用于检测金相样品的检测机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测装置，尤其是涉及一种用于检测金相样品的检测机构。
【背景技术】
[0002]材料表面金相检测需要使用专业的设备进行，但现有的检测设备无法满足试样的位置无极调整，多维度多方向调整对于试样的检测是至关重要的，其可免去调整试样本身的麻烦。对于多数检测用户而言，外购的检测设备还存在购置成本高，结构复杂的弊端。而且，对于试样的调整容易出现试验结果的偏差。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的就是为了解决上述问题，提供一种用于检测金相样品的检测机构，其结构简洁，成本低，能够实现多维度、多方向的调整且能够保证试验结果准确性。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0005]用于检测金相样品的检测机构，其包括检测机构部分以及试样放置平台结构，该试样放置平台结构包括:
[0006]下支撑台面，其安装有前后移动导轨，该下支撑台面后端设置有支承柱结构；
[0007]通过前后滑动支架而设于下支撑台面的上支撑台面，所述前后滑动支架设置有与前后移动导轨配合的前后导向槽，所述前后滑动支架上部设置有左右滑动导向凹槽，所述上支撑台面的下表面通过设置左右滑动导轨而安装于左右滑动导向凹槽中；
[0008]设于上支撑台面的试样承载台，其后部设置有后试样压紧块，所述试样承载台前部设置有试样压紧装置，所述试样压紧装置包括可朝向试样压紧块方向移动的前试样压紧块、设于前试样压紧块的夹紧调节螺杆组件、设于夹紧调节螺杆尾部的压紧旋钮，该夹紧调节螺杆组件具有安装于试样承载台延伸部的承载块；
[0009]设于试样承载台的X向调整机构，其包括设于试样承载台左前侧的X向调整旋钮、安装于X向调整旋钮下部的X向调整蜗杆、与X向调整蜗杆配合而使试样承载台在X方向上调整的X向调整蜗轮，该X向调整蜗轮的蜗轮轴安装于X向调整结构承载支架；
[0010]设于X向调整结构承载支架且可随X向调整蜗轮的蜗轮轴转动的Y向调整机构，其包括设于试样承载台右前侧的Y向调整旋钮、与Y向调整旋钮配合的Y向调整蜗杆、与Y向调整蜗杆配合而使试样承载台在Y方向上调整的Y向调整蜗轮，该Y向调整蜗轮的蜗轮轴连接于板状结构；
[0011]设于承载块处且可将承载块锁紧的锁紧装置，其包括锁紧旋钮、连接于锁紧旋钮且可朝向试样承载台延伸部移动而将承载块锁紧的锁紧螺杆。
[0012]所述上支撑台面设置有将其与下支持台面之间进行锁定的锁定机构。
[0013]所述后试样压紧块表面设置有滚花结构。
[0014]所述试样承载台延伸部设置有与锁紧螺杆配合的齿状结构。
[0015]本实用新型具有如下有益效果:现在试样压紧是固定的，这种机构能在压紧的前提下能进行试样的三维可调，解决了由于试样调整而造成的金相结果的偏差。
[0016]整个检测机构结构简洁，制造成本较低。
【附图说明】
[0017]图1为用于检测金相样品的检测机构主视图。
[0018]图2为用于检测金相样品的检测机构后视图。
[0019]图3为用于检测金相样品的检测机构左视图。
[0020]图4为用于检测金相样品的检测机构右视图。
[0021]图5为用于检测金相样品的检测机构俯视图。
[0022]图6为用于检测金相样品的检测机构立体图一。
[0023]图7为用于检测金相样品的检测机构立体图二。
【具体实施方式】
[0024]为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。
[0025]如无特别说明，本案的X正方向为自右向左，Y正方向为从后到前。
[0026]如图1-7所示，用于检测金相样品的检测机构，其包括检测机构部分以及试样放置平台结构，该试样放置平台结构包括:下支撑台面1，其安装有前后移动导轨2，该下支撑台面后端设置有支承柱结构3，该支承柱结构上方设置相应的金相样品的检测机构部分(其属于公知的现有技术，在此不加以赘述)，本案的重点在于放置检测样品的样品置放结构，因此，下文对于样品置放结构进行详述。
[0027]其中，通过前后滑动支架而设于下支撑台面的上支撑台面4，所述前后滑动支架设置有与前后移动导轨配合的前后导向槽，所述前后滑动支架上部设置有左右滑动导向凹槽5，所述上支撑台面的下表面通过设置左右滑动导轨6而安装于左右滑动导向凹槽中。
[0028]设于上支撑台面的试样承载台7，其后部设置有后试样压紧块8，所述后试样压紧块表面设置有滚花结构。所述试样承载台前部设置有试样压紧装置，所述试样压紧装置包括可朝向试样压紧块方向移动的前试样压紧块9、设于前试样压紧块的夹紧调节螺杆组件
