光学传感器及使用方法

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光学传感器及使用方法
【专利摘要】本发明涉及光学传感器及使用方法。描述了一种用于光纤系统的干涉仪装置及其使用方法。干涉仪包括光耦合器和光纤,光纤限定第一光路和第二光路。在第一光路和第二光路中传播的光被反射回光耦合器以产生干涉信号。第一、第二和第三干涉信号分量被引导朝向相应的第一、第二和第三光电探测器。第三光电探测器通过非互易的光学器件连接到光耦合器,并被配置成测量朝向输入光纤被引导回来的第三干涉信号分量的强度。也描述了在监测声扰动的应用中使用的方法以及校准方法。
【专利说明】光学传感器及使用方法
[0001 ] 本申请是申请日为2010年05月27日,申请号为201080032395.3,发明名称为“光学传感器及使用方法”的申请的分案申请。
发明领域
[0002]本发明涉及光学传感器,特别地,涉及一种干涉仪及使用方法。
[0003]发明背景
[0004]已在许多感测应用中证明了光纤的益处。两个主要领域是:(i)分布式光纤传感器,和(? )多路复用点传感器阵列。
[0005]分布式传感器利用反向散射光的强度,并利用光信号中的拉曼(Raman)峰值和/或布里渊(Brillouin)峰值来测量温度、张力或压力。分布式传感器提供了许多优点,包括沿光纤的全部长度连续感测,和传感器的灵活性及简易性,这可能是标准的电信光纤。例如,分布式传感器可以Im的空间分辨率沿1km的光纤提供10000个测量点。因此分布式传感器系统提供了较低的安装成本和所有权成本。
[0006]然而,由于其缓慢的响应,分布式传感器通常仅使用在可接受在数秒至数小时内进行测量的应用中。最常见的这种类型的传感器是分布式温度传感器(DTS),分布式温度传感器由许多公司制造。DTS的典型性能是在I Okm范围在60秒内具有Im的空间分辨率和10C的温度分辨率。
[0007]如在第6,555,807号美国专利[1]或第¥098/27406号专利[2]中所描述的,通过利用在反射光或反向散射光中的布里渊偏移,分布式传感器还被用来测量张力。所述布里渊偏移的频率大约是ΙΜΗζ/ΙΟμε以及其线宽大约为30MHz。使用所描述的窄频扫描方法可以确定沿着光纤的张力在ΙΟμε的量级。然而,使用这些方法,扫描率比脉冲重复率慢很多,且测量时间通常在几秒至几分钟的范围内。
[0008]最近,一种利用布里渊频率偏移的快速测量技术已在第7,355,163号美国专利[3]中提出。这种技术使用频率-振幅转换器,其可以是在输出端具有3X3个耦合器的光纤马赫曾德尔干涉仪的形式。然而,应变分辨率受到布里渊光的线宽的限制,因此在干涉仪中的光路长度差应该保持在布里渊光的相干长度内。另外,在干涉仪的两个光路之间的偏振衰减、光电探测器接收机的偏移和增益变化将极大地限制张力测量。具有50με应变分辨率的在大约0.1秒(1Hz)的测量时间最近已经被报道使用了此技术。
[0009]对于许多应用,如声波感测,需要更高的灵敏度和在I毫秒(IkHz),0.1毫秒(I OkHz)或0.0I毫秒(I OOkHz)的量级的更快的测量时间。
[0010]多路复用点传感器提供具有高灵敏度的快速测量并被用于如水听器阵列中。这些在能源市场中的主要应用是用于拖拽阵列和海底地震阵列。然而,与分布式传感器不同,当需要全面覆盖时不能使用多路复用点传感器。感测元件的大小和位置是固定的,并且在单个光纤上多路复用的传感器的数量通常被限制在50至100个元件。另外,该传感器设计依赖于附加的光纤部件,这导致庞大且昂贵的阵列结构。也做出了相当大的努力来增加可以有效地多路复用在单根光纤上的传感器的数量。
[0011]光时域反射仪(OTDR)是一项众所周知的用于测试光纤通讯电缆的技术。为了减少相干反向散射干扰(有时被称为相干瑞利噪声(Coherent Rayleigh Noise))的影响,通常使用宽带光源。然而,在第5,194,847号美国专利[4]中还提出通过检测在相干反向散射瑞利信号中的快速变化而使用相干OTDR来感测侵入。另外,Shatalin等人[5]描述了使用相干瑞利作为分布式光纤报警传感器。
[0012]第WO 2008/056143号专利[6]描述了类似于第5,194,847号美国专利[4]中的使用半导体分布式反馈激光源的扰动传感器。优选地7.5GHz的光纤布拉格光栅滤波器被用来除去带外啁啾光,因此,提高了发送到光纤内的激光脉冲的相干性。然而,这需要激光波长与窄带光学滤光器的匹配,与使用第5,194,847号美国专利所提出的非常高的相干源的系统相比较,这导致信号可见度变化减少。
[0013]类似的技术也在检测埋藏的光纤通信电缆(例如在WO 2004/102840[7]中),在边界安全中(GB 2445364[8]和第2009/0114386号美国专利[9])以及井底振动监测(W0 2009/056855 [ 10 ])中提出。然而,这些相干瑞利反向散射系统的响应已受到许多参数的限制,所述参数诸如偏振和信号衰减现象;反向散射光的随机变化;以及非线性相干瑞利响应。因此这些技术主要用于事件检测并不提供定量测量,例如在较宽的频率范围和动态范围的声波振幅、频率以及相位的测量。
[0014]发明概述
[0015]本发明提供用于快速定量测量沿着一段光纤传输、反射和/或散射的光场的扰动的新颖的装置及方法。
[0016]本发明可以用于分布式传感器、点传感器、或两者的结合。
[0017]具体地,这种技术可以应用于分布式传感器同时显著地提高速度和灵敏度以允许检测沿一段光纤的任何地方的声波扰动,同时实现良好的空间分辨率。本发明在广范围的声波感测和成像应用中提供了独特的优势。典型的用途是用于监测油井和气井,用于诸如分布式流量测量和/或成像;地震成像,监测较长的电缆和管道;在大型容器内部的声波成像,以及安全应用等应用中。
[0018]本发明的一个目的是提供用于以高度灵敏且快速定量测量沿一段光纤传输、反射或散射的光的相位、频率和振幅的装置。
[0019]在现有技术中,光耦合器已被用在迈克尔逊或马赫曾德尔干涉仪配置中,其中需要谨慎控制在干涉仪的两个臂之间的偏振。本发明中的新颖的干涉仪允许使用非互易器件如法拉第旋转镜和光循环器来利用mXm親合器,以提供可以在光耦合器的所有端口测量并快速(如几十kHz)分析的具有给定的相移的补偿的光干涉。
