基于磁性开关的半成品触摸屏测试机的制作方法
【专利摘要】本发明涉及触摸屏技术领域，公开了一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关，磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端，其中第一连接端与测试板电性连接，第二连接端与断短路测试模块电性连接，第三连接端与电容测试模块电性连接，测试平台用于放置待测产品，测试平台与测试板对接设置，以使待测产品与测试板电性连接。该基于磁性开关的半成品触摸屏测试机采用磁性开关代替传统的探针作为连接器，能够减少测试机的维修频率、降低维修成本。
【专利说明】
基于磁性开关的半成品触摸屏测试机
技术领域
[0001]本发明涉及触摸屏技术领域，尤其涉及一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机。
【背景技术】
[0002]电容式触摸屏是一种用于各种智能终端电子设备的重要部件，其能够实现用户与电子设备之间直接地、自然地交互。在触摸屏的制造过程中，半成品触摸屏是已经形成有用于感应触控点位置的触控电极、但触控电极并没有与IC连接的触摸屏，此类半成品需要在加工为成品之前先测试其功能是否完好，以提高成品触摸屏的良率。
[0003]在现有技术中，用于测试机的连接器主要是采用探针。通过连接器的探针与产品的电极引线相连接，以读取ITO层中电极的数据，进而通过判断相关数据是否在预定数值范围内，来测定产品是否合格。但是，随着此类测试机生产数量的大规模化及使用时间长期化，连接器容易出现探针变形、气压过大时易断、使用时间长后针缝隙带杂物使用探针堵塞等问题，由此导致维修频率过高、间接提高了产品的生产成本。
[0004]此外，在现有技术中，由于半成品触摸屏上并未连接有1C，因此对半成品触摸屏进行测试时，需要先将其与IC连接，再进行半成品功能测试，以判断半成品是否合格。但是，目前能够支持触摸屏产业的IC品牌非常多，且每种IC都有其独立的测试方法，但这些测试方法无法保证短路材料能够有效检出，且方法之间并不通用。这一方面会导致检测后的半成品触摸屏仍存在性能上的缺陷问题;另一方面会导致采用不同IC的半成品触摸屏需要使用不同的IC及其测试方法，相应地，用于不同半成品触摸屏的测试板也需要及时开发更换。当触摸屏生产企业的触摸屏种类较多时，需要开发多种半成品触摸屏的测试板，这既增加测试成本，又会耗费大量人力物力。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，以解决现有基于磁性开关的半成品触摸屏测试机难以有效检出全部短路材料、且测试机难以通用于不同类型、不同尺寸触摸屏的问题。
[0006]本发明的技术方案如下:
[0007]本发明提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关，所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端，其中所述第一连接端与所述测试板电性连接，所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接，所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接，所述测试平台用于放置待测产品，所述测试平台与所述测试板对接设置，以使所述待测产品与所述测试板电性连接。
[0008]可选地，所述磁性开关为干簧管或门磁开关中的一种。优选地，所述磁性开关为干簧管。
[0009]进一步地，所述断短路测试模块和/或所述电容测试模块中设有1C，所述IC为Atmel公司的1C。优选地，所述IC为Atmel MXT 1664系列1C。
[0010]进一步地，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第一支撑架和相对所述第一支撑架上下移动的第一升降装置，所述第一升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述测试平台与所述测试板对接处，所述第一升降装置下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时，使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。
[0011]进一步地，所述第一升降装置包括固设于所述第一支撑架上的第一气缸以及与所述第一气缸动力连接的第一压板，所述第一压板位于所述第一支撑架下方且相对于所述第一支撑架上下移动，所述第一气缸推动所述第一压板下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时，使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。
[0012]进一步地，所述第一升降装置还包括第一导柱，所述第一导柱竖向穿过所述第一支撑架且所述第一导柱与所述第一压板固定连接，以使所述第一压板沿竖直方向上下移动。
[0013]进一步地，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第二支撑架和相对所述第二支撑架上下移动的第二升降装置，所述第二升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述磁性开关处，所述第二升降装置下降至所述磁性开关处时，使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接，所述第二升降装置上升至远离所述磁性开关时，使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。