10、设于夹紧调节螺杆尾部的压紧旋钮11，所述夹紧调节螺杆组件的夹紧调节螺杆通过调节座进行安装，该调节座内设与夹紧调节螺杆配合的螺纹孔，该夹紧调节螺杆组件具有安装于试样承载台延伸部的承载块。
[0029]设于试样承载台的X向调整机构，其包括设于试样承载台左前侧的X向调整旋钮
12、安装于X向调整旋钮下部的X向调整蜗杆、与X向调整蜗杆配合而使试样承载台在X方向上调整的X向调整蜗轮，该X向调整蜗轮的蜗轮轴安装于X向调整结构承载支架P，通过涡杆推动涡轮旋转来推动承载台在X方向的调整。该X向调整蜗轮采用非整体结构，而只采用了整个结构的部分，该部分呈扇形结构。
[0030]设于X向调整结构承载支架且可随X向调整蜗轮的蜗轮轴转动的Y向调整机构，其包括设于试样承载台右前侧的Y向调整旋钮13、与Y向调整旋钮配合的Y向调整蜗杆、与Y向调整蜗杆配合而使试样承载台在Y方向上调整的Y向调整蜗轮，该Y向调整蜗轮的蜗轮轴连接于板状结构B，整个试样承载台是位于该板状结构之上的，通过涡杆推动涡轮旋转来推动承载台在Y方向的调整，由于采用了涡轮结构，保证了旋转的单向性，承载台受到外力而不发生偏移。
[0031]设于承载块处且可将承载块锁紧的锁紧装置，其包括锁紧旋钮14、连接于锁紧旋钮且可朝向试样承载台延伸部移动而将承载块锁紧的锁紧螺杆，所述试样承载台延伸部设置有与锁紧螺杆配合的齿状结构。
[0032]所述上支撑台面设置有将其与下支持台面之间进行锁定的锁定机构15。
[0033]以上所述仅为本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅限于上述实施方式，凡是属于本实用新型原理的技术方案均属于本实用新型的保护范围。对于本领域的技术人员而言，在不脱离本实用新型的原理的前提下进行的若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.用于检测金相样品的检测机构，其包括检测机构部分以及试样放置平台结构，其特征在于，该试样放置平台结构包括: 下支撑台面，其安装有前后移动导轨，该下支撑台面后端设置有支承柱结构； 通过前后滑动支架而设于下支撑台面的上支撑台面，所述前后滑动支架设置有与前后移动导轨配合的前后导向槽，所述前后滑动支架上部设置有左右滑动导向凹槽，所述上支撑台面的下表面通过设置左右滑动导轨而安装于左右滑动导向凹槽中； 设于上支撑台面的试样承载台，其后部设置有后试样压紧块，所述试样承载台前部设置有试样压紧装置，所述试样压紧装置包括可朝向试样压紧块方向移动的前试样压紧块、设于前试样压紧块的夹紧调节螺杆组件、设于夹紧调节螺杆尾部的压紧旋钮，该夹紧调节螺杆组件具有安装于试样承载台延伸部的承载块； 设于试样承载台的X向调整机构，其包括设于试样承载台左前侧的X向调整旋钮、安装于X向调整旋钮下部的X向调整蜗杆、与X向调整蜗杆配合而使试样承载台在X方向上调整的X向调整蜗轮，该X向调整蜗轮的蜗轮轴安装于X向调整结构承载支架； 设于X向调整结构承载支架且可随X向调整蜗轮的蜗轮轴转动的Y向调整机构，其包括设于试样承载台右前侧的Y向调整旋钮、与Y向调整旋钮配合的Y向调整蜗杆、与Y向调整蜗杆配合而使试样承载台在Y方向上调整的Y向调整蜗轮，该Y向调整蜗轮的蜗轮轴连接于板状结构； 设于承载块处且可将承载块锁紧的锁紧装置，其包括锁紧旋钮、连接于锁紧旋钮且可朝向试样承载台延伸部移动而将承载块锁紧的锁紧螺杆。2.根据权利要求1所述的用于检测金相样品的检测机构，其特征在于，所述上支撑台面设置有将其与下支持台面之间进行锁定的锁定机构。3.根据权利要求1所述的用于检测金相样品的检测机构，其特征在于，所述后试样压紧块表面设置有滚花结构。4.根据权利要求1所述的用于检测金相样品的检测机构，其特征在于，所述试样承载台延伸部设置有与锁紧螺杆配合的齿状结构。
【专利摘要】本实用新型公开了用于检测金相样品的检测机构，其包括检测机构部分以及试样放置平台结构，该试样放置平台结构包括：下支撑台面，其设有前后移动导轨；通过前后滑动支架而设于下支撑台面的上支撑台面；设于上支撑台面的试样承载台，其后部设置有后试样压紧块，试样承载台前部设置有试样压紧装置，所述试样压紧装置包括可朝向试样压紧块方向移动的前试样压紧块、设于前试样压紧块的夹紧调节螺杆组件、设于夹紧调节螺杆尾部的压紧旋钮；设于试样承载台的X向调整机构、Y向调整机构。现在试样压紧是固定的，这种机构能在压紧的前提下能进行试样三维可调，解决了由于试样调整而造成的金相结果的偏差。
【IPC分类】G01N21/84
【公开号】CN204903408
【申请号】CN201520162211
【发明人】陆亮
【申请人】上海航空发动机制造股份有限公司
【公开日】2015年12月23日
【申请日】2015年3月15日