[0020]本发明的实施方式可以用于多路复用声学点传感器、分布式传感器或两者的结合。在分布式传感器的情况下,光脉冲被注入到光纤中并以几十kHz的频率沿着光纤测量反向散射光的相位调制。光纤可以是标准的通信光纤和/或电缆。使用在此描述的技术,感测系统因此可以检测沿着光纤的声场以提供分布式声传感器,其中可以通过组合地调节光脉冲的调制、在干涉仪中的光路长度以及感测光纤配置来选择感测元件的长度。
[0021]沿着光纤收集的数据自动地同步以及这些数据可被组合以提供相干场图像。
[0022]本发明主要涉及以下方面:
[0023](I)—种用于光纤系统的干涉仪装置,所述装置包括:
[0024]光親合器,其具有输入端口和与光纤親合的第一端口和第二端口,所述光纤限定第一光路和第二光路;
[0025]第一反射器和第二反射器,其分别布置在所述第一光路和所述第二光路中以将在所述第一光路和所述第二光路中传播的光反射回所述光耦合器以产生干涉信号;
[0026]其中所述光耦合器被配置成将第一干涉信号分量和第二干涉信号分量分别引导至第一探测器端口和第二探测器端口,并被配置成朝向所述输入端口引导第三干涉信号分量,以及所述装置包括用于在所述第一干涉信号分量、所述第二干涉信号分量和所述第三干涉信号分量之间引入相移的工具;
[0027]第一光电探测器和第二光电探测器,其分别连接到所述光耦合器的所述第一探测器端口和所述第二探测器端口,且被配置成测量具有各自的相移的所述第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量的强度;
[0028]以及其中所述装置包括第三光电探测器,所述第三光电探测器与非互易光学器件连接,并且其被配置成测量朝向所述输入端口被引导回来的所述第三干涉信号分量的强度。
[0029](2)如(I)所述的干涉仪装置,其中用于在所述第一干涉信号分量、所述第二干涉信号分量和所述第三干涉信号分量之间引入相移的工具可以是所述光耦合器。
[0030](3)如(I)或(2)所述的干涉仪装置,其中所述光耦合器是mXm光耦合器,其中m彡3。
[0031](4)如(1)-(3)中任一项所述的干涉仪装置,其中所述非互易光学器件可以是光循环器。
[0032](5)如(1)-(4)中任一项所述的干涉仪装置,其中所述光纤和所述反射器可被配置成保持在所述第一光路和所述第二光路中传播的光的偏振或为其提供偏振补偿。
[0033](6)如(5)所述的干涉仪装置,其中所述反射器可以是法拉第旋转镜(FRM),其允许使用标准(非偏振保持)的光纤。
[0034](7)如(1)-(6)中任一项所述的干涉仪装置,还包括光放大器,所述光放大器被配置成接收输入光信号并将放大的光信号输出至所述光耦合器。
[0035](8)如(1)-(7)中任一项所述的干涉仪装置,还包括带通滤波器,所述带通滤波器被配置成滤除由所述光放大器产生的带外的放大的自发辐射(ASE)噪声。
[0036](9)如(7)或(8)所述的干涉仪装置,其中所述非互易光学器件可以被配置成接收光信号并将该光信号传输至所述光耦合器的输入端口。
[0037](10)如(1)-(9)中任一项所述的干涉仪装置,其中所述的干涉仪装置,其中所述光耦合器的第三输出端口与第四光电探测器连接。
[0038](11)如(1)-(9)中任一项所述的干涉仪装置,其中所述光耦合器的第三输出端口与限定第三光路的光纤耦合,以及所述装置包括被布置在所述第三光路中的第三反射器,所述第三反射器将在所述第三光路中传播的光反射回所述光耦合器以产生干涉信号。
[0039](12)如(I)-(Il)中任一项所述的干涉仪装置,在至少一个光路中包括频移器或光调制器。
[0040](13)如(1)-(12)中任一项所述的干涉仪装置,在所述第一光路和所述第二光路中包括频移器或光调制器。
[0041](14)如(1)-(13)中任一项所述的干涉仪装置,包括光开关,所述光开关被配置成允许选择不同的光路。
[0042]这种布置提供了元件的经济型配置,其允许光耦合器的所有端口被有效地使用。这种布置提供了可被用来将多个干涉仪级联在一起或耦合至附加的探测器或干涉仪臂的“备用”端口。
[0043](15) —种干涉仪系统,所述干涉仪系统包括如(1)-(14)中任一项所述的第一干涉仪装置,及如(1)-(14)中任一项所述的第二干涉仪装置,其中所述第一干涉仪装置的光耦合器的第三输出端口与所述第二干涉仪装置的输入端耦合。
[0044](16)如(15)所述的干涉仪系统,所述干涉仪系统可以包括多个干涉仪装置,其中所述干涉仪装置的子组的相应的输出端口被用作后续的干涉仪装置的输入端。
[0045](17)如(16)所述的干涉仪系统,其中所述多个干涉仪装置以串联和/或星型配置进行级联。
[0046](18)如(17)所述的干涉仪系统,其中不同的干涉仪装置可能具有不同的光路长度差。这有助于在干涉仪系统的应用中选择不同的空间分辨率。
[0047](19)—种用于监测光信号的光纤系统,所述系统包括:
[0048]光源;
[0049]光纤,其被布置在待监测的环境中,并且其与所述光源耦合;
[0050]如(I)?(14)中任一项所述的干涉仪装置,其被配置成接收来自所述光纤的反向散射光或反射光;
[0051]数据采集工具,其用于收集从所述干涉仪装置的所述第一光电探测器、所述第二光电探测器和所述第三光电探测器输出的数据。
[0052](20)如(19)所述的光纤系统,还包括数据处理装置,所述数据处理装置用于处理从所述第一光电探测器、所述第二光电探测器和所述第三光电探测器输出的数据以获得声信号。
[0053](21)如(19)或(20)所述的光纤系统,其中所述光纤包括选自包含多模光纤、单模光纤、偏振保持光纤、单一偏振光纤和/或带状光纤的组的光纤。
[0054](22)如(19)-(21)的任一项所述的光纤系统,其中所述光纤是带涂层的或包含在电缆中以提高或抑制其对声扰动的灵敏度。
[0055](23)如(19)-(22)的任一项所述的光纤系统,其中所述待监测的环境在地下。
[0056](24)如(23)所述的光纤系统,其中所述待监测的环境包括钻井孔。
