电子天平及其内校装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种电子天平及其内校装置，内校装置包括：推动导向机构，包括：导销板；多个导销，固定于导销板上；推钮，位于导销板上，设有多个楔形凸块，推钮可推动地移动；抬板，设有多个通孔供多个导销穿过，抬板还设有与所述多个楔形凸块相接触的多个圆柱形凸块，所述多个楔形凸块移动时，所述多个圆柱形凸块向所述多个楔形凸块底部或顶部移动，所述抬板沿所述导销的延伸方向升降；传感器，位于所述导销板上；传感器上托架，位于所述传感器上；以及砝码组件，位于所述传感器上托架上，并可由位于升起的所述抬板抬起。本发明提供的内校装置，成本低，简单精准，内校砝码可更换、拆卸，占用空间小。
【专利说明】
电子天平及其内校装置
技术领域
[0001]本发明涉及了一种电子天平的内校装置，尤其是涉及由非电机驱动靠人工操作来实现电子天平的内校操作。
【背景技术】
[0002]以前电子天平在校验时一般都是采用标准砝码在外部对电子天平进行校验，每次校验时都需拿相应的标准砝码来校验，对用户而言比较繁琐，且砝码也易丢失，基于此情况，后续便出现了内部校验机构，即把内校砝码放在电子天平内部来进行校验，这样用户就可以自己来校验天平，而不再需要送实验室或其他校验机构来进行校验。目前具有内校装置的电子天平大多使用电机驱动内校装置，来实现电子天平的校验，电机驱动内校装置的制造加工精度高，工艺控制过程复杂，对传感器的选用要求高，对后续组装工艺和标定要求高，成本高，且占用电子天平很多内部空间进而使电子天平的尺寸变大。
【发明内容】
[0003]本发明为了解决现有技术的问题，提供一种制造加工精度低，工艺过程简单，对传感器选用要求低的电子天平及其内校装置。
[0004]根据本发明的一个方面，提供一种内校装置，包括:推动导向机构，包括:导销板；多个导销，固定于所述导销板上；推钮，位于所述导销板上，设有多个楔形凸块，所述推钮可推动地向第一方向或第二方向移动，所述第一方向与所述第二方向相反；抬板，设有多个供所述多个导销穿过的通孔，所述抬板还设有与所述多个楔形凸块相接触的多个圆柱形凸块，其中，所述多个楔形凸块向所述第一方向移动时，所述多个圆柱形凸块向所述多个楔形凸块底部移动，所述抬板沿所述导销的延伸方向向第一位置移动；所述多个楔形凸块向所述第二方向移动时，所述多个圆柱形凸块向所述多个楔形凸块顶部移动，所述抬板沿所述导销的延伸方向向第二位置移动；传感器，位于所述导销板上；传感器上托架，位于所述传感器上；以及砝码组件，所述抬板位于所述第一位置时，由所述传感器上托架支撑，所述抬板位于所述第二位置时，由所述抬板支撑。
[0005]优选的，所述推钮上还设有第一复位机构，所述第一复位机构具有面向所述推钮的第一表面，所述第一表面与所述推钮成角度，所述第一表面与所述推钮所成的角朝向所述第一方向；所述抬板上还设有第二复位机构，所述第二复位机构设有凸柱，所述第一复位机构位于所述第二复位机构朝向所述第二方向的一侧，所述推钮向所述第一方向移动，所述凸柱与所述第一表面相接触，并沿所述第一表面向所述推钮移动。
[0006]优选的，所述推钮具有平行的两臂，所述传感器及所述传感器上托架位于所述两臂之间。
[0007]优选的，所述抬板的数量为两个，分别位于所述两臂之上。
[0008]优选的，所述砝码组件包括一个第一砝码和两个相对的第二砝码，两个所述第二砝码分别位于两个所述抬板之上，所述第一砝码固定于两个所述第二砝码上，其中，所述第一砝码和所述第二砝码上还设有供所述导销穿过的通孔，所述传感器上托架位于两个所述第二砝码之间。
