基于频率扫描天线的目标检测方法

文档序号:8456571阅读:838来源:国知局
基于频率扫描天线的目标检测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及雷达信号检测技术领域,更具体地涉及一种基于频率扫描天线的目标 检测方法。
【背景技术】
[0002] 目标检测一直是雷达、通信等相关领域研宄的重点问题,在诸如手机用户局部定 位、WiFi网络中基于位置的服务、雷达目标定位等许多应用场景,都有广泛需求。其中波达 方向估计(DOA)作为目标检测的一个重要方面,近年来一直备受关注。大部分波达方向估 计系统都利用阵列天线作为接收器,接收的阵列信号用MUSIC算法进行处理得到,然而这 种系统想要提高分辨率需要增加阵元个数,从而导致成本增加、功耗增大、电路结构复杂。
[0003] 频率扫描天线是波束指向随频率变化的一类天线,其中毫米波和太赫兹段的频率 扫描天线的主要应用场景有:用于战场、机场等的区域监视雷达,对二维区域扫描成像,其 中一个维度利用频率控制的波束扫描,另一个维度利用天线转动;用于航天器安全着陆的 地形检测雷达,利用频率扫描天线实现对着陆区域岩石、斜坡等障碍的探测;用于太赫兹二 维成像,其中方位向利用频率扫描探测目标。但是这些雷达都有一个缺陷,在频率扫描方向 的分辨率受制于波束宽度。提高频率扫描方向分辨率的方法通常是增大天线口径以降低天 线波束宽度,但这种方式会带来加工难度的提升,以及设计复杂度的增大,而且在很多时候 由于雷达系统整体的限制,不可能允许天线的尺寸很大。因此,从算法上提高频率扫描方向 目标分辨能力,成为亟待解决的问题。目前,尚未见到有将MUSIC算法应用到基于频率扫描 天线系统的报道。

【发明内容】

[0004] 有鉴于此,本发明的主要目的在于提出一种基于频率扫描天线的目标检测方法, 以通过处理原始回波数据实现目标快速检测及角度超分辨。本发明的方法不需要借助阵列 接收,只需要频率扫描天线发射信号,喇叭或波导端口接收信号,适合用于多个目标的快速 检测。本发明方法可以应用到太赫兹成像、区域监视雷达、无损检测、目标快速识别和跟踪 等领域。
[0005] 为了实现上述目的,作为本发明的一个方面,本发明提供了一种基于频率扫描天 线的目标检测方法,包括以下步骤:
[0006] 步骤Sl :建立回波信号模型;
[0007] 步骤S2 :对原始回波信号进行子空间平均处理,获得信号矩阵;
[0008] 步骤S3 :对步骤S2中获得的信号矩阵求取自相关矩阵;
[0009] 步骤S4 :对步骤S3中获得的信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值和特征 向量空间,并将所述特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间;
[0010] 步骤S5 :将步骤S4中获得的所述信号子空间和噪声子空间正交,并构造FS-MUSIC 伪谱;
[0011] 步骤S6 :对步骤S5所得伪谱进行谱峰搜索,找出多个极大值点对应的角度就是目 标回波方向。
[0012] 其中,步骤Sl包括:
[0013] 将回波信号表示为 X = AS+U,其中 X = [X (f\),X (f2),X (f3) · · ·,X (fN) ]τ,是 N*1 维 回波信号向量,该向量中的每个元素为接收到的不同频率的信号,X(fn)简记为xn,η = 1, 2,·· ·,N ;
[0014] A= [a (f,D a (f,β2)... a (f,βΜ)],为 N*M 维阵列导向矩阵,其中 A 的每一 列为一个阵列导向矢量;
[0015] a (f,0m) = [a^,|3m)a(f2,|3m)· · · a(fN,|3m)]T,m = 1,2· · ·,M,其中 a(fn,|3m) 为频率4下β m方向的双站方向性系数;
[0016] S= s(f3M)]T,S βπ方向目标的后向散射系数,S(f3 m)简记为 sm,m = 1,2, · · ·,M ;
[0017] U = · .u(fN)]T 为不同频率的噪声,x(fn)简记为 xn,n = 1,2,· · ·,N。
[0018] 其中,步骤SI中的所述双站方向性系数a(fn,βπ)包含幅度或相位信息。
[0019] 其中,步骤S2包括:
[0020] 对原始回波信号X进行子空间平均处理:X = [x{1}x{2}... x{P}],
[0021] 其中:
[0022] x{1>= [x v x2, . . . , xQ]T
[0023] x{2}= [x 2, x3, · · ·,xQ+1]T,
[0024] ......
[0025] x{P} = [x p,xP+1,. . .,xN]T,P为子空间个数,P > D (设D为目标个数),Q为每个子 空间元素个数,且P+Q+l = M。
[0026] 其中,步骤S3包括:
[0027] 对步骤S2中获得的信号矩阵根据下式求取自相关矩阵:
【主权项】
1. 一种基于频率扫描天线的目标检测方法,包括以下步骤: 步骤S1:建立回波信号模型; 步骤S2:对原始回波信号进行子空间平均处理,获得信号矩阵: 步骤S3 :对步骤S2中获得的信号矩阵求取自相关矩阵: 步骤S4:对步骤S3中获得的信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值和特征向量 空间,并将所述特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间; 步骤S5:将步骤S4中获得的所述信号子空间和噪声子空间正交,并构造FS-MUSIC伪 谱: 步骤S6:对步骤S5所得伪谱进行谱峰搜索,找出多个极大值点对应的角度就是目标回 波方向。
2. 根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S1包括: 将回波信号表示为父=45+1其中父=匕江1),以4),1(匕)...,以心)] 1,是淋1维回波 信号向量,该向量中的每个元素为接收到的不同频率的信号,x(fn)简记为xn,n= 1,2,…, N; A=[a(f,02)…a(f,0M)],为N*M维阵列导向矩阵,其中A的每一列为 一个阵列导向矢量; a(f,0m) = [a^,|3m)a(f2,|3m)…a(fN,|3m)]T,m= 1,2...,M,其中a(fn,|3m)为频 率4下0m方向的双站方向性系数; S= [sWXh)…s(f3M)]T,为方向目标的后向散射系数,s(0m)简记为sm,m= 1,2, U= [iKfXfJ…u(fN)]T为不同频率的噪声,x(fn)简记为xn,n= 1,2,…,N。
3. 根据权利要求2所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S1中的所述双 站方向性系数a(fn,包含幅度或相位信息。
4. 根据权利要求2所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S2包括: 对原始回波信号X进行子空间平均处理:X= [x{1}x{2}…x{p}], 其中: X [X i,Xg,? ? ?,Xq], X - [X2, x3,…,Xq+1], x{P} =[xP,xP+1,…,xN]T,P为子空间个数,P>D(设D为目标个数),Q为每个子空间 元素个数,且P+Q+l=M。
5. 根据权利要求4所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S3包括: 对步骤S2中获得的信号矩阵根据下式求取自相关矩阵:
其中,P为子空间个数,H表示共轭转置。
6. 根据权利要求5所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S4包括: 对步骤S3中获得的所述信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值i和特征向量
八 空间五,其中. 且h彡X2彡…彡AQ,特征值对应的特征向量空间

