专利名称：模拟检测硬件电路的方法
技术领域：
本发明涉及一种检测硬件电路逻辑设计的方法，特别涉及一种能便利地以硬件控制指令编修检测项目的检测方法。
背景技术：
随着电子电路科学技术的蓬勃发展，以各种电子电路、微处理机来快速地处理电子形式的信息，已成为现代信息产业的核心，也是现代化信息社会赖以发展的基础。一般的信息处理系统，小至移动电话、个人数字助理(PDA，Personal Digital Assistant)，到一般最为人熟知、应用也最普遍的个人计算机，无不需要各种电子电路来处理数字电子信息。
一般而言，为了要统一信息处理的规格，信息处理系统中用来处理各种信息(尤其是应用于计算机中)的电子电路或微处理机芯片，都是根据一定标准的硬件控制指令来运作。然而，为了要集合、协调信息处理系统下各电子电路的功能，各电子电路间都是以总线来交换数据、指令与讯息，而在总线上交换的电子讯号又要符合一定的总线指令的格式。因此，电子电路本身是接收总线指令，再于电子电路中转译为对应的硬件控制指令，并依据硬件控制指令来运作。以实例来说，在计算机中的硬盘或光驱都是由一控制芯片来控制其数据存取。当计算机中的中央处理器要存取硬盘或光驱的数据时，中央处理器会通过总线将符合总线指令(如业界所熟知的EIDE总线)格式的指令传输给控制芯片；控制芯片将其转译为硬件控制指令(如业界所熟知的ATAPI指令格式)，再驱动硬盘或光驱进行对应的数据存取。
为了要确保电子电路的功能正常，电路设计者于电路设计完成之后都要通过计算机辅助电路设计(CAD)的模拟软件对设计出来的电路进行功能模拟，以确认电路是否能依照指令正常运作，并进一步修正或确认设计是否正确。正如前面所讨论的，电子电路或控制芯片实际上是接收总线指令，所以在计算机模拟的测试中，也是模拟电子电路在接受总线指令后是否能正常地做出对应的操作。在已知技术中，进行计算机模拟的测试人员要将测试的项目一一列为总线指令，再输入用来进行模拟的计算机中，以进行计算机模拟测试。然而总线指令的格式原本是方便讯号、指令在总线上交换传输所制订的格式，属于低阶的程序代码格式，其指令格式冗长难解、不仅人工输入要花许多的时间，且因其格式并不友善而容易导致误解及错误。
发明内容
因此，本发明的主要目的在提供一种具有接口程序的检测硬件电路逻辑设计的方法。通过该接口程序，使用者(测试人员)可以直接以简单的硬件控制指令产生一硬件控制指令文件；再将此硬件控制指令文件通过一编译程序转换成对应的总线指令，以简化电子电路测试的过程，克服已知技术的缺点。
为了实现本发明的目的，提供了一种检测一待测装置的方法，该方法包含有输入一控制指令；将该控制指令转译为对应的总线指令；以及模拟该待测装置接受该总线指令后的结果并与一预期值比较。
图1为本发明的方法进行的示意图。
图2A本发明接口程序中窗口接口的示意图。
图2B为图2A中命令选的示意图。
图2C为图2A中另一命令选的示意图。
附图符号说明10本发明的方法 12接口程序14转译程序 15数据库16模拟程序 18受测电路20数据模拟程序 22检查程序30窗口接口 32命令输入区34命令列37光标36、136、236、336命令选项38、138、235、237、238、239子命令选项40A、40B、40C硬件控制指令
具体实施例方式
请参阅图1，图1为本发明的计算机检测硬件电路设计的方法10流程的示意图。检测方法10可于一计算机(未图标)上实施，该计算机可执行一接口程序12、一转译程序14、一模拟程序16以模拟一受测电路18的操作。此处的受测电路18可以是硬盘或光驱的控制芯片。而接口程序12用来产生硬件控制指令22(如符合ATAPI格式的硬件控制指令)，并将硬件控制指令22输入至转译程序14。转译程序14转译(compile)硬件控制指令22以产生对应的总线指令24(如业界熟知的EIDE格式)并输入至模拟程序16。如前所述，模拟程序16模拟受测电路18接受总线指令24而反应的情况，达到测试受测电路18电路设计的功能。另外，转译程序14中还设有一数据库15，用来储存硬件控制指令与总线指令间的对应关系。