接口具体为16Pin接口时，由于TO筛选系统一次最多可以测试512个T0，因此将N限定为大于O且不大于8的整数，所述M限定为大于I且不大于64的整数。
[0072]在所述总线板输入输出接口1412具体为16Pin接口，且所述控制分配盒输入输出接口具体为16Pin接口时，所述第iPCB板的PCB输入输出接口具体为:欧式48Pin插座；
[0073]所述第iPCB插槽具体为:欧式48Pin插座；
[0074]其中，所述欧式48Pin插座的48个脚位平均分成16组，每组对应所述16Pin接口中的一个脚位，以确保PCB板插入连接到总线的有效。
[0075]实施例二
[0076]在本实施例中，在图1示出的TO筛选系统的基础上扩展出另外一种TO筛选系统，请参见图2，在图1示出的TO筛选系统的基础上还包括:TO夹具21。
[0077]TO夹具，用于与所述TO器件单元14适配连接。
[0078]TO夹具21包括:测试架底板211、4个测试架立柱212、2个手柄横杆213、第一PCB固定板214、第二PCB固定板215、第一PCB卡槽216、第二PCB卡槽217、横梁218、第一锁件219、第二锁件220、第三锁件221、锁板222和PCB托块223。
[0079]TO夹具的实体结构分解图请参见图3。
[0080]所述测试架底板211分别与4个所述测试架立柱212匹配连接，2个手柄横杆213分别与所述测试架立柱212匹配连接，所述第一 PCB固定板214与所述第二 PCB固定板215匹配连接，所述第一 PCB卡槽216和所述第二 PCB卡槽217均与所述测试架立柱212匹配连接，所述横梁218与所述第一锁件219匹配连接、所述锁板222与所述第一锁件219匹配连接，所述PCB托块223与所述锁板222匹配连接，所述第二锁件220和所述第三锁件221均与所述锁板222匹配连接。
[0081]在本实施例中，TO夹具中的各个结构均采用实心铝加工而成(采用铝型材也可以)，το夹具为全敞篷架构。
[0082]测试架底板211采用一体化掏空结构，既可以让结构的基础牢固，同时减轻骨架的重量。
[0083]4个测试架立柱212采用活动孔位，目的是方便PCB板的PCB输入输出接口与TO器件单元14的PCB插槽达到良好的匹配。
[0084]第一PCB卡槽和第二PCB卡槽217是PCB板插入的导槽，引导PCB板直接插入总线板141上相应的PCB插槽。
[0085]锁板222是用来锁定插入的PCB板，一方面可以防止PCB板因为其它工业设备的机械振动导致从总线板141脱落，另一方面，由于锁板222配置有PCB托块223，锁定PCB板后可以托住PCB板以免TO器件单元因为长时间高温工作在重力作用下产生形变。
[0086]需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
[0087]最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0088]以上对本申请所提供的一种TO筛选系统进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
【主权项】
1.一种TO筛选系统，其特征在于，包括:上位机、激光器综合性能参数PIV测试盒、控制分配盒和TO器件单元，所述TO器件单元包括总线板和N个PCB板，所述总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座，所述N为大于O的整数，所述M为大于I的整数； 所述上位机分别与所述PIV测试盒和所述控制分配盒相连，所述PIV测试盒与所述控制分配盒相连，所述控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连； 第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽相连，所述i = {l，2，3，...,N}； 所述上位机，用于获取用户输入的选址指令，并输出所述选址指令至所述控制分配盒，及输出扫描输出指令至所述PIV测试盒，接收相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数，依据所述状态参数判断与所述选址指令相符的待检测TO是否合格； 所述控制分配盒，用于在接收到所述选址指令后，将所述选址指令编译成地址码，将所述地址码发送至各个PCB板，并将所述PIV测试盒在接收到所述扫描输出指令后，输出的驱动信号转发至与所述选址指令相符的待检测TO所属PCB板，转发相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述PIV测试盒； 所述PIV测试盒，用于在接收到所述扫描输出指令后，输出驱动信号，并转发与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述上位机； 所述TO座，用于安装待检测T0; 所述PCB板，对用于所述控制分配盒发送的地址码进行解析，得到页面码和页内选址码，在所述页面码与所述PCB板的编号相符时，驱动所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO工作，并输出与所述驱动信号相符的检测电流至所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO，及采集所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO在所述检测电流下的状态参数，并将所述状态参数返回至所述控制分配盒； 其中，所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO为与所述选址指令相符的待检测TOo2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述PIV测试盒包括:输出单元，用于在接收到所述扫描输出指令后，按照预设步进间隔逐步输出相应的驱动信号。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述状态参数包括:背光电流和正向电压。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述总线板输入输出接口具体为16Pin接P; 所述控制分配盒输入输出接口具体为:16Pin接口 ； 在所述总线板输入输出接口具体为16Pin接口，且所述控制分配盒输入输出接口具体为16Pin接口时，所述N为大于O且不大于8的整数，所述M为大于I且不大于64的整数。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述第iPCB板的PCB输入输出接口具体为:欧式48Pin插座； 所述第iPCB插槽具体为:欧式48Pin插座； 其中，所述欧式48Pin插座的48个脚位平均分成16组，每组对应所述16Pin接口中的一个脚位。6.根据权利要求1-5任意一项所述的系统，其特征在于，还包括: TO夹具，用于与所述TO器件单元适配连接； 所述TO夹具包括:测试架底板、4个测试架立柱、2个手柄横杆、第一 PCB固定板、第二 PCB固定板、第一 PCB卡槽、第二 PCB卡槽、横梁、第一锁件、第二锁件、第三锁件、锁板和PCB托块；所述测试架底板分别与4个所述测试架立柱匹配连接，2个手柄横杆分别与所述测试架立柱匹配连接，所述第一 PCB固定板与所述第二 PCB固定板匹配连接，所述第一 PCB卡槽和所述第二 PCB卡槽均与所述测试架立柱匹配连接，所述横梁与所述第一锁件匹配连接、所述锁板与所述第一锁件匹配连接，所述PCB托块与所述锁板匹配连接，所述第二锁件和所述第三锁件均与所述锁板匹配连接。
【专利摘要】本申请提供了一种TO筛选系统，包括：上位机、PIV测试盒、控制分配盒和TO器件单元，TO器件单元包括总线板和N个PCB板，总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座；上位机分别与PIV测试盒和控制分配盒相连，PIV测试盒与控制分配盒相连，控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连；第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽接口相连。在本申请中，安装工作简单，缩短了TO测试的总时间，提高了工作效率。并且，上位机、PIV测试盒和控制分配盒与各个TO仅通过一根总线连接，系统易维护。
【IPC分类】G01M11/00
【公开号】CN105571821
【申请号】CN201510930017
【发明人】范于祥, 吴春付, 吴党辉, 祁普红, 彭彦辉, 杨智, 雷杨
【申请人】东莞铭普光磁股份有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月14日