一种探头校准测试用定位装置的制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种探头校准测试用定位装置，包括相连接的下盖板基座(1)和上盖板(2)，所述下盖板基座(1)上设有用于安装光功率计探头的卡槽(4)，所述下盖板基座(1)上还设有光纤输入接头(3)，该光纤输入接头(3)与光功率计探头连接，光信号通过光纤输入接头输入到光功率探头中。与现有技术相比，本发明具有能有效固定探头、降低测试误差、提高测试数据等优点。
【专利说明】
一种探头校准测试用定位装置
技术领域
[0001]本发明涉及一种探头固定装置，尤其是涉及一种探头校准测试用定位装置。
【背景技术】
[0002]目前对光功率计的探头计量时，有一种类型的探头是手持式的，受光面无法固定，接受标准光源的照射感应光强度时，人员的操作和抖动都会对测量产生较大的误差，并且重复性、再现性也差。因为无法固定探头，所以光源和探头的距离，受光点都不是确定，如果使用一个固定探头的夹具，可以解决这个问题。如专利申请CNCN103926326A公开一种超声波探头固定装置，包括外管套、压缩弹簧、保护垫块及用于放置超声波探头的保护管套，压缩弹簧安装在外管套与保护垫块之间，保护管套一端安装在外管套内、且套于保护垫块，保护套管与外管套通过锁紧螺栓固定在一起，保护套管设有用于安装超声波探头的凹槽，保护套管另一端设有与凹槽相连通的通孔。但该装置是针对超声波探头设计的，不能适用于光功率计的探头固定。
【发明内容】
[0003]本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种有效固定探头、降低测试误差、提高测试数据的探头校准测试用定位装置。
[0004]本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0005]—种探头校准测试用定位装置，包括相连接的下盖板基座和上盖板，所述下盖板基座上设有用于安装光功率计探头的卡槽，所述下盖板基座上还设有光纤输入接头，该光纤输入接头与光功率计探头连接，光信号通过光纤输入接头输入到光功率探头中。
[0006]所述下盖板基座的一端与上盖板的一端可活动式连接。
[0007]所述卡槽为台阶状凹槽。
[0008]所述卡槽为三级台阶结构。
[0009]所述下盖板基座底部还设有用于定位光功率计探头的定位孔。
[0010]所述下盖板基座和上盖板均为由不锈钢材料制成的盖板。
[0011]与现有技术相比，本发明具有以下优点:
[0012](I)可以完整固定探头，并且保持光源和探头的受光面在固定的距离，固定的受光点，测试数据会更加准确，人员的误差可以大大减少
[0013](2)使重复测量的结果趋向稳定，可以降低整个系统的误差。
【附图说明】
[0014]图1为本发明的结构示意图；
[0015]图2为本发明的俯视结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。本实施例以本发明技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
[0017]如图1-图2所示，一种探头校准测试用定位装置，其特征在于，包括相连接的下盖板基座I和上盖板2，下盖板基座I上设有用于安装光功率计探头的卡槽4，下盖板基座I上还设有光纤输入接头3，该光纤输入接头3与光功率计探头连接。下盖板基座I的一端与上盖板2的一端可活动式连接。下盖板基座I和上盖板2均由不锈钢材料制成，使用寿命长。
[0018]卡槽4为台阶状凹槽，本实施例中，卡槽为三级台阶结构。
[0019]下盖板基座底部还设有用于定位光功率计探头的定位孔5。
[0020]上述定位装置连接过程中，将光功率计探头放入卡槽中，通过定位孔定位，由光纤输入接头固定住，再由下盖板基座固定。光信号通过光纤输入接头输入到光功率探头中。
【主权项】
1.一种探头校准测试用定位装置，其特征在于，包括相连接的下盖板基座(I)和上盖板(2)，所述下盖板基座(I)上设有用于安装光功率计探头的卡槽(4)，所述下盖板基座(I)上还设有光纤输入接头(3)，该光纤输入接头(3)与光功率计探头连接，光信号通过光纤输入接头输入到光功率探头中。2.根据权利要求1所述的探头校准测试用定位装置，其特征在于，所述下盖板基座(I)的一端与上盖板(2)的一端可活动式连接。3.根据权利要求1所述的探头校准测试用定位装置，其特征在于，所述卡槽(4)为台阶状凹槽。4.根据权利要求3所述的探头校准测试用定位装置，其特征在于，所述卡槽(4)为三级台阶结构。5.根据权利要求1所述的探头校准测试用定位装置，其特征在于，所述下盖板基座(I)底部还设有用于定位光功率计探头的定位孔(5)。6.根据权利要求1所述的探头校准测试用定位装置，其特征在于，所述下盖板基座(I)和上盖板(2)均为由不锈钢材料制成的盖板。
【文档编号】G01J1/04GK105823553SQ201510010203
【公开日】2016年8月3日
【申请日】2015年1月8日
【发明人】施颖君
【申请人】电计科技研发（上海）有限公司