如业界所熟知，一硬件控制指令往往要用许多条总线指令才能加以描述；而已知技术中，测试人员必须亲自输入总线指令给模拟程序。在本发明中，硬件控制指令与对应的总线指令相互间的对应关系可储存在数据库15中，转译程序14就可利用数据库15将硬件控制指令转译成对应的总线指令。而在本发明中，测试人员可将受测电路18待测试的项目直接以较简单、可读性也较高的硬件控制指令输入至接口程序12，再由转译程序14将硬件控制指令转译为总线指令进行模拟测试，如此测试人员就不必输入冗长、复杂可读性又较低的总线指令了。
另外，模拟程序16可执行附带的数据模拟程序20与检查程序22。若受测电路18为光驱或硬盘的控制芯片，在模拟测试的过程中，就需要模拟从控制芯片区驱动光驱或硬盘中存取数据的情形。此时模拟程序16就可执行数据模拟程序20，以模拟光驱或硬盘受控制芯片控制驱动而存取得的数据。模拟程序16中的检查程序22可接受模拟程序16模拟受测电路18操作后的结果，再检查此操作是否合乎预期的结果。若不符合，表示受测电路18的设计可能有问题了，需要进一步的确认。若检查程序22检查模拟的结果符合预期的结果，表示受测电路18的设计符合预期。
在实际使用本发明的方法时，各程序都可储存必要的文件，以利对本发明方法执行过程的追踪。如测试人员输入将待测试项目以硬件控制语言输入接口程序12后，接口程序12可以将其储存在一特定的硬件控制指令文件，方便日后的追踪；而测试人员也可藉由接口程序12改写或重新编辑此一硬件控制指令文件，以进行其它的测试项目。转译程序14在转译硬件控制指令或硬件控制指令文件后所得到的总线指令，也可储存于特定的总线指令文件中(或是将转译得到的总线指令与原始的硬件控制指令同时存在同一文件中)，以方便对本发明方法执行过程的追踪与除错。另外，数据模拟程序20也可读取硬件控制指令文件，以产生模拟过程中必须用到的数据(前述的例子，就是控制芯片驱动硬盘或光驱所存取得的数据)。
请参阅图2A，图2A为本发明接口程序12一窗口接口30的实施例的示意图。窗口接口30包含有一命令输入区32，一命令列34。命令列34包含有命令选项36、136、236与336。在接口程序12的窗口接口30时，使用者可以直接在命令输入区32输入硬件控制指令(如硬件控制指令40A、40B、40C)、或藉由命令列34的命令选项36的「文件」引入硬件控制指令文件、或加载先前存入的硬件控制指令文件；甚至是一硬件控制指令文件的模板(template)，只要将其稍加修改(如填入硬件控制指令40A、40B、40C中的空格)，就能执行不同的模拟测试。命令选项136「储存」则可将命令输入区32中的硬件控制指令储存在特定的硬件控制指令文件。命令选项336的「编译」则可将命令输入区32中的硬件控制指令以转译程序14编译成对应的总线指令，并进行模拟测试。
上述的硬件控制指令的编辑包含硬件控制指令文件的引入、文件的储存或文件内容的修改等等，所述功能可以在此窗口接口30中利用一鼠标光标37与一键盘(未显示)加以实现。
请继续参阅图2B至图2C，图2B与图2C则分别为图2A的命令选项36与236的示意图。命令选项36「文件」为一下拉式选单，该下拉式选单包含有至少一子命令选项，如「开启旧文件」38、「建立新文件」138或是「储存文件」238等等，可分别让接口程序12开启已建立的硬件控制指令文件、建立新的硬件控制指令文件或是储存编辑中的硬件控制指令文件。命令选项236「指令库」则包含有另外的子命令选项，分别代表不同的硬件控制指令，如子命令选项237、235、239分别是「读取数据」、「移动读写头」以及「伺服马达控制」。这些属于指令库的子命令选项237、235与239于选取之后即可在图2A的命令输入区32形成至少一硬件控制指令(或是好几个硬件控制指令；譬如说，「读取数据」可以在命令输入区32产生硬件控制指令40A、40B)，而建立这些硬件控制指令之后，就可以组成一硬件控制指令文件，用来记录某一待测项目所需进行的硬件控制指令。再利用图2A的编译命令选项336将该硬件控制指令文件经由编译程序统一编译以产生对应的总线指令，并进一步执行模拟测试。模拟程序16中的检查程序22检查模拟的受测电路18在接受总线指令后是否正确地执行对应的指令而产生对应的反应，并将检查的结果通过接口程序12回传给测试人员。
