一种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种遮光罩，具体是一种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩。
【背景技术】
[0002]目前市面上的粉尘仪普遍采用激光后散射原理，即粉尘仪发射一束有角度的激光到烟囱里，当烟囱里有颗粒物/粉尘时候，照射到颗粒物/粉尘的产生的散射光，即后散射光被粉尘仪检测到，粉尘仪根据能量的大小折算并得到烟囱里颗粒物/粉尘的浓度值。
[0003]正常情况下，烟囱/烟道高度在50m以上，粉尘仪安装点在距离烟囱底部1/3处，所以被测环境为纯黑，没有自然光线以及其他光源的干扰。陶瓷行业普遍低空排放。即烟囱高度只有10m，里面自然光严重干扰后散射原理的粉尘仪测量。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便的用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，以解决上述【背景技术】中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:
[0006]—种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，包括支座、上板、下板和侧板，所述上板、下板和侧板均安装在支座的右侧，所述侧板设有两块，上板和下板分别安装在侧板的上方和下方，所述上板和下板上均开设有槽孔，所述上板和下板上均设有横向拉筋。
[0007]作为本实用新型再进一步的方案:所述上板、下板和侧板上均设有黑色涂层。
[0008]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:
[0009]本实用新型结构简单、使用方便，能够在不影响烟气流向的情况下有效避免光线折射，挡住自然光的干扰，因此可以解决陶瓷行业漏光干扰对粉尘测量的影响，提高陶瓷行业粉尘测量的准确率。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图。
[0011]图2为本实用新型的安装位置示意图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合【具体实施方式】对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
[0013]请参阅图1-2，一种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，包括支座1、上板2、下板3和侧板4，所述上板2、下板3和侧板4均安装在支座I的右侧，所述侧板4设有两块，上板2和下板3分别安装在侧板4的上方和下方，所述上板2和下板3上均开设有槽孔5，槽孔5使上板2和下板3不影响烟气流向，因此不会影响粉尘测量，所述上板2和下板3上均设有横向拉筋6，拉筋6起到加固的作用，所述上板2、下板3和侧板4上均设有黑色涂层，因此上板2、下板3和侧板4能够直接挡住自然光的干扰，避免光线折射。
[0014]本实用新型在使用时，将进行粉尘测量用的激光器和粉尘仪检测装置套设于一个与支座I连接的空腔中即可。
[0015]本实用新型结构简单、使用方便，能够在不影响烟气流向的情况下有效避免光线折射，挡住自然光的干扰，因此可以解决陶瓷行业漏光干扰对粉尘测量的影响，提高陶瓷行业粉尘测量的准确率。
[0016]上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下作出各种变化。
【主权项】
1.一种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，其特征在于，包括支座(I)、上板(2)、下板(3)和侧板(4)，所述上板(2)、下板(3)和侧板(4)均安装在支座(I)的右侧，所述侧板(4)设有两块，上板(2)和下板(3)分别安装在侧板(4)的上方和下方，所述上板(2)和下板(3)上均开设有槽孔(5 )，所述上板(2 )和下板(3 )上均设有横向拉筋(6 )。2.根据权利要求1所述的用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，其特征在于，所述上板(2)、下板(3)和侧板(4)上均设有黑色涂层。
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于漏光工况下粉尘测量的遮光罩，包括支座、上板、下板和侧板，所述上板、下板和侧板均安装在支座的右侧，所述侧板设有两块，上板和下板分别安装在侧板的上方和下方，所述上板和下板上均开设有槽孔，所述上板和下板上均设有横向拉筋。所述上板、下板和侧板上均设有黑色涂层。本实用新型结构简单、使用方便，能够在不影响烟气流向的情况下有效避免光线折射，挡住自然光的干扰，因此可以解决陶瓷行业漏光干扰对粉尘测量的影响，提高陶瓷行业粉尘测量的准确率。
【IPC分类】G01N15/06
【公开号】CN204758445
【申请号】CN201520468057
【发明人】于志伟, 盛润坤, 陆生中, 李坤, 杨禹
【申请人】杭州春来科技有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年6月30日