工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质与流程

1.本发明涉及自动化领域，具体而言，涉及一种工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质。


背景技术：

2.各类工业系统的稳定运行离不开对关键工艺指标的稳定控制，生产扰动会造成指标偏离，一般可采取pid、mpc等控制手段进行修正。但是如果扰动是周期性的，或者由于控制参数设置不合理，扰动激发了控制输出上下振荡，则工艺指标也会出现周期性波动。目前现有技术对于检测预定周期的振荡比较有效，但工艺指标的振荡周期常常是多变的，现有技术不能实现宽频普覆盖。
3.针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现要素：

4.本发明实施例提供了一种工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质，以至少解决由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定的技术问题。
5.根据本发明实施例的一个方面，提供了一种工业系统控制方法，包括：确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态。
6.可选地，依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：依据当前测量值或历史测量值确定基准值；确定历史测量值的预设数量，其中，预设数量为确定目标工艺指标的振幅特征数据时使用的历史测量值的数量；依次读取历史测量值，直到预设数量的历史测量值读取完毕，并在每次读取历史测量值后，计算当前测量值和历史测量值的差值，以及差值的差值绝对值；依据差值和差值绝对值，确定目标工艺指标的振幅特征数据。
7.可选地，依据当前测量值或历史测量值确定基准值包括：将当前测量值作为基准值；以及，将历史测量值的平均值作为基准值。
8.可选地，依据差值和差值绝对值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在每次计算当前测量值和历史测量值的差值之后，计算当前测量值和历史测量值的差值累计值，其中，差值累计值等于历次当前测量值与历史测量值的差值之和；以及，在每次计算当前测量值和历史测量值的差值的差值绝对值之后，计算当前测量值和历史测量值的差值绝对值的累计值，其中，差值绝对值的累计值等于历次测量值与历史测量值的差值之和；依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据。
9.可选地，依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在每次得到差值累计值和差值绝对值的累积值后，依据差值累计值的绝对值，差值绝对值的累计值以及当前已读取的历史测量值的累积数量，计算目标工艺指标的平均振幅；从计算得到的多个平均振幅中确定最大平均振幅，并将最大平均振幅作为目标工艺指标的振幅特征数据。
10.可选地，依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在读取了预设数量个历史测量值后，依据本次读取历史测量值时计算得到的差值累计值的绝对值，差值绝对值的累积值，以及预设数量计算目标工艺指标的平均振幅，并将平均振幅作为目标工艺指标的振幅特征数据。
11.可选地，在确定目标工艺指标的振幅特征数据后，方法还包括：对目标工艺指标的振幅特征数据进行滤波。
12.根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种工业系统控制装置，包括：处理模块，用于确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标；第一计算模块，用于依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；第二计算模块，用于依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；控制模块，用于依据优化后的目标控制器，控制工业系统的工作状态。
13.根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行工业系统控制方法。
14.根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，电子设备包括处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行工业系统控制方法。
15.在本发明实施例中，采用确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态的方式，通过结合当前测量值和历史测量值共同确定目标工艺指标的振幅特征，达到了在扰动的振荡周期不断变化的情况等下准确确定目标工艺指标的振幅特征的目的，从而实现了在扰动的振荡周期不断变化的情况下保证工业系统的稳定运行的技术效果，进而解决了由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定技术问题。
附图说明
16.此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本技术的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
17.图1是根据本发明实施例提供的一种工业系统控制方法的流程示意图；
18.图2是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
19.图3是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
20.图4是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
21.图5是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
22.图6是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
23.图7是根据本发明实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
24.图8是根据本发明实施例提供的一种工业系统控制装置的结构示意图。
具体实施方式
25.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
26.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
