一讯号量测位置172及/或第一料件171相对应的预设数据123，例如预设数据123可为第一预设电压。计算机装置11可进一步比对量测数据14及预设数据123，并产生检测结果，而计算机装置11及/或用户可依据检测结果决定是否更换待测卡17上的第一料件171，例如计算机装置11可比对第一检测电压及第一预设电压，当第一检测电压和第一预设电压间的电压差大于默认值，计算机装置11便发出更换第一料件171的指示，反之，当第一检测电压和第一预设电压间的电压差小于默认值，计算机装置11便发出不需更换第一料件171的指示。在完成第一料件171及/或第一讯号量测位置172的检测后，可继续进行其它料件及/或其它讯号量测位置的检测，例如第二料件173、第三料件175、第二讯号量测位置174及/或第三讯号量测位置176的检测，其检测方法和第一料件171及/或第一讯号量测位置172相同，在此便不再赘述。
[0030]此外，在本发明另一实施例中，储存单元111亦可储存一维修信息125，其中维修信息125包括相同或相似的待测卡17的量测位置信息、相对应的料件及预设数据，以提供用户查询。当储存单元111所储存的量测位置信息121未能完成待测卡15的维修时，用户可参考维修信息125进行后续的检测及维修动作。当然在不同实施例中，维修信息125亦可包含待测卡17的线路图及料件171/173/175的预定位置，使得用户可依据维修信息125检查此待测卡17是否有线路连接上的问题，或是料件171/173/175位置设置错误所产生的问题。
[0031]此外，计算机装置11亦可将用户之前更换的料件171/173/175、相对应的量测位置信息172/174/176、量测数据14及待测卡17的型号，储存在储存单元111内，以作为将来检测或维修的参考。
[0032]上述计算机装置11可提供特定的量测位置信息121以及相关维修信息125等，但在实际应用时，计算机装置11所提供的信息可由用户自行增加或减少。另外，计算机装置11针对待测卡17所提供的预设数据123及量测数据14和预设数据123的比对条件的设定，亦可由用户自行设定。
[0033]请参阅图2所示，本发明第二实施例的测试维修方法的步骤流程图。并请配合参阅图1所示，用户可依据以下的步骤流程检测及维修待测卡17，并有利于提高待测卡17的检测及维修的效率及正确性。
[0034]计算机装置11依据待测卡17的型号，提供相对应的量测位置信息121，如步骤21所示。此步骤中，用户首先将待测卡17的型号登录在计算机装置11，随后计算机装置11将会依据登录的数据，于储存单元111中找出和此待测卡17关联性的量测位置信息121。接下来，可根据计算机装置11提供的量测位置信息121，将数据量测单元15连接量测位置数据121指示的待测卡17的讯号量测位置172/174/176，并撷取待测卡17的讯号量测位置172/174/176的量测数据14，如步骤23所示。
[0035]计算机装置11可通过数据传输单元13从数据量测单元15取得待测卡17的量测资料14，并进一步比对待测卡17的量测数据14及储存单元111所储存的预设数据123以产生一检测结果，如步骤25所示。而后，依据于比对结果，决定是否更换待测卡17上的料件171/173/175，如步骤27所示。
[0036]在本发明一实施例中，待测卡17包括多个料件171/173/175及多个讯号量测位置172/174/176，其中各个料件171/173/175分别相对应于各个讯号量测位置172/174/176，例如包括第一料件171、第二料件173、第三料件175、第一讯号量测位置172、第二讯号量测位置174及第三讯号量测位置176，其中第一讯号量测位置172相对应于第一料件171，第二讯号量测位置174相对应于第二料件173，而第三讯号量测位置176则相对应于第三料件175。因此在实际应用时，可重复上述步骤21至步骤27，以检测待测卡17上其它尚未经过检测的料件171/173/175及/或讯号量测位置172/174/176。
[0037]在本发明一实施例中，计算机装置10可比对待测卡17的量测数据14及储存单元111所储存的预设数据123间的差值是否在一预定数值范围之内。当量测数据14和预设数据123间的差值在预定数值范围之外(即大于此预定数值)，代表待测卡17在此讯号量测位置172/174/176上的工作参数异常，则应更换相对应于所述讯号量测位置172/174/176的料件 171/173/175。
[0038]反之，若量测数据14和预设数据123间的差值在预定数值范围之内(即小于或是等于此预定数值)，即代表待测卡17在此讯号量测位置172/174/176上的工作参数为正常，其相对应的料件171/173/175亦不需替换。计算机装置11及/或操作人员可进一步判断待测卡17是否还有其它讯号量测位置172/174/176及/或料件171/173/175需要检测。
[0039]请参阅图3所示，为本发明第三实施例的测试维修方法的步骤流程图。并请配合参阅图1所示，在本发明实施例中计算机装置11依据待测卡17的型号，提供相对应的量测位置信息121，如步骤21所示。接下来，可根据计算机装置11提供的量测位置信息121，将数据量测单元15连接量测位置数据121指示的待测卡17的讯号量测位置172/174/176，并撷取待测卡17的讯号量测位置172/174/176的量测数据14，如步骤23所示。计算机装置11可通过数据传输单元13从数据量测单元15取得待测卡17的量测资料14，并进一步比对待测卡17的量测数据14及储存单元111所储存的预设数据123以产生一检测结果，如步骤25所示。
[0040]计算机装置11及或操作人员可依据检测结果是否符合要求，如步骤31所示，判断待测卡17的讯号量测位置172/174/176及相对应的料件171/173/175是否损坏。若检测结果不符合要求，例如检测结果未落在预定数值范围之内，便表示和所述讯号量测位置172/174/176相对应的料件171/173/175损坏，并需要更换和讯号量测位置172/174/176相对应的料件171/173/175，如步骤27所示。在完成料件171/173/175的更换后，可进一步测试待测卡17是否正常运作，如步骤33所示。反之，若检测结果符合要求，例如检测结果落在预定数值范围之内，便表示和所述讯号量测位置172/174/176相对应的料件171/173/175未损坏，并可进一步测试待测卡17是否正常运作，如步骤33所示。
[0041]测试待测卡17是否正常运作(步骤33)的方法，可以是但不限于将待测卡17装载于测试治具(未显示)上，通过测试治具提供待测卡17所需的讯号及电源，以测试待测卡17是否正常运作。例如当待测卡17为一显示卡时，可将显示卡装载于测试治具上，且测试治具尚连接一显示单元，并透连接测试治具的显示单元所显示的画面判断显示卡是否正常运作。维修完成的同时，用户可将所替换的料件171/173/175、相对应的量测位置信息121、相对应的量测数据14及/或相对应的检测结果记录于计算机装置11的储存单元111内，以作为将来待测卡17维修的参考。
[0042]若测试待测卡17可正常运作，便已完成待测卡17的检测及维修的动作。反之，若待测卡17仍无法正常运作，则表示待测卡17上仍有损坏的料件171/173/175，此时将会重复步骤21至步骤33，并依据计算机装置11的指示量测待测卡17上其它的讯号量测位置172/174/176，以找出及更换待测卡17上其它损坏的料件171/173/175，直到待测卡17可正常运作。
[0043]请参阅图4A及4B所示，为本发明第四实施例的测试维修方法的步骤流程图。本实施例包括第三实施例的测试维修步骤，如步骤21、23、25、31、27及33，上述步骤已揭露于本发明第三实施例及图3中，在此便不再