[0014]进一步地，所述第二升降装置包括固设于所述第二支撑架上的第二气缸以及与所述第二气缸动力连接的第二压板，所述第二压板位于所述第二支撑架下方且相对于所述第二支撑架上下移动，所述第二压板为磁性材料，所述第二气缸推动所述第二压板下降至所述磁性开关处时，所述磁性开关的所述第一连接端与所述第二连接端导通、且所述第一连接端与所述第三连接端断开，使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接，所述第二气缸拉动所述第二压板上升至远离所述磁性开关时，所述磁性开关的所述第一连接端与所述第三连接端导通、且所述第一连接端与所述第二连接端断开，使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。
[0015]进一步地，所述第二升降装置还包括第二导柱，所述第二导柱竖向穿过所述第二支撑架且所述第二导柱与所述第二压板固定连接，以使所述第二压板沿竖直方向上下移动。
[0016]进一步地，所述第一支撑架上还设有CCD对位装置，所述CCD对位装置用于对所述待测产品与所述测试板的电性连接位置进行放大和对位。
[0017]进一步地，所述测试平台上还设有调节旋钮，所述调节旋钮用于调节所述待测产品与与所述测试板的电性连接位置。
[0018]进一步地，所述半成品触摸屏测试机还包括设于所述工作机箱上方的显示屏，所述显示屏与所述CCD对位装置电性连接，所述显示屏用于显示经过所述CCD对位装置放大后的待测产品与所述测试板的电性连接位置，以使所述调节旋钮调节待测产品与所述测试板的电性连接位置重合。
[0019]可选地，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸小于或者等于7寸。例如，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸为7寸、6寸、5.5寸、5寸、4.5寸、4寸、3.8寸或3.5寸。
[0020]可选地，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试GFF、GF1或GF2结构的半成品触摸屏。
[0021]与现有技术相比，本发明具有以下有益效果:
[0022]在本发明中，在工作机箱内部分别设有断短路测试模块和电容测试模块，放置于测试平台中的半成品触摸屏通过与测试板电性连接，最终实现与断短路测试模块或者电容测试模块的连接，由此既能够测试半成品触摸屏中ITO层的断短路值、又能测出ITO层的电容值，故能够保证将半成品触摸屏的短路材料有效检出。另外，本发明中采用磁性开关代替传统的探针作为连接器，能够有效减少维修机率、降低维修成本。不仅如此，本发明的测试机具有较高的兼容性，由于Atme I公司的IC最多能够支持半成品触摸屏在X方向上电极多达32条、Y方向上电极多达52条，因此能够兼容测试各类IC对应的半成品触摸屏，并且也能够测试不同结构的半成品触摸屏。
【附图说明】
[0023]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是本发明实施例二的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机的结构示意图；
[0025]图2是本发明实施例二的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机的结构示意图(省略第一支撑架、第一升降装置和CCD对位装置)；
[0026]图3是本发明实施例二中第一支撑架、第一升降装置和CCD对位装置的结构示意图。
[0027]图4是本实施例实施例二中磁性开关的结构示意图。
【具体实施方式】
[0028]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0029]实施例一
[0030]本实施例提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台、以及磁性开关，所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端，其中所述第一连接端与所述测试板电性连接，所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接，所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接，所述测试平台用于放置待测产品，所述测试平台与所述测试板对接设置，以使所述待测产品与所述测试板电性连接。
[0031]实施例二
[0032]结合图1至图3所示，本实施例提供一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，包括工作机箱I以及分别设于工作机箱I上不同位置处的测试板2、测试平台3、第一支撑架41、第一升降装置51、第二支撑架42、第二升降装置52以及磁性开关6。
