专利名称：存储卡热插拔故障的检测方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及数码存储卡领域，具体而言，涉及一种存储卡热插 拔古丈障的4全测方法及装置。
背景技术：
手机、数码相机等数码设备在人们生活中日益普及，为了实现 对存储空间进行扩充或移动的需要，数码设备越来越多地使用了外
4妻存储卡，包括SD卡(Secure Digital Memory Card,安全数码卡)、 T卡、MMC卡(Multi Media Card,多々某体卡)等。
很多数码设备都具有存储卡热插拔功能，存储卡热插拔若出现 故障，将会严重影响用户的正常使用。统计表明用户投诉的所有手 机故障中，存储卡的相应故障增长最快，具体包括存储卡插拔无反 应、存4诸卡插入初始化异常、热插拔导致手一几死一几、存储卡热插拔 损坏等。
相关技术中提供了 一种存储卡热插拔故障的检测方法，该方法 利用人工插拔存储卡来检测热插拔故障，需要检测人员进行反复的 手动插拔操作。
现有技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽疲劳损 坏，且需配备大量才企测人员，由于检测成本4交高，故难以进4亍大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检测精度 较差。
发明内容
本发明旨在提供一种存储卡热插拔故障的冲全测方法，能够解决 相关技术中存储卡热插拔故障的才企测方法容易造成卡槽疲劳损坏， 且需配备大量检测人员，由于检测成本较高，故难以进行大批量检
测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率4交低，4企测精度4交差 的问题。
在本发明的实施例中，提供了一种存储卡热插拔故障的检测方 法，包4舌以下步骤每隔预定时间连通或切断存〗诸卡的电源以才莫拟 热插拔；对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；根据判断 结果得到热插拔故障的4企测结果。
优选地，在上述才企测方法中，4艮据判断结果得到热插拔故障的 检测结果具体包括若未发生热插拔故障，记录本次一莫拟热插拔所 产生的单次检测信息；比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小； 根据比较结果和单次检测信息得到热插拔故障的检测结果。
优选地，在上述检测方法中，根据比较结果和单次检测信息得 到热插拔故障的检测结果具体包括若模拟热插拔总次数小于次数 阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生的多个单 次检测信息得到检测结果；设置模拟热插拔总次数加一，重新开始 计时，等待下一次模拟热插拔。
优选地，在上述检测方法中，根据比较结果和单次检测信息得 到热插拔故障的4企测结果具体包括若模拟热插拔总次数大于等于 次数阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所产生的多 个单次检测信息得到检测结果；结束模拟热插拔操作。优选地，在上述检测方法中，根据判断结果得到热插拔故障的
检测结果具体包括若发生热插拔故障，记录本次才莫拟热插拔所产 生的单次检测信息；根据本次模拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所 产生的多个单次检测信息得到检测结果；结束才莫拟热插拔操作。
优选地，在上述4企测方法中，i己录本次才莫拟热插拔所产生的单 次检测信息具体包括将本次模拟热插拔所产生的单次检测信息保 存到非易失性存储器。
优选地，在上述检测方法中，每隔预定时间连通或切断存储卡 的电源具体包括i殳置晶体管开关每隔预定时间开通或关断，电源 通过晶体管开关向存储卡供电。
优选地，在上述检测方法中，每隔预定时间打开或关闭存储卡 的电源以模拟热插拔之前还包括启动热插拔故障4企测；设置次数 阈值与预定时间，将热插拔总次数清零，启动定时器开始计时
在本发明的实施例中，还提供了 一种存4诸卡热插拔故障的4企测 装置，包括模拟模块，用于每隔预定时间连通或切断存储卡的电 源以模拟热插拔；判断才莫块，用于对每次模拟热插拔，判断是否发 生热插拔故障；；险测才莫块，用于才艮据判断结果得到热插拔故障的枱r 测结果。
优选地，在上述4企测装置中，冲企测才莫块具体包括存4诸单元， 用于保存每次模拟热插拔所产生的单次检测信息；比较单元，用于
比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小。
优选地，在上述^^企测装置中，存储单元为非易失性存储器。优选地，在上述4企测装置中，还包括晶体管开关，用于控制存 储卡的电源每隔预定时间连通或切断，晶体管开关被i殳置为每隔预 定时间开通或关断，电源通过晶体管开关向存储卡供电。
优选地，在上述4企测装置中，包括启动才莫块，用于启动热插 拔故障检测；设置才莫块，用于设置次数阈值与预定时间，将热插拔 总次^:清零，启动定时器开始计时。
