编程器测试装置及测试方法
【技术领域】
[0001 ]本发明属于集成电路编程技术领域，更具体地，涉及一种用于批量生产编程器的测试装置及方法。
【背景技术】
[0002]当今科技水平的高速发展，伴随着人力成本的越来越高，可编程电路随着越来越多客户的推广应用，编程工具的实际需求量越来越大，以往人力测试生产的成本和速度已经不能满足实际的需求。由此，我们研究出一种生产测试装置，专门用于批量生产辅助测试编程工具。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于提供一种用于批量生产编程器的测试装置及测试方法。
[0004]根据本发明的一方面，提供一种编程器测试装置，包括:夹具，用于固定待测编程器;测试卡模块，用于采集待测编程器的测试数据；串口通讯模块，用于向待测编程器发送文件信号流;主处理器，分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接，用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。
[0005]优选地，所述主处理器还用于在接收到电源测试以及校准指令时向测试卡模块发送电源测试信号;所述测试卡模块还用于根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
[0006]优选地，所述主处理器还用于在接收到链路检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路检测信号;所述测试卡模块还用于根据所述链路检测信号采集待测编程器根据所述链路检测信号流输出的链路检测数据并发送至所述主处理器;所述主处理器还用于接收所述链路检测数据并根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
[0007]优选地，所述主处理器还用于在接收到参数检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数检测信号;所述测试卡模块还用于根据所述参数检测信号采集待测编程器根据所述参数检测信号流输出的参数检测数据并发送至所述主处理器;所述主处理器还用于接收所述参数检测数据并根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
[0008]优选地，所述主处理器还用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流;所述主处理器还用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
[0009]优选地，所述主处理器还用于在接收到功能检测指令时通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能检测信号;所述测试卡模块还用于根据所述功能检测信号采集待测编程器根据所述功能检测信号流输出的功能检测数据并发送至所述主处理器;所述主处理器还用于接收所述功能检测数据并根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
[0010]优选地，上述编程器测试装置还包括:人机操作接口，用于输入指令;液晶显示模块，与所述主处理器连接，用于显示测试数据。
[0011 ]根据本发明的另一方面，提供一种编程器测试方法，包括:主处理器接收测试指令，根据所述测试指令发送测试信号；测试卡模块根据所述测试信号采集待测编程器的测试数据;主处理器根据所述测试数据判断待测编程器是否异常。
[0012]优选地，所述编程器测试方法还包括:主处理器在接收到电源测试以及校准指令时，向测试卡模块发送电源测试信号，测试卡模块根据所述电源测试信号采集待测编程器的电源电压并发送至主处理器。
[0013]优选地，所述编程器测试方法还包括:主处理器在接收到链路检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送链路检测信号流，向测试卡模块发送链路测试信号;待测编程器根据所述链路检测信号流输出链路检测数据;测试卡模块根据所述链路测试信号采集待测编程器的链路检测数据并发送至主处理器;主处理器根据所述链路检测数据判断链路是否异常。
[0014]优选地，所述编程器测试方法还包括:主处理器在接收到参数检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送参数检测信号流，向测试卡模块发送参数测试信号;待测编程器根据所述参数检测信号流输出参数检测数据;测试卡模块根据所述参数测试信号采集待测编程器的参数检测数据并发送至主处理器;主处理器根据所述参数检测数据判断参数是否异常。
[0015]优选地，所述编程器测试方法还包括:主处理器在接收到存储器检测指令时，通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流;待测编程器根据接收到的文件信号流将编程内容写入存储器中后校验待测编程器内的存储器内容，并将存储器校验数据通过串口通讯模块发送至主处理器;主处理器根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。
[0016]优选地，所述编程器测试方法还包括:主处理器在接收到功能检测指令时，通过信号源模块向待测编程器发送功能检测信号流，向测试卡模块发送功能测试信号;待测编程器根据所述功能检测信号流输出功能检测数据;测试卡模块根据所述功能测试信号采集待测编程器的功能检测数据;主处理器根据所述功能检测数据判断功能是否异常。
[0017]本发明提供的编程器测试装置及测试方法，可以单独执行某一检测指令，也可按顺序执行多个检测指令，提高检测效率，减少成本。
【附图说明】
[0018]通过以下参照附图对本发明实施例的描述，本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中:
[0019]图1示出了根据本发明实施例的编程器测试装置的结构示意图；
[0020]图2示出了根据本发明实施例的编程器测试方法的流程图；
[0021]图3示出了根据本发明实施例的编程器电源测试方法的流程图；
[0022]图4示出了根据本发明实施例的编程器链路测试方法的流程图；
[0023]图5示出了根据本发明实施例的编程器参数测试方法的流程图；
[0024]图6示出了根据本发明实施例的编程器存储器测试方法的流程图；
[0025]图7示出了根据本发明实施例的编程器功能测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0026]以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
[0027]本发明可以各种形式呈现，以下将描述其中一些示例。
[0028]图1示出了根据本发明实施例的编程器测试装置的结构示意图。如图1所示，本实施例的编程器测试装置100包括主处理器101、测试卡模块102、信号源模块103、串口通讯模块104和夹具105。
[0029]其中，主处理器101与测试卡模块102、信号源模块103和串口通讯模块104连接。
[0030]测试卡模块102用于采集待测编程器150的测试数据。
[0031]在本实施例中，测试数据可以是待测编程器150的电源电压、待测编程器根据输入的检测信号流输出的脉冲信号。
[0032]信号源模块103用于向待测编程器150发送指令信号流。
[0033]串口通讯模块104用于向待测编程器150发送文件信号流。
[0034]夹具105用于固定待测编程器150。
[0035]主处理器101用于通过测试卡模块102获取待测编程器的测试数据。
[0036]在优选的实施例中，所述主处理器101还用于在接收到电