为特征值\(i= 1,2,…,Q)对应的特征向量; 已知目标个数为D,所以只有最大的D个特征值与信号有关,记做信号特征值 _同样与噪声相关的特征值为 9 将特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间,其中信号子空间
维度为Q*(Q_D)。 9
7. 根据权利要求6所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S5包括: 将步骤S1中阵列导向矢量记做更普遍的形式:a(f,0 ); 将步骤S4中获得的所述信号子空间和噪声子空间正交,由此可知阵列导向矢量与噪 声子空间也正交,即||2=s其中e是一个非常小的数;以及 构造FS-MUSIC伪谱:
其中,0 = { 0p0 2,…,0 M}。
8. 根据权利要求7所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中步骤S5中所述构造 FS-MUSIC伪谱的公式为具有加权形式的伪谱公式。
9. 根据权利要求7所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中在步骤S6之后还包 括: 步骤S7 :由频扫天线的发射频率与扫描角度关系,将步骤S6得到的所述多个目标回波 方向换算成多个频点;以及 步骤S8 :将步骤S7得到的所述多个频点及附近频带的信号提取出来,进行脉冲压缩, 得到目标的二维图像。
10. 根据权利要求1所述的基于频率扫描天线的目标检测方法,其中所述目标检测方 法应用到太赫兹成像、区域监视雷达、无损检测、目标快速识别和跟踪领域。
【专利摘要】本发明公开了一种基于频率扫描天线的目标检测方法,通过处理原始回波数据实现目标快速检测及角度超分辨,具体包括:建立回波信号模型;对原始回波信号进行子空间平均处理,获得信号矩阵;对获得的信号矩阵求取自相关矩阵;对获得的信号自相关矩阵进行特征值分解,得到特征值和特征向量空间,并将所述特征向量空间分成信号子空间和噪声子空间;将获得的信号子空间和噪声子空间正交,并构造FS-MUSIC伪谱;对所得伪谱进行谱峰搜索,找出多个极大值点对应的角度就是目标回波方向。本发明的方法不需要借助阵列接收,只需要频率扫描天线发射信号、喇叭或波导端口接收信号,处理简单快速,适合用于多个目标的快速检测。
【IPC分类】G01S7-41
【公开号】CN104777467
【申请号】CN201510158700
【发明人】李超, 李世超, 张晓娟, 方广有
【申请人】中国科学院电子学研究所
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年4月3日
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