本实用新型涉及自助设备领域，尤其是一种光学自动对位系统。
背景技术：
电子装置一般具有多种类型的端口，例如D-SUB、DVI、HDMI、USB等，在电子装置出厂前，要先进行端口的功能测试，检测端口的功能或安装是否无误。然而，目前端口的测试往往以人工的方式进行检测，检测的流程是先将连接器与端口结合之后，才能进行后续的测试。耗费大量的人力，且测试时间加长，并且容易造成端口的损坏。
技术实现要素：
为了解决上述现有技术中存在的不足，本实用新型提供一种光学自动对位系统，提高测试效率，减少产品损坏。
本实用新型提供一种光学自动对位系统，包括：
控制单元；
动力单元，电性连接所述控制单元；
电连接器，电性连接所述控制单元，且受所述动力单元的带动而与电子装置的端口结合；
侦测单元，电性连接所述控制单元，具有至少两个相间隔的光学侦测器，每一个所述光学侦测器对所述端口具有光源模组及接收模组，所述光源模组发射红外线，光线在传送的过程中照射到物体上而被反射，反射的光线被所述接收模组接收。
作为优选，所述光学侦测器间隔设置在所述电连接器的周围。
作为优选，所述光学侦测器包括三个，呈三角形的间隔设置在所述电连接器的周围。
作为优选，所述动力单元为电机。
本实用新型提供的一种光学自动对位系统，其有益效果在于：通过可能产生对位公差的X方向上间隔设置两个光学侦测器即能达到精确自动对位的目的，并且避免因基板在允许误差范围内而导致电连接器未正确插入连接端子而导致端口与电连接器的损坏，并有效提升测试流程的效率。
附图说明
图1是本实用新型光学自动对位系统应用状态的立体图；
图2是电子装置的主视图；
图3是光学自动对位系统的原理框图；
图4是电连接器及侦测单元的主视图；
图5是电连接器及侦测单元另一实施例的主视图。
具体实施方式
为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1-2所示，本实施例提出的一种光学自动对位系统，应用于测试电子装置1，电子装置1一般都包括基板11及设于基板11上的端口12，端口12具有连接端子13及连接端子13外围的围绕壁15，以及与围绕壁15连接且裸露在连接端子13外的反射面14，端口12的反射面14与基板11之间在X方向上存在两个相间隔的孔隙16、16`。
如图3、4所示，本申请的自动对位系统2包括控制单元21及动力单元22、电连接器23及侦测单元24，动力单元22、电连接器23及侦测单元24均与控制单元21连接。控制单元21为中央处理器，动力单元22具有电机221及电机221驱动的移动件222。移动件222为一体成型结构，用于设置电连接器23及侦测单元24。电连接器即可受动力单元22的带动而与端口12的连接端子13相结合。侦测单元24具有两个相间隔的光学侦测器241、241`，每一个光学侦测器241、241`具有光源模组242及接收模组243。光源模组242发射红外线，光线在传送的过程中照射到物体上而被反射，反射的光学被接收模组242接收即产生代表光学侦测器241、241`已成功对位该物体的对位信号。
当自动对位系统2相对于电子装置1进行X方向位移，则电连接器23与连接端子13可能具有平行于X方向的对位安装公差，即电连接器23插入连接端子13时，可能会因为X方向的对位误差导致电连接器23无法结合于连接端子13中。因此，需要通过光学侦测器241进行X方向的对位校准。当电连接器23与端口12的对位误差发射在X方向的其中一侧，靠近+X方向的一侧时，电连接器23相对于端口12将突出于+X一侧，则侦测单元24位于+X的一侧的光学侦测器241`所发射的光学只能照射到空隙16`而无法照射到连接端子13的反射面14，因此，光学侦测器241的接收模组243将无法接收到反射的光线。同样的，侦测单元24位于-X一侧的光学侦测器241并不会相对于端口12突出于-X一侧，因此，光学侦测器241发射的光线将能照射到连接端子13的反射面14，且在经过反射之后会由接收模组243接收。此时，侦测单元24将产生对位信号，并将对位信号传送到控制单元21，控制单元21根据对位信号判断电连接器23在+X的一侧并未与端口12对位成功，控制单元21将通过动力单元22带动电连接器23往-X方向移动一段位移，直到光学侦测器241、241`所发射的光线即能照射到连接端子13的反射面14，且在经过反射后可被接收模组243接收。侦测单元24产生的对位信号经过控制单元21的判断即能确定电连接器23与端口12对位成功。控制单元21将通过动力单元22带动电连接器23插接于连接端子13以完成自动对位，并可进行后续的测试。
本系统通过可能产生对位公差的X方向上间隔设置两个光学侦测器241、241`即能达到精确自动对位的目的，并且避免因基板11在允许误差范围内而导致电连接器23未正确插入连接端子13而导致端口12与电连接器23的损坏，并有效提升测试流程的效率。
当然，如图5所示，本系统的光学侦测器可设置三个，呈三角形间隔设置在电连接器的周围，已完成更精确的自动对位。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。