一种试样应变直接测量装置的制造方法_3

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际上位两凸台的中屯、之间距 离的变化),运样,可W减小误差,提高测量数据的准确度。
[0101] 本步骤中,将所述样品固定在牵引装置上时,应当将所述样品对中放置,也即是需 要将所述牵引装置对所述样品施加力的位置在所述样品的中屯、轴线上,运样,所述牵引装 置对所述样品施加力时,所述样品的需要测量部位仅产生伸长或压缩的正应力,而不会产 生切应力,避免了切应力对测量数据的干扰,减小了切应力造成的误差,提高了测量数据的 准确度。
[0102] 步骤c,将引导卡具的一端卡接固定在所述凸台上,另一端固定刚性的引导杆,并 使所述引导杆与样品平行,将所述引导杆插入位移传感器中,且插入部分在所述位移传感 器的测量范围内;
[0103] 所述位移传感器优选为LVDT位移传感器。
[0104] 所述引导卡具、所述引导杆和所述位移传感器各有两个,分别对应两个所述凸台。
[0105] 所述刚性的引导杆,使得引导杆的不易变形,可W减小引导杆在介质环境中形变 造成的误差,提高测量数据的准确度。
[0106] 所述引导杆与样品平行,运样,随着所述样品发生形变,所述引导杆会同步沿形变 方向移动,其移动的位移(实际为两位移之差)与所述形变值保持一致,引导杆与样品平行, 则引导杆沿其轴线方向移动,运样,插入LVDT位移传感器中后(竖直插入而不是斜着插入), 端部的移动为竖直移动化VDT测量的是端部在竖直方向上的位移),其位移可W通过LVDT 测量出来,运样就减小了误差,提高了测量数据的准确度;若引导杆与样品不平行,则会造 成测量结果不准确或引导杆触碰LVDT内壁等情况,影响最终的测量结果。
[0107] 卡具夹持部分内侧形状,凸台外侧形状,与在所述试样应变直接测量装置的实施 例六、屯、八中记录的相同。
[0108] 所述引导杆插入引导卡具的钻孔中,并通过锁紧件锁紧,运样可W对引导杆上与 引导卡具固定位置到端部的长度进行调整。
[0109] 调节所述引导杆与所述引导卡具固定的位置,使所述引导杆插入所述LVDT位移传 感器中的端部在所述LVDT位移传感器的测量范围内,运样可W对引导杆的位移进行准确测 量,防止超出测量范围后不能对位移进行测量或对位移的测量数据出错。
[0110] 步骤d,将所述样品置于介质环境中,启动所述牵引装置对所述样品进行牵引,记 录所述位移传感器的测量值;
[0111] 所述牵引为压缩或拉伸。
[0112] 所述介质环境为高溫高压腐蚀等介质环境,包括高溫环境、高压环境、腐蚀环境及 其组合,W及其他包括不同流体环境在内的对样品的应变有影响的环境,在运些环境中,样 品应变受到环境影响,对样品应变的测量也会因为测量方法、装置的不同产生误差。
[0113] 步骤e,计算所述样品的应变值。
[0114] 计算所述样品的应变绝对值,并根据所述样品被拉伸或被压缩,确定所述应变值 为正值或负值。运样,通过应变值可W直接确定应变的具体数值,还可W确定是拉伸产生的 应变或压缩产生的应变。
[0115] 运样,(通过所述凸台)可W对需要测量部位进行直接测量,最后得到的形变与需 要测量部位的形变相同,不需要进行总结换算,运样就消除了间接测量的换算造成的误差, 提高了测量数据的准确度,与间接测量方法相比,该测量方法更直接、测量数据精度高,对 于试验结果对应变非常敏感的相关试验来说,该测量准确度的提高可W显著影响相关试验 的研究结论。
[0116] 实施例十四
[0117] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法,本实施例与其不同之处在 于,两个所述凸台与所述样品是分体的;在需要测量部位的两端增加凸台,是指对样品进行 加工时,先加工样品,然后在所述样品需要测量部位的两端安装两个所述凸台,运样,不需 要在加工前就确定需要测量部位,更加灵活且适用范围广。
[0118] 实施例十五
[0119] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法,本实施例与其不同之处在 于,所述步骤d中,所述记录所述位移传感器的测量值,为记录一个所述位移传感器在所述 样品被牵引前的读数doi、被在所述样品被牵引后的读数d〇2,W及另一个所述位移传感器在 所述样品被牵引前的读数化1、被在所述样品被牵引后的读数化2。
[0120] 相应的,所述步骤e中,所述应变绝对值的计算公式为:
[0121]
[0122] 式中,S为所述样品的应变绝对值,doi、d〇2分别为一个位移传感器在样品被牵引 前、被牵引后的读数;化、化汾别为另一个位移传感器在样品被牵引前、被牵引后的读数;1 为两凸台之间的间距。
[0123] 通过该公式直接计算得出所述样品的应变绝对值,直接方便,运算速度快,且公式 简单,减少了对系统资源的占用。
[0124] 实施例十六