上述实施例通过连通或切断存j渚卡的电源来才莫拟存〗渚卡的热插 拔以完成热插拔故障检测，进而降低了检测成本，有利于大批量冲企 测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度， 所以克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽 疲劳损坏，且需配备大量冲企测人员，由于才企测成本较高，故难以进 行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检 测精度较差的问题。
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申 请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并 不构成对本发明的不当限定。在附图中
图1示出了才艮据本发明第一实施例的检测方法的流程图2示出了根据本发明第二实施例的存储卡供电示意图3示出了才艮据本发明第三实施例的才全测初始化的流程图4示出了才艮据本发明第四实施例的^r测方法的流程图5示出了根据本发明第五实施例的检测装置的结构图。
具体实施例方式
下面将参考附图并结合实施例，来详细i兌明本发明。
图1示出了根据本发明第一实施例的检测方法的流程图，该方
法包4舌以下步艰钇
步骤SlOl，每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热插
拔；
步骤S102，对每次一莫拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；
步驶艮S103， 4艮据判断结果得到热插拔古允障的才全测结果。
本实施例首先每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热 插拔，对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障，然后根据判 断结果得到热插拔故障的检测结果，其中，当连通存储卡电源时， 数据设备首先检测到存储卡插入，然后加载存储卡设备；当切断存 储卡电源时，数据设备首先检测到存储卡拔出，然后卸载存储卡设 备。由于本实施例通过连通或切断存储卡的电源来模拟存储卡的热 插拔以完成热插拔故障检测，进而降低了检测成本，有利于大批量 检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度， 所以克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法容易造成卡槽 疲劳损坏，且需配备大量检测人员，由于检测成本较高，故难以进 行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检 测精度较差的问题。
优选地，在上述检测方法中，步骤S103具体包括若未发生 热插拔故障，记录本次模拟热插拔所产生的单次检测信息；比较模 拟热插拔总次数与次数阈值的大小；根据比较结果和单次检测信息 得到热插拔故障的4企测结果。本实施例的热插拔才莫拟中未发生热插拔故障，则i己录本次才莫拟 热插拔所产生的单次检测信息，然后比较模拟热插拔总次数与次数 阈值的大小，最后根据比较结果和单次检测信息得到热插拔故障的 检测结果。这样做，使得每次模拟热插拔的检测信息被保留下来， 为存储卡热插拔故障的检测与分析提供了依据。
优选地，在上述4企测方法中，才艮据比4交结果和单次;险测信息得 到热插拔故障的检测结果具体包括若模拟热插拔总次数d、于次数 阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生的多个单 次检测信息得到检测结果；设置模拟热插拔总次数加一，重新开始 计时，等待下一次^t拟热插拔。
本实施例中本次才莫拟热插拔未发生热插拔故障，且热插拔总次 数小于次数阈值，则根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所 产生的多个单次检测信息得到检测结果，并设置模拟热插拔总次数 加一，重新开始计时，等待下一次模拟热插拔。这样做，使得当本 次热插拔未发生热插拔故障且已进行的模拟热插拔次数不太多时， 令才莫拟热插拔总次lt加一，并重新开始计时，等待下一次一莫拟热插 拔，即继续执行模拟热插拔的循环，有利于复现存储卡的热插拔故 障，提高检测精度。
优选地，在上述检测方法中，根据比较结果和单次检测信息得 到热插拔故障的检测结果具体包括若模拟热插拔总次数大于等于 次数阈值，根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生的多 个单次检测信息得到检测结果；结束模拟热插拔操作。
本实施例中本次模拟热插拔未发生热插拔故障，且热插拔总次 数大于等于次数阈值，则根据本次模拟热插拔及之前多次模拟热插 拔所产生的多个单次检测信息得到检测结果，并结束才莫拟热插拔操 作，等4寺用户揭:耳又4企测结果。虽然本次热插拔未发生热插拔故障，但是已进行的模拟热插拔次数过多，可认为已经取得了足够多的检 测信息，故退出模拟热插拔的循环，在保证检测精度的前提下，节 约了存储卡热插拔故障才企测的时间成本。