[0033]其中，工作机箱I的内部设有断短路测试模块和电容测试模块，且断短路测试模块和/或电容测试模块中设有Atmel公司的1C，例如为MXT1664系列1C，该IC用于驱动断短路测试模块对半成品触摸屏进行断短路测试、驱动电容测试模块对半成品触摸屏进行电容测试。采用Atmel公司中具有较高兼容性的1C，能够支持半成品触摸屏在X方向上电极多达32条、Y方向上电极多达52条，因此能够兼容测试各类IC对应的半成品触摸屏，并且也能够测试不同结构的半成品触摸屏。
[0034]其中，测试板2为PCB电路板，测试平台3用于放置待测产品(即待测试的半成品触摸屏)，测试平台3与测试板2对接设置，以使放置于测试平台3中的待测产品(图未示)与测试板2电性连接，具体是待测产品的电极引线与测试板2中的金手指电性连接。本实施例中的磁性开关6具体为干簧管，磁性开关6包括作为公共端的第一连接端61、作为常开端的第二连接端62和作为常闭端的第三连接端63，且第一连接端61与测试板2电性连接，第二连接端62与断短路测试模块电性连接，第三连接端与电容测试模块电性连接。
[0035]其中，第一支撑架41横跨设于工作机箱I的上方，第一升降装置51与第一支撑架41活动连接且相对于第一支撑架41上下移动。具体地，第一升降装置51包括第一气缸511、第一压板512和第一导柱513。第一气缸511固设于第一支撑架41上，用于为第一压板512提供上下移动的动力。第一压板512与第一气缸511动力连接，且第一压板512设于第一支撑架41的下方，并相对于第一支撑架41上下移动，该第一压板512在工作机箱I上的垂直投影位于测试平台3与测试板2对接处。第一导柱513竖向穿过第一支撑架41且与第一压板512固定连接，该第一导柱513用于从竖直方向上对第一压板的上下移动起定位和导向的作用。第一气缸511推动第一压板512下降至测试平台3与测试板2的对接处时，使放置于测试平台3上的待测产品与测试板2电性连接。
[0036]其中，第二支撑架42位于第一支撑架41的后方且第二支撑架42横跨设于工作机箱I的上方，第二升降装置52与第二支撑架42活动连接且相对于第二支撑架42上下移动。具体地，第二升降装置52包括第二气缸521、以磁性材料制成的第二压板522以及第二导柱523。第二气缸521固设于第二支撑架42上，用于为第二压板522提供上下移动的动力。第二压板522与第二气缸521动力连接，且第二压板522设于第二支撑架42的下方，并相对于第二支撑架42上下移动，该第二压板522在工作机箱I上的垂直投影位于磁性开关6附近，具体是位于磁性开关6的第二连接端62和第三连接63处。第二导柱523竖向穿过第二支撑架42且与第二压板522固定连接，该第二导柱523用于从竖直方向上对第二压板522的上下移动起定位和导向的作用。第二气缸521推动第二压板522下降至靠近磁性开关6时，，由于第二压板为磁性材料，会影响磁性开关6的磁场，使磁性开关6的第一连接端61与第二连接端62导通、第一连接端61与第三连接端63断开，进而使测试板2与断短路测试模块电性连接;第二气缸521拉动第二压板522上升至远离磁性开关6时，由于第二压板对于磁性开关6的影响消失，使磁性开关6的第一连接端61与第三连接端63导通、第一连接端61与第二连接端62断开，进而测试板2使磁性开关6与电容测试模块电性连接。
[0037]本实施例的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括设置在第一支撑架41上的CCD对位装置7，该CCD对位装置7用于对待测产品与测试板2的电性连接位置进行放大和对位，以确保二者的电性连接位置准确。
[0038]本实施例的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括设置在测试平台3上的调节旋钮31，该调节旋钮用于微调待测产品与与测试板2的电性连接位置。
[0039]另外，本实施例的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括设于工作机箱I上方的显示屏(图未示)，该显示屏与CCD对位装置7电性连接，用于显示经过CCD对位装置放大后的待测产品与测试板的电性连接位置(具体是待测产品的待测产品的电极引线与测试板2中的金手指的连接位置)，以使调节旋钮能够根据显示屏上的图像方便地调节待测产品的电极引线与测试板2中金手指的连接位置，使电极引线与金手指可靠重合。
[0040]在本实施例中，基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸小于或者等于7寸。例如，基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸为7寸、6寸、5.5寸、5寸、4.5寸、4寸、3.8寸或3.5寸。分此外，本实施例的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试GFF、GF1或GF2结构的半成品触摸屏。
[0041]本实施例的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机在工作时，首先将待测产品放置于测试平台3上，并将待测产品的电极引线与测试板2的金手指对接;然后通过第一升降装置51将第一压板512下降至待测产品与测试板2的对接处进行压合，以使待测产品与测试板2电性连接，此时磁性开关6的一端与测试板2电性连接;接着通过第二升降装置52将第二压板522下降至靠近磁性开关6的位置处，由于第二压板522为磁性材料，会对磁性开关6造成影响，因此使得磁性开关6的另一端与断短路测试模块电性连接，由此使待测产品与断短路测试模块之间电性连接，以实现对待测产品的断短路测试;最后通过第二升降装置52将第二压板522上升、使第二压板522远离磁性开关6，由于第二压板522对磁性开关6的影响消失，使得磁性开关6的另一端与电容测试模块电性连接，由此使待测产品与电容测试模块之间电性连接，以实现对待测产品的电容测试。
