专利名称：一种冲击减速度测试仪的制作方法
专利说明
一、技术领域本实用新型涉及一种矿井提升容器的冲击减速度测试仪，更具体地说是一种用于测试矿井提升容器测试其过卷缓冲、过放缓冲、防撞、托罐、罐笼承接、防坠器实验等工况的减速度的专用仪器。
二背景技术：
现有的矿井提升容器的冲击减速度测试仪器只能在现场测试，在试验架上将提升容器提升到一定高度后，通过将容器自由放下后，测出容器在缓冲过程中下滑的距离，然后将数据采集后，回到实验室，通过人工或计算机计算后测出，这种仪器，不能进行实时采样，数据在测量过程中有误差，速度慢。
三、技术内容1.发明目的本实用新型的目的是提供一种能实时采样、数据准确、运行速度快的冲击减速度测试仪。
2.技术方案本实用新型的目的可以通过以下方式实现一种冲击减速度测试仪，包括有加速度传感器，其检测到的信号经信号处理模块转化成单片机可接受的电压信号，该信号从A/D接口进入单片机，单片机设置成八位数据总线、十六位地址总线方式，单片机的一路信号分别缓送至锁存器、程序存贮器和非易失数据存贮器；锁存器的输出信号分别送到程序存贮器和非易失数据存贮器。单片机的另一路信号分别送至键盘显示器、程序存贮器非易失数据存贮器和并行I/O接口，并行I/O接口接打印机，键盘显示器接口分别接显示器和键盘。
3.技术效果本实用新型与现有技术相比具有如下优点该减速度测试仪能实时采样，数据精确，运行速度快，能适应现场快速冲击试验要求。工作性能稳定可靠，抗干扰能力强，测试方便快速。
四
附图1是本实用新型的原理框图。
附图2是本实用新型的电路图。
五具体实施方式
下面参照附图对本实用新型作进一步详述参照附图1所示图1展示了冲击减速度测试仪的原理框图。
一种冲击减速度测试仪，包括有加速度传感器1，其检测到的信号经信号处理模块2转化成单片机3(80C196)可接受的电压信号，该信号从A/D接口进入单片机3，单片机3设置成八位数据总线、十六位地址总线方式，单片机3的一路信号分别缓送至锁存器4(74LS373)、程序存贮器5(27256)和非易失数据存贮器6(28250)；锁存器4的输出信号分别送到程序存贮器5和非易失数据存贮器6。单片机3的另一路信号分别送至键盘显示器8(8279)、程序存贮器5非易失数据存贮器6和并行I/O接口7(8255)，并行I/O接口7接打印机11，键盘显示器接口8分别接显示器9和键盘10。
参照附图2所示图2展示了冲击减速度测试仪原理图。
一种减速度测试仪包括有加速度传感器1，其检测到的加速度信号经信号处理模块2至16位CPU(MCS-96系列)IC2的4端，IC2的67、66端之间短接电容C4和分别经电容C2、C3后接地，六反相器IC1(74LS14)的3端经电阻R1后接+5V电源，IC1的3端还分别经复位开关K1、电阻R2和电容C1后短接，IC1的2端接IC2的16端，IC1的1、4端短接后，一路至可编程外围并行接口(8255)IC6的35端，另一路至IC9的9端，IC2的63端经电阻R3接+5V电源，IC2的2、64端接地，IC2的40、61端短接后，一路接可编程键盘显示接口(8279)IC9的10、11端，另一路分别接EPROM程序存储器(27256)IC4的22端和非易失性数据存储器(28256)IC5的22、27端以及IC6的5、36端，IC2的53～60端短接后分五路，一路接至八D锁存器(74LS373)IC3的3、4、7、8、13、14、17、18端，二路接至IC4的11～19端，三路接至IC5的11～19端，四路接至可编程外围并行接口(8255)IC6的27～34端，五路接IC9的12～19端，IC2的45～52端短接后分四路，一路接IC3的2、5、6、9、12、15、16、19端，二路接至IC4的2～10、20、21、23～27端，三路接IC5的1～10、21、23～26端，四路接至IC6的8、9端，IC2的62端分别接IC3的11端和IC9的9端，IC3的1端接地，IC2的45～52端短接后一路接双2-4线译码器(74LS139)IC7的2、3端，另一路接双2-4线译码器(74LS139)IC8的13、14端，IC7的1端接地，IC7的6