专利名称：计算机主板开关机测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种计算机主板测试系统及方法，特别涉及一种计算机主板开关机测试系统及方法。
背景技术：
随着计算机的普及，许多厂家开始大量生产计算机以满足消费者的需求，在生产计算机的过程中，往往需要做不同的测试，计算机的主板是计算机的根本所在，因此对主板的测试是各大计算机生产、制造、研发厂商的必须工作，计算机主板是否正常开关机也是计算机主板测试中很重要的测试工作。
当前有一种计算机主板测试方法，其可以测试计算机主板开关机是否正常，该方法包括下列步骤依据一预定测试程序，依序发出一测试控制命令，以控制开/关及重置该计算机主板；以及经该计算机主板的一标准界面解译一特定端口地址的写入数据，以判断该计算机主板是否正常，并记录其测试结果。
所述测试计算机主板开关机的方法，可以达到测试的目的，但是仅仅使用一次所述方法来测试计算机主板是否正常开关机还无法确保计算机的品质，因为，所述方法使用一次仅测试一次，实际过程中往往会利用所述方法或与所述类似方法重复多测试几次。然而，测试次数的增加也意味着投入的劳动力成本的增加，当计算机的量产过程中，大量计算机需要测试，使用所述方法，其测试的工作量即劳动力成本非常大，且测试作业时间的长度也非常大。
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种计算机主板开关机测试系统，该系统可以自动的多次测试计算机主板开关机是否正常并可直观显示测试的结果，从而节约测试过程的劳动力成本及测试作业时间的长度。
鉴于以上内容，还有必要提供一种计算机主板开关机测试方法，该方法可以自动的多次测试计算机主板开关机是否正常并可直观显示测试的结果，从而节约测试过程的劳动力成本及测试作业时间的长度。
一种计算机主板开关机测试系统，该系统连接于包含有一待测主板及一通用串行总线架构端口的一计算机，用于测试所述待测主板开关机是否正常，其包括一初始化设定模块，用于接收用户输入的测试次数及测试延时；一控制模块，用于根据上述测试次数及测试延时控制所述待测主板的开关机；一侦测模块，用于侦测所述待测主板开关机的系统电压是否变化；一记录模块，用于记录每次测试结束后的测试次数；及一比对模块，用于比对记录模块记录的测试次数是否达到设定的测试次数。
其中所述计算机主板开关机测试系统还包括一显示模块，用于控制一发光装置显示测试结果。
所述计算机主板开关机测试系统为一微处理器。
所述通用串行总线架构端口于所述计算机通电后，能为所述计算机主板开关机测试系统及发光装置持续提供一电压。
所述侦测模块于所述控制模块控制待测主板开机后，侦测系统电压是否降低，若侦测到系统电压降低则传送一正确信息至控制模块，使得控制模块控制待测主板关机，若没有侦测到系统电压降低，则传送一错误信息至显示模块。
所述侦测模块于所述控制模块控制待测主板关机后，侦测系统电压是否升高，若侦测到系统电压升高，则传送一正确信息至记录模块，若没有侦测到电压升高，则传送一错误信息至显示模块。
所述比对模块当记录模块记录的测试次数达到设定的测试次数时，传送一正确信息至显示模块；当记录模块记录的测试次数没有达到设定的测试次数时，传送一提示信息至控制模块，使得控制模块控制待测主板开机进行下一次测试。
一种计算机主板开关机测试方法，该方法利用所述计算机主板开关机测试系统连接所述包含通用串行总线架构端口的计算机，测试所述待测主板开关机是否正常，并利用所述发光装置显示测试结果，其包括以下步骤a.设定测试次数及测试延时；b.控制所述待测主板开机；c.侦测所述待测主板的系统电压是否降低；d.若侦测到所述系统电压降低，则发送一正确信息并控制所述待测主板关机；e.侦测所述待测主板的系统电压是否升高；f.若侦测到所述系统电压升高，则发送一正确信息并记录测试次数；g.比对记录的测试次数是否达到设定的测试次数；h.若达到设定的测试次数，则发送一正确信息并显示测试结果。
若所述步骤c或e的结果为否，则执行步骤i.发送一错误信息并显示测试结果。
若所述步骤g的结果为否，则发送一提示信息，并返回执行步骤b。
利用本发明所提供的计算机主板开关机测试系统及方法，可以自动的多次测试计算机主板开关机是否正常，并可直观显示测试的结果，无需人力跟踪测试过程，节约了量产计算机测试作业的劳动力成本及测试作业时间的长度。
