专利名称：晶体管联机测试笔的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子技术领域。
许许多多电子仪器和设备都大量采用晶体三极管，就是在广泛使用集成电路的电子线路中，晶体管也仍然是一种不可缺少的元件，在调试和修理许多家用电器和电子仪器设备时，除了凭经验和分析以外，就是用万用表测量。由于联机状态下用表不易测准，或者经验不够，因此往往需要把管子拆下来测量，这种办法不但麻烦，而且经常会把线路板搞坏，这是修理人员最感困难的事情。
目前，国内外还没有一种性能比较可靠，价格便宜的晶体管联机测试笔。虽然以往有不少人进行了这方面的研究，也发表了一些设计电路，但是还是存在测试的准确性差，功能不强或者成本较高等缺陷。
针对以上问题，本发明的任务是设计一种功能强，性能比较可靠，成本低廉的晶体管联机测试仪器。这种仪器做成笔形，采用两节五号电池，使用携带方便，它能够测量大，中，小功率高频管和低频管，PNP型和NPN型三极管以及场效应管。对于一般的晶体管电路，不必拆下晶体三极管就能判别其好坏，不但能够测试放大器电路，也能测试振荡器电路。用发光二极管直接显示三管的好坏，同时还能测试2PF以上小电容的好坏。
晶体管联机测试笔的电路原理如图。E，B，C为测量探头的三个接点，分别接触待测三极管T的E，B，C三个极。R2为T的偏流电阻。电容C4，C3(或C2)，电感L3(或L4)和晶体管T组成间歇振荡器。L5为自耦变压器，是晶体管T的输出负载。C5，D1，D2组成倍压整流电路。晶体管T2，发光二极管D3，电阻R3组成显示放大器。K1为振荡器频率转换开关。K2为电源极性转换开关。改变电源极性就可以分别测NPN和PNP型晶体管。如果仪器设备上的待测晶体管T是好的，并且其外围电路没有严重的交流或直流短路时，电路将产生振荡输出信号使T2导通，发光二极管D3发亮，R3为限流电阻。如果T是坏的，电路肯定不会产生振荡输出，D3不会发亮。T1组成20MHZ的振荡电路。当K1指向3的位置时T1产生高频振荡信号输出，可测试接于T的B，C两极的小电容的好坏。C6为滤波电容。
实施例C4，C3为.047，C1，C2为1000P，R1，R2为51K，L3是用0.08漆包线在M6中频磁芯上绕400圈，150圈处抽头，L4是用0.31漆包线在M4高频磁芯上绕12圈7圈处抽头，L5是用0.12漆包线在M4高频磁芯上绕150圈，80圈处抽头，L1是用0.31漆包线在M4高频磁芯上绕13圈，8圈抽头，L2用0.5MH电感。C5为0.1，D1和D2都用2AP9。T1，T2用3DG6C。D3用普通发光二极管，R3为82欧姆。做成的晶体管测试笔对晶体管电子琴，收音机，电视机和示波器等设备进行测试，平均准确度达到94％左右。脱机测量晶体管的准确度达到100％。
权利要求1.晶体管联机测试笔由间歇振荡电路，倍压整流电路和发光显示驱动电路组成，其特征是间歇振荡电路以电感作为振荡输出负载。
2.根据权利要求1所述的测试笔，其特征是振荡电路是由R2，C4和待测晶体管T的B极相联，R2另一端接电源，C4通过开关K1－1分别与C3，C2相联，L3，L4末端分别与C3，C2相联，始端通过K1－2分别接地，其抽头与T的E相联，L5的始端接电源，抽头接C极，末端与C5相联；倍压整流电路是C5与D1负极，D2正极相联，D1正极接地，D2负极接T2的B极；显示驱动电路是T2的C极接发光二极管D3的负极，D3正极接R3，R3的另一端接电源。
3.根据权利要求1所述的测试笔，其特征是T1组成的间歇振荡电路的输出信号由开关K1－1接通，经C4藕合至T的B极用以测试接于B，C极的小电容的好坏。
4.根据权利要求1所述的测试笔，其特征是用开关K1转换谐振元件C2，C3，L3，L4来改变振荡频率以达到测试和区分高低频三极管的目的，用K2转换电源极性达到可以测试和区分NPN和PNP两种类型三极管的目的。
专利摘要许多电子仪器和设备都大量采用晶体三极管，在调试和修理许多家用电器和电子仪器设备时，往往需要把晶体管拆下测量。这种办法既麻烦又容易把线路板搞坏。晶体管联机测试笔能够测量大，中，小功率高频管，低频管，PNP型和NPN型三极管以及场效应管。对于一般的晶体管电路，不必拆下三极管就能判别其好坏，用发光二极管直接显示三极管好坏，准确度达到94％左右。它还能测试2PF以上小电容的好坏，用两节五号电池，使用方便。
文档编号G01R31/26GK2030730SQ8721603
公开日1989年1月11日 申请日期1987年12月3日 优先权日1987年12月3日
发明者张清辨, 金杏珍, 张福海 申请人:金杏珍