技术特征：
1.一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于，其包括：利用日照光源照射到样本容器上，所述样本容器附近设有可移动的相机，通过相机拍摄样本容器的外观及其内壁的影像，获得采样样品在样本容器中的高度，结合样本容器本身的尺寸结构，通过计算得到采样量。2.根据权利要求1所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器的内壁的粗糙度ra值为不小于0.8。3.根据权利要求2所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器的内壁设有若干环状的纹路。4.根据权利要求3所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述若干环状的纹路在车削加工过程中生成。5.根据权利要求4所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器采用机械加工工艺一体成型。6.根据权利要求1～5任意一项所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述计算包括如下步骤：采用如下公式计算得到样本容器内采样样品的顶部在样本容器内的半径b：其中，α为相对于采用容器底部平面的太阳光照角度，β为样本容器侧壁的锥度，c为样本容器顶端口部至样本容器内采样样品最高位置的距离，h
c
为样本容器内采样样品最高位置距离样本容器底部的高度，r为样本容器顶部的最大半径，r为样本容器底部的有效半径，w为样本容器顶端口部半径；获得b值后，通过锥度计算样本位置顶端和样本容器本身特征的相对距离和关系，从而得知实际的采样量。7.根据权利要求1～5任意一项所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：调节相机与样本容器之间的距离，当相机能清晰拍摄日照光源所投射到容器内壁的光影以及样本容器内样本顶端表面时，获得f值，采用如下公式进行计算得到样本容器内样品的体积v：其中，r为样本容器底部的有效半径，h为相机距离容器底部的距离，f为相机的焦距，k＝cot(90
°‑
β)，m＝tan(90
°‑
β)，β为样本容器侧壁的锥度。8.根据权利要求7所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述相机为定焦镜。
技术总结
本发明提供了一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，利用日照光源照射到样本容器上，所述样本容器附近设有可移动的相机，通过相机拍摄样本容器的外观及其内壁的影像，获得采样样品在样本容器中的高度，结合样本容器本身的尺寸结构，通过计算得到采样量。采用本发明的技术方案，利用日照光源照射样本容器顶端时，阳光会投射到容器的内壁，在内部表面形成光影，透过视觉就可根据产生刻度标记的长度和形状，从而判断样本在容器内的高度及采样量从而准确的计算得到采样量，采用这种方式所需要的设备除一般探测器本身因任务需求都已经配备的相机外，无需额外配备任何传感器，大大降低了失效的可能性，无需增加额外重量，可靠性高。可靠性高。可靠性高。
技术研发人员：容启亮 高瑞文 关福延 林浩一
受保护的技术使用者：香港理工大学
技术研发日：2021.12.07
技术公布日：2022/3/11