一种共面性检测方法与流程

1.本技术涉及元器件制造检测技术领域，具体涉及一种用于元器件的共面性检测方法。


背景技术：

2.微小型开关等元器件在进行smt(表面贴装技术)焊接贴装等工序前，需要进行焊接部位的共面性的检测，以使端子脚等焊接部位的共面性符合作业需求，若共面性不符合要求时，会导致贴片焊点错位、插脚偏移，或者导致基板刮损等情况。
3.目前的检测方式仍以手工检测为主，通过将待检测元器件的被检测面平放在检测台面上，然后用塞尺手动逐个检测每个端子脚离台面的距离进行共面性的检测。这种检测方法存在不够准确、效率低、重复性不好的问题。虽然也公开报道采用图像比对进行检测的方式，但这种方式存在精度误差较大等问题。
4.此外，目前也公开了采用激光测距仪进行共面性的检测方法，但所公开的方法大多都是直接基于元器件的端子脚与激光测距仪的距离(或深度)进行计算得到共面性情况。但申请人发现，这种方法虽然能够得到关于元器件本身的端子脚共面性情况，但在对元器件进行端子脚焊接作业时，实际共面性情况与检测所得的共面性情况存在不一致的问题，导致焊接不良情况无法有效改善。
5.为此，研究如何能够精确检测与实际加工作业场景一致的共面性判断结果，成为本领域技术人员亟待解决的问题。


技术实现要素：

6.为了克服上述现有技术的缺陷，本技术提供一种共面性检测方法，以检测开关等元器件的焊接部位的共面性，真实模拟实际测量场景，以实现检测结果与焊接作业场景共面性的一致性。
7.本技术提供一种共面性检测方法，用于对元器件进行共面性检测。
8.所述元器件包括相对设置的第一侧边位和第二侧边位，以及设置于所述第一侧边位和所述第二侧边位同一端之间的顶边位，还包括位于所述第一侧边位和所述第二侧边位之间的中间位；所述第一侧边位包括至少2个测量点，所述第二侧边位包括至少2个测量点，所述顶边位包括至少2个测量点，所述中间位包括至少2个测量点。
9.所述共面性检测方法步骤包括：
10.s1、获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值；
11.s2、根据所述第一侧边位至少2测量点的距离数值和所述第二侧边位至少2测量点的距离数值，建立第一基准面；
12.s3、计算所述顶边位的测量点以及中间位的测量点分别相对于第一基准面的第一距离差值，根据各第一距离差值与设定条件的比较关系，选择测量点建立第二基准面；
13.s4、分别计算各测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定阈
值比较，得到共面性结果。
14.在一种可选择的实现方式中，所述“获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值”具体步骤为：所述激光源逐一扫描所述第一侧边位、所述第二侧边位、所述顶边位以及所述中间位的各测量点，分别得到各个测量点到所述激光源的距离数值。
15.根据本实现方式的测距方式，直接得到各测量点的距离数值，便于后续的计算和对比。
16.在一种可选择的实现方式中，步骤s2具体包括：
17.选择所述第一侧边位至少1测量点以及所述第二侧边位对角位的至少1测量点，根据所选择测量点的距离数值建立初始基准；
18.计算所述第一侧边位和所述第二侧边位的剩余测量点的距离数值与所述初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小；
19.若各偏差值的绝对值均小于第一阈值，则选择所述第一侧边位和所述第二侧边位的所有测量点，以所选择的测量点的距离数值建立第一基准面。
20.若任一偏差值的绝对值大于第一阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。
21.根据步骤s2的判定，可对元器件的共面性进行初次快速判定，提高了检测效率。并且通过第一侧边位和第二侧边位的测量点建立第一基准面，可检测侧边支撑部位的共面情况，有助于提高焊接共面性的判定准确性。
22.在一种可选择的实现方式中，步骤s3具体包括：
23.s3-1、计算所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足第一设定条件；
24.s3-2、若所得距离差值满足第一设定条件，则计算所述中间位测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足预设条件，若所得距离差值满足预设条件，则选择测量点建立第二基准面。