[0057](25)如(19)-(23)的任一项所述的光纤系统,其中所述待监测的环境包括管道。
[0058](26)如(19)-(25)的任一项所述的光纤系统,其中所述光纤被线性部署。
[0059](27)如(19)-(25)的任一项所述的光纤系统,其中所述光纤至少部分被部署在平面布置中以提供方向感测。
[0060](28)如(19)-(27)的任一项所述的光纤系统,其中所述光纤被部署成多维阵列。
[0061](29)如(19)-(28)的任一项所述的光纤系统,其中所述光纤的至少一部分被布置在连续路径的表面区域上而没有横穿所述光纤的另一部分。
[0062](30)如(29)所述的光纤系统,其中所述光纤的至少一部分被布置成褶曲的三-欧米伽(Ω Ω Ω)构型。
[0063](31)如(29)或(30)所述的光纤系统,其中所述光纤的至少一部分被布置成双八
(88)构型。
[0064](32) 一种监测声扰动的方法,所述方法包括:
[0065]提供光源,被布置在待监测的环境中并与所述光源耦合的光纤,和被配置成接收来自所述光纤的脉冲光信号的干涉仪,所述干涉仪包括至少两个光路和至少两个光电探测器;
[0066]在所述干涉仪中接收来自所述光纤的反向散射光或反射光,以及产生干涉信号;
[0067]在所述干涉信号的第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量之间引入相移,并将所述第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量分别引导至第一光电探测器和第二光电探测器;
[0068]测量具有各自的相移的所述第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量的强度以提供第一强度数据和第二强度数据;
[0069]处理所述第一强度数据和第二强度数据以确定所述光信号的光学相位角和提供光学相位角数据;
[0070]处理所述光学相位数据以确定光学相位角调制数据,以及[0071 ]从所述光学相位角调制数据识别所述光纤受到的声扰动。
[0072](33)如(32)所述的方法,其中识别所述光纤受到的声扰动的步骤包括表征所述声扰动。
[0073 ] (34)如(33)所述的方法,所述方法可包括从所表征的声扰动产生声输出信号。
[0074](35)如(32)-(34)的任一项所述的方法,包括频移或相位调制在所述干涉仪中传播的光以提供外差信号。
[0075](36)如(35)所述的方法,包括:在第一操作模式中,将在所述至少两个光路中的第一光路中传播的光频移第一频率fi和将在所述至少两个光路中的第二光路中传播的光频移第二频率f2;以及在第二操作模式中,将在所述第一光路中传播的光频移不同于^的频率和将在所述第二光路中传播的光频移不同于f2的频率。
[0076](37)如(36)所述的方法,其中在所述第二操作模式中,在所述第一光路中传播的光被频移f2且在所述第二光路中传播的光被频移fi。
[0077](38)如(32)-(37)的任一项所述的方法,其中所述干涉仪包括第三光路,以及其中所述方法包括将在至少一个所述光路中传播的光进行频移或相位调制以使允许将由通过所述干涉仪的各个不同的光路的光的重组合产生的干涉进行分离。
[0078](39)如(35)-(38)的任一项所述的方法,包括将在所述干涉仪中传播的光频移或相位调制以提供来自所述至少两个光路中的第一光路、第二光路和第三光路的外差信号。
[0079](40)如(35)-(39)的任一项所述的方法,包括将在所述干涉仪中传播的光频移足够高的频率以在所述光信号的单一脉冲内产生所述外差拍信号的周期。
[0080](41)如(32)-(40)的任一项所述的方法,包括选择需要光学相位角数据的空间分辨率间隔,并过采样所述光电探测器的输出以在所述空间分辨率间隔上提供多个光学相位角数据。
[0081](42)如(41)所述的方法,其中所述光电探测器的输出在所述空间分辨率间隔上被采样至少两次。
[0082](43)如(41)或(42)所述的方法,包括:根据所述光电探测器在每一采样点处的组合输出确定可见度因数;和根据所述可见度因数从所述空间分辨率间隔上的多个采样点提供光学相位角数据的加权信号平均。
[0083](44)如(43)所述的方法,包括调节对所述光电探测器的输出的数字化采样的时间。
[0084](45)如(44)所述的方法,包括:根据所述光电探测器在每一采样点处的组合输出确定可见度因数;和根据所述可见度因数调节对所述光电探测器的输出的数字化采样的时间。
[0085](46)如(43)-(45)的任一项所述的方法,其中所述可见度因数通过组合来自每一光电探测器的强度测量值的差的平方计算出。
[0086](47)如(32)-(46)的任一项所述的方法,其中所述光源是激光光源或宽带光源。
[0087](48)如(32)-(47)的任一项所述的方法,包括:通过将来自非相干光源的光输入至所述干涉仪和测量所述光电探测器的输出来确定光电探测器偏移的归一化因数、光电探测器的相对增益、和/或所述干涉仪的光路的耦合比。
[0088](49)如(48)所述的方法,包括利用带通滤波器过滤来自所述非相干光源的光,以使输入至所述干涉仪的光具有在通过所述光纤传播的透射光、反射光或反向散射光的频率周围的带宽。
[0089](50)如(48)或(49)所述的方法,其中输入至所述干涉仪的光具有短于所述干涉仪的光路长度的相干长度以使实质上没有干涉信号被检测到。
[0090](51)如(48)-(50)的任一项所述的方法,包括:在第一条件下,根据所述光电探测器的输出确定每一光电探测器的电气光电探测器偏移,在所述第一条件中,通过所述光纤传播的透射光、反射光或反向散射光与所述干涉仪解耦且关闭所述非相干光源以使没有光信号输入至所述干涉仪;以及在第二条件下,根据所述光电探测器的输出确定光电探测器偏移、光电探测器的相对增益、和/或所述干涉仪的光路的耦合比,在所述第二条件中,通过所述光纤传播的透射光、反射光或反向散射光与所述干涉仪解耦且开启所述非相干光源以将光输入至所述干涉仪。
