[0040]为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0041]为了能够对发生在像素膜层之间的短路位置进行定位，在本发明实施例中，提供了一种确定线路故障位置的方案，针对确定发生线路故障的金属线，将所述金属线的前端点连接检测表的一个表笔，所述检测表的另一个表笔连接公共电极线；按照预设规则对所述金属线进行熔断处理；在所述金属线熔断后，根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生线路故障的位置。从而，可以初步确定出该金属线发生故障的位置所在的线路，这样，就可以将检测、调试的范围初步缩小，从而只对金属线的熔断点一侧的线路所对应的工艺制程或机器进行检测，无需对整个金属线所对应的工艺制程或机器进行检测，从而提高了检测、调试效率。
[0042]下面通过具体的实施例对本发明所涉及的方案进行详细描述，本发明包括但并不限于以下实施例。
[0043]如图1所示，为本发明实施例提供的一种确定面板线路故障位置的方法流程示意图，该方法主要包括以下步骤:
[0044]步骤101:针对确定发生线路故障的金属线，将金属线的前端点连接检测表的一个表笔，检测表的另一个表笔连接公共电极线。
[0045]步骤102:按照预设规则对金属线进行熔断处理。
[0046]优选地，在本发明实施例中，按照预设规则对所述金属线进行熔断处理，具体可以包括:选择所述金属线的中点作为熔断点，在所述熔断点处对所述金属线进行熔断处理。
[0047]步骤103:在金属线熔断后，根据检测表的读数的变化确定金属线发生线路故障的位置。
[0048]优选地，当所述金属线发生的线路故障为短路时，在所述金属线熔断后，根据所述检测表的读数的变化确定所述金属线发生短路的位置，具体可以包括:在所述金属线熔断后，若当前检测表的读数的变化达到预设阈值，则确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上，否则，确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与所述前端点之间的线路上，其中，所述预设阈值根据所述金属线的阻值确定。
[0049]优选地，在通过上述方案初步确定了金属线发生短路的大致位置之后，还可以通过以下方案具体确定金属线发生短路的较为具体的位置:
[0050]若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与后端点之间的线路上，则转入步骤一；
[0051]若确定所述金属线发生短路的位置位于所述熔断点与前端点之间的线路上，则转入步骤二 ；
[0052]步骤一:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路，定义所述线路为当前短路线路，并将所述熔断点熔接，并转入步骤三；
[0053]步骤二:针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路，定义所述线路为当前短路线路，并转入步骤三；
[0054]步骤三:按照预设规则对所述当前短路线路进行熔断处理；
[0055]步骤四:在所述当前短路线路熔断后，若当前检测表的读数的变化达到预设阈值，则执行步骤五，否则，执行步骤六；
[0056]步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之后的线路上，并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围，若是，则结束该循环操作，否则，跳转至步骤一；
[0057]步骤五:确定所述金属线发生短路的位置位于所述短路线路中所述熔断点之前的线路上，并判断发生短路的位置所在的线路是否达到预设精度范围，若是，则结束该循环操作，否则，跳转至步骤二。
[0058]优选地，在结束上述循环操作之后，即可将金属线的短路位置定位在预设精度范围内，然而，本发明还可以通过以下方案将短路位置进一步具体化，甚至定位到一个像素单元的精度范围内:
[0059]针对确定的所述金属线发生短路的位置所在的线路，定义所述线路为当前短路线路；
[0060]若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之前，则从所述前一熔断操作对应的熔断点开始，按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理，并在检测表的读数的变化超过预设阈值时，将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间；
[0061]若所述当前短路线路位于前一熔断操作对应的熔断点之后，则熔接所述前一熔断操作对应的熔断点，从所述前一熔断操作对应的熔断点开始，按照一个像素单元的步长依次对所述当前短路线路进行熔断处理，并在检测表的读数的变化超过预设阈值时，将所述金属线发生短路的位置定位在当前熔断点与前一熔断操作对应的熔断点之间。
[0062]优选地，在本发明实施例中，所述金属线为栅线或数据线，此外，还可以为其他的易发生线路故障的金属线，本发明并不对金属线的类型作具体限定，仅以栅线或数据线为例，来解释说明位于膜层之间的金属线的故障位置的确定方案。
[0063]优选地，本发明所涉及的检测表为万用表，所述预设阈值为电阻预设阈值或电流预设阈值。由于万用表的有多个选择档，可以通过旋转选择开关选择电阻档或电压档或电流档。在本发明实施例中，由于金属线的电阻值都不是特别大，因此，可以通过选择电阻档来检测金属线的故障情况。
[0064]优选地，本发明所涉及的熔断、熔接操作均通过激光照射实现。
[0065]下面以栅线发生短路故障为例，结合三个具体的实例对本发明的上述方案进行详细描述。需要说明的是，数据线的短路位置确定方式与栅线的短路位置确定方式相同，在此不做赘述。
[0066]假设经过制备工艺制备而成的panel，在检测时发现第m行的栅线m发生短路故障，一般情况下，为了针对线路故障这一问题进行改进或修正，需要确定线路发生故障的具体位置，从而对该位置处的工艺流程进行观察检测，以避免后续的工艺制程中出现同样的问题，从而提高制备生产的良率。为此，本发明通过以下方案实现了对线路故障位置的确定。
[0067]实例1:初步确定栅线m的短路位置
[0068]如图2(a)所示，为本发明实例I提供的初步确定栅线的短路位置的操作演示图，假设该待检测的Panel中栅线m的前端点A和后端点B分别对应第m行像素单元的起点像素单元和终点像素单元。
[0069]首先，利用导线将栅线m的前端点A连接万用表的一个表笔，万用表的另一个表笔连接公共电极线。此时，万用表的选择开关可以处于电阻档。由于该栅线m与公共电极线之间存在不必要的连接(即发生短路)，因此，当通过万用表将栅线m和公共电极线连接起来之后，万用表、栅线m和公共电极线形成一个回路，此时万用表的读数应该是非常小的，大概只有几百欧姆。
[0070]然后，按照预设规则对栅线m进行熔断处理，一般情况下，可以从栅线m上选择任意一点作为熔断点，在该熔断点的位置对栅线m