25.通过顶边位和中间位测量点的距离差值关系建立第二基准面，可有效检测中间位焊接部件的共面度情况，避免中间位焊接不良的情况发生。
26.在一种可选择的实现方式中，所述步骤s4具体包括：
27.分别计算第一侧边位、第二侧边位、顶边位及中间位所有测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定的第十阈值进行比较；
28.若各测量点的第二距离差值均小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性合格；
29.若任一或任若干测量点的第二距离差值不小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。
30.基于第二基准面检测各测量点的共面性情况，可有效检测各个测量点的共面情况，避免个别测量点焊接部位的共面不合格情况。
31.根据前述实现方式所提供的共面性检测方法技术方案，通过建立第一基准面和第二基准面，可逐步检测共面性，快速检测共面不良的元器件；并且通过各测量点与基准面的距离差值来判断共面性，可无须事先将各测量点精确定位于同一测量平面，避免了直接通过距离数值判断共面性中的偏差问题。
附图说明
32.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
33.图1为本技术一实施方式提供的共面性检测方法的流程图；
34.图2为本技术一实施例提供的轻触开关的结构示意图；
35.图3为图2所提供的轻触开关的引脚面示意图，其中虚线框标识为测量点；
36.图4为实施例中步骤step2至步骤step3的流程示意图；
37.图5为实施例中步骤step4至步骤step6的流程示意图；
38.图6为实施例中步骤step7至步骤step8的流程示意图；
39.图7为实施例中步骤step9至步骤step10的流程示意图。
40.附图标记说明：
41.100、开关本体；200、引脚；
42.110、操作柄；210、第一中间引脚；220、第二中间引脚；230、第一侧边引脚；240、第二侧边引脚；250、顶边引脚。
具体实施方式
43.下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅是本技术的一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。
44.本文中，术语“第一”“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。本技术的描述中，除非有另外说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
45.此外，本文中，“上”、“下”等方位术语是相对于附图中的结构示意置放的方位来定义的，应当理解到，这些方向性术语是相对的概念，它们用于相对于的描述和澄清，其可以根据结构所放置的方位的变化而相应地发生变化。
46.本技术一实施方式提供一种共面性检测方法，用于对元器件进行共面性检测。所述元器件可以为采用smt(表面贴装技术)焊接安装至印刷电路板的轻触开关、芯片等元器件。
47.所述元器件包括相对设置的第一侧边位和第二侧边位，以及设置于所述第一侧边位和所述第二侧边位同一端之间的顶边位，还包括位于所述第一侧边位和所述第二侧边位之间的中间位。第一侧边位、第二侧边位、顶边位及中间位为用于焊接加工作业的接触部位，根据作业需求，各接触部位都为平面。
48.为便于检测，所述第一侧边位包括至少2个测量点，所述第二侧边位包括至少2个测量点，所述顶边位包括至少2个测量点，所述中间位包括至少2个测量点。各测量点为用于共面性检测的特征点位，点位大小根据距离测量仪器的要求进行设置。
49.本技术的技术方案中，距离测量仪器为激光测距仪，采用激光源对点位进行距离扫描测量。激光测距仪为现有的常规测距仪器，点位大小以满足激光测距仪的测量需求即可，其设置为激光测距仪的常规技术，本技术中不作进一步说明或限定。
50.如图1所示，所述共面性检测方法步骤包括：
51.s1、获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值；
52.s2、根据所述第一侧边位至少2测量点的距离数值和所述第二侧边位至少2测量点的距离数值，建立第一基准面；