端接IC5的20端，IC7的7端接IC8的15端，IC8的12端接IC6的6端，IC8的11端接IC9的22端，IC6的13、14、18～25端接后至打印机11，IC9的24～31端接后一路至六反相缓冲器(74LS06)IC10的1、3端，另一路至六反相缓冲器(74LS06)IC11的1、3、5、9、11、13端，IC9的23、32～34端接后接译码器(74LS138)IC12的1～3、6端，IC9的2、5～7端端接后，一路分别经电阻R4、R5、R6后接+5V电源，另一路至键盘10，IC10的2、4端接后一路接IC11的2、4、6、8、10、12端，另一路分别接至显示器9和键盘10，IC12的4、5端接地，IC12的7、9～15端短接后，分别接至二驱动器(75451)IC13、IC14、IC15、IC16的1、2、4、5端，IC13、IC14、IC15、IC16的3、6端短接相连后分别至显示器9和键盘10。
权利要求1.一种冲击减速度测试仪包括有加速度传感器(1)，其检测到的加速度信号经信号处理模块(2)至16位CPUIC2的4端，其特征在于IC2的4端，IC2的67、66端之间短接电容C4和分别经电容C2、C3后接地，六反相器IC1的3端经电阻R1后接+5V电源，IC1的3端还分别经复位开关K1、电阻R2和电容C1后短接，IC1的2端接IC2的16端，IC1的1、4端短接后，一路至可编程外围并行接口IC6的35端，另一路至IC9的9端，IC2的63端经电阻R3接+5V电源，IC2的2、64端接地，IC2的40、61端短接后，一路接可编程键盘/显示接口IC9的10、11端，另一路分别接EPROM程序存储器IC4的22端和非易失性数据存储器IC5的22、27端以及IC6的5、36端，IC2的53～60端短接后分五路，一路接至八D锁存器IC3的3、4、7、8、13、14、17、18端，二路接至IC4的11～19端，三路接至IC5的11～19端，四路接至可编程外围并行接口IC6的27～34端，五路接IC9的12～19端，IC2的45～52端短接后分四路，一路接IC3的2、5、6、9、12、15、16、19端，二路接至IC4的2～10、20、21、23～27端，三路接IC5的1～10、21、23～26端，四路接至IC6的8、9端，IC2的62端分别接IC3的11端和IC9的9端，IC3的1端接地，IC2的45～52端短接后一路接双2-4线译码器IC7的2、3端，另一路接双2-4线译码器IC8的13、14端，IC7的1端接地，IC7的6端接IC5的20端，IC7的7端接IC8的15端，IC8的12端接IC6的6端，IC8的11端接IC9的22端，IC6的13、14、18～25端接后至打印机(11)，IC9的24～31端接后一路至六反相缓冲器IC10的1、3端，另一路至六反相缓冲器IC11的1、3、5、9、11、13端，IC9的23、32～34端接后接译码器IC12的1～3、6端，IC9的2、5～7端端接后，一路分别经电阻R4、R5、R6后接+5V电源，另一路至键盘(10)，IC10的2、4端接后一路接IC11的2、4、6、8、10、12端，另一路分别接至显示器(9)和键盘(10)，IC12的4、5端接地，IC12的7、9～15端短接后，分别接至二驱动器IC13、IC14、IC15、IC16的1、2、4、5端，IC13、IC14、IC15、IC16的3、6端短接相连后分别至显示器(9)和键盘(10)。
专利摘要本实用新型涉及一种用于测试矿井提升容器过卷缓冲、过放缓冲、防撞、托罐、罐笼承接、防坠器实验等工况的减速度的专用仪器，它包括有加速度传感器，其产生的毫伏信号，通过信号处理模块转化成单片机可接受的电压信号，经A/D转换至CPU，从而可快速测试出运行物体加速度值。该测试仪能实体采样，数据精确，运行速度快，能适应现场快速冲击试验要求。
文档编号G06F15/00GK2607578SQ0322100
公开日2004年3月24日 申请日期2003年4月5日 优先权日2003年4月5日
发明者朱真才, 秦军, 李平, 窦春雨, 杨建奎, 王雷, 陈义强 申请人:中国矿业大学