环境为高温高压腐蚀等介质环境，包括高温环境、高压环境、腐蚀环境及 其组合，以及其他包括不同流体环境在内的对样品的应变有影响的环境，在这些环境中，样 品应变受到环境影响，对样品应变的测量也会因为测量方法、装置的不同产生误差。
[0132] 步骤e，计算所述样品的应变值。
[0133] 计算所述样品的应变绝对值，并根据所述样品被拉伸或被压缩，确定所述应变值 为正值或负值。这样，通过应变值可以直接确定应变的具体数值，还可以确定是拉伸产生的 应变或压缩产生的应变。
[0134] 这样，（通过所述凸台）可以对需要测量部位进行直接测量，最后得到的形变与需 要测量部位的形变相同，不需要进行总结换算，这样就消除了间接测量的换算造成的误差， 提高了测量数据的准确度，与间接测量方法相比，该测量方法更直接、测量数据精度高，对 于试验结果对应变非常敏感的相关试验来说，该测量准确度的提高可以显著影响相关试验 的研究结论。
[0135] 实施例十四
[0136] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，本实施例与其不同之处在 于，两个所述凸台与所述样品是分体的；在需要测量部位的两端增加凸台，是指对样品进行 加工时，先加工样品，然后在所述样品需要测量部位的两端安装两个所述凸台，这样，不需 要在加工前就确定需要测量部位，更加灵活且适用范围广。
[0137] 实施例十五
[0138] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，本实施例与其不同之处在 于，所述步骤d中，所述记录所述位移传感器的测量值，为记录一个所述位移传感器在所述 样品被牵引前的读数d 〇1、被在所述样品被牵引后的读数d〇2,以及另一个所述位移传感器在 所述样品被牵引前的读数dti、被在所述样品被牵引后的读数dt 2。
[0139] 相应的，所述步骤e中，所述应变绝对值的计算公式为：
[0140]
[0141] 式中，s为所述样品的应变绝对值，d〇1、d〇2分别为一个位移传感器在样品被牵引 前、被牵引后的读数;dt^dts分别为另一个位移传感器在样品被牵引前、被牵引后的读数;1 为两凸台之间的间距。
[0142] 通过该公式直接计算得出所述样品的应变绝对值，直接方便，运算速度快，且公式 简单，减少了对系统资源的占用。
[0143] 实施例十六
[0144] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，本实施例与其不同之处在 于，所述步骤d中，在所述牵引装置对所述样品进行牵引前，将两个所述位移传感器的读数 调为相同值，并分别记录两个所述位移传感器在所述样品被牵引后的读数do、dt。这样，仅 需要测量所述样品被牵引后所述位移传感器的读数，减小了需要测量的数据(相比较实施 例十五），减小了所述位移传感器的机械问题引起的误差，提高了测量数据的准确度。
[0145] 本实施例中，优选为将两个所述位移传感器的读数清零(调为零值）。
[0146] 相应的，所述步骤e中，所述应变绝对值的计算公式为：
[0147]
[0148] 式中，s为所述样品的应变绝对值，do、dt分别为两个位移传感器在样品被牵引后 的读数;1为两凸台之间的间距。
[0149] 通过该公式直接计算得出所述样品的应变绝对值，直接方便，运算速度快，且公式 简单，减少了对系统资源的占用。
[0150] 以上所述仅为本发明的较佳实施例，对本发明而言仅仅是说明性的，而非限制性 的。本专业技术人员理解，在本发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变， 修改，甚至等效，但都将落入本发明的保护范围内。
[0151] 尽管本文较多地使用了样品1、引导件2、测量件3、、引导卡具21、引导杆22、钻孔 211、锁紧件212、凸台10、上凸台11、下凸台12、牵引件4、固定端13等术语，但并不排除使用 其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本发明的本质;把它们 解释成任何一种附加的限制都是与本发明精神相违背的。
【主权项】
1. 一种在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，包括： 步骤a，对样品进行重新设计，在原样品的基础上，在需要测量部位两端增加两个凸台； 步骤b，测量两个所述凸台之间的间距，并将所述样品固定在牵引装置上； 步骤c，将引导卡具的一端卡接固定在所述凸台上，另一端固定刚性的引导杆，并使所 述引导杆与所述样品平行，将所述引导杆插入位移传感器中，且插入部分在所述位移传感 器的测量范围内； 步骤d，将所述样品置于介质环境中，启动所述牵引装置对所述样品进行牵引，记录所 述位移传感器的测量值； 步骤e，计算所述样品的应变绝对值，并根据所述样品被拉伸或被压缩，确定应变值为 正值或负值。2. 根据权利要求1所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述步 骤a中，所述在需要测量部位的两端增加凸台，为对所述样品进行加工时，直接在所述样品 需要测量部位的两端加工出两个所述凸台。3. 根据权利要求1所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，两个所 述凸台与所述样品是分体的。4. 根据权利要求1-3中任一所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在 于，所述步骤b中，两个所述凸台之间的间距，为一个所述凸台的内侧端面与另一个所述凸 台的外侧端面之间的距离。5. 根据权利要求1-3所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述 步骤c中，所述位移传感器为LVDT位移传感器。6. 根据权利要求1-3所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述 引导卡具、所述引导杆和所述位移传感器均有两个，分别对应两个所述凸台。7. 根据权利要求6所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述步 骤d中，所述位移传感器的测量值，为一个所述位移传感器在所述样品被牵引前的读数d 〇1、 在所述样品被牵引后的读数d〇2,以及另一个所述位移传感器在所述样品被牵引前的读数 dt 1、在所述样品被牵引后的读数dt2。8. 根据权利要求7所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述步 骤e中，所述应变绝对值的计算公式为：式中，s为所述样品的应变绝对值，d〇1、d〇2分别为一个位移传感器在样品被牵引前、被 牵引后的读数;dt^dts分别为另一个位移传感器在样品被牵引前、被牵引后的读数;1为两 所述凸台之间的间距。9. 根据权利要求6所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述步 骤d中，在所述牵引装置对所述样品进行牵引前，将两个所述位移传感器的读数校准为相同 值，并分别记录两个所述位移传感器在所述样品被牵引后的读数do、dt。10. 根据权利要求9所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法，其特征在于，所述 步骤e中，所述应变绝对值的计算公式为：式中，S为所述样品的应变绝对值，d〇、dt分别为两个位移传感器在样品被牵引后的读 数;1为两所述凸台之间的间距。
【专利摘要】本发明提供一种在介质环境中直接测量试样应变的方法，其包括：步骤a，对样品进行重新设计；步骤b，测量两个所述凸台之间的间距，并将所述样品固定在牵引装置上；步骤c，将引导卡具的一端卡接固定在所述凸台上，另一端固定刚性的引导杆，并使所述引导杆与所述样品平行，将所述引导杆插入位移传感器中，且插入部分在所述位移传感器的测量范围内；步骤d，将所述样品置于介质环境中，启动所述牵引装置对所述样品进行牵引，记录所述位移传感器的测量值；步骤e，计算所述样品的应变值。这样，(通过所述凸台)可以对需要测量部位进行直接测量，与间接测量方法相比，该测量方法更直接、测量数据精度高。
【IPC分类】G01B21/32
【公开号】CN105674944
【申请号】CN201610058721
【发明人】钟巍华, 佟振峰, 宁广胜, 鱼滨涛
【申请人】中国原子能科学研究院
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年1月28日