[0009]优选的，所述多个卡帽设有供所述多个导销穿过的通孔，所述卡帽的一端卡在所述第二砝码背向所述导销板的通孔内。
[0010]优选的，所述第一砝码为板形，所述第二砝码为条形。
[0011]优选的，所述两臂分别设有供所述多个导销穿过的穿过部，所述穿过部为通孔或凹槽。
[0012]优选的，所述多个楔形凸块位于所述穿过部的两侧。
[0013]优选的，所述推钮还设有推杆，所述推杆用于使所述推钮沿所述第一方向或所述第二方向移动。
[0014]根据本发明的又一个方面，还提供一种，包括:基座；以及如上所述的内校装置，固定于所述基座上。
[0015]本发明通过去除电机实现内校砝码的加载和卸载，设计一种新的内校装置，通过人工操作实现内校砝码的加载和卸载，从而实现电子天平的内校动作。其要求低成本，内校装置简单精准，内校砝码的重量可以更换，砝码可拆卸，占用空间小，零件制造加工精度低，工艺控制过程简单。
[0016]应当理解，本发明以上的一般性描述和以下的详细描述都是示例性和说明性的，并且旨在为如权利要求所述的本发明提供进一步的解释。
【附图说明】
[0017]包括附图是为提供对本发明进一步的理解，它们被收录并构成本申请的一部分，附图示出了本发明的实施例，并与本说明书一起起到解释本发明原理的作用。附图中:
[0018]图1为根据本发明实施例的带有底座的内校装置的立体图。
[0019]图2为根据本发明实施例的内校装置的立体图。
[0020]图3为根据本发明实施例的内校装置的分解图。
[0021]图4A为根据本发明实施例的传感器上托架的示意图。
[0022]图4B为根据本发明实施例的导销板的示意图。
[0023]图4C为根据本发明实施例的推钮的示意图。
[0024]图4D为根据本发明实施例的推动导向机构的示意图。
[0025]图4E为根据本发明实施例的推动导向机构的分解图。
[0026]图4F为根据本发明实施例的砝码组件的示意图。
[0027]图4G为根据本发明实施例的砝码组件的分解图。
[0028]图5A-5C为根据本发明实施例的内校装置内校状态的示意图。
[0029]图6A-6C为根据本发明实施例的内校装置非内校状态的示意图。
[0030]图7A-7C为根据本发明实施例的内校装置从非内校状态至内校状态过程中第一复位机构和第二复位机构配合的示意图。
【具体实施方式】
[0031 ] 现在将详细参考附图描述本发明的实施例。
[0032]参考图1至图4G，本发明提供的内校装置包括推动导向机构、传感器12、传感器上托架14以及砝码组件。推动导向机构(参考图4D及图4E)包括导销板6、多个导销11、推钮5以及抬板13。多个导销11通过螺钉7固定于导销板6上。推钮5位于导销板6上，并设有多个楔形凸块51。推钮5 (参见图4C)还设有推杆52，推动推杆52可使推钮51向第一方向或第二方向移动。第一方向与第二方向相反。本实施例中，推钮5具有平行的两臂53。两臂53分别设有供多个导销11穿过的穿过部54，穿过部54可以是通孔或凹槽。多个楔形凸块51位于穿过部54的两侧。优选的，推钮5还设有第一复位机构55。两个第一复位机构55分别位于两臂53上。
[0033]抬板13设有多个通孔131供多个导销11穿过。抬板13还设有与多个楔形凸块51相接触的多个圆柱形凸块132。其中，抬板13可沿导销11的延伸方向移动。多个圆柱形凸块132位于多个楔形凸块51底部时，抬板13位于第一位置。多个圆柱形凸块132位于多个楔形凸块51顶部时，抬板13位于第二位置。本实施例中，抬板13的数量为两个，分别位于两臂53之上。优选的，抬板13上还设有与第一复位机构55相配合的第二复位机构133。第二复位机构133与第一复位机构55相接触，第一复位机构55位于第二复位机构133朝向第二方向的一侧。