53.s3、计算所述顶边位的测量点以及中间位的测量点分别相对于第一基准面的第一距离差值，根据各第一距离差值与设定条件的比较关系，选择测量点建立第二基准面；
54.s4、分别计算各测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定阈值比较，得到共面性结果。
55.在本实施例中，所述“获取所述元器件各测量点分别与激光源的距离数值”具体步骤为：所述激光源逐一扫描所述第一侧边位、所述第二侧边位、所述顶边位以及所述中间位的各测量点，分别得到各个测量点到所述激光源的距离数值。
56.上述距离数值获取过程中，激光源沿着固定平面进行逐一扫描，该固定平面与所述元器件的各测量点形成的平面基本平行，以保证所测量的距离数值偏差较小。根据本实现方式的测距方式，直接得到各测量点的距离数值，便于后续的计算和对比。
57.在其他实施方式中，在激光源和各测量点之间，还可以设置光路折射器件等，以实现多角度的测距，满足不同的测量环境需求。
58.上述步骤s2中，第一基准面的具体建立根据激光测距仪所提供的方法工具可实现，为各激光测距仪所提供的公开操作程序，具体可通过各激光测距仪的操作系统进行设置。并且，所述第一基准面建立后表征为基准数值，基准数值的定义为以公开的技术，本技术中不作进一步说明或限定。
59.本实施方式中，第一距离差值的计算公式为：δl1＝ln-la，其中，δl1为第一距离差值；ln为步骤s1所获得的测量点与激光源的距离数值；la为第一基准面的基准数值。
60.同理，第二距离差值的计算公式为：δl2＝ln-lb，其中，δl2为第二距离差值；ln为步骤s1所获得的测量点与激光源的距离数值；lb为第二基准面的基准数值。
61.当δl1或δl2为正数时，表示所述测量点相对于第一基准面远离所述激光源；当δl1或δl2为负数时，表示所述测量点相对于第一基准面接近所述激光源；当δl1或δl2为0时，表示所述测量点与第一基准面共面。
62.在本实施方式中，步骤s2具体包括：
63.s2-1、选择所述第一侧边位至少1测量点以及所述第二侧边位对角位的至少1测量点，根据所选择测量点的距离数值建立初始基准；
64.s2-2、计算所述第一侧边位和所述第二侧边位的剩余测量点的距离数值与所述初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小；
65.s2-3、若各偏差值的绝对值均小于第一阈值，则选择所述第一侧边位和所述第二侧边位的所有测量点，以所选择的测量点的距离数值建立第一基准面；
66.若任一偏差值的绝对值大于第一阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。
67.在本实施方式中，步骤s2-1可包括建立第一初始基准和第二初始基准，根据第一
初始基准或第二初始基准，再按照步骤s2-2执行操作。
68.所述第一初始基准和所述第二初始基准选择不同的测量点，以保障对所述第一侧边位和所述第二侧边位的所有测量点都满足初步共面基准要求。
69.具体可为：
70.s2-1a、选择所述第一侧边位最靠近所述顶边位的1个测量点以及所述第二侧边位对角位的1个测量点，根据所选择测量点的距离数值建立第一初始基准；
71.s2-2a、计算所述第一侧边位和所述第二侧边位的剩余测量点的距离数值与所述第一初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小。
72.且执行：
73.s2-1b、选择所述第二侧边位最靠近所述顶边位的1个测量点以及所述第一侧边位对角位的1个测量点，根据所选择测量点的距离数值建立第二初始基准；
74.s2-2b、计算所述第一侧边位和所述第二侧边位的剩余测量点的距离数值与所述第二初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小。
75.所述初始基准的建立，与上述说明一致，可根据激光测距仪设置或其他公开技术进行计算得到，如本技术不作进一步说明或限定。
76.具体设定中，所述第一阈值为大于0的正数，第一阈值用于限定第一侧边位及第二侧边位的各测量点相对初始基准远离或接近激光源的偏差值，当任一偏差值的绝对值大于第一阈值，表示对应测量点所处的部位与初始基准偏差过大，会影响焊接作业的良率，因此判定所述元器件的共面性不合格，需要作为不良品进行检修。所述第一阈值可根据smt焊接时的共面偏差标准进行选择设定。