[0091](52)如(48)-(51)的任一项所述的方法,包括:提供光放大器,所述光放大器被配置成接收通过所述光纤传播的透射光、反射光或反向散射光并将放大的光信号输出至所述干涉仪;以及利用所述光放大器的放大的自发辐射(ASE)作为所述非相干光源。
[0092](53)如(52)所述的方法,包括:按照第三条件操作所述干涉仪,在所述第三条件中,所述光放大器接收来自所述光源的输入光信号并将放大的光信号输出至所述干涉仪;以及利用所确定的归一化因数来校正偏移并将在所述光电探测器检测到的信号归一化。
[0093](54)如(53)所述的方法,包括确定归一化因数和校正偏移,以及将在光信号脉冲之间在所述光电探测器检测到的信号归一化。
[0094](55)—种操作光系统中的干涉仪的方法,所述方法包括:
[0095]提供干涉仪,所述干涉仪包括输入端、至少第一光路和第二光路及多个光电探测器,所述输入端被配置成接收来自第一光源的传输、反射或反向散射的光;
[0096]提供非相干光源,其被配置成将非相干光输入至所述干涉仪;
[0097]通过将来自非相干光源的光输入至所述干涉仪并测量所述多个光电探测器的输出以确定光电探测器偏移的归一化因数、光电探测器的相对增益、和/或所述干涉仪光路的親合比。
[0098](56)如(55)所述的方法,包括利用带通滤波器过滤来自所述非相干光源的光,以使输入至所述干涉仪的光具有在来自所述第一光源的光的频率周围的带宽。
[0099](57)如(55)或(56)所述的方法,其中输入至所述干涉仪的光具有短于所述干涉仪的光路长度的相干长度以使实质上没有干涉信号被检测到。
[0100](58)如(55)-(57)的任一项所述的方法,包括:在第一条件下,根据所述多个光电探测器的输出确定每一光电探测器的电气光电探测器偏移,在所述第一条件中,所述第一光源与所述干涉仪解耦且关闭所述非相干光源以使没有光信号输入至所述干涉仪;以及在第二条件下,根据所述多个光电探测器的输出确定所述光电探测器偏移、所述光电探测器的相对增益、和/或所述干涉仪的光路的耦合比,在所述第二条件中,所述第一光源与所述干涉仪解耦且开启所述非相干光源以将光输入至所述干涉仪。
[0101](59)如(55)-(58)的任一项所述的方法,包括:提供光放大器,所述光放大器被配置成接收来自所述第一光源的光并将放大的光信号输出至所述干涉仪;以及利用所述光放大器的放大的自发辐射(ASE)作为所述非相干光源。
[0102](60)如(59)所述的方法,包括:按照第三条件操作所述干涉仪,在所述第三条件中,所述光放大器接收来自所述第一光源的输入光信号并将放大的光信号输出至所述干涉仪;以及利用所确定的归一化因数来校正偏移,并将在所述多个光电探测器检测到的信号归一化。
[0103](61)如(60)所述的方法,其中所述第一光源产生脉冲,以及所述方法包括确定归一化因数和校正偏移,以及将在脉冲之间在所述多个光电探测器检测到的信号归一化。
[0104](62)如(55)-(61)的任一项所述的方法,其中所述第一光源包括来自光纤的透射光、反射光或反向散射光。
[0105]附图简述
[0106]参照附图通过实例的方式描述了本发明的实施方式以及如何将这些实施方式付诸于实践,其中:
[0107]图1、2、3和4示意性地示出了依据本发明的相关实施方式的新颖的干涉仪装置,其包括循环器和具有穿过干涉仪、法拉第旋转镜和光电探测器的不同光路的多个光纤耦合器;
[0108]图5和图6示意性地示出了依据本发明的实施方式的干涉仪在串联和/或星型配置中是如何被级联的;
[0109]图7示意性地示出了一个传感器系统,该传感器系统利用本发明的一个实施方式的干涉仪以快速测量来自光纤的散射光和反射光;
[0110]图8示意性地示出了分布式传感器系统,该分布式传感器系统利用本发明的一个实施方式的干涉仪以产生每个脉冲均具有不同频率的一系列脉冲;
[0111]图9是表示依据本发明的一个实施方式的数据处理方法的方框图;
[0112]图10是表示依据本发明的一个实施方式的校准干涉仪的方法的方框图;
[0113]图11示意性地示出了一个实施方式,在该实施方式中光纤可以被布置为线性传感器、方向传感器或传感器的多维阵列。
[0114]优选实施方式的详细描述
[0115]图1示出了测量光信号的光振幅、相位和频率的新颖的干涉仪的第一实施方式,一般由100标不O来自光源(未不出)的入射光优选在光放大器101中被放大,并被传输至滤光器102。滤光器102滤除放大器101的带外的放大的自发辐射噪声(ASE)。然后所述光进入与3X3光耦合器104连接的光循环器103中。所述光的一部分被引导至光电探测器112以监测所述输入光的光强度。所述光的其他部分沿着第一光路105和第二光路106被引导,且在这两个光路之间具有光路长度差异。法拉第旋转镜(FRM)107和108分别将所述光穿过第一光路105和第二光路106反射回来。法拉第旋转镜沿着光路105和106提供自偏振补偿以使所述光的两部分在所述3 X 3光耦合器104的每一端口有效地发生干涉。光耦合器104将O度,+ 120度和-120度的相对相移引入干涉信号,以使生成第一干涉信号分量、第二干涉信号分量和第三干涉信号分量,每一分量处于不同的相对相位。
[0116]第一干涉信号分量和第二干涉信号分量通过光耦合器104被引导至光电探测器113和114,光电探测器113和114测量相应的干涉信号分量的强度。
[0117]光循环器103为所述输入光和通过光耦合器104的相同端口返回的(第三)干涉信号分量提供有效的光路。入射到光循环器103上的干涉信号分量被朝向光电探测器115引导以测量干涉信号分量的强度。
[0118]光电探测器113、114和115的输出被结合以测量所述入射光的相对相位,如以下参照图7和图9更详细地描述的。
[0119]可选择地,可以沿着所述光路105和106使用频移器110和111和/或光调制器109以进行外差信号处理。另外,频移器110和111的频率偏移可以分别从fl、f2交替到f2、fl以减少在穿过光路105和106传播的所述光的两部分之间的任何依赖于频率的影响。
[0120]以上描述的实施方式提供了适用于快速定量测量光场的扰动的新颖的装置,特别地该装置可被用于具有高灵敏度和快速响应时间的分布式传感器和多路复用传感器以满足诸如声波感测的应用要求。