优选地，在上述检测方法中，步骤S103具体包括若发生热 插拔故障，记录本次模拟热插拔所产生的单次检测信息；根据本次 模拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所产生的多个单次;险测信息得到 检测结果；结束模拟热插拔操作。
本实施例中本次模拟热插拔发生热插拔故障，首先记录本次模 拟热插拔所产生的单次检测信息，然后综合之前的多个单次检测信 息得到检测结果，最后结束^^莫拟热插拔操作，等待用户提取检测结 果。本次模拟热插拔发生热插拔故障，即热插拔故障得以复现，此 时得到的检测结果中记录了热插拔故障的检测信息，对该检测结果 进行分析可实现对热插拔故障的定位，从而更好地解决造成热插拔 故障的原因，从根本上解决存储卡热插拔故障的问题。
优选地，在上述一企测方法中，记录本次才莫拟热插拔所产生的单 次检测信息具体包括将本次模拟热插拔所产生的单次检测信息保 存到非易失性存储器。
本实施例采用非易失性存储器保存本次模拟热插拔所产生的单 次检测信息，非易失性存储器比如Flash存储器(闪存)。这样做， 使得模拟热插拔产生的检测信息得到安全、完善的保护，避免了由 于使用普通存储器而造成的检测信息丢失的问题。
优选地，在上述检测方法中，步骤S101具体包括设置晶体 管开关每隔预定时间开通或关断，电源通过晶体管开关向存储卡供 电。本实施例在电源与存4诸卡之间i殳置了 一个晶体管开关，并通过 设置晶体管开关每隔预定时间开通或关断，来控制存储卡电源的连 通或关断。i殳置晶体管开关的石更件实现简单，不Y义避免了手动反复 插拔存储卡，实现了对存储卡热插拔的模拟，而且由于晶体管开关 的开关速度较高，故提高了对存储卡热插拔的模拟频率，进而提高 了热插拔故障的复现率和^全测效率。
图2示出了根据本发明第二实施例的存储卡供电示意图，本实 施例中采用基带芯片的GPIO (General Purpose Input Output,通用
输入/llr出)口对晶体管开关实施控制。参见图2，电源将电源信号
202发送到晶体管开关，基带芯片的GPIO 口将基带芯片内部产生 控制晶体管开关开通和关断的GPIO控制信号201发送到晶体管开 关，晶体管开关输出电源信号203发送到存储卡，即当GPIO控制 信号201为开通信号时，晶体管开关开通，电源与存储卡之间的电 连接连通，电源通过电源信号202和晶体管开关输出电源信号203 向存储卡供电；当GPIO控制信号201为关断信号时，晶体管开关 关断，电源与存4诸卡之间的电连4秦;波切断，电源信号202在晶体管 开关处^皮切断，电源ot匕时无法向存4诸卡供电。
优选地，在上述片企测方法中，步骤S101之前还包括启动热 插拔故障检测；设置次数阈值与预定时间，将热插拔总次数清零， 启动定时器开始计时。
本实施例在步-骤S101之前，首先由用户启动热"^拔古丈障枱，测， 然后设置次数阈值与预定时间，并将热插拔总次数清零，启动定时 器开始计时。这样做，使得用户可以选择是否需要启动热插拔故障 检测，提高了热插拔故障检测的灵活性，另外采用定时器进行计时 易于实现。图3示出了根据本发明第三实施例的检测初始化的流程图，本 实施例中的数码设备比如为手机，检测初始化包括以下步骤
步备聚S301，手才几开才几后，在空闲(Idle)状态等^寺用户^喿作；
步骤S302,用户设置是否启动热插拔故障才全测，若启动则转到 步骤S304;
步骤S303,用户进4亍其他才喿作，无需进4亍热插拔故障4企测，直 接转到结束；
步骤S304，设置预定时间、次数阈值、记录检测信息等参数， 手机准备进入热插拔故障检测，在非易失性存储器中存储热插拔预 定时间参婆丈；
步骤S305,在非易失性存储器中存储热插拔总次数参数；
步艰《S306，手一几对定时器进4于初始4b，启动定时器开始计时；
步骤S307，手机进入空闲状态，等待定时器计数到预设延时。
图4示出了根据本发明第二实施例的才佥测方法的流程图，本实 施例中的数码设备比如为手机，该检测方法包括以下步骤
步-骤S401，用户i殳置是否启动热插拔古丈障;险测，若启动则转到 步骤S403;
步骤S402，用户进行其他操作，无需进行热插拔故障检测，直 接转到结束；
步驶《S403，定时器开始计时；步骤S404，判断定时器是否到达预定时间，若未到达，则转回 步骤S404;
步骤S405,判断存储卡是否处于插入状态，若不处于插入状态， 则專争到步艰《S409;
步骤S406,若存储卡处于插入状态，则手机准备进行模拟热拔 出，通过基带芯片GPIO 口切断存储卡电源；
步骤S407，存储卡断电，手机检测到存储卡拔出操作；
步骤S408，手机卸载存储卡设备，删除存储卡的相关信息，将 原先存储空间设置为存储卡的目录修改为手机存储区；
步骤S409,在非易失性存储器中保存本次模拟热插拔的单次检 测信息，包括卸载存储卡是否成功，存储卡相关信息是否已从手 机删除，相关目录设置是否已经设置为手机存储区；
步骤S410，若存储卡不处于插入状态，则手机准备进行模拟热 插入，通过基带芯片GPIO连通存储卡电源；
步骤S411，存储卡上电，手机检测到存储卡插入操作；
步骤S412,手机初始化存储卡，加载存储卡设备，手机读出存 储卡相应信息，将原先存储空间设置为手才几存储区的目录修改为存 储卡存储区；
