一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计量仪表领域，特别是一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置。
【背景技术】
[0002]计量是一款仪表的重要组成部分，如果计量芯片发生错误，仪表的计量功能就受到影响，可能直接导致用户和供货商之间的法律纠纷。而检测计量芯片错误和纠错是仪表必不可少的部分。通常，与计量芯片通讯的通讯接口在环境中容易受到各种环境干扰，导致从计量芯片读取回来的校表参数效验和寄存器的值是错误的，如果这个时候去复位初始化计量芯片就可能造成本来正常运行的计量芯片间断工作，从而计量测试就不准确。
【发明内容】
[0003]本发明的主要目的在于克服现有技术中的上述缺陷，提出一种能有效可靠的检测计量芯片错误并进行纠错处理的计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置。
[0004]本发明采用如下技术方案:
[0005]一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份，其特征在于:包括如下步骤:
[0006]I)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2);
[0007]2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3);
[0008]3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。
[0009]优选的，所述计量芯片为ATT7053B计量芯片。
[0010]一种计量芯片抗干扰检测及纠错装置，其特征在于:包括
[0011]读取装置，用于读取校表参数校验和寄存器的值；
[0012]比较装置，用于比较读取到的校表参数校验和寄存器的值与备份的值是否相等，并在不等时控制读取装置再次读取并比较；
[0013]判断处理装置，用于在两次读取到的校表参数校验和寄存器的值均与备份值不等时，判断两次值是否相等，并在相等时启动复位装置；
[0014]复位装置，用于控制计量芯片复位。
[0015]由上述对本发明的描述可知，与现有技术相比，本发明具有如下有益效果:
[0016]本发明的方法和装置，通过读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份值进行比较，若两次读取和比较均不相等，且两次读取的值相等，说明不是受到环境因素干扰，则初始化计量芯片。本发明的方法和装置能有效可靠地检测计量芯片错误并进行纠错处理，保证计量芯片正常工作。
【附图说明】
[0017]图1为本发明方法流程图；
[0018]图2为本发明装置示意图。
【具体实施方式】
[0019]以下通过【具体实施方式】对本发明作进一步的描述。
[0020]参照图1，一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，例如ATT7053B计量芯片。该计量芯片内部都有一个校表参数效验和寄存器，如果该计量芯片因为某个原因导致校表参数发生变动，则这个寄存器值也跟着变化，那么一块仪表在进行校表完成时就要将此校表参数效验和寄存器的值进行备份方便仪表运行时进行实时监测比对。本发明的方法包括如下步骤:
[0021]I)读取校表参数校验和寄存器的值为M1，并与备份的值N进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2);
[0022]2)再次读取校表参数校验和寄存器的值为M2，与备份的值N进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3);
[0023]3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，说明校表参数发生变动，则复位初始化该计量芯片，若不相等，表示通讯口可能受到干扰(如电磁干扰、高低温湿度干扰等)，则不作处理。
[0024]本发明基于计量芯片的校表参数发送变动时，校表参数校验和寄存器的值也会跟着发生变化。
[0025]参照图2，本发明还提出一种计量芯片抗干扰检测及纠错装置，包括
[0026]读取装置，用于读取校表参数校验和寄存器的值。
[0027]比较装置，与读取装置相连，用于比较读取到的校表参数校验和寄存器的值与备份的值是否相等，并在不相等时控制读取装置再次读取并比较。
[0028]判断处理装置，与比较装置相连，用于在两次读取到的校表参数校验和寄存器的值均与备份值不等时，判断两次值是否相等，并在相等时启动复位装置。
[0029]复位装置，与判断处理装置相连，用于控制计量芯片复位。
[0030]上述仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的设计构思并不局限于此，凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动，均应属于侵犯本发明保护范围的行为。
【主权项】
1.一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份，其特征在于:包括如下步骤: 1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2); 2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3); 3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。
2.如权利要求1所述的一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，其特征在于:所述计量芯片为ATT7053B计量芯片。
3.一种计量芯片抗干扰检测及纠错装置，其特征在于:包括 读取装置，用于读取校表参数校验和寄存器的值； 比较装置，用于比较读取到的校表参数校验和寄存器的值与备份的值是否相等，并在不等时控制读取装置再次读取并比较； 判断处理装置，用于在两次读取到的校表参数校验和寄存器的值均与备份值不等时，判断两次值是否相等，并在相等时启动复位装置； 复位装置，用于控制计量芯片复位。
【专利摘要】一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，包括如下步骤：1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2)；2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，先与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3)；3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。本发明的方法和装置能有效可靠地检测计量芯片错误并进行纠错处理，保证计量芯片正常工作。
【IPC分类】G01R35-00
【公开号】CN104635190
【申请号】CN201410851721
【发明人】赵伟, 骆贵泉
【申请人】漳州科能电器有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2014年12月31日