举例来说，若受测电路18为一光驱的控制芯片，硬件控制指令则是类似图2A中的硬件控制指令40A「Move to sector#12」(移动到第12数据区)与40B的「Read sector#12」(读取第12数据区的数据)，则测试人员在按下命令选项336的「编译」后，接口程序12就会以转译程序14将上述两硬件控制指令转译为对应的总线指令，并以模拟程序16进行模拟。同时数据模拟程序20会产生第12数据区的数据，以模拟光驱受控制芯片驱动而至光盘片的第12数据区读取得到的数据。此数据一方面会传至模拟程序16的受测电路18中，以模拟控制芯片收到光驱所传来第12数据区的数据，一方面也会传到检查程序22中，作为比较模拟结果的参考。检查程序22会进一步检查受测电路处理数据(也就是「第12数据区」的数据)的结果，并与数据模拟程序20直接产生的数据比对，以评估受测电路18是否正确地依照硬件控制指令来处理数据。评估的结果会回传至接口程序12，让测试人员得以了解模拟测试的结果。当然，本发明除了用来模拟测试上面提到的光驱控制芯片之外，其它如网络卡、键盘、鼠标等周边装置的控制芯片，也可用本发明披露的技术来测试。如同光驱控制芯片一般，这些周边装置也都要经过总线才能和中央处理器交换数据，所以这些周边装置的控制芯片也要能将总线指令转换成硬件控制指令。而本发明正可用来模拟测试这些周边装置的控制芯片。
相较于已知技术中测试人员必须要以可读性低的总线控制指令来进行模拟测试，本发明的电路逻辑设计的检测方法包含有一方便的接口程序，让测试人员能以各种方式(如直接输入、编辑已存在的文件或由指令库中选取)输入可读性较高的硬件控制指令，之后再藉由一转译程序将这些硬件控制指令转译成总线指令输入至一模拟程序。模拟程序再根据这些总线指令进行模拟测试，以完成该受测电路的功能模拟与检测。由于接口程序的设计，测试人员可直接利用比较直观的硬件控制指令，达到测试模拟受测电路功能的目标。本发明的电路检测方法在操作上远比已知技术来得容易，同时藉由储存硬件控制指令文件，随时可以加载既成的硬件控制指令文件，以针对不同的检测项目机动调整硬件控制指令文件的内容，在进行电路模拟的时程上更能节省时间；不但能确保电路设计的正确，也能减少模拟测试的时间与成本，而测试人员也可利用可读性较高的硬件控制指令文件，累积模拟测试的经验与知识。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明的权利要求所做的均等变化与修饰皆应属本发明专利的涵盖范围。
权利要求
1.一种检测一待测装置的方法，该方法包含有输入一控制指令；将该控制指令转译为对应的总线指令；以及模拟该待测装置接受该总线指令后的结果并与一预期值比较。
2.如权利要求1的方法，其中该待测装置为一光驱的控制芯片。
3.如权利要求2的方法，其中该模拟步骤还包含模拟该控制芯片控制光驱由一光盘片上读取数据的操作。
4.如权利要求1的方法，其还包括储存该模拟结果。
5.如权利要求1的方法，其还包括储存该控制指令。
6.如权利要求1的方法，其中该硬件控制指令是依据光驱驱动程序标准的指令。
7.如权利要求1的方法，其中该总线指令是依据总线数据传输标准的指令。
8.如权利要求1的方法，其中该转译程序还包含一数据库，用来储存该总线指令与该硬件控制指令间的对应关系。
全文摘要
本发明提供一种检测一待测装置的方法，该方法包含有输入一控制指令；将该控制指令转译为对应的总线指令；以及模拟该待测装置接受该总线指令后的结果并与一预期值比较。
文档编号G06F9/45GK1584849SQ200410049238
公开日2005年2月23日 申请日期2004年6月8日 优先权日2004年6月8日
发明者陈梓培 申请人:威盛电子股份有限公司