27.根据本发明实施例，提供了一种工业系统控制方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
28.图1是根据本发明实施例的工业系统控制方法，如图1所示，该方法包括如下步骤：
29.步骤s102，确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；
30.在本技术的一些实施例中，工业系统在工作时，集成在工业系统上的数据采集模块会以预设频率对所述工业系统进行采样，并将采样得到的采样值按照采样时间保存在存储模块中。其中，上述预设频率可以由用户依据自身需要来自行设定，例如钢厂的工业系统可以每50ms采集依次数据，而化工厂则可以选择每隔1s采集一次数据。
31.步骤s104，依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；
32.在本技术的一些实施例中，依据所述当前测量值和所述历史测量值，确定所述目
标工艺指标的振幅特征数据的具体方法为：依据所述当前测量值或所述历史测量值确定基准值；确定所述历史测量值的预设数量，其中，所述预设数量为确定所述目标工艺指标的振幅特征数据时使用的所述历史测量值的数量；依次读取所述历史测量值，直到所述预设数量的历史测量值读取完毕，并在每次读取所述历史测量值后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值，以及所述差值的差值绝对值；依据所述差值和所述差值绝对值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据。
33.在本技术的一些实施例中，上述依据所述当前测量值或所述历史测量值确定基准值的过程包括以下方式：如图2所示将所述当前测量值作为所述基准值；以及，如图4所示将所述历史测量值的平均值作为所述基准值。
34.在本技术的一些实施例中，依据所述差值和所述差值绝对值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据的方法包括：在每次计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值之后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值累计值，其中，所述差值累计值等于历次所述当前测量值与所述历史测量值的差值之和；以及，在每次计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值的差值绝对值之后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值绝对值的累计值，其中，所述差值绝对值的累计值等于历次所述测量值与所述历史测量值的差值之和；依据所述差值累计值和所述差值绝对值的累计值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据。
35.在本技术的一些实施例中，依据所述差值累计值和所述差值绝对值的累计值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据的具体方式包括：在每次得到所述差值累计值和所述差值绝对值的累积值后，依据所述差值累计值的绝对值，所述差值绝对值的累计值以及当前已读取的所述历史测量值的累积数量，计算所述目标工艺指标的平均振幅；从计算得到的多个平均振幅中确定最大平均振幅，并将所述最大平均振幅作为所述目标工艺指标的振幅特征数据。
36.具体地，在本技术的一些实施例中，确定目标工艺指标的振幅特征数据的流程如图2所示，包括以下流程：
37.第一步，参数复位，包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数清零(n＝0)等。
38.第二步，读取当前测量值(cv)。具体地，相对于以平均值为基准点的计算方法，选择当前测量值作为计算基准点，可以获得更好的控制性能，即振荡波形回到中心点时，计算得到目标工艺指标对应的最大的振幅。
39.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n小于预设的总采样点数s，则跳转到第四步读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数不小于预设的总采样点数s，则结束循环。
40.第五步，计算cvn与cv的偏差(en)。
41.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
42.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不
会相互抵消。
43.第八步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/n)。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
44.第九步，比较本次计算得到的平均振幅和之前循环时得到的平均振幅中的最大平均振幅，如果最大平均振幅(maxavewave)小于(上述计算的)平均振幅(avewave)，则令最大平均振幅(maxavewave)等于平均振幅，否则直接跳转到采样点数累加。筛选得到的最大平均振幅可以显著体现目标工艺指标的振荡特性。
45.第十步，采样点数累加(n＝n+1)，回到第三步，继续循环。
46.在本技术的一些实施例中，依据所述差值累计值和所述差值绝对值的累计值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据包括：在读取了所述预设数量个所述历史测量值后，依据历次读取所述历史测量值时计算得到的所述差值累计值的绝对值，所述差值绝对值的累积值，以及所述预设数量计算所述目标工艺指标的平均振幅，并将所述平均振幅作为所述目标工艺指标的振幅特征数据。
47.在本技术的一些实施例中，如图3所示，在工业系统的运行状况符合要求的情况下，可以通过设置合理的历史测量值数量来取消在每次循环时均计算最大平均振幅，而是直接在循环结束后再统一计算目标工艺指标对应的平均振幅，并将最后计算得到的平均振幅看作是目标工艺指标的振幅特征数据，具体包括以下步骤：
48.第一步，参数复位，包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数清零(n＝0)等。
49.第二步，读取当前测量值(cv)。具体地，相对于以平均值为基准点的计算方法，选择当前测量值作为计算基准点，可以获得更好的控制性能，即振荡波形回到中心点时，计算得到目标工艺指标对应的最大的振幅。
