间，外部信号的相位状态可 W相对于所述输出信号的相位遍历360度旋转。例如，在针对每个频率在90度、180度、270 度和360度的相位处施加外部信号的同时，所述第二测量集合可W包括输出信号的测量。
[0064] 在块S314中，通过非线性模型（例如W上等式（4)所示的非线性模型）凭借第一 和第二测量集合的处理结果来确定描述信号生成器的工作特性的系数集合。所述方法可W 还包括：对（例如VNA和信号生成器的）信号源进行基准信号锁定，W用于执行第一和第二 测量集合。
[0065] 系数集合可W对于信号生成器所生成的输出信号的特定大信号工作点（LS0巧是 有效的，并且可W描述完整非线性输入和输出信号映射。例如，系数可W是X参数系数，其 中，第一系数（例如描述更简单的非线性输入和输出信号映射，两个系数的集合 描述线性化输入和输出信号映射。两个系数的集合包括例如用于输入信号到输出信号的 线性化映射的第二系数（例如W及共辆输入信号到输出信号的线性化映射的 第立系数（例化若I； )。根据实施例，如等式（4)所提供的那样，非线性模型总体上 包括等于第一系数的信号生成器的所述输出端口处的所述输出信号加上第二系数与对应 于在所述输出端口处的所述输出信号的反射信号的乘积加上第Ξ系数、对应于在所述输出 端口处的所述输出信号的所述反射信号的共辆和源自相位归一化的所述输出信号的相位 的平方的乘积。
[0066] 本领域技术人员应理解，根据本教导的很多变形是可能的，并且仍在所附权利要 求的范围内。在此审阅说明书、附图和权利要求之后，运些和其它变形对于本领域技术人员 将变得清楚。因此，除了在所附权利要求的精神和范围内之外，本发明并不受限。
【主权项】
1. 一种通过测量设备确定信号生成器的工作特性的方法，所述方法包括： 执行所述信号生成器（180)生成的输出信号（B1)和所述信号生成器的输出端口（185) 的对应反射信号（A1)的第一测量集合，其中，遍历所述输出信号的多个频率和多个幅度执 行所述第一测量集合（S311); 将外部信号施加到所述信号生成器的所述输出端口（S312); 在所述外部信号施加到所述输出端口的同时，在所述信号生成器的所述输出端口执行 所述输出信号和对应反射信号的第二测量集合，其中，遍历所述输出信号的所述多个频率 和所述多个幅度执行所述第二测量集合，对于所述第二测量集合中的每个测量，所述外部 信号具有与输出信号相同的频率（S313);以及 通过非线性模型处理第一和第二测量集合的结果以确定描述所述信号生成器的工作 特性的系数集合（S314)。2. 如权利要求1所述的方法，其中，所述外部信号设置为小于确保不违反对于小信号 响应的线性约束的预定常数的所述输出信号的多个幅度的期望最大幅度。3. 如权利要求1所述的方法，其中，针对每个频率遍历所述外部信号相对于所述输出 信号的相位的多个相位状态来执行所述第二测量集合，所述外部信号的相位状态相对于所 述输出信号的相位遍历360度旋转， 其中，所述第二测量集合包括：在针对每个频率以90度、180度、270度和360度的相位 施加所述外部信号的同时对于所述输出信号的测量。4. 如权利要求1所述的方法，其中，所述系数集合对于所述输出信号的特定大信号工 作点是有效的，所述大信号工作点是由所述信号生成器设置的，并且 其中，所述系数集合包括： 第一系数，其描述更简单的非线性输入和输出信号映射；以及 两个系数的集合，其描述线性化输入和输出信号映射，其中，所述两个系数的集合包 括： 第二系数，其用于所述输入信号到所述输出信号的线性化映射， 第三系数，其用于共辄输入信号到所述输出信号的线性化映射。5. 如权利要求4所述的方法，其中，所述非线性模型包括：所述信号生成器的所述输出 端口的所述输出信号等于以下各部分之总和： 所述第一系数， 所述第二系数和对应于所述输出端口的所述输出信号的反射信号之乘积， 所述第三系数、对应于所述输出端口的所述输出信号的所述反射信号的共辄、源自相 位归一化的所述输出信号的相位的平方之乘积。