一种暗室反射特性的测量方法和设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及电磁技术领域，尤其涉及一种暗室反射特性的测量方法和设备。
【背景技术】
[0002]为了保证电磁兼容试验的有效性，需要对电磁兼容试验结果的影响因素进行分析。然而，试验场地(又可称之为电磁兼容暗室)性能的好坏是影响电磁兼容试验结果的重要因素。
[0003]常用的试验场地是由墙面铺设吸波材料的屏蔽室建成的。屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性(又可以称之为暗室反射特性)影响试验场地的性能，也就是说，屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性影响电磁兼容试验结果。
[0004]其中，暗室反射特性表征暗室墙面内铺设的不同性能的吸波材料对不同频率的电磁波的反射损耗。
[0005]通过对暗室反射特性的测量可以确定屏蔽室内墙面吸波材料的反射特性对电磁兼容试验结果的影响大小，常用的测量方法包括拱形法。
[0006]具体地，对暗室反射特性的测量可以看做是测量吸波材料对电磁波的反射损耗。在使用拱形法测量吸波材料对电磁波的反射损耗时，一般需要执行两次测量操作:第一次是测量电磁波被吸波材料反射产生的第一反射信号，第二次是测量该电磁波被金属板反射产生的第二反射信号，通过第一反射信号与第二反射信号之间的能量差，即可确定吸波材料对电磁波的反射损耗，进而得到暗室反射特性。
[0007]在实际应用中发现，一旦暗室建成，采用上述方式测量暗室的反射特性存在以下问题:
[0008]在测量暗室的反射特性的过程中，需要在吸波材料墙面的前面放置金属板，但是由于金属板的尺寸有限，导致在金属板的边缘出现电磁波散射，影响测量暗室反射特性的准确性。
【发明内容】
[0009]有鉴于此，本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量方法和设备，用于解决现有技术中暗室反射特性的测量结果不准确的问题。
[0010]—种暗室反射特性的测量方法，包括:
[0011 ]控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；
[0012]调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；
[0013]控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；
[0014]根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。
[0015]—种暗室反射特性的测量设备，包括:
[0016]信号发射单元，用于控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对；
[0017]调整单元，用于调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值；
[0018]所述信号发射单元，还用于控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；
[0019]测量单元，用于根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，其中，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。
[0020]本申请有益效果如下:
[0021]本申请实施例控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对;调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值;控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同;根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。通过本申请实施例提供的方案，借助发射天线与接收天线的特性，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
【附图说明】
[0022]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量方法的流程示意图；
[0024]图2为等效发射天线示意图；
[0025]图3为调整后的所述发射天线与所述接收天线的相对位置的结构示意图；
[0026]图4为本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量设备的结构示意图；
[0027]图5为本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0028]为了实现本申请的目的，本申请实施例提供了一种暗室反射特性的测量方法和设备，控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对;调整所述发射天线与所述接收天线的位置，使得所述发射天线与所述接收天线位置相对，且所述发射天线与所述接收天线之间的距离满足设定第二数值;控制所述发射天线向所述接收天线发射第二电磁波信号，并控制所述接收天线接收所述第二电磁波信号，其中，所述第一电磁波信号与所述第二电磁波信号的频率相同；根据所述第一反射信号和所述第二电磁波信号，测量得到所述暗室的反射特性，所述反射特性表征所述吸波材料对电磁波信号的的反射损耗。通过本申请实施例提供的方案，借助发射天线与接收天线的特性，能够有效避免由于金属板在反射电磁波信号时出现的散射，提高了测量暗室反射特性的准确性。
[0029]下面结合说明书附图对本申请各个实施例作进一步地详细描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0030]图1为本申请实施例提供的一种暗室反射特性的测量方法的流程示意图。所述方法可以如下所示。
[0031]步骤101:控制发射天线向暗室铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号，并控制接收天线接收所述墙面反射的第一反射信号。
[0032]其中，所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离满足设定第一数值，且所述发射天线和所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面位置相对。
[0033]在步骤101中，在对暗室的反射特性进行测量时，首先，需要发射天线和接收天线对准被测的吸波材料墙面，这里当发射天线和接收天线对准被测的吸波材料墙面时，需要发射天线和接收天线与被测的吸波材料墙面之间的距离满足设定第一数值。
[0034]其中，设定第一数值可以根据发射天线和接收天线与暗室周围其他平面之间的距离确定。
[0035]所述发射天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离与所述接收天线与暗室铺设吸波材料的墙面之间的距离相同。
[0036]由于为了精确确定吸波材料对电磁波信号的反射损耗，在向铺设吸波材料的墙面发射第一电磁波信号时，尽可能避免第一电磁波信号的散射，因此，要求发射天线和接收天线与被测的吸波材料墙面之间的距离小于设定第一数值。
[0037]例如:发射天线和接收天线与暗室周围其他平面之间的距离为a，那么在确定发射天线和接收天线的位置时，确定发射天线和接收天线与被测的吸波材料墙面之间的距离小于a