图1是本发明计算机主板开关机测试系统的较佳实施例的运行环境及系统架构图。
图2是本发明计算机主板开关机测试方法的较佳实施例的实施流程图。
具体实施方式如图1所示，是本发明计算机主板开关机测试系统的较佳实施例的运行环境及系统架构图。该计算机主板开关机测试系统10连接于包含有一待测主板201及一通用串行总线架构(Universal Serial Bus，USB)端口202的计算机20、一输入装置50及一发光装置60，用于测试计算机20的待测主板201开关机是否正常，并利用发光装置60显示测试结果。计算机20用于接通电源，该计算机20通电后，所述USB端口202能为所述计算机主板开关机测试系统10及所述发光装置60持续提供一电压(一般为一5伏特电压)。计算机主板开关机测试系统10是能装载并运行软件的硬件，比如微处理器(MicroControlling Unit，MCU)，其包括一初始化设定模块101、一控制模块102、一侦测模块103、一记录模块104、一比对模块105及一显示模块106。其中初始化设定模块101用于提供给用户通过输入装置50设定测试次数及测试延时。用户通过输入装置50(如一键盘或者一数字按键器)并按照需求来设定测试次数及测试延时，比如，通过键盘设定测试次数为500次，测试延时为5秒，那么，待测主板201开机500次加上关机500次为测试500次，开机及关机的时间间隔就是设定的测试延时5秒。
控制模块102用于控制待测主板201的开关机。由于USB端口202能持续供电，该控制模块102就能够使用USB端口202提供的5伏特电压并根据用户设定的测试次数及测试延时控制待测主板201开关机。
侦测模块103用于使用USB端口202提供的电压侦测计算机待测主板201开关机的系统电压是否变化。当一个正常的计算机通电但没有运行时，该计算机的主板上的系统电压处于一个5伏特的相对高电压，当该计算机需要开机运行时，按下开机键，所述5伏特相对高电压降到0伏特相对低电压，即系统电压降低使得计算机开机运行；而关闭该计算机时，该系统电压又从0伏特升高到5伏特。因此，当控制模块102控制待测主板201开机后，侦测模块103侦测系统电压是否降低，若侦测到系统电压降低即侦测到系统电压从5伏特降到0伏特，则说明控制模块102控制待测主板201开机后，该待测主板201此次测试过程中开机正常，此时传送一正确信息至控制模块102，使得控制模块102能控制待测主板201关机；若没有侦测到系统电压降低，则说明待测主板201开机不正常，此时传送一错误信息至显示模块106。当控制模块102控制待测主板201关机后，侦测模块103再侦测系统电压是否升高，若侦测到系统电压升高即侦测到系统电压从0伏特升高到5伏特，则说明控制模块102控制待测主板201关机后，该待测主板201此次测试过程中关机正常，此时传送一正确信息至记录模块104；若没有侦测到系统电压升高，则说明该待测主板201关机不正常，此时传送一错误信息至显示模块106。
记录模块104，用于使用USB端口202提供的电压记录每次测试结束后的测试次数。该记录模块104接收来自侦测模块103传送的正确信息，记录下当前的测试次数。比如，在初始化设定模块中，设定测试次数为100次，当开始测试后，控制模块102控制待测主板201开机，侦测模块103侦测到系统电压降低，控制模块102再控制待测主板201关机，侦测模块103侦测到系统电压升高，此时，侦测模块103发送一正确信息至记录模块104，使得记录模块104记录下测试次数为第一次，依次类推，当控制模块102再控制待测主板201开关机一次时，记录模块104才记录下测试次数为第二次。假设一直记录了50次时，控制模块102控制待测主板201开机，而侦测模块103没有侦测到系统电压降低，则记录模块104接收不到侦测模块103传送的正确信息，因此只记录到50次。
比对模块105，用于使用USB端口202提供的电压比对记录模块104记录的测试次数是否达到设定的测试次数。若比对记录模块104记录的测试次数达到设定的测试次数，则说明整个测试完成，待测主板201开关机正常，此时传送一正确信息至显示模块106；若记录模块104记录的测试次数没有达到设定的测试次数，则说明整个测试过程还未完成，待测主板201还需进一步测试，此时传送一提示信息至控制模块102，使得控制模块102控制待测主板201开机进行下一次测试。比如，用户于初始化定义模块101设定测试次数为200次，记录模块104记录下的测试次数是199次，则比对模块105比对所述两个测试次数，说明还有一次测试未完成，则传送一提示信息至控制模块102，控制模块102接收到该提示信息后，控制待测主板201开机，进行最后一次测试；假设记录模块104记录下的测试次数和设定的测试次数都是200次，则比对模块传送一正确信息至显示装置60，说明待测主板201开关机正常。