77.根据步骤s2的判定，可对元器件的共面性进行初次快速判定，提高了检测效率；并且通过第一侧边位和第二侧边位的测量点建立第一基准面，可检测侧边支撑部位的共面情况，有助于提高焊接共面性的判定准确性。
78.在本实施方式中，步骤s3具体包括：
79.s3-1、计算所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足第一设定条件；
80.s3-2、若所得距离差值满足第一设定条件，则计算所述中间位测量点分别相对所述第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足预设条件，若所得距离差值满足预设条件，则选择测量点建立第二基准面。
81.通过顶边位和中间位测量点的距离差值关系建立第二基准面，可有效检测中间位焊接部件的共面度情况，避免中间位焊接不良的情况发生。
82.为了进一步提升检测效率，在步骤3中还可以包括步骤s3-3：计算第一侧边位和第二侧边位各测量点分别相对于相对所述第一基准面的距离差值，当任一距离差值大于或等于设定阈值时，则判定所述元器件的共面性不合格。
83.在本实施方式中，步骤s3-3可设置为步骤s3-2的前一步骤。当步骤s3-3计算所得的距离差值均小于第十一阈值时，再进行步骤s3-2。
84.所述第十一阈值可根据smt焊接作业的共面偏差精度要求进行选择设定。本实施方式中，所述第十一阈值设置为小于第一阈值的正数，以逐步提升共面性的检测精度。
85.本实施方式中，步骤s3-1中所述第一设定条件包括：
86.所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值均大于第二阈值；且，所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值均处于第三阈值和第四阈值之间。
87.根据上述第一设定条件，可以判定所述顶边位是否满足共面性要求，当所述顶边位任一或多个测量点相对所述第一基准面的距离差值不满足第一设定条件时，则判定所述元器件的共面性不合格。
88.本实施方式中，所述第二阈值为小于第一阈值的正数，所述第三阈值为大于第二阈值的正数，所述第四阈值小于第三阈值。
89.本实施方式中，步骤s3-1还包括步骤：计算所述顶边位中最大距离数值的测量点与最小距离数值的测量点的距离差值，当距离差值的绝对值大于设定值时，判定所述元器件的共面性不合格。该步骤可设置于步骤s3-1的后段，即先判定所述顶边位各测量点分别相对所述第一基准面的距离差值是否满足第一设定条件，当满足第一设定条件时，再执行该步骤。
90.本实施方式中，步骤s3-2包括以下步骤：
91.a、若所得距离差值满足第一设定条件，则计算所述中间位测量点分别相对所述第一基准面的距离差值；
92.b、设定阈值，包括第五阈值、第六阈值、第七阈值及第八阈值，各阈值的数值大小关系为：第五阈值＞第六阈值＞第七阈值＞第八阈值，并且所述第五阈值和所述第六阈值为正数，所述第七阈值和所述第八阈值为负数；
93.c、根据步骤a的距离差值与步骤b设定的阈值，根据预设条件选择测量点建立第二基准面。
94.其中，步骤c可包括以下方式：
95.a、若所述中间位测量点的距离差值均处于第七阈值和第八阈值之间，则分别选择第一侧边位和第二侧边位中最接近所述中间位的各一个测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面；
96.b、若所述中间位至少一个测量点的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时其他测量点的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值时，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面；
97.c、若所述中间位测量点的距离差值均处于第六阈值和第七阈值之间，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面。
98.根据上述的判定情况，选择符合条件的方式建立第二基准面。
99.与第一基准面建立方式同理，第二基准面的建立方式根据激光测距仪的程序可进行操作，可得到第二基准面的基准数值。