[0121]图7示出了图1的干涉仪应用于分布式感测来自光系统700的光信号。显然,尽管在分布式感测的上下文中描述了该应用,例如通过接收来自与所述光纤耦合的一个或多个点传感器的反射光,其还可以用于点感测。
[0122]在此实施方式700中,由激光器701发出的光通过脉冲信号702进行调制。光放大器705用来增强所述脉冲激光,且其后由带通滤波器706滤除所述放大器的所述ASE噪声。然后所述光信号被送入光循环器707。可以在所述循环器707的一个端口处使用附加的滤光器708。所述光被送入感测光纤712,例如感测光纤是布置在需要监测声波扰动的环境中的单模光纤或多模光纤。一段光纤可能被隔离并被用作参考部分710,例如在一个“安静”的位置或具有受控的参考信号。参考部分710可能形成在反射器之间或形成在分光器709与反射器711的结合处。
[0123]沿着感测光纤712产生的反射光和反向散射光被引导穿过循环器707并进入干涉仪713。干涉仪713的详细操作已在前面参照图1描述过。在此实例中,使用快速低噪声光电探测器112、113、114和115将所述光转换成电信号。所述电信号被数字化,然后使用快速处理器单元714(将在下文描述)计算沿着参考光纤710和感测光纤712的相对光相位调制。所述处理器单元与脉冲信号702是时间同步的。在光路105和光路106之间的光路长度差定义了空间分辨率。可在给定的空间分辨率上进行更多采样来对光电探测器输出进行数字化。结合所述多个采样以通过加权平均算法组合光电探测器输出来提高信号可见度和灵敏度。
[0124]数据处理
[0125]图9示意性地表示了方法900,通过该方法从光电探测器113、114、115的输出确定光学相位角。在光路105和光路106之间的光路长度差限定了系统的空间分辨率。可在给定的空间分辨率上进行多个采样以将光电探测器输出数字化,例如将强度值进行过采样。结合所述多个采样以通过加权平均算法组合光电探测器输出来提高信号可见度和灵敏度。
[0126]在步骤902,将来自光电探测器113、114、115的三个强度测量值I1J2U3结合以计算来自感测光纤的反射光或反向散射光的相对相位和振幅。在每一采样点计算相对相位(步骤904),以及所述方法利用过采样以使可用的数据点比所需的系统空间分辨率需要的数据点更多。计算来自干涉信号的三个相位偏移分量的相对相位和振幅的方法从文献上可以得知。例如,Zhiqiang Zhao等人[12]和第5,946,429号美国专利[13]描述了解调在连续波多路复用应用中的3X3耦合器的输出的技术。所描述的技术可以被应用于本实施方式的时间系列数据。
[0127]对于每一采样点,在步骤906依据等式(I)根据来自光电探测器113、114、115的三个强度测量值为每一脉冲计算可见度因数V。
[0128]等式(I)V=(I1-12)2+(l2-l3)2+(l3-1i)2
[0129]在低可见度的点,在各个相移处的强度值是相似的,因此V值较小。依据V来表征采样点允许确定相位角的加权平均(步骤908),加权偏向于具有较好的可见度的采样点。这种方法提高了相位角数据910的质量。
[0130]可选择地,可见度因数V还可以用于调节最大信号灵敏度位置的光的数字采样的时间(步骤912)。此实施方式包括具有动态变化的时钟周期的数字器,(动态变化的时钟周期在此可称为“iclock”)。所述动态变化的时钟可以用于调节最大信号灵敏度位置和/或从具有较差可见度的位置偏移的位置的光电探测器输出的数字化采样的时间。
[0131]相位角数据对由感测光纤经历的声波扰动是敏感的。当声波穿过光纤时,将导致玻璃结构收缩和膨胀。这改变了从光纤中的两个位置反射的反向散射光之间的光路长度(即沿着干涉仪中的这两个光路传播的光),其作为相对相位变化在干涉仪中被测量。这样,在步骤914,光学相位角数据能够被处理以测量在光产生的点的声信号。
[0132]在本发明的优选实施方式中,利用专用的处理器,如现场可编程门阵列执行数据处理方法900。
[0133]传感器校准
[0134]为了精确的相位测量,测量光电探测器113、114和115的偏移信号和相对增益是重要的。这些可以通过参照图10描述的方法1000进行测量并校正。
[0135]每一光电探测器具有光电探测器的电气偏移,即在没有光入射到光电探测器上时光电探测器的电压输出(这可称为“零-光电平(zero-light level)”偏移)。作为第一步骤(在步骤1002)关闭来自光纤的入射光和光放大器101。在关闭时,光放大器101作为一个有效的衰减器,允许较少的光到达光电探测器。在这种条件下光电探测器的输出被测量(步骤1004)以确定电气偏移,这形成了用于校准的基准电平。
[0136]在开启光放大器101同时关闭输入光(步骤1006)之后,在步骤1008可以测量光电探测器的相对增益。带内的自发辐射(即在带通滤波器102的带内的放大的自发辐射),其表现为一个非相干光源,然后可被用于确定归一化因数和偏移校正(步骤1010)以校准在干涉仪臂之间的耦合效率与光电探测器113、114和115的互阻抗增益的组合。此信号还可以被用于测量由带内的自发辐射导致的信号偏移。
[0137]便利地,光放大器,其是干涉仪的部件,被用作非相干光源而不需要辅助光源。所述光源的非相干性对于避免在光电探测器的干涉影响,即光的相干长度应该短于干涉仪的光路长度而言是必要的。然而,为了精确的校准,所述光源的频段最好接近,或以来自所述光源的光的频率为中心。因此选择带通滤波器102以滤除其频率在放大的自发辐射所需的带宽外的光。
[0138]当用于脉冲系统中时,例如可用于分布式传感器中,以上描述的方法可以被使用在来自所述光源的光脉冲之间,以在使用期间,在来自所述光源的每一(或所选定的)脉冲实质上没有中断测量过程之前有效地校准系统。以上描述的实施方式的变形均包含在本发明的范围内,以及某些可替代的实施方式描述如下。图2示出了新颖的干涉仪的另一个实施方式,一般由200标示,其类似于在图1中示出的实施方式,但是用附加的法拉第旋转镜201代替光电探测器112。相似的部件由相似的参照数字标示出。在此实例中,在可能具有不同的光路长度的不同光路之间的干涉可以被分开在三个拍频fl、f2和(f2 — fI)。此实施方式的布置具有在操作中提供另外的灵活性的优势,例如不同的外差频率能够提供不同的操作模式以产生在不同的空间分辨率的测量值。
