平板吸波材料插损测量装置及其测量方法
【专利说明】平板吸波材料插损测量装置及其测量方法
[0001]
技术领域
[0002]本发明涉及光学领域，特别涉及一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法。
[0003]
【背景技术】
[0004]随着现代无线电技术和雷达探测技术的迅猛发展，极大地提高了飞行器探测系统的搜索、跟踪目标的能力。传统的作战武器系统受到的威胁越来越严重，隐身技术成为提高武器系统生存、突防，尤其是纵深打击能力的有效手段。隐形飞机在军事行动中成功亮相，立即引起军事专用设备家的关注。针对雷达探测的隐身技术途径有两条，一是通过飞机、舰艇等武器的外形进行改进，减少雷达截面积;二是应用雷达吸波材料对雷达波进行吸收或是减少对它的反射。外形隐身技术难度较大，成本高，容易使目标的结构性能劣化，而采用吸波材料技术相对简单，设计难度低。各军事强国普遍重视对吸波材料的研究与开发，谋求武器装备的隐身化已成为军事强国角逐军备高新技术的热点。由于微波信号在开放空间中传输时会产生散射、多径传输等效应导致测试结果不准确，因为吸波材料通常在微波暗室中进行测试，在不具备微波暗室测试条件时很难准确的对吸波材料进行准确测试。
[0005]
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于提供一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法，以解决如何在不具备微波暗室测试条件时对吸波材料插损参数进行测量的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本发明的技术方案是:一种平板吸波材料插损测量装置，包括:微波信号源;驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料;发射天线，与所述微波信号源连接;频谱仪;接收天线，与所述频谱仪连接;被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。
[0008]进一步地，平板吸波材料插损测量装置还包括支架，所述支架将所述被测平板吸波材料单元固定在所述驻波筒的信号输出端。
[0009]本发明还提供一种平板吸波材料插损测量方法，包括:微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置;经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输;微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果;保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果;将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
[0010]本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。
[0011]本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
[0012]
【附图说明】
[0013]下面结合附图对发明作进一步说明:
图1为本发明实施例提供的未将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端时的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量方法的步骤流程示意图。
[0014]
【具体实施方式】
[0015]以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0016]本发明的核心思想在于，本发明提供的本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
[0017]图1为本发明实施例提供的未将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端时的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；图2为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图。参照图1以及图2，一种平板吸波材料插损测量装置，包括:微波信号源11;驻波筒12，所述驻波筒12内铺设吸波材料13;发射天线14，与所述微波信号源11连接;频谱仪15 ；接收天线16，与所述频谱仪15连接;被测平板吸波材料单元17，固定在所述驻波筒12的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元17位于所述驻波筒12与所述接收天线16之间。
[0018]进一步地，平板吸波材料插损测量装置还包括支架18，所述支架18将所述被测平板吸波材料单元17固定在所述驻波筒12的信号输出端。
[0019]图3为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量方法的步骤流程示意图。参照图3并结合图1及图2，平板吸波材料插损测量方法包括:
531、微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置；
532、经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输；
533、微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果；
534、保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果；
535、将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
[0020]显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变形而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种平板吸波材料插损测量装置，其特征在于，包括: 微波信号源； 驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料； 发射天线，与所述微波信号源连接； 频谱仪； 接收天线，与所述频谱仪连接； 被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。2.如权利要求1所述的平板吸波材料插损测量装置，其特征在于，还包括支架，所述支架将所述被测平板吸波材料单元固定在所述驻波筒的信号输出端。3.一种平板吸波材料插损测量方法，其特征在于，包括: 微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置； 经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输； 微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果； 保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果； 将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
【专利摘要】本发明提供一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。本发明还提供平板吸波材料插损测量方法。本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
【IPC分类】G01R27/26
【公开号】CN105510722
【申请号】CN201510906031
【发明人】邓倩岚, 辛康, 张贺
【申请人】上海精密计量测试研究所
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年12月9日