一种电子器件分析测试仪器的制作方法

1.本发明涉及电子器件技术领域，具体为一种电子器件分析测试仪器。


背景技术：

2.各种电子器件在批量生产后，由于外界环境因素或自身使用材料而导致的质量问题，会使生产后的电子器件出现一定的瑕疵品，导致在后期投入使用时，出现各种问题；
3.红外感应传感器在进行质检或用作实验时，需要处于一个较为密闭的环境，防止外界红外光线对传感器的影响。


技术实现要素：

4.本发明要解决的技术问题是提供一种电子器件分析测试仪器，解决了电子器件容易受外界影响而影响实验及测试的问题。
5.本发明是通过以下技术方案来实现的。
6.本发明的一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁贯穿设有固定连接块，所述固定连接块一端位于所述分析腔内，所述固定连接块与所述移动连接块滑动连接，所述固定连接块位于所述分析腔内的一端固定设有检验设备，所述固定连接块设有开口朝向所述移动连接块且朝上的l型槽，所述移动连接块设有开口朝向所述l型槽的连接槽，所述连接槽与所述固定连接块之间滑动设有l型块。
7.作为优选的，所述测试腔侧壁贯穿设有通槽，所述通槽与所述滑槽连通，所述通槽滑动设有挡板，所述挡板与所述通槽之间连接设有拉伸弹簧。
8.作为优选的，所述接口侧壁设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述接口为对称中心对称，所述弹簧槽滑动设有夹片，所述夹片一端位于所述接口内，所述夹片与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。
9.作为优选的，所述移动连接块设有两个卡槽，所述卡槽位于所述滑槽内并与所述滑槽连通，两个所述卡槽以所述移动连接块为对称中心对称。
10.作为优选的，所述滑槽靠近所述分析腔的侧壁连通设有两个转动槽，两个所述转动槽以所述固定连接块为对称中心对称，所述转动槽下侧壁转动设有转轴，所述转轴固定设有爪夹，所述爪夹另一端位于所述卡槽内。
11.作为优选的，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁连通设有传动腔，所述传动腔与所述转动槽连通，所述传动腔与所述滑槽连通，所述传动腔位于所述固定连接块上侧，所述传动腔靠近所述测试腔的侧壁转动设有传动轴，所述传动轴上固定设有传动齿轮，所述移动连接块上端固定设有传动齿条，所述传动齿条与所述传动齿轮啮合连接。
12.作为优选的，所述传动腔侧壁间转动设有从动轴，所述从动轴与所述传动轴之间连接设有第一锥齿轮组，所述从动轴上固定设有从动齿轮，所述l型块上端固定设有从动齿条，所述从动齿条与所述从动齿轮啮合连接，所述从动轴与所述转轴之间连接设有第二锥齿轮组。
13.作为优选的，所述测试腔远离所述挡板的侧壁固定设有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆与所述移动连接块固定连接。
14.作为优选的，所述红外传感器一端固定设有三个引脚。
15.本发明的有益效果：本发明用于红外传感器的分析测试或实验，也可通过更换红外射灯、检验设备及测试程序来对其他电子器件进行检测，应用范围广，并且为测试提供了一个密闭的空间，避免外界环境因素干扰，且减少了使用者与电子器件的接触，防止人为性的安装或其他类型失误导致结果不准确。
附图说明
16.为了更清楚地说明发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1是本发明实施例的结构示意图；
18.图2是本发明实施例图1中a
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a的结构示意图；
19.图3是本发明实施例图1中b处放大示意图。
20.图4是本发明实施例图2中c
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c的结构示意图。
21.图5是本发明实施例图2中d处放大示意图。
22.图6是本发明中将传感器放入时的工作状态图。
23.图7是本发明进行分析测试时的工作状态图。
24.图8是本发明实施例图7中e处放大示意图。
具体实施方式
25.下面结合图1
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8对本发明进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
26.结合附图1
