本发明属于立方星技术领域，特别是一种立方星姿控分系统调试方法。
背景技术：
近些年，世界范围内立方星研制计划不断涌现。其中越来越多的来自政府、企业、特别是有强大科研实力的学术机构。美国和欧洲已发射大量立方星。
姿控分系统是立方星最关键的分系统之一，姿控分系统部分模块失效，或者姿态确定和控制精度低，都会使卫星基本功能受限，甚至丧失。尤其是对地成像卫星，需要非常高的姿态确定与控制精度，才能完成其功能。
而目前尚没有单位公布可靠的立方星姿控分系统的详细调试步骤，因此制定一份可操作性高，可靠性高的详细调试步骤对于姿控分系统是非常关键的。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种立方星姿控分系统调试方法，可操作性高，条理性强，可靠性高，能保证姿控分系统各个模块较高的性能。
实现本发明目的的技术解决方案为：一种立方星姿控分系统调试方法，其特征在于，方法步骤如下：
步骤1、进行单板调试，包括电装调试、电源调试和信号调试，单板调试对象为姿控计算机、磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪；
步骤2、进行联合调试：将磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪分别与姿控计算机进行联合调试；
步骤3、对整个姿控分系统进行联合调试：将磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪同时与姿控计算机连接。
本发明与现有技术相比，其显著优点：
（1）本发明针对性强。本发明针对立方星姿控系统每个控制和执行模块都有具体的调试方案。
（2）本发明可操作性高。调试方法对各个姿控模块的调试方法非常详细，操作者能容易按照调试步骤对姿控分系统进行调试。
（3）本发明能提高立方星姿控系统可靠性。该调试步骤基本涵盖姿控分系统的所有调试内容，完成该调试步骤后，能保证姿控分系统各个模块较高的性能。
附图说明
图1是本发明立方星姿控分系统调试方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细描述。
结合图1，一种立方星姿控分系统调试方法，方法步骤如下：
步骤1、进行单板调试，包括电装调试、电源调试和信号调试，单板调试对象为姿控计算机、磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪：
所述姿控计算机单板调试，其电装调试是检查板上二极管、晶振、重要芯片的焊接情况，并调试电容和调试电阻的焊接情况。
所述姿控计算机电源调试是首先给姿控计算机供电，用万用表测量各路转压芯片输入、输出引脚电压是否正常，通过串口指令分别给各个部组件供电，并分别用万用表测量各路供电芯片输入、使能和输出引脚电压是否正常。
所述姿控计算机信号调试是通过串口指令分别对磁强计、动量轮和陀螺仪进行spi通信，对磁力矩器三轴分别施加pwm和换向信号，对太敏进行i2c通信，并分别用示波器或者逻辑分析仪来监测各路信号情况。
所述磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪的单板调试，其电装调试是检查板上二极管、转压芯片的焊接情况，并调试电容和调试电阻的焊接情况；电源调试是首先给各个电路板供电，用万用表测量各路转压芯片输入、输出引脚电压是否正常；信号调试是各个电路板分别与开发板连接，通过串口指令分别对磁强计、动量轮和陀螺仪进行spi通信，对磁力矩器三轴分别施加pwm和换向信号，对太敏进行i2c通信，并分别用示波器或者逻辑分析仪来监测各路信号情况。
步骤2、进行联合调试：将磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪分别与姿控计算机进行联合调试：
通过串口指令分别对磁强计、太敏和陀螺仪进行读数，如不正常，则返回步骤1，重复单板调试步骤。
对磁力矩器三轴分别施加不同占空比输入，用万用表测量输出是否正常，如不正常则返回步骤1，重复单板调试步骤。
对动量轮施加不同的转速，并且读取转速信息，如不正确，则返回步骤1，重复单板调试步骤。
步骤3、对整个姿控分系统进行联合调试：将磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪同时与姿控计算机连接：
将磁强计、磁力矩器、动量轮、太敏和陀螺仪同时与姿控计算机连接，通过串口指令分别对磁强计、太敏和陀螺仪进行读数，如不正常，则返回步骤1，重复单板调试步骤。
对磁力矩器三轴分别施加不同占空比输入，用万用表测量输出是否正常，如不正常，则返回步骤1，重复单板调试步骤。
对动量轮施加不同的转速，并且读取转速信息，如不正确，则返回步骤1，重复单板调试步骤。