[0034]传感器12通过传感器垫10及螺钉9固定于导销板6上。在本实施例中，传感器12位于推钮5的两臂53之间。传感器上托架14位于传感器12上，其在本实施例中也位于推钮5的两臂53之间。
[0035]砝码组件(参见图4F及图4G)包括一个第一砝码3和两个第二砝码4，15。在本实施例中，第一砝码3为板形，第二砝码4，15为条形。两个第二砝码4，15通过螺钉2固定于第一砝码3的一侧。两个第二砝码4，15分别位于抬板13上。第一砝码3和第二砝码4，15都具有供导销11穿过的通孔。传感器12位于两个第二砝码4，15之间
[0036]在一优选例中，内校装置还包括多个卡帽I。卡帽I优选地为塑料卡帽。多个卡帽I分别设有供多个导销11穿过的通孔，卡帽I的一端卡在第一砝码3背向导销板6的通孔31内，以防止砝码组件从导销11上脱出。
[0037]本发明实施例提供的内校装置通过如下方式装配。首先，将导销11通过螺钉7固定于导销板6上。推钮5位于导销板6之上，导销11穿过推钮5的穿过部54。两个抬板13位于推钮5的两臂53上，导销11穿过抬板13上的通孔，抬板13上的圆柱形凸块132与推钮5上的楔形凸块51相接触。传感器12通过传感器垫10及螺钉9固定于导销板6上，位于推钮5的两臂53之间。两个第二砝码4，15通过螺钉2固定于第一砝码3上。两个第二砝码4，15分别位于两个抬板13上。导销11穿过两个第二砝码4，15和第一砝码3上的通孔，进一步穿过卡帽I。卡帽I卡在第一砝码3的通孔31上。
[0038]图5A-5C为根据本发明实施例的内校装置内校状态的示意图。砝码组件3，4，15压在传感器上托架14上，传感器12此时受力，处于内部校验状态。此时向第二方向推动推钮5，推钮5上的对应的梯形楔块凸块51会与抬板13上的圆柱形凸块132相接触，而抬板13是套在对应的4根导销11上的。当圆柱形凸块132沿着推钮5上的梯形楔块凸块51上升时，抬板13也上升(至第二位置)，同时把砝码组件3，4，15沿着导销11缓缓抬起，从而使内校砝码组件3，4，15从传感器上托架14上脱开。抬板13上的圆柱形凸块132此时稳稳地位于推钮5上的对应的梯形楔块凸块51顶部(如图6C)，此时内校装置处于非内校状态，可以开始称重。
[0039]图6A-6C为根据本发明实施例的内校装置非内校状态的示意图。沿力第一方向拉推钮5，抬板13上的圆柱形凸块132会沿着推钮5上梯形楔块凸块51缓缓向下移动。同时推钮5的第一复位结构55会把抬板13上的第二复位结构133缓缓带动下来，以防止抬板13卡在导销11上。此时内校砝码组件3，4，15也会沿着导销11随着抬板13缓缓下降(至第一位置)，直至平稳地落在传感器上托架14上。传感器12开始受力，进入内部砝码校验状态。
[0040]图7A-7C为根据本发明实施例的内校装置从非内校状态至内校状态过程中第一复位机构和第二复位机构配合的示意图。第一复位机构55具有面向推钮5的第一表面551。第一表面551与推钮5成角度。第一表面551与推钮5所成的角面向第一方向。第二复位机构133设有凸柱134。第一复位机构55位于第二复位机构133朝向所述第二方向的一侧。为了使内校装置从非内校状态到内校状态(从图7A的非内校状态到图7C的内校状态)，向第一方向拉推钮5，凸柱134与第一表面551相接触，并沿第一表面551向推钮55移动。这样，推钮5的第一复位结构55把抬板13上的第二复位结构133从图7A的位置缓缓带动下来到图7C的位置，以防止抬板13卡在导销11上。
[0041]本发明还提供一种电子天平，其包括基座8以及固定在基座8上的上述内校装置，进而实现电子天平的人工内校。