100.在检测过程中，当遇到测量点的距离差值过小，或出现无法采用上述a-c方式进行第二基准面的建立时，需要采用强制输出测量点建立第二基准面，包括以下方式：
101.d、若所述中间位至少一个测量点的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时其他测量点的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且所述中间位测量点中的最大距
离差值与最小距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面；
102.e、若所述中间位测量点的距离差值均不小于第七阈值，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面；
103.f、若所述中间位测量点的距离差值均不小于0，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值，则选择所述中间位各测量点以及所述顶边位的测量点，建立第二基准面；
104.g、若所述中间位测量点的距离差值均不小于0，且所述中间位测量点中的最大距离差值与最小距离差值的差值大于或等于第六阈值，则选择所述中间位中距离差值最大的测量点，结合所述顶边位的测量点，建立第二基准面。
105.本实施方式的上述方式a-c中，对所述顶边位的测量点的选择，按照以下方式进行选择：
106.若所述顶边位的最大距离数值的测量点和最小距离数值的测量点的差值的绝对值小于或等于所述第十一阈值，则选择所述顶边位的所有测量点；
107.若所述顶边位的最大距离数值的测量点和最小距离数值的测量点的差值的绝对值大于所述第十一阈值，则选择所述顶边位的最大距离数值的测量点。
108.通过上述对所述顶边位的测量点的选择，可避免共面性的检测结果出现误差。
109.本实施方式中，所述步骤s4具体包括：
110.分别计算第一侧边位、第二侧边位、顶边位及中间位所有测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定的第十阈值进行比较；
111.若各测量点的第二距离差值均小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性合格；
112.若任一或任若干测量点的第二距离差值不小于第十阈值，则判定所述元器件的共面性不合格。
113.本实施方式中，所述第十阈值为小于第五阈值的正数，根据共面性检测的偏差精度需求，可调整第十阈值的实际大小。
114.基于第二基准面检测各测量点的共面性情况，可有效检测各个测量点的共面情况，避免个别测量点焊接部位的共面不合格情况。
115.以下示例性地对轻触开关的引脚进行共面性检测，以说明所提供共面性检测方法。
116.如图2所示，提供一种轻触开关，即为所需进行共面性检测的元器件，所述轻触开关包括开关主体100及引脚200，所述引脚200的接触部位即为需要进行共面性检测的对象。
117.具体的，如图3所示，所述引脚200包括相对设置的第一侧边引脚230和第二侧边引脚240，还包括设置于所述第一侧边引脚230和所述第二侧边引脚240同一端之间的顶边引脚250，还包括位于所述第一侧边引脚230和所述第二侧边引脚240之间的中间引脚。
118.在所提供的轻触开关中，所述第一侧边引脚230和所述第二侧边引脚240为用于加固贴片焊接效果的固定引脚，所述顶边引脚250为便于使所述轻触开关在贴片安装时起到平衡支撑的支撑引脚，所述中间引脚为轻触开关的导通引脚。
119.具体的，所述顶边引脚250设置于所述开关主体100上端，且靠近所述开关主体100
的操作柄110一侧。当所述轻触开关侧放安装时，若所述开关主体100的操作柄110较长，会导致所述轻触开关重心向操作柄110偏移，此时会导致其他引脚存在翘起离开印刷电路板等安装作用面的情况。所述顶边引脚250可以提供支撑作用，防止所述轻触开关受重心偏移导致的翘起情况。
120.另外，为了防止所述顶边引脚250影响贴装焊接，所述顶边引脚250设置成不能向外超出引脚平面，即所述顶边引脚250可设置为与各引脚共面或稍微偏离贴装焊接的作业面。
121.另外，为了保证导通连接的稳定性，所述中间引脚不能偏离贴装焊接的作业面，即所述中间引脚可设置为与各引脚共面或稍微偏向贴装焊接的作业面。
122.在本实施例中，所述中间引脚包括第一中间引脚210和第二中间引脚220，所述第一中间引脚210靠近所述第一侧边引脚230设置，所述第二中间引脚220靠近所述第二侧边引脚240设置。
