一种高温低压老化试验方法

文档序号:8338320阅读:282来源:国知局
一种高温低压老化试验方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种试验方法,特别是一种高温低压老化试验方法。
【背景技术】
[0002]近年来,国内SF6气体电流互感器事故频发,这严重地影响了国内电网运行的可靠性和安全性,因此发现并解决电流互感器发生的故障至关重要。从大量调查的结果来看,引起电流互感器故障最多的原因在于电流互感器里分离一次与二次之间的绝缘支撑件发生损坏,而到目前为止,还未有学者或专家对SF6i流互感器的局部放电与分解气体做完整的试验与研宄。

【发明内容】

[0003]针对上述部分问题,本发明提供了一种高温低压老化试验方法,用于为针对5匕气体电流互感器内部的盆式绝缘子进行研宄,特别是研宄其加压后的局部放电与SF6分解气体之间的关系,进而为更好的监测电流互感器运行状况而奠定基础。
[0004]一种高温低压老化试验方法,所述方法包括以下步骤:
[0005]SlOO:清洗用于试验的所有部件,并在清洗完后放置Tl时间晾干;所述部件包括绝缘试样、人工尖端、支撑底座和用于高温低压老化试验装置的腔体内壁;
[0006]S200:将贴合了人工尖端的绝缘试样放入试验装置的试验腔内,所述试验装置带有阀门接口,所述阀门接口用于与外接气体阀门相连;
[0007]S300:将所述试验腔内抽真空并充入3?6气体;
[0008]S400:进行密封检测,并对所述试验装置进行升温;
[0009]S500:对所述试验腔进行加压,通过局部放电仪器测量并记录所述绝缘试样的起始放电电压;
[0010]S600:使用变压器进行升压,第一次等级选择起始放电电压;之后每隔T2时间进行密封检测,然后进行一次一定电压U的升压过程,直到发生击穿;所述T2和U依据试验设计设置;
[0011]S700:在每次升压之后,对所述试验装置进行一次局部放电、介质损耗因数测试;同时对所述试验装置内部进行取气,进行气相色谱与红外光谱的测量;
[0012]S800:对实验结果进行分析。
[0013]本发明提供的方法能够有效地找出温度、电压、加压时间对SF6绝缘试样放电的影响,通过相关分析可以得到放电参数与SF6分解气体的相关关系,进而为SF6电力设备的在线监测提供有力的科学数据。
【具体实施方式】
[0014]在一个实施例中,提供了一种高温低压老化试验方法,所述方法包括以下步骤:
[0015]SlOO:清洗用于试验的所有部件,并在清洗完后放置Tl时间晾干;所述部件包括绝缘试样、人工尖端、支撑底座和用于高温低压老化试验装置的腔体内壁;
[0016]S200:将贴合了人工尖端的绝缘试样放入试验装置的试验腔内,所述试验装置带有阀门接口,所述阀门接口用于与外接气体阀门相连;
[0017]S300:将所述试验腔内抽真空并充入3?6气体;
[0018]S400:进行密封检测,并对所述试验装置进行升温;
[0019]S500:对所述试验腔进行加压,通过局部放电仪器测量并记录所述绝缘试样的起始放电电压;
[0020]S600:使用变压器进行升压,第一次等级选择起始放电电压;之后每隔T2时间进行密封检测,然后进行一次一定电压U的升压过程,直到发生击穿;所述T2和U依据试验设计设置;
[0021]S700:在每次升压之后,对所述试验装置进行一次局部放电、介质损耗因数测试;同时对所述试验装置内部进行取气,进行气相色谱与红外光谱的测量;
[0022]S800:对实验结果进行分析。
[0023]在这个实施例中,通过对含有缺陷的绝缘试样加压产生放电,从而使得SF6气体分解,最后测得加压加温后绝缘试样的局部放电、介质损耗因数和SF6分解气体情况。
[0024]由于所述方法用于为针对SF6气体电流互感器内部的盆式绝缘子进行研宄提供支持,这里的试验对象是一种特殊的绝缘试样,所述绝缘试样的原材料和工艺完全与I1kV电流互感器中的盆式绝缘子的相同。
[0025]优选的,所述步骤SlOO中用无水乙醇进行清洗。在每次试验前用无水乙醇仔细清洗绝缘试样、人工尖端、支撑底座和缸体内壁,用于去除装置内大体积的杂质和灰尘,避免它们在试验中附着在绝缘子表面从而影响试验结果。
[0026]进一步的,清洗完后放置Tl时间进行晾干,优选的,所述Tl为半小时。
[0027]在一个实施例中提供了所述步骤S200的一种具体实现方法,其具体实现包括以下子步骤:
[0028]S201:打开试验装置,将所述绝缘试样放入所述试验装置的试验腔内,用螺丝固定在所支撑底座上;
[0029]S202:用导线连接所述绝缘试样的高、低压端,然后密封所述试验装置。
[0030]通过步骤S200,将人工金属尖端贴合在绝缘试样上,确保在1kV下有电晕放电。打开高温低压试验装置,将带有金属尖端的绝缘试样放入试验装置内,用螺丝固定支撑底座上,用导线连接试样的低、高压端,最后将试验装置合上,用螺丝固定。
[0031]通过步骤S300可以实现SF6气体来清洗试验装置内部,进而确保出去装置内的空气杂质。
[0032]在一个实施例中提供了所述步骤S300的一种具体实现方法,其具体实现包括以下子步骤:
[0033]S301:将真空泵、SF6气瓶、采气袋分别与外接气体阀门的三个接头相连,所述外接气体阀门还包括阀体,所述阀体的管路为四通结构,所述外接气体阀门的另一个接口与所述试验装置相连;
[0034]S302:打开所述气瓶所对应的阀门向内注入SF6气体,直到内部接近0.1Mpa ;
[0035]S303:静置30分钟后,将气体排出并重新抽真空;
[0036]S304:执行步骤S302?S303反复2?3次,打开所述气瓶所对应的阀门向内部注气,直到内部气体压强为0.3-0.4Mpa。
[0037]通过步骤S400,将试验装置的温度上升到试验所需的温度,在所述试验装置内部最高温度可能达到80°C,因此要求所述试验装置在具有良好的密闭性的同时,能够耐高温。