显示模块106，用于使用USB端口202提供的电压，并根据侦测模块103传送的错误信息或比对模块105传送的正确信息，控制发光装置60显示测试结果。该发光装置可以是一发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)灯，可通过该发光装置60持续发亮或者闪烁来显示测试结果正常或者不正常。比如，用户设定测试次数为100次，假设当成功测试了50次后，控制模块102控制待测主板201开机准备第51次测试，开机后，侦测模块103没有侦测到系统电压降低，则侦测模块103传送一错误信息至显示模块106，显示模块106就控制LED灯就闪烁，显示待测主板201开关机不正常；假设控制模块102是第100次控制待测主板201关机，关机后，侦测模块103侦测到系统电压升高了，则记录模块104记录下测试次数为第100次，比对模块105将记录模块104记录的测试次数与用户设定的次数比对，得到一正确的结果，则显示模块106就控制LED灯持续发亮，显示该待测主板201开关机正常。其中，LED灯发亮所需的电压较低，USB端口202可提供足够的电压来使其发亮直观显示结果，其它相对低压就能发亮的灯也可以作为发光装置60，LED灯显示测试结果的方式也可以有很多种，比如利用LED闪烁次数来显示不同测试结果。
如图2所示，是本发明计算机主板开关机测试方法的较佳实施例的实施流程图。该方法利用所述计算机主板开关机测试系统10测试所述待测主板201开关机是否正常，并利用所述发光装置60显示测试结果，其包括以下步骤将所述计算机20接通电源，该计算机20通电后，所述USB端口202能为所述计算机主板开关机测试系统10及发光装置60持续提供一电压(步骤S21)。通过输入装置50于初始化设定模块101设定测试次数及测试延时，该测试次数及延时可根据用户实际需求设定；比如测试500次延时5秒，那么，待测主板201开机500次加上关机500次为测试500次，开机及关机的时间间隔为设定的测试延时5秒。(步骤S22)。控制模块102控制待测主板201开机(步骤S23)。侦测模块103侦测待测主板201的系统电压是否降低(步骤S24)。若侦测到系统电压降低，则说明控制模块102控制待测主板201开机后，该待测主板201此次测试过程中开机正常，此时，侦测模块103传送一正确信息至控制模块102，使得控制模块102控制待测主板201关机(步骤S25)。侦测模块103再侦测系统电压是否升高(步骤S26)。若侦测到系统电压升高，则说明控制模块102控制待测主板201关机后，该待测主板201此次测试过程中关机正常，此时，侦测模块103传送一正确信息至记录模块104记录当前测试次数(步骤S27)。比对模块105比对记录模块104记录的测试次数是否达到初始化设定模块101设定的测试次数(步骤S28)。若比对记录模块104记录的测试次数达到设定的测试次数，则说明整个测试完成，待测主板201开关机正常，此时传送一正确信息至显示模块106控制发光装置60显示该待测主板201开关机正常的测试结果，该发光装置可以是一LED灯，显示模块106可控制该LED灯持续发亮来显示该测试结果(步骤S29)。
进一步的若步骤S24没有侦测到系统电压降低，则说明待测主板201开机不正常，此时传送一错误信息至显示模块106控制发光装置60显示测试结果，并结束测试(步骤S210)。若步骤S26没有侦测到系统电压升高，则说明待测主板201关机不正常，此时亦执行步骤S210传送一错误信息至显示模块106控制发光装置60显示该测试结果，并结束测试。其中，该发光装置可以是上述LED灯，显示模块106可控制该LED灯闪烁来显示该待测主板201关机不正常的测试结果。若步骤S28比对记录模块104记录的测试次数没有达到设定的测试次数，则说明整个测试过程还未完成，待测主板201还需进一步测试，此时传送一提示信息至控制模块102，返回执行步骤S23控制模块102控制待测主板201开机，进行下一次测试。
