一种断短路两端式真空吸引测试机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试治具的测试机构，具体涉及一种断短路两端式真空吸引测试机构。
【背景技术】
[0002]目前，传统的测试方法是使用测试探针，但其具有:1)测试点压伤的疑虑；2)治具成本过高的问题；3)遇到细线路无法测试或对位困难，需要用导电胶作两段测试，工作效率较低。
【实用新型内容】
[0003]为解决上述技术问题，我们提出了一种可克服以上问题且成本较低的断短路两端式真空吸引测试机构。
[0004]为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下:
[0005]一种断短路两端式真空吸引测试机构，其包括测试基座，所述测试基座的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板、与所述待测板相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子和设于所述第二测试区下方的气缸，所述气缸拖动第二测试区上下运动，所述第一测试区包括第一真空吸气室和设于第一真空吸气室顶端上的Pcb板或柔性线路板，所述第二测试区包括第二真空吸气室和设于第二真空吸气室顶端上的金属或非金属板，所述Pcb板或柔性线路板的周边和金属或非金属板上均开设有均匀的若干通孔，所述待测板上且位于所述第二测试区上方设有条形的待测物细出pin端子，所述待测板和Pcb板或柔性线路板上均设有相同的测试点，且与所述待测物细出pin端子物理性连接。
[0006]优选的，所述待测板为柔性线路板或触控面板或血糖裸片。
[0007]优选的，所述测试点为金点、银点、铜点、炭点或者非金属导体。
[0008]优选的，还包括与所述第一测试区的其他三个边缘相邻设置的待测板对位装置，所述对位装置包括设于第一测试区两边且与第二测试区相互垂直的垂直滑行轨道和设于所述垂直滑行轨道上的水平滑行轨道，所述水平滑行轨道上还均匀安装有两个CCD或电子显微镜，且所述(XD或电子显微镜可左右移动。
[0009]优选的，所述第二待测区为金属或非金属全短路区。
[0010]通过上述技术方案，本实用新型的断短路两端式真空吸引测试机构，测试点以软性银浆或PCb电路板铜点做为接触点，平面对平面无压伤问题，而且分两段式真空吸引方式可测一般点对点接触测试，也可测细线路全短路量测断路及阻值量测，具有测试速度快，细线路无对位上困扰，而且测试治具成本较传统探针式低。
【附图说明】
[0011]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1为本实用新型实施例1所公开的一种断短路两端式真空吸引测试机构的结构示意图；
[0013]图2为本实用新型实施例1所公开的一种断短路两端式真空吸引测试机构中第一测试区的分解示意图。
【具体实施方式】
[0014]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0015]下面结合示意图对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细的说明。
[0016]实施例1.
[0017]如图1、图2所示，一种断短路两端式真空吸引测试机构，其包括测试基座1，所述测试基座I的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板2、与所述待测板2相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子3和设于所述第二测试区下方的气缸4，所述气缸4拖动第二测试区上下运动，达到测试断短路，阻抗的测试要求，数据传输端子3与测试机相配合，所述第一测试区包括第一真空吸气室5和设于第一真空吸气室5顶端上的pcb板或柔性线路板6，所述第二测试区包括第二真空吸气室7和设于第二真空吸气室7顶端上的金属或非金属板8，所述pcb板或柔性线路板6的周边和金属或非金属板8上均开设有均匀的若干通孔a，所述待测板2上且位于所述第二测试区上方设有条形的待测物细出pin端子9，所述待测板2和pcb板或柔性线路板6上均设有相同的测试点b，且与所述待测物细出pin端子9物理性连接。该断短路两端式真空吸引测试机构，可测一般点对点接触测试，也可测细线路全短路量测断路及阻值量测。
[0018]继续如图1、图2所示，所述待测板2为柔性线路板或触控面板或血糖裸片。
[0019]继续如图2所示，所述测试点b为金点、银点、铜点、炭点或者非金属导体，平面对平面无压伤问题。
