技术特征：
1.一种共面性检测方法，用于对元器件进行共面性检测，其特征在于：所述元器件包括相对设置的第一侧边位和第二侧边位，以及设置于所述第一侧边位和所述第二侧边位同一端之间的顶边位，还包括位于所述第一侧边位和所述第二侧边位之间的中间位；所述第一侧边位包括至少2个测量点，所述第二侧边位包括至少2个测量点，所述顶边位包括至少2个测量点，所述中间位包括至少2个测量点；所述共面性检测方法步骤包括：s1、获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值；s2、根据所述第一侧边位至少2测量点的距离数值和所述第二侧边位至少2测量点的距离数值，建立第一基准面；s3、计算所述顶边位的测量点以及中间位的测量点分别相对于第一基准面的第一距离差值，根据各第一距离差值与设定条件的比较关系，选择测量点建立第二基准面；s4、分别计算各测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定阈值比较，得到共面性结果。2.根据权利要求1所述的共面性检测方法，其特征在于，“获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值”具体步骤为：所述激光源逐一扫描所述第一侧边位、所述第二侧边位、所述顶边位以及所述中间位的各测量点，分别得到各个测量点到所述激光源的距离数值。3.根据权利要求1所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤s2具体包括：选择所述第一侧边位至少1测量点以及所述第二侧边位对角位的至少1测量点，根据所选择测量点的距离数值建立初始基准；计算所述第一侧边位和所述第二侧边位的剩余测量点的距离数值与所述初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小；若各偏差值的绝对值均小于第一阈值，则选择所述第一侧边位和所述第二侧边位的所有测量点，以所选择的测量点的距离数值建立第一基准面。4.根据权利要求3所述的共面性检测方法，其特征在于：若任一偏差值的绝对值大于第一阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。5.根据权利要求1所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤s3具体包括：s3-1、计算所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足第一设定条件；s3-2、若所得距离差值满足第一设定条件，则计算所述中间位测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足预设条件，若所得距离差值满足预设条件，则选择测量点建立第二基准面。6.根据权利要求5所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤s3-1中所述第一设定条件包括：所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值均大于第二阈值；且，所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值均处于第三阈值和第四阈值之间。7.根据权利要求6所述的共面性检测方法，其特征在于，当所述顶边位任一或多个测量点相对所述第一基准面的距离差值不满足第一设定条件时，则判定所述元器件的共面性不合格。
8.根据权利要求5所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤s3-2包括：a、若所得距离差值满足第一设定条件，则计算所述中间位测量点分别相对所述第一基准面的距离差值；b、设定阈值，包括第五阈值、第六阈值、第七阈值及第八阈值，各阈值的数值大小关系为：第五阈值＞第六阈值＞第七阈值＞第八阈值，并且所述第五阈值和所述第六阈值为正数，所述第七阈值和所述第八阈值为负数；c、根据步骤a的距离差值与步骤b设定的阈值，根据预设条件选择测量点建立第二基准面，具体包括：a、若所述中间位测量点的距离差值均处于第七阈值和第八阈值之间，则分别选择第一侧边位和第二侧边位中最接近所述中间位的各一个测量点，以及选择所述顶边位的测量点，建立第二基准面；b、若所述中间位至少一个测量点的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时其他测量点的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值时，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面；c、若所述中间位测量点的距离差值均处于第六阈值和第七阈值之间，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于等于第六阈值，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面。9.根据权利要求8所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤c还包括：d、若所述中间位至少一个测量点的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时其他测量点的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面；e、若所述中间位测量点的距离差值均不小于第七阈值，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面；f、若所述中间位测量点的距离差值均不小于0，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面；g、若所述中间位测量点的距离差值均不小于0，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值大于或等于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面。10.根据权利要求1所述的共面性检测方法，其特征在于，步骤s4具体包括：分别计算第一侧边位、第二侧边位、顶边位及中间位所有测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定的第十阈值进行比较；若各测量点的第二距离差值均小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性合格；若任一或任若干测量点的第二距离差值不小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。
技术总结
本申请提供一种共面性检测方法。本申请提供的所述共面性检测方法步骤包括：S1、获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值；S2、根据所述第一侧边位至少2测量点的距离数值和所述第二侧边位至少2测量点的距离数值，建立第一基准面；S3、计算所述顶边位的测量点以及中间位的测量点分别相对于第一基准面的第一距离差值，根据各第一距离差值与设定条件的比较关系，选择测量点建立第二基准面；S4、分别计算各测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定阈值比较，得到共面性结果。所提供的共面性检测方法可逐步检测共面性，实现精确快速检测共面性。实现精确快速检测共面性。实现精确快速检测共面性。
技术研发人员：古鹏辉 左国华 刘金龙
受保护的技术使用者：高铭电子（惠州）有限公司
技术研发日：2022.05.26
技术公布日：2022/8/12