[0038]在一个实施例中提供了所述步骤S400的一种具体实现方法,其具体实现包括以下子步骤:
[0039]S401:在进行所述密封检测后,把装有绝缘试样的试验装置放入烘箱内,用导线把高压设备的高压端和地与试验装置相对应的高压端和地连接;
[0040]S402:关上烘箱门,对所述试验装置进行升温,直到试验所需要的温度并保持30分钟。
[0041]通过步骤S500来实现持续加压,在每组试验的起始放电电压测量完成后,使用变压器进行升压,第一次电压等级选择起始放电电压,之后电压每隔一定时间进行一次一定电压的升压过程,直到发生击穿。这同时要求所述试验装置在选择时具有耐高压的特点。
[0042]在一个实施例中,每隔48h进行一次IkV升压过程;并在每48h升压前,对所述试验装置进行一次局部放电、介质损耗因数测试,同时试验装置进行一次局部放电、介质损耗因数测试。
[0043]通过上述方法进行试验后,对测量的结果进行分析,进而找出温度、电压、加压时间对SF6绝缘试样放电的影响,并要进行相关分析,寻找放电量、放电能量及放电指纹等放电参数与SF6*解气体的相关关系,以便为SF6电力设备的在线监测提供有力的科学数据。
[0044]本说明书中每个实施例采用采用递进的方式描述,重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
[0045]以上对本发明所提供的一种高温低压老化试验方法进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域技术人员,依据本发明的思想,在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.一种高温低压老化试验方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤: SlOO:清洗用于试验的所有部件,并在清洗完后放置Tl时间晾干;所述部件包括绝缘试样、人工尖端、支撑底座和用于高温低压老化试验装置的腔体内壁; 5200:将贴合了人工尖端的绝缘试样放入试验装置的试验腔内,所述试验装置带有阀门接口,所述阀门接口用于与外接气体阀门相连; 5300:将所述试验腔内抽真空并充入3?6气体; 5400:进行密封检测,并对所述试验装置进行升温; S500:对所述试验腔进行加压,通过局部放电仪器测量并记录所述绝缘试样的起始放电电压; S600:使用变压器进行升压,第一次等级选择起始放电电压;之后每隔T2时间进行密封检测,然后进行一次一定电压U的升压过程,直到发生击穿;所述T2和U依据试验设计设置; S700:在每次升压之后,对所述试验装置进行一次局部放电、介质损耗因数测试;同时对所述试验装置内部进行取气,进行气相色谱与红外光谱的测量; S800:对实验结果进行分析。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,优选的,所述步骤SlOO中用无水乙醇进行清洗。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述Tl为半小时。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S200具体实现为: 5201:打开试验装置,将所述绝缘试样放入所述试验装置的试验腔内,用螺丝固定在所支撑底座上; S202:用导线连接所述绝缘试样的高、低压端,然后密封所述试验装置。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S300具体实现为: 5301:将真空泵、SF6气瓶、采气袋分别与外接气体阀门的三个接头相连,所述外接气体阀门还包括阀体,所述阀体的管路为四通结构,所述外接气体阀门的另一个接口与所述试验装置相连; 5302:打开所述气瓶所对应的阀门向内注入SF6气体,直到内部接近0.1Mpa ; 5303:静置30分钟后,将气体排出并重新抽真空; 5304:执行步骤S302?S303反复2?3次,打开所述气瓶所对应的阀门向内部注气,直到内部气体压强为0.3-0.4Mpa。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S400中的升温过程包括以下步骤: 5401:在进行所述密封检测后,把装有绝缘试样的试验装置放入烘箱内,用导线把高压设备的高压端和地与试验装置相对应的高压端和地连接; 5402:关上烘箱门,对所述试验装置进行升温,直到试验所需要的温度并保持30分钟。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述绝缘试样的原材料和工艺与IlOkV电流互感器中盆式绝缘子的相同。
【专利摘要】本发明涉及一种高温低压老化试验方法,所述方法采用与110kV电流互感器中盆式绝缘子的相同的绝缘试样在试验装置中进行高温低压试验,通过对含有缺陷的绝缘试样加压产生放电,从而使得SF6气体分解,最后测得加压加温后绝缘试样的局部放电、介质损耗因数和SF6分解气体情况。本发明提供的方法能够有效地找出温度、电压、加压时间对SF6绝缘试样放电的影响,通过相关分析可以得到放电参数与SF6分解气体的相关关系,进而为SF6电力设备的在线监测提供有力的科学数据。
【IPC分类】G01R27-26, G01R31-12, G01R31-00
【公开号】CN104655968
【申请号】CN201510117874
【发明人】于钦学, 曹淳枫, 任挺, 钟力生
【申请人】西安交通大学
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2015年3月17日
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