50.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n小于预设的总采样点数s，则跳转到第四步，读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数不小于预设的总采样点数s，则跳转到第九步。
51.第五步，计算cvn与cv的偏差(en)。
52.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
53.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不会相互抵消。
54.第八步，步采样点数累加(n＝n+1)，回到第三步，继续循环。
55.第九步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/n)。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
56.在本技术的一些实施例中，如图4所示，也可以在读取了预设数量个历史测量值后，将上述预设数量个历史测量值的平均值作为基准值来取代本次测量值，具体地包括以
下步骤：
57.第一步，参数复位，包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数清零(n＝0)等。
58.第二步，计算总采样点数为s的多个历史测量值的平均值(avecv)，并将该平均值作为基准值。
59.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n小于预设的总采样点数s，则跳转到第四步读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数不小于预设的总采样点数s，则结束循环。
60.第五步，计算cvn与avecv的偏差(en)。
61.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
62.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不会相互抵消。
63.第八步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/n)。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
64.第九步，比较本次计算得到的平均振幅和之前循环时得到的平均振幅中的最大平均振幅，如果最大平均振幅(maxavewave)小于(上述计算的)平均振幅(avewave)，则令转到第最大平均振幅(maxavewave)等于平均振幅，否则直接跳转到采样点数累加。筛选得到的最大平均振幅可以显著体现目标工艺指标的振荡特性。
65.第十步，步采样点数累加(n＝n+1)，回到第三步，继续循环。
66.在本技术的一些实施例中，如图5所示，为降低计算负荷，如果总采样点数s数值较大，则可以间隔采样，使实际的采样点数与期望的采样点数相近，具体包括如下步骤：
67.第一步，参数复位和计算取点间隔。其中参数复位包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数清零(n＝0)等。计算取点间隔时，假设历史测量值的数量为s，期望的采样点数为t，如果s》2t，则r＝s/t并取整，否则令r＝1。
68.第二步，读取当前测量值(cv)。具体地，相对于以平均值为基准点的计算方法，选择当前测量值作为计算基准点，可以获得更好的控制性能，即振荡波形回到中心点时，计算得到目标工艺指标对应的最大的振幅。
69.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n小于预设的总采样点数s，则跳转到第四步读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数不小于预设的总采样点数s，则结束循环。
70.第五步，计算cvn与cv的偏差(en)。
71.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
72.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不会相互抵消。
73.第八步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/(n/r))。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
74.第九步，比较本次计算得到的平均振幅和之前循环时得到的平均振幅中的最大平均振幅，如果最大平均振幅(maxavewave)小于(上述计算的)平均振幅(avewave)，则令最大平均振幅(maxavewave)等于平均振幅，否则直接跳转到采样点数累加。筛选得到的最大平均振幅可以显著体现目标工艺指标的振荡特性。
75.第十步，步采样点数累加(n＝n+r)，回到第三步，继续循环。
76.在本技术的一些实施例中，如图6所示，在确定所述目标工艺指标的振幅特征数据后，还可以对所述目标工艺指标的振幅特征数据进行滤波，从而得到更加稳定的振幅信息，具体包括以下步骤：
77.第一步，参数复位，包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数清零(n＝0)等。
78.第二步，读取当前测量值(cv)。具体地，相对于以平均值为基准点的计算方法，选择当前测量值作为计算基准点，可以获得更好的控制性能，即振荡波形回到中心点时，计算得到目标工艺指标对应的最大的振幅。
79.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n小于预设的总采样点数s，则跳转到第四步读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数不小于预设的总采样点数s，则结束循环并跳转到第十一步。
80.第五步，计算cvn与cv的偏差(en)。
81.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
82.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不会相互抵消。
83.第八步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/n)。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
84.第九步，比较本次计算得到的平均振幅和之前循环时得到的平均振幅中的最大平均振幅，如果最大平均振幅(maxavewave)小于(上述计算的)平均振幅(avewave)，则令最大平均振幅(maxavewave)等于平均振幅，否则直接跳转到采样点数累加。筛选得到的最大平均振幅可以显著体现目标工艺指标的振荡特性。