步骤S413,在非易失性存储器中保存本次模拟热插拔的单次检 测信息，包括；加载存储卡是否成功，存储卡相关信息是否已读出， 相关目录设置是否已经设置为存储卡存储区，各种与卡交互操作是 否正常；步骤S414，判断本次热插拔是否发生热插拔故障，若发生，则 转到步骤S417;
步骤S415，判断热插拔总次数是否小于次数阈值，若不小于， 则转到步骤S417;
步骤S416,根据本次及之前多次模拟热插拔所产生的多个单次 检测信息得到检测结果；
步骤S417，手机继续进行热插拔测试，将热插拔总次数加后存 入非易失性存储器，转到步骤S403;
步骤S418，才艮据本次及之前多次才莫拟热插拔所产生的多个单次 氺企测信息得到4企测结果；
步骤S419，手机结束模拟热插拔操作，进入待机状态，等待用 户提取检测结果。
图5示出了根据本发明第五实施例的检测装置的结构图，该装 置包括
才莫拟才莫块io,用于每隔预定时间连通或切断存〗诸卡的电源以才莫 拟热插拔；
判断模块20，用于对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故
障；
检测模块30,用于根据判断结果得到热插拔故障的检测结果。
本实施例首先采用才莫拟才莫块10每隔预定时间连通或切断存储 卡的电源以模拟热插拔，然后采用判断才莫块20对每次才莫拟热插拔， 判断是否发生热插拔故障，最后采用检测模块30根据判断结果得到热插拔故障的检测结果。由于本实施例通过连通或切断存储卡的电 源来模拟存储卡的热插拔以完成热插拔故障检测，进而降低了检测 成本，有利于大批量检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的 复现效率和检测精度，所以克服了相关技术中存储卡热插拔故障的 检测方法容易造成卡槽疲劳损坏，且需配备大量检测人员，由于检 测成本较高，故难以进行大批量检测，从而造成对存储卡热插拔故 障的复现效率较低，检测精度较差的问题。
优选地，在上述检测装置中，检测模块具体包括存储单元，
用于保存每次模拟热插拔所产生的单次检测信息；比较单元，用于 比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小。
本实施例釆用存储单元保存每次模拟热插拔所产生的单次检测 信息，采用比较单元比较模拟热插拔总次数与次数阈值的大小。这 样做，使得每次模拟热插拔的检测信息被保留下来，为存储卡热插 拔故障的检测与分析提供了依据，并且支持根据模拟热插拔总次数 与次数阈值的不同大小关系采取不同的检测措施，进一步提高了检 测精度。
优选地，在上述检测装置中，存储单元为非易失性存储器。
本实施例中的存储单元采用非易失性存储器，非易失性存储器 比如Flash存储器(闪存)。这样做，使得模拟热插拔产生的检测信 息得到安全、完善的保护，避免了由于使用普通存储器而造成的检 测信息丢失的问题。
优选地，在上述^r测装置中，还包括晶体管开关，用于控制存 储卡的电源每隔预定时间连通或切断，晶体管开关被设置为每隔预 定时间开通或关断，电源通过晶体管开关向存储卡供电。本实施例采用晶体管开关控制存储卡电源的连通与切断。晶体 管开关的设置不仅避免了手动反复插拔存储卡，实现了对存储卡热 插拔的^t拟，而且由于晶体管开关的开关速度较高，故提高了对存 储卡热插拔的模拟频率，进而提高了热插拔故障的复现率和检测效率。
优选地，在上述冲企测装置中，包括启动才莫块，用于启动热插 拔故障检测；设置模块，用于设置次数阈值与预定时间，将热插拔 总次数清零，启动定时器开始计时。
本实施例采用启动才莫块启动热插拔故障;险测，采用"i殳置才莫块设 置次数阈值与预定时间，将热插拔总次数清零，启动定时器开始计 时。这样估丈，z使得用户可以选冲奪是否需要启动热插拔故障4企测，才是 高了热插拔故障检测的灵活性，另外采用定时器进行计时易于实现。
从以上的描述中，可以看出，本发明上述的实施例降低了检测 成本，有利于大批量检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的 复现效率和4企测精度。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或 各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算 装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们 可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储
在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成 电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模 块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的石更件和软件结合。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明， 对于本领i或的4支术人员来i兌，本发明可以有各种更改和变化。凡在页