[0042]此外，本实施例的半成品触摸屏测试机还设有用于反应测试结果的指示灯以及用于恢复半成品触摸屏测试机测试状态的复位按钮。当待测产品的测试结果为合格时，位于工作机箱上的第一指示灯(例如绿色LED灯)亮起;当待测产品的测试结果为不合格时，位于工作机箱上的第二指示灯(例如红色LED灯)亮起，此时第一压板512不会自动抬起，需要操作复位按钮将第一压板抬起，以继续进行测试工作。
[0043]本实施例的半成品触摸屏测试机与电脑电性连接，以使所述半成品触摸屏测试机的测试数据能够传输、保存至电脑中，并通过电脑的显示器显示测试结果及数据。
[0044]以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，包括内部设有断短路测试模块和电容测试模块的工作机箱、位于所述工作机箱上的测试板和测试平台以及磁性开关，所述磁性开关包括作为公共端的第一连接端、作为常开端的第二连接端和作为常闭端的第三连接端，其中所述第一连接端与所述测试板电性连接，所述第二连接端与所述断短路测试模块电性连接，所述第三连接端与所述电容测试模块电性连接，所述测试平台用于放置待测产品，所述测试平台与所述测试板对接设置，以使所述待测产品与所述测试板电性连接。2.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述磁性开关为干簧管或门磁开关中的一种。3.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述断短路测试模块和/或所述电容测试模块中设有1C，所述IC为Atmel公司的1C。4.根据权利要求1至3任一项所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第一支撑架和相对所述第一支撑架上下移动的第一升降装置，所述第一升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述测试平台与所述测试板对接处，所述第一升降装置下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时，使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。5.根据权利要求4所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述第一升降装置包括固设于所述第一支撑架上的第一气缸以及与所述第一气缸动力连接的第一压板，所述第一压板位于所述第一支撑架下方且相对于所述第一支撑架上下移动，所述第一气缸推动所述第一压板下降至所述测试平台与所述测试板的对接处时，使放置于所述测试平台上的待测产品与所述测试板电性连接。6.根据权利要求5所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述第一升降装置还包括第一导柱，所述第一导柱竖向穿过所述第一支撑架且所述第一导柱与所述第一压板固定连接，以使所述第一压板沿竖直方向上下移动。7.根据权利要求4所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机还包括横跨设于所述工作机箱上方的第二支撑架和相对所述第二支撑架上下移动的第二升降装置，所述第二升降装置在所述工作机箱上的垂直投影位于所述磁性开关处，所述第二升降装置下降至所述磁性开关处时，使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接，所述第二升降装置上升至远离所述磁性开关时，使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。8.根据权利要求7所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述第二升降装置包括固设于所述第二支撑架上的第二气缸以及与所述第二气缸动力连接的第二压板，所述第二压板位于所述第二支撑架下方且相对于所述第二支撑架上下移动，所述第二压板为磁性材料，所述第二气缸推动所述第二压板下降至所述磁性开关处时，所述磁性开关的所述第一连接端与所述第二连接端导通、且所述第一连接端与所述第三连接端断开，使所述测试板与所述断短路测试模块电性连接，所述第二气缸拉动所述第二压板上升至远离所述磁性开关时，所述磁性开关的所述第一连接端与所述第三连接端导通、且所述第一连接端与所述第二连接端断开，使所述测试板与所述电容测试模块电性连接。9.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试半成品触摸屏的尺寸小于或者等于7寸。10.根据权利要求1所述的基于磁性开关的半成品触摸屏测试机，其特征在于，所述基于磁性开关的半成品触摸屏测试机用于测试GFF、GF1或GF2结构的半成品触摸屏。
【文档编号】G01R31/28GK106019127SQ201610644422
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年8月8日
【发明人】肖敏毅
【申请人】意力(广州)电子科技有限公司