85.第十步，步采样点数累加(n＝n+1)，回到第三步，继续循环。
86.第十一步，对最大平均振幅进行滤波，得到滤波后的最大平均振幅(maxavewavefilt)。
87.在本技术的一些实施例中，如图7所示，在读取历史测量值时可以使用与图2中所示的历史测量值读取顺序相反的顺序来读取历史测量值，具体包括以下步骤：
88.第一步，参数复位，包括偏差累积值清零(sumen＝0)、偏差绝对值累积值清零(sumabsen＝0)、最大平均振幅清零(maxavewave＝0)、采样点数置位(n＝总采样点数s)等。
89.第二步，读取当前测量值(cv)。具体地，相对于以平均值为基准点的计算方法，选择当前测量值作为计算基准点，可以获得更好的控制性能，即振荡波形回到中心点时，计算得到目标工艺指标对应的最大的振幅。
90.第三步，确定当前已读取的采样点的数量n，如果采样点数n大于0，则跳转到第四步读取n点之前的历史测量值(cvn),历史测量值的记录可以由软件平台统一记录，或者由算法在内存中按顺序保存。如果采样点数n不大于0，则结束循环。
91.第五步，计算cvn与cv的偏差(en)。
92.第六步，计算偏差累积值(sumen＝sumen+en)。具体地，发生振荡时，偏差有正有负，偏差累积计算时会相互抵消，如果未发生振荡，则偏差累积计算时不会相互抵消。
93.第七步，计算偏差绝对值累积值(sumabsen＝sumabsen+abs(en))。具体地，首先对偏差(en)进行绝对值计算，再进行累积，则无论是否发生振荡，偏差绝对值的累积计算都不会相互抵消。
94.第八步，计算平均振幅(avewave＝(sumabsen-abs(sumen))/n)。具体地，可以用偏差绝对值累积值减去偏差累积值的绝对值，再除以累积次数n，得到当前累积次数的平均振幅(avewave)，如果未出现振荡，平均振幅等于0，如果出现振荡，平均振幅大于0。
95.第九步，比较本次计算得到的平均振幅和之前循环时得到的平均振幅中的最大平均振幅，如果最大平均振幅(maxavewave)小于(上述计算的)平均振幅(avewave)，则令最大平均振幅(maxavewave)等于平均振幅，否则直接跳转到采样点数累加。筛选得到的最大平均振幅可以显著体现目标工艺指标的振荡特性。
96.第十步，步采样点数累加(n＝n-1)，回到第三步，继续循环。
97.步骤s106，依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；
98.在本技术的一些实施例中，上述目标控制器可以是pid控制器或mpc控制器。
99.步骤s108，依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态。
100.通过采用确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态的方式，通过结合当前测量值和历史测量值共同确定目标工艺指标的振幅特征，达到了在扰动的振荡周期不断变化的情况等下准确确定目标工艺指标的振幅特征的目的，从而实现了在扰动的振荡周期不断变化的情况下保证工业系统的稳定运行的技术效果，进而解决了由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定技术问题。
101.根据本发明实施例，提供了一种工业系统控制装置的装置实施例。图8是根据本发
明实施例提供的工业系统控制装置，如图8所示，该装置包括：处理模块80，用于确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标；第一计算模块82，用于依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；第二计算模块84，用于依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；控制模块86，用于依据优化后的目标控制器，控制工业系统的工作状态。
102.需要说明的是，图8中所示的工业系统控制装置可用于执行图1中所示的工业系统控制方法，因此，对图1中所示的工业系统控制方法的相关解释说明也适用于图8中所示的工业系统控制装置中。
103.根据本发明实施例，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行如下工业系统控制方法：处理模块，用于确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标；第一计算模块，用于依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；第二计算模块，用于依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；控制模块，用于依据优化后的目标控制器，控制工业系统的工作状态。
104.根据本发明实施例，提供了一种电子设备，电子设备包括处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行如下工业系统控制方法：处理模块，用于确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标；第一计算模块，用于依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；第二计算模块，用于依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；控制模块，用于依据优化后的目标控制器，控制工业系统的工作状态。
105.上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
106.在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
107.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。
108.所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
109.另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
110.所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用
时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
111.以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。