[0139]图3示出了新颖的干涉仪的另一个实施方式,一般由300标示,其类似于图1的布置,且相似的部件由相似的参照数字标示出。然而,此实施方式使用4X4耦合器314和附加的光路301,频移器304,相位调制器303,法拉第旋转镜302和附加的光电探测器308。在此实例中,在可能具有不同的光路长度差的不同光路之间的干涉可以在三个拍频(f2 — fl.)、(f3 — f2)和(fs — fi)分开。可选择地,法拉第旋转镜302可以由隔离器或光纤匹配端替换以使没有光反射穿过光路301,因此只允许在光路105和光路106之间的干涉。
[0140]在本发明的其他的实施方式中,也可以使用产生在不同的相对相移的m个干涉信号分量的m Xm親合器。
[0141]图4示出了干涉仪的另一个实施方式。在此实例中,通过插入法拉第旋转镜402代替光电探测器112将附加的光路引入在干涉仪中。
[0142]在所有以上描述的实施方式中,光开关可被用来改变和/或选择穿过干涉仪的光路长度的不同组合。这有助于在不同的空间分辨率测量之间进行切换(与所选定的光路长度的光路长度差相对应)。
[0143]图5和图6示出了被布置用于级联或星型配置以允许测量不同的光路长度差的相对光学相位的干涉仪系统500、600的实施例。在图5中,具有不同的光路长度差(因此具有不同的空间分辨率)的三个干涉仪501,502,503被串联组合。在图6中,具有不同的光路长度差(因此具有不同的空间分辨率)的四个干涉仪602、603、604和605被组合,其中干涉仪602、603、604并联,以及干涉仪603和605串联。在图6中,干涉仪601是3X3的耦合器,其用于分离干涉仪之间的光。布置600也可以与波分复用部件相结合以提供针对不同的光波长的并行输出。
[0144]图11示出了分布式传感器的一个实施方式,其中感测光纤702经过不同的扰动场1102、1104和1107。所述感测光纤可以被用作线性传感器1103和1104,被用作方向传感器1105和1106或被用作多维阵列传感器1108、1109和1110。因为所有的测量均是同步的,可以对它们进行处理以提高信号灵敏度,实现较宽的动态范围并利用光束形成技术提供场成像。
[0145]参照图1?7和图9?11描述的实施方式涉及用于快速定量测量沿着一段光纤传输、反射和/或散射的光场的声波扰动的装置及方法。本发明的各个方面可以通过其他的方式应用或实施,例如监测通过激光器产生的光信号,和/或监测外差信号发生器的性能,和产生用于传输至光信号的光脉冲。参照图8描述了一个实施例。
[0146]图8示出了一个系统,一般由800标示,其包括依据本发明的一个实施方式的干涉仪801,其被用来产生一个相对于另一个频移的两个光脉冲。所述干涉仪通过光循环器103接收来自激光器701的输入脉冲。一个3 X 3光耦合器104将所述输入脉冲的一个分量引导至光电探测器,将其他的分量引导至所述干涉仪的臂。所述臂中的一个包括频移器110和RF信号805。两个脉冲之间的干涉由解调器802监测。经由法拉第旋转镜107和108反射的光使用延迟器803在耦合器809处结合以匹配所述干涉仪的光路长度,以使频移的脉冲和输入脉冲叠加。耦合器809将相对相移引入所述干涉信号,因此所述干涉仪监测在相对相移处的三个外差频率信号分量。光循环器103将所述两个脉冲传递至所述感测光纤。
[0147]本发明的各个方面和实施方式的特征的回顾
[0148]在一个方面,本发明提供了一种光学干涉仪装置,所述装置能够提供所述光信号之间的多个光路差,并提供在不同的光路之间的具有固定相移和/或可变相移的干涉信号。在新颖的配置中,所述干涉仪利用分光部件,循环器件和法拉第旋转镜。在所述干涉仪的输出处的光信号被转换成电信号,将所述电信号数字化以用于快速处理。所述电信号的偏移电平被去除且其振幅被归一化。通过组合所述归一化的电信号来精确地确定光信号的相对相移。
[0149]在另一方面,本发明涉及一种干涉仪装置,所述装置利用分光器和非互易器件以提供具有给定的相移和光路长度差的光干涉,所述光干涉可以在所述分光器的所有端口处被测量,其中所述光的相对相位调制可以被非常精确且快速地(如在每几纳秒)计算出。所述干涉仪可以使用光纤部件,如在其一个端口处连接至光纤循环器的m Xm融合的光纤耦合器;反射并同时给穿过所述干涉仪的不同光路传播的光提供偏振补偿的法拉第旋转镜,以及被用来测量干涉光信号的光电探测器。入射光可以使用光纤放大器被放大,以及优选地所述干涉仪具有带通滤光器以滤除带外的放大的自发辐射噪声(ASE)。所述干涉仪可以为沿着穿过所述干涉仪的不同光路传播的光提供双折射补偿。这在所述干涉仪的输出处提供了足够高的可见度。
[0150]在其另一方面,本发明提供了一种用于补偿光电探测器的偏移和增益,以及干涉仪臂的耦合比,以归一化所生成的干涉信号的方法,所生成的干涉信号被用于测量在前述任一权利要求中所述的调制的输入光的相对相位,其中探测器偏移通过关闭在反向散射光路中的所述光放大器来测量;然后通过开启所述放大器同时关闭所述输入光确定所生成的光电探测器的偏移和增益;然后所述光放大器的ASE作为一个独立的非相干光源,并因此可以确定所述光电探测器的偏移和相对增益,且归一化所探测的光信号。因此所述方法可以使用进入所述干涉仪的输入端的非相干光以归一化在光电探测器的输出处的相对信号振幅。例如,当在所述干涉仪的输入处使用光学前置放大器时,自发的光发射可以被用来测量所述干涉仪臂的分光比和光电探测器的相对增益的组合,并因此相应地归一化相对信号振巾畐O
[0151]本发明的另一附加特征是使用相位调制器和/或频移器以偏移相对频率和/或改变在所述干涉仪的光路之间的相位。频移器和/或相位调制器可以被用来提供外差信号和/或将所生成的穿过所述干涉仪的不同光路的干涉光信号分开。
[0152]本发明的一个实施方式的附加特征是选择足够高的频移器的频率以使至少一个拍频周期包含在一个光脉冲分辨率内。可在所述干涉仪的不同光路之间使用不同的频移以分开和/或外差探测不同的光路之间的相位。可交替在不同的光路之间的频移以校正干涉仪输出信号的任一频率依赖性。