123.结合图3所示，引脚中各测量点的设置方式具体的：所述第一中间引脚210包括测量点2，所述第二中间引脚220包括测量点1，所述第一侧边引脚230包括测量点3和测量点4，所述第二侧边引脚240包括测量点5和测量点6，所述顶边引脚250包括测量点7和测量点8。
124.其中测量点4和测量点6分别设置于靠近所述顶边引脚250的一侧，测量点3和测量点5分别设置于另一侧，且测量点3和测量点6对角设置，测量点4和测量点5对角设置。
125.结合图4至图7，具体说明对所述轻触开关各引脚进行共面性检测的步骤，图中“ng”表示共面性不合格，“ok”表示共面性合格：
126.step1、采用激光测距仪测量各测量点的距离数值。
127.具体的，本实施例中，所述激光测距仪采用康耐视公司的3d线激光检测系统，在其他实施例中，可选择其他具有相同功能的激光测距仪。
128.step2、选择测量点3和测量点6，根据所选择测量点的距离数值建立第一初始基准，计算测量点4和测量点5与所述第一初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小；
129.选择测量点4和测量点5，根据所选择测量点的距离数值建立第二初始基准，计算测量点3和测量点6与所述第二初始基准的偏差值，比较各偏差值的绝对值与第一阈值的大小；
130.所述第一阈值可设置为0.05
±
0.02，本实施例中设定为0.05；
131.step3、若步骤step2中任一偏差值的绝对值大于第一阈值，则判定所述轻触开关的共面性不合格，不再往下执行检测操作；
132.若步骤step2各偏差值的绝对值均小于第一阈值，则选择测量点3、测量点4、测量点5和测量点6，以所选择的测量点的距离数值建立第一基准面；
133.step4、计算测量点7和测量点8分别相对于第一基准面的距离差值，判定所得距离差值是否满足以下第一设定条件：测量点7和测量点8分别相对所述第一基准面的距离差值均大于第二阈值；且，测量点7和测量点8分别相对所述第一基准面的距离差值均处于第三阈值和第四阈值之间；
134.其中，所述第二阈值可设定为0.015-0.05，本实施例中设定为0.015，也可设定为0.02等值；所述第三阈值可设定为0.05-0.1，本实施例中设定为0.1，也可设定为0.06等；所
述第四阈值可设定为0-0.02，本实施例设定为，也可设定为0.02；
135.当所得距离差值不满足第一设定条件，则判定所述轻触开关的共面性不合格，不再往下执行检测操作；
136.若所得距离差值满足第一设定条件，则往下执行操作；
137.step5、计算测量点7与测量点8的距离差值，若距离差值的绝对值大于设定值时，判定所述轻触开关的共面性不合格，不再往下执行检测操作；若距离差值的绝对值不大于设定值时，则往下执行操作；
138.该步骤所述设定值可设定为0.04
±
0.02，本实施例设定为0.04；
139.step6、根据设定算法，对测量点1和测量点2进行测量值补充x1量和x2量，以消除测量系统的误差。
140.误差补偿算法可根据激光测距仪预设的补偿算法。在一般情况下，无需进行step 6的误差补偿操作。
141.step7、分别计算测量点3、测量点4、测量点5、测量点6相对于第一基准面的距离差值，若任一距离差值大于或等于设定阈值时，则判定所述轻触开关的共面性不合格，不再往下执行检测操作；若任一距离差值小于设定阈值时，则往下执行检测操作；
142.具体的，步骤step7所述设定阈值设定为0.02
±
0.01，本实施例中设定为0.02；
143.step8、计算测量点1和测量点2分别相对所述第一基准面的距离差值；设定第五阈值、第六阈值、第七阈值及第八阈值，其中：第五阈值可设定为0.15
±
0.05，本实施例设定为0.15；第六阈值可设定为0.01
±
0.01，本实施例设定为0.01；第七阈值可设定为-0.01至-0.02，本实施例设定为-0.01；第八阈值可设定为-0.06至-0.10，本实施例设定为-0.06；
144.根据所得距离差值和预设条件选择测量点建立第二基准面；
145.具体的选择方式包括：
146.a、若测量点1和测量点2的距离差值均处于第七阈值和第八阈值之间，则选择第一侧边引脚230接近第一中间引脚210的测量点3和第二侧边引脚240接近第二中间引脚220的测量点5，以及选择所述顶边引脚250的测量点，建立第二基准面；