[0125] 如上述所述的在介质环境中直接测量试样应变的方法,本实施例与其不同之处在 于,所述步骤d中,在所述牵引装置对所述样品进行牵引前,将两个所述位移传感器的读数 调为相同值,并分别记录两个所述位移传感器在所述样品被牵引后的读数do、化。运样,仅 需要测量所述样品被牵引后所述位移传感器的读数,减小了需要测量的数据(相比较实施 例十五),减小了所述位移传感器的机械问题引起的误差,提高了测量数据的准确度。
[0126] 本实施例中,优选为将两个所述位移传感器的读数清零(调为零值)。
[0127] 相应的,所述步骤e中,所述应变绝对值的计算公式为:
[012 引
[0129] 式中,S为所述样品的应变绝对值,do、dt分别为两个位移传感器在样品被牵引后 的读数;1为两凸台之间的间距。
[0130] 通过该公式直接计算得出所述样品的应变绝对值,直接方便,运算速度快,且公式 简单,减少了对系统资源的占用。
[0131] W上所述仅为本实用新型的较佳实施例,对本实用新型而言仅仅是说明性的,而 非限制性的。本专业技术人员理解,在本实用新型权利要求所限定的精神和范围内可对其 进行许多改变,修改,甚至等效,但都将落入本实用新型的保护范围内。
[0132] 尽管本文较多地使用了样品1、引导件2、测量件3、引导卡具21、引导杆22、钻孔 211、锁紧件212、凸台10、上凸台11、下凸台12、牵引件4、固定端13等术语,但并不排除使用 其它术语的可能性。使用运些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质;把 它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
【主权项】
1. 一种试样应变直接测量装置,其特征在于,包括: 一样品,该样品在需要测量部位两端具有凸台; 一引导件,一端卡接在所述凸台上,另一端连接一测量件; 所述测量件,与所述引导件的一端连接并测量该端的位移值。2. 根据权利要求1所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述引导件与测量件连 接的一端与所述样品的轴线平行。3. 根据权利要求1或2所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述测量件为位移 传感器,所述引导件与所述测量件连接的一端插入所述位移传感器。4. 根据权利要求3所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述引导件包括: 一引导卡具,一端与所述凸台卡接,另一端与一引导杆固定连接; 所述引导杆,一端与所述引导卡具固定连接,另一端插入所述位移传感器;所述引导杆 上与所述引导卡具固定连接的位置可变。5. 根据权利要求4所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述引导杆为刚性杆。6. 根据权利要求4所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述引导卡具具有一钻 孔和一锁紧件,所述引导杆插入该钻孔中,所述锁紧件锁紧所述引导杆。7. 根据权利要求4所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述凸台包括一上凸台 和一下凸台;所述引导卡具、所述引导杆和所述位移传感器的数量均为两个,分别与所述上 凸台、所述下凸台对应。8. 根据权利要求4所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述引导卡具的夹持头 的内侧面/所述凸台的外侧面具有两伸出端,所述凸台的外侧面/所述夹持头的内侧面的对 应位置具有两倾斜面。9. 根据权利要求8所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述夹持头的内侧面为 矩形凹槽/锥形凸起,所述凸台的外侧面为锥形凸起/矩形凹槽。10. 根据权利要求8所述的试样应变直接测量装置,其特征在于,所述夹持头的内侧面 为锥形凹槽/矩形凸起,所述凸台的外侧面为矩形凸起/锥形凹槽。
【专利摘要】本实用新型提供一种试样应变直接测量装置,其包括:一样品,该样品在需要测量部位两端具有凸台;一引导件,一端卡接在所述凸台上,另一端连接一测量件;所述测量件,与所述引导件的一端连接并测量该端的位移值。这样,可以对试样(样品)需要测量部位的形变进行直接测量,消除间接测量时因无明确的一一对应关系而造成的误差,提高测量的准确性。
【IPC分类】G01N17/00, G01B7/16
【公开号】CN205333489
【申请号】CN201620082824
【发明人】钟巍华, 佟振峰, 宁广胜, 鱼滨涛
【申请人】中国原子能科学研究院
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2016年1月28日
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