[0153]本发明的一个实施方式的附加特征是例如通过使用光开关选择穿过所述干涉仪的不同光路。所述光开关可以被用来选择穿过所述干涉仪的不同光路,并因此选择不同的空间分辨率测量。本发明的另一方面涉及一种系统,所述系统包括以串联配置或星型配置或两者的结合级联的许多干涉仪。
[0154]本发明还提供了一种系统,该系统通过以高灵敏度、高动态范围和超过几十kHz的高速率测量沿着一段光纤的反射光和/或反向散射光的相位调制来利用多路复用传感器和/或分布式传感器的光脉冲。采用这种方式,本发明可以提供多路复用和/或分布式声感测系统。
[0155]本发明的一个实施方式的附加特征是在空间分辨率间隔上,至少两次数字化所述干涉仪的输出,或所述干涉仪的光电探测器的输出。本发明的一个实施方式的附加特征是组合所述干涉仪的输出以确定由所述光的任何信号衰减造成的不敏感的测量采样点,以在给定的空间分辨率测量或间隔上丢弃和/或提供所述光的多个采样的加权信号平均。本发明的实施方式使用具有动态变化的时钟周期的数字器,(动态变化的时钟周期在此可称为“iclock”),以调节在最大信号灵敏度位置的光的数字采样的时间。所述动态变化的时钟可以用来调节最大信号灵敏度位置和/或偏移开发生光信号衰减的位置的位置的光电探测器输出的数字化采样的时间。
[0156]本发明的实施方式可以使用激光光源或宽带光源。具有相同的延迟的光的相干匹配导致干涉信号,所述干涉信号可以被用来测量沿着光纤的散射光或反射光的相对相位调制。本发明可以使用波分复用部件以利用具有不同波长的多个激光脉冲,以及,优选地,改变每个光脉冲的时间偏移以控制所述光脉冲之间的交叉相位调制和允许处理在所述感测光纤中的多个脉冲,而无需允许所述系统能够实现较高的测量频率响应的横向灵敏度。这可能是所述系统的声频率响应,所述响应提供不同的空间采样分辨率和/或位置,和/或允许有效地丢弃具有低灵敏度的任何点。
[0157]本发明的一个实施方式的附加特征是选择不同的空间分辨率,其中可以调节沿着所述感测光纤的灵敏度和频率响应,以及可以扩大所述动态范围。
[0158]所述感测光纤可以是单模光纤,偏振保持光纤,单一偏振光纤,多模光纤,和/或带状光纤,以及其可以是带涂层的和/或用电缆缚住的以增强或抑制其灵敏度。
[0159]本发明的一个实施方式的附加特征是选择所述光纤的不同配置以使在不同位置处的感测光纤的灵敏度、频率和定向最佳。所述光纤可以被布置为线性传感器、方向传感器或多维阵列传感器。所述光纤可以放置在表面区域上的连续路径中,而没有横穿所述光纤的另一部分以提高灵敏度。
[0160]所述光纤可以被附着在容器的表面上以听取产生于所述容器内部的噪声从而监测在该过程中的变化,声图像,以及探测任何泄漏。
[0161]又一方面提供了一种使用声学传感器用于分布式流量测量和成像、井内穿孔区监测以及出砂监测的装置。例如,对于井内应用,声学噪声分布可以用来通过沿着所述井的每一位置进行噪声测井来测量流量。另外,噪声频谱可以用来识别流体的相位。进一步地,噪声频谱相关技术可以使用在较长的井段上以确定声音的速度以及跟踪产生于流体内部的漩涡以精确地确定流速。
[0162]传感器系统可以用作分布式声学传感器,使确定分布式流量测量和成像、在油井、气井和流线(flowline)中的穿孔区监测及出砂监测成为可能。分布式温度测量和张力测量可以结合以提高所述分布式声学传感器的数据阐释。
[0163]另一方面提供了管道监测装置,其中感测光纤被布置在管道的内部并由流体阻力沿着所述管道运送以为所述管道的诊断以及流体特性和/或成像提供噪声流量的测量。
[0164]本发明的其他优势和应用对本领域的技术人员来说将是明显的。任何附加特征或可选特征可以组合在一起和与任一方面相组合,这对本领域技术人员来说将是明显的。
[0165]结语
[0166]如以上所描述的,公开了用于快速定量测量沿着一段光纤传输、反射和/或散射的光场的扰动的装置及方法。特别地,本发明可以用于分布式感测,同时显著地提高速度和灵敏度以允许检测沿一段光纤的任何地方的声波扰动同时实现良好的空间分辨率。本发明在较宽范围的声波感测和成像应用中提供了独特的优势。典型的用途是用于监测油井和气井,用于诸如分布式流量测量和/或成像,监测较长的电缆和管道,大型容器的成像以及安全应用等应用中。
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[0180][13]US 5,946,429,Huang等人。
【主权项】
1.一种用于光纤感测系统的干涉仪装置,所述装置包括: 光耦合器,其包括第一端口、第二端口和第三端口,所述第一端口和所述第二端口与第一光路和第二光路耦合,在所述第一光路和所述第二光路之间具有光路长度差异,所述第三端口被布置为从光源接收输入光,其中所述光親合器被布置为沿着所述第一光路和所述第二光路分别引导所述输入光的第一部分和第二部分; 第一反射器和第二反射器,其分别与所述第一光路和所述第二光路耦合,并且被布置为沿着所述第一光路和所述第二光路将输入光的所述第一部分和所述第二部分反射回所述光親合器,在所述光親合器内所述输入光的所述第一部分和所述第二部分干涉,以产生干涉信号,所述光耦合器还被布置为相移所述干涉信号以产生第一干涉信号分量、第二干涉信号分量和第三干涉信号分量;以及 第一光电探测器、第二光电探测器和第三光电探测器,其分别与所述第一端口、所述第二端口和所述第三端口耦合,并且被布置为接收所述第一干涉信号分量、所述第二干涉信号分量和所述第三干涉信号分量; 其中在所述第一光路和所述第二光路之间的所述光路长度差异限定所述光纤感测系统的空间分辨率。2.如权利要求1所述的干涉仪装置,还包括光循环器,所述光循环器与所述光耦合器的所述第三端口耦合,并且被布置为将所述输入光引导到所述光耦合器中以及将所述第三干涉信号分量引导至所述第三光电探测器。3.如权利要求1或2所述的干涉仪装置,其中所述第一反射器和所述第二反射器是法拉第旋转镜(FRM),以沿着所述第一光路和所述第二光路提供自偏振补偿。4.如权利要求1所述的干涉仪装置,还包括光放大器,所述光放大器被配置成放大来自所述光源的所述输入光以产生放大光信号并且将所述放大光信号输出至所述光耦合器,并且所述干涉仪装置还包括带通滤波器,所述带通滤波器被配置成滤除来自所述放大光信号的由所述光放大器产生的带外的放大的自发辐射(ASE)噪声。