147.b、若测量点1的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时测量点2的的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且测量点2的距离差值减去测量点1的距离差值后差值的绝对值小于或等于第六阈值时，则选择测量点1和测量点2以及选择所述顶边引脚250的测量点，建立第二基准面；
148.若测量点2的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时测量点1的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且测量点1的距离差值减去测量点2的距离差值后差值的绝对值小于或等于第六阈值时，则选择测量点1和测量点2以及选择所述顶边引脚250的测量点，建立第二基准面；
149.c、若测量点1和测量点2的距离差值均处于第六阈值和第七阈值之间，且测量点1的距离差值与测量点2的距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值，则选择测量点1和测量点2以及选择所述顶边引脚250的测量点，建立第二基准面；
150.d、若测量点1或测量点2任一个的距离差值处于第七阈值和第八阈值之间，同时另一测量点的距离差值处于第五阈值和第七阈值之间，并且测量点1的距离差值与测量点2的距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择测量点1或测量点2中距离差值最大的测量
点，结合测量点7和测量点8，建立第二基准面；
151.e、若测量点1和测量点2的距离差值均不小于第七阈值，且测量点1的距离差值与测量点2的距离差值的差值的绝对值大于第六阈值，则选择测量点1和测量点2中距离差值最大的测量点，结合测量点7和测量点8，建立第二基准面；
152.f、若测量点1和测量点2的距离差值均不小于0，且测量点1的距离差值与测量点2的距离差值的差值的绝对值小于或等于第六阈值，则选择所述测量点1和测量点2以及测量点7和测量点8，建立第二基准面；
153.g、若测量点1和测量点2的距离差值均不小于0，且测量点1的距离差值与测量点2的距离差值的差值的绝对值大于或等于第六阈值，则选择测量点1和测量点2中距离差值最大的测量点，结合测量点7和测量点8，建立第二基准面。
154.方式a-c中，对所述顶边引脚250的测量点的选择过程为：
155.若测量点7和测量点8的相对于第一基准面的距离差值的两者差值的绝对值小于或等于所述第十一阈值，则同时选择测量点7和测量点8；
156.若测量点7相对于第一基准面的距离差值减去测量点8相对于第一基准面的距离差值的结果数值大于第十一阈值，则选择测量点7；
157.若测量点8相对于第一基准面的距离差值减去测量点7相对于第一基准面的距离差值的结果数值大于第十一阈值，则选择测量点8；
158.其中，所述第十一阈值设定范围0.02-0.05，本实施例中设定为0.02；
159.step9、分别计算测量点1至测量点8中各测量点与第二基准面的第二距离差值，将第二距离差值与设定的第十阈值进行比较；
160.具体的，所述第十阈值可设定为0.1
±
0.05，本实施例设定为0.1；
161.step10、若各测量点的第二距离差值均小于第十阈值，则判定所述轻触的共面性合格；
162.若任一或任若干测量点的第二距离差值不小于第十阈值，则判定所述轻触开关的共面性不合格。
163.根据前述实现方式所提供的共面性检测方法技术方案，通过建立第一基准面和第二基准面，可逐步检测共面性，快速检测共面不良的元器件；并且通过各测量点与基准面的距离差值来判断共面性，可无须事先将各测量点精确定位于同一测量平面，避免了直接通过距离数值判断共面性中的偏差问题。
164.以上对本技术实施方式所提供的共面性检测方法进行了详细介绍，应用了具体实施例对本技术的原理及实施方式进行了阐释，以上说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心机理；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本技术的思想，在具体实施例及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。