检测单齿大径的通规的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型属于大径检测领域，具体地说，尤其涉及一种检测单齿大径的通规。
【背景技术】
[0002] 单齿花键孔完成加工后，需要检测其大径尺寸是否超差。现有的检测方式是先利 用光学显微镜获取产品图像，再通过人工方式来看花键孔的大径。由于光学显微镜获取产 品图像的分辨率低，人工获取花键孔大径的过程中就存在较大的误差，且不同的检测人员 得出的检测结果可能有很大差异，甚至于完全不同，为此急需解决上述技术问题。 【实用新型内容】
[0003] 本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种检测单齿大径的通规，欲提高检测 精度。
[0004] 本实用新型的技术方案如下：一种检测单齿大径的通规，其特征在于：该通规的 本体（1)为四段式阶梯结构，从左往右依次为防碰伤圆柱段（la)、外花键段（化）、手握圆 柱段（Ic)和定位基准圆柱段（Id)构成，其中：所述防碰伤圆柱段（la)的长度为8mm，其直 径为22.30。。.lmm，所述外花键段ab)的长度为30mm，其大径为24.29^lmm，其中径为 24,29Gフ"。xxmmm，且所述手握圆柱段ac)的长度为115mm;所述定位基准圆柱段ad)的 长度为10mm，其直径为242967"目腿。
[0005] 在W上技术方案中，所述定位基准圆柱段（Id)用于定位，W便外花键段（化）精确 地检测单齿大径的尺寸，进而有效判断单齿大径的尺寸是否超过规定的下偏差，且本通规 的结构简单，易于制造，检测方便，具有很好的实用性。
[0006] 所述防碰伤圆柱段（la)与外花键段（化）的连接处加工有退刀槽，且所述手握圆 柱段（Ic)的外圆面滚有网纹。
[0007] 在上述结构中，所述退刀槽能够方便加工，而网纹便于检测人员手握。
[0008] 有益效果；本实用新型的定位基准圆柱段用于定位，W便外花键段精确地检测单 齿大径的尺寸，进而有效判断单齿大径的尺寸是否超过规定的下偏差，且本通规的结构简 单，易于制造，检测方便，具有很好的实用性。
【附图说明】
[0009] 图1为本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0010] 下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：
[0011] 如图1所示，一种检测单齿大径的通规，该通规的本体1为四段式阶梯结构，从左 往右依次为防碰伤圆柱段la、外花键段化、手握圆柱段Ic和定位基准圆柱段Id构成。其 中；防碰伤圆柱段la的长度为8mm，其直径为223G1imm，所述外花键段化的长度为 3〇臟，其大径为24.2势"1画，其中径为24.29671)034画，且所述手握圆柱段ic的长 度为115mm;所述定位基准圆柱段Id的长度为lOmm，其直径为24.29671。。戸m。所述防 碰伤圆柱段la与外花键段化的连接处加工有退刀槽，该退刀槽的长度为2mm，其外径为 18mm，且手握圆柱段Ic的外圆面滚有网纹。
[0012] W上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不W本实用新型为限制，凡在本 实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型 的保护范围之内。
【主权项】
1. 一种检测单齿大径的通规，其特征在于：该通规的本体（1)为四段式阶梯结构，从 左往右依次为防碰伤圆柱段（la)、外花键段（lb)、手握圆柱段（Ic)和定位基准圆柱段 (Id)构成，其中：所述防碰伤圆柱段（Ia)的长度为8謹，其直径为22JG°(nmm，所述外 花键段aw的长度为3〇臟，其大径为24.29Γ31_，其中径为24.2967°。侧 4mm，且所 述手握圆柱段（Ic)的长度为115mm;所述定位基准圆柱段（Id)的长度为10mm，其直径为 24.29#_丨晒。
2. 根据权利要求1所述的检测单齿大径的通规，其特征在于：所述防碰伤圆柱段（Ia) 与外花键段（Ib)的连接处加工有退刀槽，且所述手握圆柱段（Ic)的外圆面滚有网纹。
【专利摘要】本实用新型公开一种检测单齿大径的通规，其特征在于：该通规的本体(1)为四段式阶梯结构，从左往右依次为防碰伤圆柱段(1a)、外花键段(1b)、手握圆柱段(1c)和定位基准圆柱段(1d)构成，其中：所述防碰伤圆柱段(1a)的长度为8mm，其直径为所述外花键段(1b)的长度为30mm，其大径为其中径为且所述手握圆柱段(1c)的长度为115mm；所述定位基准圆柱段(1d)的长度为10mm，其直径为本实用新型的定位基准圆柱段用于定位，以便外花键段精确地检测单齿大径的尺寸，进而有效判断单齿大径的尺寸是否超过规定的下偏差，且本通规的结构简单，易于制造，检测方便，具有很好的实用性。
【IPC分类】G01B5-08
【公开号】CN204286302
【申请号】CN201420636200
【发明人】段含辉
【申请人】重庆永达精密机械有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年10月28日