6. -种用于确定待测试设备（DUT)的工作特性的测量设备，所述设备包括： 测试端口（150)，其配置为连接到所述DUT(180)的输出端口（185)，用于输入DUT生成 的输出信号（B1)，并且输出对应于所述输出信号的反射信号（A1); 信号源（110)，其配置为生成有选择地施加到所述DUT的所述输出端口的外部信号； 第一接收机（120)，其配置为在没有外部信号施加到所述DUT的所述输出端口的情况 下经由第一耦合器（125)执行所述DUT生成的所述输出信号的第一输出信号测量集合，并 且配置为在所述外部信号施加到所述DUT的所述输出端口的情况下经由所述第一耦合器 执行第二输出信号测量集合； 第二接收机（130)，其配置为在外部信号没有施加到所述DUT的所述输出端口的情况 下经由第二耦合器（135)执行所述反射信号的第一反射信号测量集合，并且配置为在所述 外部信号施加到所述DUT的所述输出端口的情况下经由所述第二耦合器执行第二反射信 号测量集合； 处理单元（160)，其配置为通过非线性模型处理第一和第二输出信号测量和反射信号 测量集合的结果以确定描述所述DUT的工作特性的系数集合， 其中，遍历所述输出信号的多个频率和多个幅度来执行第一和第二输出信号测量和反 射信号测量集合，对于所述第二输出信号和反射信号测量集合中的每个测量，所述外部信 号具有与所述输出信号相同的频率。7. 如权利要求6所述的设备，其中，在所述第一输出信号测量集合期间，针对每个频 率，所述第一和第二接收机遍历所述外部信号相对于所述输出信号的相位的多个相位状 态，分别执行第二输出信号测量和反射信号测量集合，并且 其中，在第一输出信号测量集合期间，所述外部信号的相位状态相对于所述输出信号 的相位遍历360度旋转。8. 如权利要求6所述的设备，其中，所述系数集合包括： 第一系数，其描述更简单的非线性输入和输出信号映射；以及 两个系数的集合，其描述线性化输入和输出信号映射，其中，所述两个系数的集合包 括： 第二系数，其用于所述输入信号到所述输出信号的线性化映射，和 第三系数，其用于共辄输入信号到所述输出信号的线性化映射。9. 如权利要求8所述的设备，其中，所述非线性模型包括：所述DUT的所述输出端口的 所述输出信号等于以下各部分之总和： 所述第一系数， 所述第二系数和对应于所述输出端口的所述输出信号的反射信号之乘积， 所述第三系数、对应于所述输出端口的所述输出信号的所述反射信号的共辄、源自相 位归一化的所述输出信号的相位的平方之乘积。10. 如权利要求8所述的设备，其中，第一、第二和第三系数中的每一个包括对于所述 输出信号的特定大信号工作点有效的X参数系数。
【专利摘要】在此公开确定信号生成器(180)的工作特性的方法。所述方法包括：执行所述信号生成器所生成的输出信号(B1)和对应反射信号(A1)的第一测量集合，其中，遍历所述输出信号的多个频率和幅度来执行所述第一测量集合(S311)；将外部信号施加到所述信号生成器的所述输出端口(185)(S312)；在所述外部信号施加到所述输出端口的同时，执行所述输出信号和对应反射信号的第二测量集合，其中，遍历所述输出信号的频率和幅度来执行所述第二测量集合，对于所述第二测量集合中的每个测量，所述外部信号具有与所述输出信号相同的频率(S313)。通过非线性模型凭借所述第一和第二测量集合的处理结果来确定描述所述信号生成器的工作特性的系数集合(S314)。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN105277821
【申请号】CN201510349289
【发明人】L·C·贝茨, D·V·布莱克哈姆, M·C·多伯特, X·李, D·萨里阿斯拉尼, L·申顿, E·F·西格尔, B·史密斯, M·托德亨特, K·H·黄
【申请人】是德科技股份有限公司
【公开日】2016年1月27日
【申请日】2015年6月23日
【公告号】US20150369849