一种适于rfid阅读器的过温保护的方法
【专利摘要】本发明公开了一种适于RFID阅读器的过温保护的方法，包括如下步骤：在RFID阅读器中的电路上增加带隙温度检测电路；基于带隙温度检测电路检测位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE电压；基于基集电极电压VBE电压获取带隙温度检测电路上的带隙基准电压ΔVBE值；基于ΔVBE与温度的线性关系判断RFID阅读器上的带隙基准电压ΔVBE值是否超过过温电压值；如果超过过温电压值则进行复位操作或者休眠RFID阅读器芯片。通过本发明实施例，可以解决RFID阅读器工作环境温度过高，实现整个电路的保护，从而可以引起复位操作或者RFID阅读器芯片，从而保障整个RFID阅读器不至于在高温环境下受损。
【专利说明】一种适于RFID阅读器的过温保护的方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及RFID【技术领域】，具体涉及一种适于RFID阅读器的过温保护的方法。
【背景技术】
[0002] 射频识别（RadfoFrequencyldentification，简称RFID)技术是一种非接触式的 自动识别技术，它通过电磁波或电感祸合方式传递信号，以完成对目标对象的自动识别。与 条形码、磁卡、接触式IC卡等其它自动识别技术相比，即RFID技术具有识别过程无须人工 干预、可同时识别多个目标、信息存储量大、可工作于各种恶劣环境等优点。因此，RFID技术 已经被广泛地应用于固定资产管理、生产线自动化、动物和车辆识别、公路收费、门禁系统、 仓储、商品防伪、航空包裹管理、集装箱管理等领域。典型的射频识别系统可以分为标签、阅 读器和后端数据处理系统三个部分。
[0003] 由于RFID阅读器和卡片工作的环境多样化，其对整个环境适应性不同，整个RFID 阅读器等设备收时承受的环境温度影响力有限，需要而整个需要引入温度检测和过温保护 系统，避免RFID阅读器中的芯片过温受损。
【发明内容】
[0004] 针对现有技术中的不足，为了防止温度过高或者过低而导致芯片不工作出错，本 发明提供了一种适于RFID阅读器的过温保护的方法，通过精准检测RFID温度过高而导致 的芯片受损。
[0005] 本发明提供了一种适于RFID阅读器的过温保护的方法，包括如下步骤：
[0006] 在RFID阅读器中的电路上增加带隙温度检测电路；
[0007] 基于带隙温度检测电路检测位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE 电压；
[0008] 基于基集电极电压VBE电压获取带隙温度检测电路上的带隙基准电压Λ VBE值； [0009] 基于AVBE与温度的线性关系判断RFID阅读器上的带隙基准电压AVBE值是否 超过过温电压值；
[0010] 如果超过过温电压值则进行复位操作或者休眠 RFID阅读器芯片。
[0011] 所述方法还包括：
[0012] 预先在RFID阅读器中设置过温电压值，所述过温电压值为影响到RFID阅读器芯 片的一个阈值数。
[0013] 所述带隙温度检测电路为：工作在不同电流下的双极晶体管。
[0014] 所述双极晶体管完全相同。
[0015] 所述方法还包括：如果带隙基准电压AVBE值没有超过过温电压值，则实时基于 带隙温度检测电路检测位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE电压。
[0016] 在本发明针对实际的RFID电路，在RFID阅读器中引入一个带隙温度检测电路，通 过该带隙温度检测电路检测位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE电压，以及 根据计算出的带隙基准电压Δ VBE值与过温电压值的比较就可以判断整个RFID阅读器上 的温度是否超标，从而可以解决RFID阅读器工作环境温度过高，实现整个电路的保护，从 而可以引起复位操作或者RFID阅读器芯片，从而保障整个RFID阅读器不至于在高温环境 下受损。
【专利附图】
【附图说明】
[0017] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以 根据这些附图获得其它的附图。
[0018] 图1是本发明实施例中的带隙基准源PTAT电路原理图；
[0019] 图2是本发明实施例中的适于RFID阅读器的过温保护的方法流程图；
[0020] 图3是本发明实施例中的适于RFID阅读器中的带隙基准源PTAT电路原理图。
【具体实施方式】
[0021] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它 实施例，都属于本发明保护的范围。
[0022] 首先结合图 1 中的带隙基准源 PTAT (Proportional to Absolute Temperature) 电压产生原理作个简单说明，两个工作在不同的电流下的双极晶体管的VBE与温度成正比 两个双极晶体管完全相同，它们的工作电流分别为nIO和10,则根据VBE的公式可以计算出 Δ VBE的值为：
【权利要求】
1. 一种适于RFID阅读器的过温保护的方法，其特征在于，包括如下步骤： 在RFID阅读器中的电路上增加带隙温度检测电路； 基于带隙温度检测电路检测位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE电压； 基于基集电极电压VBE电压获取带隙温度检测电路上的带隙基准电压A VBE值； 基于A VBE与温度的线性关系判断RFID阅读器上的带隙基准电压A VBE值是否超过 过温电压值； 如果超过过温电压值则进行复位操作或者休眠RFID阅读器巧片。
2. 如权利要求1所述的适于RFID阅读器的过温保护的方法，其特征在于，所述方法还 包括： 预先在RFID阅读器中设置过温电压值，所述过温电压值为影响到RFID阅读器巧片的 一个阔值数。
3. 如权利要求2所述的适于RFID阅读器的过温保护的方法，其特征在于，所述带隙温 度检测电路为；工作在不同电流下的双极晶体管。
4. 如权利要求3所述的适于RFID阅读器的过温保护的方法，其特征在于，所述双极晶 体管完全相同。
5. 如权利要求1至4任一项所述的适于RFID阅读器的过温保护的方法，其特征在于， 所述方法还包括： 如果带隙基准电压A VBE值没有超过过温电压值，则实时基于带隙温度检测电路检测 位于运算放大器上高增益节点的基集电极电压VBE电压。
【文档编号】G05F1/569GK104460813SQ201410635525
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年11月12日 优先权日:2014年11月12日
【发明者】吴劲, 段志奎, 丁一, 郝志刚, 王德明 申请人:广州中大微电子有限公司, 中山大学, 广州中大数码科技有限公司