颗粒柱顶加载底部质量测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于测试颗粒物静态力的设备，尤其涉及一种颗粒柱顶加载底部质量测试系统，属于颗粒物测试装置领域。
【背景技术】
[0002]颗粒物质对人们来说是一个既熟悉又陌生，既古老又新鲜的课题。它在我们生活中是到处可见的，自然界中的一切以离散态存在的物质都可以看成是颗粒物质，甚至把那些带有主观因素的人流和车流同样可以抽象成颗粒物质来进行研究。到目前为止我们对颗粒物质的认识非常有限，对颗粒内在的一些物理发生机制还知之甚少。颗粒物质沙漏计时的年代，人们其实就已经是在利用颗粒物质的特殊性质了，古人发现用漏斗中的颗粒流(沙流)计时会比用水流计时更加均匀准确；而我国古代用簸箕摇晃来分离谷物和砂石的方法利用的则是今天研究振动状态下的颗粒物质最典型的特性。颗粒物质又是一个新鲜的课题，可以说直到最近一二十年，对颗粒物质的研究才真正得到广大物理学家的认可和关注，成为当今物理学研究中的一个前沿热点。目前为止，尚无具体的可用于研究的相关设备和具体分析方法。
【实用新型内容】
[0003]为了克服现有技术的不足，解决好现有技术的问题，弥补现有目前市场上现有产品的不足。
[0004]本实用新型提供了一种颗粒柱顶加载底部质量测试系统，主要包括圆筒、活塞、底座、计算机和立架，圆筒上下两端开口，下端设置有活塞，活塞固定在底座上，在圆筒内填充有颗粒物，活塞的下端设置有压力传感器，立架上设置有控制箱，所述计算机与控制箱连接。
[0005]优选的，上述颗粒物上设置有加载物，立架的顶部设置有吊钩，吊钩连接加载物。
[0006]优选的，上述活塞的直径略小于圆筒的直径。
[0007]优选的，上述加载物为多个圆饼状重物。
[0008]优选的，上述计算机与压力传感器连接。
[0009]本实用新型提供的颗粒柱顶加载底部质量测试系统通过精巧的设计可以控制加压的量和加压的过程，从而可以精确地测量颗粒物在压力变化情况下的静态力，测试精度高，并且工作稳定，易于操作。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型结构示意图。
[0011]附图标记:1-圆筒；2-活塞；3-底座；4_颗粒物；5_加载物；6_压力传感器；7-计算机；8-立架；9-控制箱。
【具体实施方式】
[0012]为了便于本领域普通技术人员理解和实施本实用新型，下面结合附图及【具体实施方式】对本实用新型作进一步的详细描述。
[0013]本实用新型提供的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，主要包括圆筒1、活塞2、底座3、计算机7和立架8，圆筒I上下两端开口，下端设置有活塞2，活塞2固定在底座3上，在圆筒I内填充有颗粒物4，活塞2的下端设置有压力传感器6，立架8上设置有控制箱9，计算机7与控制箱9连接。颗粒物4上设置有加载物5，立架8的顶部设置有吊钩，吊钩连接加载物5。活塞2的直径略小于圆筒I的直径。加载物5为多个圆饼状重物。计算机7与压力传感器6连接
[0014]本实用新型提供的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，在工作时，在圆筒I中通过落雨法缓慢的填充一定质量的颗粒物4 (填充质量fM)。圆筒I底部用可自由活动的活塞2组成，活塞2的直径略小于圆筒I直径，同时保证圆筒I内颗粒物4不漏出。每次实验前将活塞2上移至圆筒I内一定高度，为使实验初始条件一致，当颗粒倒入圆筒I 一段时间(一分钟左右)，压力传感器6数值稳定后，活寒2开始以一定的速度缓慢下降，每次下降的距离是20mm。选择上述的下降速度与下降距离，是为了充分使颗粒均匀，消除颗粒内部的成拱，让颗粒与圆筒I壁的摩擦力达到最大。活塞2底部固定了一个压力传感器6，压力传感器6测量颗粒对活塞的压力。
[0015]本实用新型提供的颗粒柱顶加载底部质量测试系统通过精巧的设计可以控制加压的量和加压的过程，从而可以精确地测量颗粒物在压力变化情况下的静态力，测试精度高，并且工作稳定，易于操作。
[0016]以上所述之【具体实施方式】为本实用新型的较佳实施方式，并非以此限定本实用新型的具体实施范围，本实用新型的范围包括并不限于本【具体实施方式】，凡依照本实用新型之形状、结构所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种颗粒柱顶加载底部质量测试系统，其特征在于:所述颗粒柱顶加载底部质量测试系统主要包括圆筒(1)、活塞(2)、底座(3)、计算机(7)和立架(8)，圆筒(I)上下两端开口，下端设置有活塞(2)，活塞(2)固定在底座⑶上，在圆筒⑴内填充有颗粒物(4)，活塞(2)的下端设置有压力传感器￠)，立架(8)上设置有控制箱(9)，所述计算机(7)与控制箱(9)连接。2.根据权利要求1所述的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，其特征在于:所述颗粒物(4)上设置有加载物(5)，立架(8)的顶部设置有吊钩，吊钩连接加载物(5)。3.根据权利要求1所述的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，其特征在于:所述活塞(2)的直径略小于圆筒(I)的直径。4.根据权利要求2所述的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，其特征在于:所述加载物(5)为多个圆饼状重物。5.根据权利要求2或4所述的颗粒柱顶加载底部质量测试系统，其特征在于:所述计算机(7)与压力传感器(6)连接。
【专利摘要】本实用新型涉及一种颗粒柱顶加载底部质量测试系统，主要包括圆筒(1)、活塞(2)、底座(3)、计算机(7)和立架(8)，圆筒(1)上下两端开口，下端设置有活塞(2)，活塞(2)固定在底座(3)上，在圆筒(1)内填充有颗粒物(4)，活塞(2)的下端设置有压力传感器(6)，立架(8)上设置有控制箱(9)，所述计算机(7)与控制箱(9)连接。本实用新型提供的颗粒柱顶加载底部质量测试系统通过精巧的设计可以控制加压的量和加压的过程，从而可以精确地测量颗粒物在压力变化情况下的静态力，测试精度高，并且工作稳定，易于操作。
【IPC分类】G01N15/00
【公开号】CN204807421
【申请号】CN201520470150
【发明人】高深
【申请人】高深
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2015年6月29日