技术特征：
1.一种自动标记坏点的芯片测试机，包括测试箱（1），其特征在于：所述测试箱（1）内腔的底部固定安装有第一电机（2），所述第一电机（2）的输出端传动连接有第一螺杆（5），所述第一螺杆（5）的表面螺纹连接有第一螺块（4），所述第一螺块（4）的顶部通过支架固定安装有检测板（6），所述检测板（6）的顶部开设有检测槽（7），所述测试箱（1）内腔的左侧通过支架固定安装有第一电动推杆（10），所述第一电动推杆（10）的输出端通过支架固定安装有负极探针（9），所述测试箱（1）内腔的右侧通过安装板固定安装有第二电机（17），所述第二电机（17）的输出端传动连接有第二螺杆（13），所述第二螺杆（13）的表面螺纹连接有第二螺块（16），所述第二螺块（16）的底部固定安装有第二电动推杆（18），所述第二电动推杆（18）的输出端固定安装有稳定框（19），所述稳定框（19）的背面通过安装座固定安装有第三电机（22），所述第三电机（22）的输出端传动连接有第三螺杆（24），所述第三螺杆（24）的表面螺纹连接有第三螺块（23），所述第三螺块（23）的底部固定安装有正极探针（20），所述正极探针（20）的内腔固定安装有第三电动推杆（26），所述第三电动推杆（26）的输出端固定安装有墨针（27），所述测试箱（1）左侧的顶部设置有指示灯（12）。2.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于：所述第一螺块（4）的底部通过支架固定安装有第一滑块（3），所述测试箱（1）内腔的底部开设有第一滑槽（8）。3.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于：所述第二螺块（16）的顶部通过支架固定安装有第二滑块（15），所述测试箱（1）内腔的顶部开设有第二滑槽（14）。4.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于：所述第三螺块（23）的顶部通过支架固定安装有第三滑块（21），所述稳定框（19）内腔的顶部开设有第三滑槽（25）。5.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于：所述测试箱（1）的左侧设置有控制面板（11），且控制面板（11）的表面设置有防护膜。6.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于：所述测试箱（1）右侧的底部固定安装有电池箱（28），且电池箱（28）的内腔设置有蓄电池。
技术总结
本实用新型公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括测试箱，所述测试箱内腔的底部固定安装有第一电机，所述第一电机的输出端传动连接有第一螺杆，所述第一螺杆的表面螺纹连接有第一螺块，所述第一螺块的顶部通过支架固定安装有检测板，所述检测板的顶部开设有检测槽，测试箱内腔的左侧通过支架固定安装有第一电动推杆。本实用新型设置了测试箱、第一电机、第一螺块、第一螺杆、检测板、检测槽、负极探针、第一电动推杆、指示灯、第二螺杆、第二螺块、第二电机、第二电动推杆、稳定框、正极探针、第三电机、第三螺块、第三螺杆、第三电动推杆和墨针，解决了传统的芯片测试机使用效果不好，不便于对芯片坏点进行标记的问题。便于对芯片坏点进行标记的问题。便于对芯片坏点进行标记的问题。
技术研发人员：李娜
受保护的技术使用者：深圳市北辰电子有限公司
技术研发日：2021.03.24
技术公布日：2021/11/2