。使用条形光源时，光源的发散角较大，但是光源的亮度值较低，进行检测时，需要提高相机的曝光时间。使用线光源，亮度值较高，发散角较小，针对于大屏或者是小屏，均可以使用。光源放置距离屏越近越好，距离较远会导致光源的亮度值降低，增加相机的曝光时间。作为一个示例，第二子光源左右两侧放置各一只，光源距离料片的高度及水平距离可根据使用的光源的发散角进行评估，若屏的尺寸较大，每只光源可用于照明半个屏，若屏的尺寸较小，可使得每只光源照明整张屏，这种打光方式相当于前者，照明更均匀，第二子光源可以放在屏的长边两侧，这样放置的好处是可使用发散角较小的线光源。

上述侧光源于屏的两侧进行对称放置只是为了使得画面亮度较为均匀，从而将屏上存在的灰尘，异物很好地检测出来，但是光源即使是不对称放置仍然可以进行照明，并不影响缺陷检测，上述光源的位置并不是固定的，只是针对于不同尺寸的屏，由于光源的发散角受限，可依据需要将光源的高度及水平位置进行调节，在不影响画面均匀性的情况下，可以将光源置于离屏的位置越靠近越好，这是因为光源距离屏越近，光强越大，灰尘脏污等缺陷更利于检测出来，同时通过第一子光源和第二子光源的方式，使得低层侧光源对于灰尘等缺陷检测效果较为显著，高层侧光源对于气泡等缺陷检测较为明显，从而将屏实际存在的画质上的缺陷进行区分开。

依据上述方式设置好检测装置，点亮检测光源并关闭待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第一线扫图像a；关闭检测光源并点亮待检测模组，利用检测相机获取待检测模组的第二线扫图像b；比对第一线扫图像和第二线扫图像以实现待检测模组的缺陷检测。作为一个示例，可以将第一线扫图像a和第二线扫图像b上每个像素点的灰阶值相减得到第三线扫图像c，通过检测第三线扫图像c的缺陷就可以得到待检测模组本身存在的缺陷，第三线扫图像c中的缺陷代表屏实际存在的缺陷，作为一个示例，点缺陷通常是屏上存在单个发亮或者是发暗的点，面缺陷通常是某一区域内出现过亮或者是过暗，以及譬如点亮屏的画面为g画面，也就是纯绿色画面，但是画面上出现有除了绿色以外的其他的颜色，如红色斑块，该缺陷称为色偏缺陷，也是面缺陷，点缺陷与面缺陷的区别在于缺陷的面积的大小不同。当然，上述比对第一线扫图像和第二线扫图像的方式仅为一个简单的示例，可依据不同检测手段及检测条件的需求进行相应的调整。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。