一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置。


背景技术：

2.在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，称作芯片，现有的芯片检测仪器在外界进行工作时，很容易会遭受电磁干扰等问题，不对其进行防护，可能还会造成检测器表面出现腐蚀，导致内部电器组件暴露在外，造成线路老化或短路的问题，为此，我们提出一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置。


技术实现要素：

3.针对现有技术的不足，本实用新型提供一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，具备防护性能好的优点，解决了现有的芯片检测仪器在外界进行工作时，很容易会遭受电磁干扰等问题，不对其进行防护，可能还会造成检测器表面出现腐蚀，导致内部电器组件暴露在外，造成线路老化或短路的问题。
4.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，包括防护箱，所述防护箱的顶部两端均固定安装有电机，所述电机的输出端固定连接有螺杆，所述螺杆的底部活动连接于防护箱的内腔底部，所述防护箱的内腔底部两端均活动连接有立柱，所述立柱的表面活动连接有活动板，所述螺杆的表面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的内侧固定连接有固定杆，所述固定杆的底部固定连接有支架，所述支架的轴心处通过轴承活动连接有限位轮，所述限位轮的底部活动连接于活动板的表面，所述活动板的内侧活动连接有隔板，所述隔板的顶部活动安装有芯片测试器本体。
5.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，其中所述防护箱的内腔顶部两端均固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧的底部固定连接有压板，所述芯片测试器本体的顶部活动连接于压板的底部，通过第二弹簧的设置，可对压板的顶部进行限位，避免在工作出现故障，导致卡紧工作出现问题，影响后续的工作。
6.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，其中所述隔板的顶部开设有安装槽，所述芯片测试器本体的底部滑动连接于安装槽的内腔中，所述隔板的底部两端均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的底部固定连接于防护箱的内腔底部，通过安装槽的设置，可对芯片测试器本体的底部进行限位，避免在夹紧过程中发生晃动，通过第一弹簧的设置，对隔板的底部进行限位，避免工作发生卡紧不稳定的现象，在螺纹套停止工作时，第一弹簧可以有效的推动隔板进行工作。
7.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，其中所述防护箱的内腔底部两端开设有定位槽，所述立柱的底部滑动连接于定位槽的内腔中，所述防护箱的内腔两侧均开设有限位槽，所述螺纹套的表面滑动连接于限位槽的内腔中，通过定位槽的
设置，对立柱的底部进行限位，避免限位轮压动活动板时，发生拉扯断裂的问题，通过限位槽的设置，对螺纹套的表面进行限位，避免螺纹套在旋转的过程中发生自转。
8.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，其中所述防护箱的底部四周均固定连接有支撑腿，所述防护箱的正面通过合页活动连接有活动门，通过支撑腿的设置，可对防护箱的底部进行支撑，避免工作出现晃动，防护箱无法稳定进行防护的现象，通过活动门的设置，方便将芯片测试器本体进行安装，还可将芯片放置在芯片测试器本体的内部进行测试。
9.本实用新型的一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，其中所述活动板的顶部开设有滑槽，所述限位轮的底部滑动连接于滑槽的内腔中，通过滑槽的设置，对限位轮的底部进行限位，避免限位轮在移动的时候，脱离活动板的顶部，导致工作出现失误，造成卡紧工作发生故障。
10.与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
11.1、本实用新型人们通过活动门的开启将芯片测试器本体安装在隔板的顶部安装槽的内部，通过外置控制器启动电机工作，通过电机带动螺杆旋转，通过螺杆带动螺纹套进行移动，通过螺纹套带动固定杆进行移动，通过固定杆带动支架向下移动，通过支架带动限位轮进行移动，通过限位轮进入滑槽的内部施加压力后，使得滑槽带动活动板发生偏移，通过活动板带动隔板进行移动，使得隔板带动安装槽对芯片测试器本体进行移动，通过芯片测试器本体抵住压板的底部即可完成夹持工作，使得防护效果更佳，通过活动门的开启将芯片放置在芯片测试器本体的检测口，即可对芯片进行正常的测试工作，避免了外界电磁干扰，达到了防护的效果，解决了现有的芯片检测仪器在外界进行工作时，很容易会遭受电磁干扰等问题，不对其进行防护，可能还会造成检测器表面出现腐蚀，导致内部电器组件暴露在外，造成线路老化或短路的问题。
12.2、本实用新型通过第二弹簧的设置，可对压板的顶部进行限位，避免在工作出现故障，导致卡紧工作出现问题，影响后续的工作，通过支撑腿的设置，可对防护箱的底部进行支撑，避免工作出现晃动，防护箱无法稳定进行防护的现象，通过活动门的设置，方便将芯片测试器本体进行安装，还可将芯片放置在芯片测试器本体的内部进行测试。