权利要求
1.一种计算机主板开关机测试系统，该系统连接于包含有一待测主板及一通用串行总线架构端口的一计算机，用于测试所述待测主板开关机是否正常，其特征在于，该系统包括一初始化设定模块，用于接收用户输入的测试次数及测试延时；一控制模块，用于根据上述测试次数及测试延时控制所述待测主板的开关机；一侦测模块，用于侦测所述待测主板开关机的系统电压是否变化；一记录模块，用于记录每次测试结束后的测试次数；及一比对模块，用于比对记录模块记录的测试次数是否达到设定的测试次数。
2.如权利要求1所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述计算机主板开关机测试系统还包括一显示模块，用于控制一发光装置显示测试结果。
3.如权利要求1所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述计算机主板开关机测试系统是一个微处理器。
4.如权利要求2所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述通用串行总线架构端口于所述计算机通电后，能为所述计算机主板开关机测试系统及发光装置持续提供一电压。
5.如权利要求2所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述侦测模块于所述控制模块控制待测主板开机后，侦测系统电压是否降低，若侦测到系统电压降低则传送一正确信息至控制模块，使得控制模块控制待测主板关机，若没有侦测到系统电压降低，则传送一错误信息至显示模块。
6.如权利要求2所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述侦测模块于所述控制模块控制待测主板关机后，侦测系统电压是否升高，若侦测到系统电压升高，则传送一正确信息至记录模块，若没有侦测到电压升高，则传送一错误信息至显示模块。
7.如权利要求2所述的计算机主板开关机测试系统，其特征在于，所述比对模块当记录模块记录的测试次数达到设定的测试次数时，传送一正确信息至显示模块；当记录模块记录的测试次数没有达到设定的测试次数时，传送一提示信息至控制模块，使得控制模块控制待测主板开机进行下一次测试。
8.一种计算机主板开关机测试方法，其利用一计算机主板开关机测试系统测试安装于一计算机内的待测主板开关机是否正常，其特征在于，该方法包括以下步骤设定测试次数及测试延时；控制所述待测主板开机；侦测所述待测主板的系统电压是否降低；若侦测到所述系统电压降低，则发送一正确信息并控制所述待测主板关机；侦测所述待测主板的系统电压是否升高；若侦测到所述系统电压升高，则发送一正确信息并记录测试次数；比对记录的测试次数是否达到设定的测试次数；若达到设定的测试次数，则发送一正确信息并显示测试结果。
9.如权利要求8所述的计算机主板开关机测试方法，其特征在于，所述计算机主板开关机测试系统为一微处理器。
10.如权利要求8所述的计算机主板开关机测试方法，其特征在于，若所述步骤侦测所述待测主板的系统电压是否降低或步骤侦测所述待测主板的系统电压是否升高的结果为否，则执行步骤发送一错误信息并显示测试结果。
11.如权利要求8所述的计算机主板开关机测试方法，其特征在于，若所述步骤比对记录的测试次数是否达到设定的测试次数的结果为否，则发送一提示信息，并返回执行步骤控制所述待测主板开机。
全文摘要
本发明提供一种计算机主板开关机测试系统，该系统连接于包含有一待测主板及一通用串行总线架构端口的计算机及一发光装置，用于测试计算机的待测主板开关机是否正常，并利用所述发光装置显示测试结果，其包括一初始化设定模块、一控制模块、一侦测模块、一记录模块、一比对模块及一显示模块。本发明还提供一种计算机主板开关机测试方法。利用本发明所提供的计算机主板开关机测试系统及方法，可以自动的多次测试计算机主板开关机是否正常，并可直观显示测试的结果。
文档编号G06F11/26GK1979438SQ20051010228
公开日2007年6月13日 申请日期2005年12月9日 优先权日2005年12月9日
发明者黄永兆, 李云, 王辉, 胡可友 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司