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8所述的一种电子器件分析测试仪器，包括箱体11、红外传感器43，所述箱体11内设有分析腔12及测试腔13，所述测试腔13远离所述分析腔12的侧壁固定设有红外射灯20，所述测试腔13靠近所述分析腔12的侧壁连通设有滑槽22，所述滑槽22滑动设有移动连接块17，所述移动连接块17一端位于所述测试腔13，所述移动连接块17设有开口朝向所述测试腔13的三个接口19，三个所述接口19呈阵列分布，所述分析腔12靠近所述测试腔13的侧壁贯穿设有固定连接块26，所述固定连接块26一端位于所述分析腔12内，所述固定连接块26与所述移动连接块17滑动连接，所述固定连接块26位于所述分析腔12内的一端固定设有检验设备27，所述固定连接块26设有开口朝向所述移动连接块17且朝上的l型槽25，所述移动连接块17设有开口朝向所述l型槽25的连接槽23，所述连接槽23与所述固定连接块26之间滑动设有l型块24。
27.有益地，所述测试腔13侧壁贯穿设有通槽45，所述通槽45与所述滑槽22连通，所述通槽45滑动设有挡板21，所述挡板21与所述通槽45之间连接设有拉伸弹簧28。
28.有益地，所述接口19侧壁设有两个弹簧槽41，两个所述弹簧槽41以所述接口19为对称中心对称，所述弹簧槽41滑动设有夹片18，所述夹片18一端位于所述接口19内，所述夹片18与所述弹簧槽41之间连接设有压缩弹簧40。
29.有益地，所述移动连接块17设有两个卡槽42，所述卡槽42位于所述滑槽22内并与所述滑槽22连通，两个所述卡槽42以所述移动连接块17为对称中心对称。
30.有益地，所述滑槽22靠近所述分析腔12的侧壁连通设有两个转动槽30，两个所述转动槽30以所述固定连接块26为对称中心对称，所述转动槽30下侧壁转动设有转轴39，所述转轴39固定设有爪夹29，所述爪夹29另一端位于所述卡槽42内。
31.有益地，所述分析腔12靠近所述测试腔13的侧壁连通设有传动腔35，所述传动腔35与所述转动槽30连通，所述传动腔35与所述滑槽22连通，所述传动腔35位于所述固定连接块26上侧，所述传动腔35靠近所述测试腔13的侧壁转动设有传动轴15，所述传动轴15上固定设有传动齿轮14，所述移动连接块17上端固定设有传动齿条16，所述传动齿条16与所述传动齿轮14啮合连接。
32.有益地，所述传动腔35侧壁间转动设有从动轴36，所述从动轴36与所述传动轴15之间连接设有第一锥齿轮组32，所述从动轴36上固定设有从动齿轮37，所述l型块24上端固定设有从动齿条34，所述从动齿条34与所述从动齿轮37啮合连接，所述从动轴36与所述转轴39之间连接设有第二锥齿轮组38。
33.有益地，所述测试腔13远离所述挡板21的侧壁固定设有电动伸缩杆31，所述电动伸缩杆31与所述移动连接块17固定连接。
34.有益地，所述红外传感器43一端固定设有三个引脚44。
35.初始状态下，红外射灯20处于关闭状态，挡板21位于通槽45内，拉伸弹簧28处于初始状态，移动连接块17与固定连接块26接触，连接槽23与l型槽25连通，l型块24一端位于连接槽23内，爪夹29一端位于卡槽42内，压缩弹簧40处于初始状态；
36.进行测试时，启动电动伸缩杆31伸长，从而带动移动连接块17朝向挡板21移动，移动连接块17通过传动齿条16带动传动齿轮14转动，传动齿轮14带动传动轴15转动，传动轴15通过第一锥齿轮组32带动从动轴36转动，从而带动从动齿轮37转动，从动齿轮37用过从动齿条34带动l型块24移动，l型块24离开连接槽23，同时从动轴36通过第二锥齿轮组38带动转轴39转动，从而带动爪夹29转动，爪夹29离开卡槽42并转动到转动槽30内，移动连接块17抵触并推动挡板21，挡板21离开通槽45，移动连接块17离开测试腔13，拉伸弹簧28拉伸，电动伸缩杆31停止；
37.将三个引脚44分别插入三个接口19，引脚44推动夹片18，压缩弹簧40压缩，启动电动伸缩杆31缩短，带动移动连接块17回到测试腔13内，挡板21在拉伸弹簧28的作用下回到通槽45内，移动连接块17带动传动齿条16移动从而带动传动齿轮14转动，传动齿轮14带动传动轴15转动，传动轴15通过第一锥齿轮组32带动从动轴36转动，从而带动从动齿轮37转动，从动齿轮37通过从动齿条34带动l型块24朝向连接槽23移动，同时能够使红外传感器43与检验设备27连接，从动轴36通过第二锥齿轮组38带动转轴39转动，从而带动爪夹29转动，爪夹29另一端移动到弹簧槽41内，两个爪夹29将移动连接块17固定，电动伸缩杆31停止，开
启红外射灯20，输入程序进行测试或实验；
38.使用结束后，关闭红外射灯20，启动电动伸缩杆31伸长，带动移动连接块17朝向挡板21移动，从而带动红外传感器43移动，移动连接块17抵触并推动挡板21，挡板21离开通槽45，移动连接块17离开测试腔13，拉伸弹簧28拉伸，电动伸缩杆31停止，取下红外传感器43，引脚44离开接口19,夹片18在压缩弹簧40的作用下移动复位，启动电动伸缩杆31缩短，带动移动连接块17回到测试腔13内，挡板21在拉伸弹簧28的作用下回到通槽45内，l型块24回到连接槽23内，电动伸缩杆31停止，设备恢复初始状态。
39.上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本发明内容并加以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。