5.如权利要求1所述的干涉仪,还包括第一频移器和第二频移器,所述第一频移器和所述第二频移器分别与所述第一光路和所述第二光路耦合以偏移在所述第一光路和所述第二光路之间的相对频率,以进行外差信号处理,其中所述第一光路和所述第二光路之间的频率偏移使用第一频率和第二频率交替。6.如权利要求1所述的干涉仪,其中所述光耦合器与第四光电探测器耦合,所述第四光电探测器被布置为监测来自所述光源的所述输入光的强度。7.如权利要求6所述的干涉仪,其中所述第四光电探测器被法拉第旋转镜替换以产生第三光路,并且所述干涉仪装置还包括多个光开关,所述多个光开关被布置为改变和/或选择所述第一光路、所述第二光路或所述第三光路的不同组合,其中光路长度中的差异提供多空间分辨率操作。8.如权利要求1所述的干涉仪,其中所述光耦合器还包括第四端口,所述第四端口与第三光路耦合,其中所述光耦合器被布置为分别沿着所述第一光路、所述第二光路和所述第三光路引导所述输入光的第一部分、第二部分和第三部分。9.如权利要求8所述的干涉仪,其中所述第三光路与第三反射器耦合,所述第三反射器被布置为沿着所述第三光路将输入光的所述第三部分反射回所述光耦合器,在所述光耦合器内所述输入光的所述第三部分利用输入光的所述第一部分和第二部分产生干涉信号。10.如权利要求8或9所述的干涉仪,其中所述光耦合器与第四光电探测器耦合,所述第四光电探测器被布置为监测来自所述光源的所述输入光的强度。11.如权利要求8或9所述的干涉仪,还包括多个光开关,所述多个光开关被布置为改变和/或选择所述第一光路、所述第二光路或所述第三光路的不同组合,其中光路长度中的差异提供多空间分辨率操作。12.如权利要求10所述的干涉仪,其中所述第四光电探测器被法拉第旋转镜替换以产生第四光路,并且所述干涉仪装置还包括多个光开关,所述多个光开关被布置为改变和/或选择所述第一光路、所述第二光路、所述第三光路或所述第四光路的不同组合,其中光路长度中的差异提供多空间分辨率操作。13.如权利要求1所述的干涉仪,其中所述输入光是具有多个波长的多个激光脉冲,并且其中所述系统还包括波分复用部件,所述波分复用部件用于多路传输所述多个光脉冲至所述光纤,并且其中所述多个光脉冲是关于彼此时间偏移的以控制所述多个光脉冲之间的交叉相位调制。14.一种干涉仪系统,其包括多个根据权利要求1中任一项所述的干涉仪,其中所述多个干涉仪被布置为串联、并联或两者的组合,并且其中所述多个干涉仪具有不同的光路长度差异以提供多空间分辨率操作。15.如权利要求14所述的干涉仪系统,还包括第二光耦合器,所述第二光耦合器被布置为分离所述多个干涉仪之间的所述输入光,其中所述多个干涉仪被布置为并联。16.一种光纤感测系统,包括: 脉冲光源; 光纤,其被部署为在待监测的环境中,并且被布置为从所述脉冲光源接收光的脉冲; 根据权利要求1的干涉仪,或根据权利要求14的干涉仪系统;以及处理器,其与所述脉冲光源是时间同步的,并且被布置为: i)从所述干涉仪或所述干涉仪系统的所述光电探测器接收强度数据,并且由此,通过所述干涉仪或所述干涉仪系统确定从所述光纤接收的光中的任何光相位调制;以及 ii)根据所确定的光相位调制识别沿所述光纤的声波扰动事件。17.如权利要求16所述的系统,其中所述处理器还被布置为过采样所述光电探测器的输出以在所述光纤感测系统的所述空间分辨率上提供多光学相位角数据。18.如权利要求17所述的系统,其中所述处理器还被布置为在所述空间分辨率上采样所述光电探测器的所述输出至少两次。19.如权利要求17或18所述的系统,其中所述处理器还被布置为: 根据所述光电探测器在每一采样点处的组合输出确定可见度因数;以及 根据所述可见度因数从所述空间分辨率上的多个采样点提供光学相位角数据的加权信号平均。20.如权利要求19所述的系统,其中所述处理器还被布置为: 根据所述光电探测器在每一采样点处的组合输出确定可见度因数;以及 根据所述可见度因数调节所述光电探测器输出的所述采样点的时间; 所述系统还包括具有动态变化的时钟周期的数字器,其被布置为用于调节所述采样点的时间。21.如权利要求16所述的系统,其中所述干涉仪被布置为接收来自所述光纤的反向散射光和/或反射光。22.—种用于光纤系统的干涉仪装置,所述装置包括: 光耦合器(104),其具有输入端口和与光纤耦合的第一端口和第二端口,所述光纤限定第一光路(105)和第二光路(106); 第一反射器(107)和第二反射器(108),其分别被布置在所述第一光路和所述第二光路中以将在所述第一光路(105)和所述第二光路(106)中传播的光反射回所述光親合器以产生干涉信号; 其中所述光耦合器(104)被配置成将第一干涉信号分量和第二干涉信号分量分别引导至第一探测器端口和第二探测器端口,并且被配置成朝向所述输入端口引导第三干涉信号分量,以及所述装置包括用于在所述第一干涉信号分量、所述第二干涉信号分量和所述第三干涉信号分量之间引入相移的工具; 第一光电探测器(113)和第二光电探测器(114),其连接到所述光耦合器(104)的第一探测器端口和第二探测器端口,并且被配置成测量具有各自的相移的所述第一干涉信号分量和所述第二干涉信号分量的强度; 以及其中所述装置包括第三光电探测器(115),所述第三光电探测器(115)与非互易的光学器件连接并且被配置成测量朝向所述输入端口被引导回来的所述第三干涉信号分量的强度; 所述装置还包括: 非相干光源(101 ),其被布置为将光输入至所述干涉仪装置,以及 用于通过将来自所述非相干光源的光输入至所述干涉仪并测量所述光电探测器的输出来确定以下项中的一个或多个的工具:i)光电探测器偏移的归一化因数,ii)光电探测器的相对增益,和/或iii)所述干涉仪的光路的耦合比。
【文档编号】G01D5/353GK105910633SQ201610206234
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2010年5月27日
【发明人】马哈茂德·法哈蒂罗山, 汤姆·理查德·帕克, 谢尔盖·沙塔林
【申请人】希里克萨有限公司
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