本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等， 均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种存储卡热插拔故障的检测方法，其特征在于，包括以下步骤每隔预定时间连通或切断所述存储卡的电源以模拟热插拔；对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；根据判断结果得到所述热插拔故障的检测结果。
2. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，4艮据判断结果 得到所述热插拔故障的检测结果具体包括若未发生所述热插拔故障，记录本次才莫拟热插拔所产生的 单次4金测信息；比较所述模拟热插拔总次数与次数阈值的大小；根据比较结果和所述单次检测信息得到所述热插拔故障 的4佥测结果。
3. 根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，4艮据比较结果 和所述单次检测信息得到所述热插拔故障的4企测结果具体包 括若所述模拟热插拔总次数小于所述次数阈值，根据所述本 次冲莫拟热插拔及之前多次才莫拟热插拔所产生的多个单次才企测 信息得到检测结果；设置所述^t拟热插拔总次^t加一，重新开始计时，等^f寺下 一次模拟热插拔。
4. 根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据比较结果 和所述单次检测信息得到所述热插拔故障的检测结果具体包 括若所述模拟热插拔总次数大于等于所述次数阈值，根据所 述本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生的多个单次检测信息得到检测结果； 结束模拟热插拔操作。
5. 根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，才艮据判断结果 得到所述热插拔故障的检测结果具体包括若发生所述热插拔故障，记录本次纟莫拟热插拔所产生的单 次才企测信息；根据所述本次模拟热插拔及之前多次模拟热插拔所产生 的多个单次检测信息得到检测结果；结束模拟热插拔操作。
6. 根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，记录本次才莫拟 热插拔所产生的单次检测信息具体包括将所 述本次一莫拟热插拔所产生的所述单次4全测信息4呆存 到非易失性存储器。
7. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，每隔预定时间 连通或切断所述存^诸卡的电源具体包才舌i殳置晶体管开关每隔所述预定时间开通或关断，所述电源 通过所述晶体管开关向所述存储卡供电。
8. 根据权利要求1-7中任一项所述的检测方法，其特征在于，每 隔预定时间打开或关闭所述存储卡的电源以模拟热插拔之前 还包括启动热4#拔*史障4企测；设置次数阈值与预定时间，将热插拔总次数清零，启动定 时器开始计时。
9. 一种存储卡热插拔故障的检测装置，其特征在于，包括模拟模块，用于每隔预定时间连通或切断所述存储卡的电 源以模拟热插拔；判断模块，用于对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔 故障；检测模块，用于根据判断结果得到所述热插拔故障的检测 结果。
10. 根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述检测才莫块 具体包括存储单元，用于保存每次^^莫拟热插拔所产生的单次一企测信息；比较单元，用于比较所述模拟热插拔总次数与次数阈值的 大小。
11. 根据权利要求10所述的检测装置，其特征在于，所述存储单 元为非易失性存储器。
12. 根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，还包括晶体管 开关，用于控制所述存^f诸卡的电源每隔所述预定时间连通或切断，所述晶体管开关^C没置为每隔所述预定时间开通或关断， 所述电源通过所述晶体管开关向所述存4诸卡供电。
13.根据权利要求9-12中任一项所述的检测装置，其特征在于， 还包括启动才莫块，用于启动热插拔故障4企测；设置模块，用于设置次数阈值与预定时间，将热插拔总次 凄t清零，启动定时器开始计时。
全文摘要
本发明提供了一种存储卡热插拔故障的检测方法，包括以下步骤每隔预定时间连通或切断存储卡的电源以模拟热插拔；对每次模拟热插拔，判断是否发生热插拔故障；根据判断结果得到热插拔故障的检测结果。本发明还提供了一种存储卡热插拔故障的检测装置，包括模拟模块；判断模块；检测模块。本发明克服了相关技术中存储卡热插拔故障的检测方法对存储卡热插拔故障的复现效率较低，检测精度较差的问题，进而降低了检测成本，有利于大批量检测的进行，从而提高了存储卡热插拔故障的复现效率和检测精度。
文档编号G06F11/22GK101615152SQ20091015897
公开日2009年12月30日 申请日期2009年7月13日 优先权日2009年7月13日
发明者周永喜, 张晓峰, 晔 戴, 伟 黄 申请人:中兴通讯股份有限公司