[0020]继续如图1、图2所示，还包括与所述第一测试区的其他三个边缘相邻设置的待测板对位装置，所述对位装置包括设于第一测试区两边且与第二测试区相互垂直的垂直滑行轨道10和设于所述垂直滑行轨道10上的水平滑行轨道11，所述水平滑行轨道11上还均匀安装有两个C⑶或电子显微镜，且所述CXD或电子显微镜可左右移动12。
[0021]继续如图1、图2所示，所述第二待测区为金属或非金属全短路区。
[0022]一种断短路两端式真空吸引测试方法，其采用如上任一断短路两端式真空吸引测试机构，所述测试方法具体步骤如下:
[0023]A.将待测板即柔性线路板或触控面板置放于已铺设相对应测试点的pcb板或柔性线路板上，先进行测试点(如图2中XL X2.X3…Yl.Y2.Y3…)对位(可通过上方CXD或电子显微镜确认对位是否正确)；
[0024]B.对位正确后，第一待测区和第二待测区会依实际测试需求先后分段，让待测物的测试点经由pcb板或柔性线路板上的测试点重合并紧密吸附后(第二待测区金属或非金属全短路装置会依测试需要，自行判断是否吸真空及整体下降)，再由测试主机测试所有线间的绝缘，可测出是否有短路或微短路状况(如图2中XL X2.X3…Yl.Y2.Y3…)；
[0025]C.以上动作完成后，第二待测区金属或非金属全短路装置会通过气缸的动作把第二测试区第一待测区保持水平状态，再由抽真空方式将待测物紧紧吸附，让待测物的测试点经由pcb板或柔性线路板区和金属或非金属全短路区通过open/short测试机进行每条线路头尾:a.电阻值量测，b.断线与否的量测动作。
[0026]经由B 和 C 可测试待测物 Open/Short/Resistance/Insulat1n。
[0027]以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种断短路两端式真空吸引测试机构，其特征在于，其包括测试基座，所述测试基座的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板、与所述待测板相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子和设于所述第二测试区下方的气缸，所述气缸拖动第二测试区上下运动，所述第一测试区包括第一真空吸气室和设于第一真空吸气室顶端上的PCb板或柔性线路板，所述第二测试区包括第二真空吸气室和设于第二真空吸气室顶端上的金属或非金属板，所述PCb板或柔性线路板的周边和金属或非金属板上均开设有均匀的若干通气孔，所述待测板上且位于所述第二测试区上方设有条形的待测物细出pin端子，所述待测板和pcb板或柔性线路板上均设有相同的测试点，且与所述待测物细出pin端子物理性连接。2.根据权利要求1所述的一种断短路两端式真空吸引测试机构，其特征在于，所述待测板为柔性线路板或触控面板或血糖裸片。3.根据权利要求1所述的一种断短路两端式真空吸引测试机构，其特征在于，所述测试点为金点、银点、铜点、炭点或者非金属导体。4.根据权利要求1所述的一种断短路两端式真空吸引测试机构，其特征在于，还包括与所述第一测试区的其他三个边缘相邻设置的待测板对位装置，所述对位装置包括设于第一测试区两边且与第二测试区相互垂直的垂直滑行轨道和设于所述垂直滑行轨道上的水平滑行轨道，所述水平滑行轨道上还均匀安装有两个CCD或电子显微镜，且所述CCD或电子显微镜可左右移动。5.根据权利要求1所述的一种断短路两端式真空吸引测试机构，其特征在于，所述第二待测区为金属或非金属全短路区。
【专利摘要】本实用新型公开了一种断短路两端式真空吸引测试机构，其主要包括测试基座，所述测试基座的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板、与所述待测板相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子和设于所述第二测试区下方的气缸，该气缸拖动第二测试区上下运动，达到测试断短路，阻抗的测试要求。通过本实用新型的一种断短路两端式真空吸引测试机构及其方法，克服了测试点压伤、治具成本过高以及细线路对位困难等，具有治具成本低，测试速度快的优点。
【IPC分类】G01R27/02, G01R31/02, G01R1/04
【公开号】CN204807591
【申请号】CN201520528093
【发明人】柴英豪, 林明辉
【申请人】柴英豪
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2015年7月21日