13.3、本实用新型通过安装槽的设置，可对芯片测试器本体的底部进行限位，避免在夹紧过程中发生晃动，通过第一弹簧的设置，对隔板的底部进行限位，避免工作发生卡紧不稳定的现象，在螺纹套停止工作时，第一弹簧可以有效的推动隔板进行工作。
14.4、本实用新型通过定位槽的设置，对立柱的底部进行限位，避免限位轮压动活动板时，发生拉扯断裂的问题，通过限位槽的设置，对螺纹套的表面进行限位，避免螺纹套在旋转的过程中发生自转，通过滑槽的设置，对限位轮的底部进行限位，避免限位轮在移动的时候，脱离活动板的顶部，导致工作出现失误，造成卡紧工作发生故障。
附图说明
15.图1为本实用新型结构主视图；
16.图2为本实用新型结构剖视图；
17.图3为本实用新型结构a处局部放大图。
18.图中：1、防护箱；2、电机；3、活动门；4、支撑腿；5、第一弹簧；6、隔板；7、立柱；8、螺
纹套；9、限位槽；10、螺杆；11、芯片测试器本体；12、压板；13、第二弹簧；14、支架；15、限位轮；16、活动板；17、滑槽；18、定位槽；19、固定杆；20、安装槽。
具体实施方式
19.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
20.在实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
21.在实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
22.本实用新型的防护箱1、电机2、活动门3、支撑腿4、第一弹簧5、隔板6、立柱7、螺纹套8、限位槽9、螺杆10、芯片测试器本体11、压板12、第二弹簧13、支架14、限位轮15、活动板16、滑槽17、定位槽18、固定杆19和安装槽20部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
23.请参阅图1
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3，一种芯片检测用具备防护功能的芯片测试装置，包括防护箱1，防护箱1的顶部两端均固定安装有电机2，电机2的输出端固定连接有螺杆10，螺杆10的底部活动连接于防护箱1的内腔底部，防护箱1的内腔底部两端均活动连接有立柱7，立柱7的表面活动连接有活动板16，螺杆10的表面螺纹连接有螺纹套8，螺纹套8的内侧固定连接有固定杆19，固定杆19的底部固定连接有支架14，支架14的轴心处通过轴承活动连接有限位轮15，限位轮15的底部活动连接于活动板16的表面，活动板16的内侧活动连接有隔板6，隔板6的顶部活动安装有芯片测试器本体11。
24.防护箱1的内腔顶部两端均固定连接有第二弹簧13，第二弹簧13的底部固定连接有压板12，芯片测试器本体11的顶部活动连接于压板12的底部，通过第二弹簧13的设置，可对压板12的顶部进行限位，避免在工作出现故障，导致卡紧工作出现问题，影响后续的工作。
25.隔板6的顶部开设有安装槽20，芯片测试器本体11的底部滑动连接于安装槽20的内腔中，隔板6的底部两端均固定连接有第一弹簧5，第一弹簧5的底部固定连接于防护箱1的内腔底部，通过安装槽20的设置，可对芯片测试器本体11的底部进行限位，避免在夹紧过程中发生晃动，通过第一弹簧5的设置，对隔板6的底部进行限位，避免工作发生卡紧不稳定的现象，在螺纹套8停止工作时，第一弹簧5可以有效的推动隔板6进行工作。
26.防护箱1的内腔底部两端开设有定位槽18，立柱7的底部滑动连接于定位槽18的内
腔中，防护箱1的内腔两侧均开设有限位槽9，螺纹套8的表面滑动连接于限位槽9的内腔中，通过定位槽18的设置，对立柱7的底部进行限位，避免限位轮15压动活动板16时，发生拉扯断裂的问题，通过限位槽9的设置，对螺纹套8的表面进行限位，避免螺纹套8在旋转的过程中发生自转。
27.防护箱1的底部四周均固定连接有支撑腿4，防护箱1的正面通过合页活动连接有活动门3，通过支撑腿4的设置，可对防护箱1的底部进行支撑，避免工作出现晃动，防护箱1无法稳定进行防护的现象，通过活动门3的设置，方便将芯片测试器本体11进行安装，还可将芯片放置在芯片测试器本体11的内部进行测试。
28.活动板16的顶部开设有滑槽17，限位轮15的底部滑动连接于滑槽17的内腔中，通过滑槽17的设置，对限位轮15的底部进行限位，避免限位轮15在移动的时候，脱离活动板16的顶部，导致工作出现失误，造成卡紧工作发生故障。
29.使用时，人们通过活动门3的开启将芯片测试器本体11安装在隔板6的顶部安装槽20的内部，通过外置控制器启动电机2工作，通过电机2带动螺杆10旋转，通过螺杆10带动螺纹套8进行移动，通过螺纹套8带动固定杆19进行移动，通过固定杆19带动支架14向下移动，通过支架14带动限位轮15进行移动，通过限位轮15进入滑槽17的内部施加压力后，使得滑槽17带动活动板16发生偏移，通过活动板16带动隔板6进行移动，使得隔板6带动安装槽20对芯片测试器本体11进行移动，通过芯片测试器本体11抵住压板12的底部即可完成夹持工作，使得防护效果更佳，通过活动门3的开启将芯片放置在芯片测试器本体11的检测口，即可对芯片进行正常的测试工作，避免了外界电磁干扰，达到了防护的效果，解决了现有的芯片检测仪器在外界进行工作时，很容易会遭受电磁干扰等问题，不对其进行防护，可能还会造成检测器表面出现腐蚀，导致内部电器组件暴露在外，造成线路老化或短路的问题（本技术中外置控制器为plc控制器，同时，外置控制器的两个接线端通过导线连接有电源插头，且本技术中采用市电进行供电，本文中出现的电器元件均与外置控制器以市电连接，并且外置控制器可为计算机等起到控制的常规已知设备）。
30.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。