[0042]本发明通过去除电机实现内校砝码的加载和卸载，设计一种新的内校装置，通过人工操作实现内校砝码的加载和卸载，从而实现电子天平的内校动作。其要求低成本，内校装置简单精准，内校砝码的重量可以更换，砝码可拆卸，占用空间小，零件制造加工精度低，工艺控制过程简单。
[0043]本领域技术人员可显见，可对本发明的上述示例性实施例进行各种修改和变型而不偏离本发明的精神和范围。因此，旨在使本发明覆盖落在所附权利要求书及其等效技术方案范围内的对本发明的修改和变型。
【主权项】
1.一种内校装置，其特征在于，包括: 推动导向机构，包括: 导销板； 多个导销，固定于所述导销板上； 推钮，位于所述导销板上，设有多个楔形凸块，所述推钮可推动地向第 一方向或第二方向移动，所述第一方向与所述第二方向相反； 抬板，设有多个供所述多个导销穿过的通孔，所述抬板还设有与所述多个楔形凸块相接触的多个圆柱形凸块， 其中，所述多个楔形凸块向所述第一方向移动时，所述多个圆柱形凸块向所述多个楔形凸块底部移动，所述抬板沿所述导销的延伸方向向第一位置移动； 所述多个楔形凸块向所述第二方向移动时，所述多个圆柱形凸块向所述多个楔形凸块顶部移动，所述抬板沿所述导销的延伸方向向第二位置移动； 传感器，位于所述导销板上； 传感器上托架，位于所述传感器上；以及 砝码组件，所述抬板位于所述第一位置时，由所述传感器上托架支撑，所述抬板位于所述第二位置时，由所述抬板支撑。2.如权利要求1所述的内校装置，其特征在于， 所述推钮上还设有第一复位机构，所述第一复位机构具有面向所述推钮的第一表面，所述第一表面与所述推钮成角度，所述第一表面与所述推钮所成的角朝向所述第一方向；所述抬板上还设有第二复位机构，所述第二复位机构设有凸柱，所述第一复位机构位于所述第二复位机构朝向所述第二方向的一侧， 所述推钮向所述第一方向移动，所述凸柱与所述第一表面相接触，并沿所述第一表面向所述推钮移动。3.如权利要求1所述的内校装置，其特征在于，所述推钮具有平行的两臂，所述传感器及所述传感器上托架位于所述两臂之间。4.如权利要求3所述的内校装置，其特征在于，所述抬板的数量为两个，分别位于所述两臂之上。5.如权利要求4所述的内校装置，其特征在于，所述砝码组件包括一个第一砝码和两个相对的第二砝码，两个所述第二砝码分别位于两个所述抬板之上，所述第一砝码固定于两个所述第二砝码上， 其中，所述第一砝码和所述第二砝码上还设有供所述导销穿过的通孔，所述传感器上托架位于两个所述第二砝码之间。6.如权利要求5所述的内校装置，其特征在于，还包括多个卡帽，所述多个卡帽设有供所述多个导销穿过的通孔，所述卡帽的一端卡在所述第一砝码背向所述导销板的通孔内。7.如权利要求5所述的内校装置，其特征在于，所述第一砝码为板形，所述第二砝码为条形。8.如权利要求4所述的内校装置，其特征在于，所述两臂分别设有供所述多个导销穿过的穿过部，所述穿过部为通孔或凹槽。9.如权利要求8所述的内校装置，其特征在于，所述多个楔形凸块位于所述穿过部的两侧。10.如权利要求1所述的内校装置，其特征在于，所述推钮还设有推杆，所述推杆用于使所述推钮沿所述第一方向或所述第二方向移动。11.一种电子天平，其特征在于，包括: 基座；以及 如权利要求1至10任一项所述的内校装置，固定于所述基座上。
【文档编号】G01G23/01GK105987749SQ201510057004
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2015年2月3日
【发明人】潘健, 胡多传, 叶忠伟
【申请人】奥豪斯仪器（常州）有限公司, 奥豪斯仪器（上海）有限公司