专利名称：测试覆盖率的评估系统及其方法
技术领域：
本发明涉及一种测试覆盖率的评估系统及其方法，属于集成电路板级生产测试领域。
背景技术：
随着集成电路的工艺尺寸的日益缩小和电路复杂度的不断提高，特别是片上系统 (System-on-Chip, SoC)的出现和广泛应用，超大规模集成电路的集成度已经发展到一个芯片上可以集成几千万个晶体管以上的程度。所以，探索和应用低成本、高效率的测试技术和测试系统已成为芯片测试中的一个重要课题。由于电路板或芯片设计人员通常不是测试专家，他们很少或者甚至不了解电路板或芯片应该如何去测试，鉴于此，可测性设计的概念便被引入到板级、芯片级的设计中来， 以保证电路板或芯片的可靠性及稳定性。同样，对于测试人员而言，面对日益复杂的集成电路设计，他们也很难评估基于现有的测试技术是否可以覆盖到所有的设计缺陷。众所周知，一旦电路板或芯片的设计完成、电路板制造完成、芯片投片完成，重新来改变可测性设计逻辑的可能性微乎其微。另外，这种重设计将不可避免地产生额外费用， 并且对产品进度的会产生很大的影响。因此，如何在电路板或芯片设计完成之前，尽可能早的获知电路板或者芯片的测试覆盖率的情况，是一件非常重要的事情。现有的测试覆盖率的评估系统在搜集被评估对象的相关信息时存在诸多不便，因为这些信息的来源各不相同，比较分散，在搜集过程中存在大量的部门数据交换，给管理和信息安全方面带来了很多不便，大大降低了整个评估准备阶段的效率。并且，只要以上这些信息中的部分有所缺失或不准确时，整个设计就会被认定为不完全，这也将直接影响到最后覆盖率评估的准确性。因此，有必要对现有的测试覆盖率的评估系统及其方法进行改良。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种效率较高的测试覆盖率的评估系统及其方法。为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案一种测试覆盖率的评估系统，其包括覆盖率评估数据库及数据录入界面，被评估对象的相关信息通过数据录入界面而被录入覆盖率评估数据库，通过数据录入界面可以对被评估对象的相关信息进行修改；所述评估系统对被评估对象的相关信息进行解析，以获取对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容同样存储到所述覆盖率评估数据库中，所述覆盖率评估数据库设有与被评估对象相匹配的评估规则。作为本发明的进一步改进，所述数据录入界面对应于不同的数据来源部门，被评估对象的相关信息由这些数据来源部门提供。
作为本发明的进一步改进，被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。作为本发明的进一步改进，所述评估系统包括检验界面，所述检验界面用以检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。作为本发明的进一步改进，所述评估系统包括覆盖率界面，所述覆盖率界面用以定位被评估对象的设计缺陷。为解决上述技术问题，本发明还可以采用如下技术方案一种测试被评估对象的覆盖率的方法，其包括如下步骤
Si，建立一个覆盖率评估数据库；
S2，提供数据录入界面，供用户向覆盖率评估数据库中录入被评估对象的相关信息； S3，将上述被评估对象的相关信息进行解析，获取其中对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容存储到之前已经建立好的覆盖率评估数据库中； S4，制定评估规则；
S5，启动评估操作，得到被评估对象的覆盖率报告。作为本发明的进一步改进，步骤S5之前还包括通过检验界面对被评估对象的相关信息进行检查的步骤，其中该步骤检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。作为本发明的进一步改进，步骤S2中，所述数据录入界面对应于多个用户，在被评估对象的设计过程中，用户可以通过数据录入界面不断的录入已经设计完备的相关信息及修改之前已经录入的相关信息。作为本发明的进一步改进，步骤S2中被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。作为本发明的进一步改进，步骤S5之后还包括通过覆盖率界面对被评估对象的设计缺陷进行定位的步骤。相较于现有技术，本发明通过设置覆盖率评估数据库，极大的方便了用户通过数据录入界面向覆盖率评估数据库中录入用于评估的原数据，进而提高了数据利用率和处理效率。
图1是本发明测试覆盖率的评估系统的图表示意图。图2是覆盖率评估数据库所包括的模块图。图3是本发明测试覆盖率的评估方法的大体流程图。图4是本发明测试覆盖率的评估方法的具体流程图。
具体实施例方式请参图1所示，本发明测试覆盖率的评估系统，其包括覆盖率评估数据库1及数据录入界面2。被评估对象(例如电路板或芯片)的相关信息通过数据录入界面2而被录入
4覆盖率评估数据库1中。在被评估对象的整个设计过程中，不同的用户(在本实施方式中为提供被评估对象相关信息的各个数据来源部门)都可以通过数据录入界面2对被评估对象的相关信息进行补充或者修改。所述数据录入界面2对应于不同的数据来源部门，以方便其录入被评估对象的原数据。所述评估系统对被评估对象的相关信息进行解析，以获取对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容同样存储到所述覆盖率评估数据库 1中。被评估对象的相关信息分为逻辑和物理设计信息、可测性设计及测试技术信息、 测试系统及测试环境信息等。请参图2所示，所述逻辑和物理设计信息包括材料清单11、电路板或芯片网表信息12、电路板布局布线信息13、边界扫描器件信息14、非边界扫描器件(例如，簇型非边界扫描器件)信息15、测试需求信息16、芯片内部测试相关模块的基本信息(例如，Serdes 模块的基本信息、可编程存储内建自测试模块的基本信息等)。所述边界扫描器件信息14 与非边界扫描器件信息15属于元器件信息17，所述边界扫描器件信息14包括器件模块级信息141。可测性设计及测试技术信息是指所有用于覆盖故障点的加入测试技术集合，例如，在线测试(In-Circuit Test)、边界扫描测试(Boundary-Scan Test)、测试流测试 (TestJet iTest)、自动 X 射线检测(Automated X-Ray hspection，AXI)、及自动光学检验 (Automated Optical Inspection, AOI)等。测试系统及测试环境信息主要是指运用不同的测试技术时所需要搜集的相关信息。由于运用不同的测试技术时需要搭建的测试平台及使用的测试仪器是不同的，特别是当测试系统中多块电路板之间的互连关系时，更加需要测试人员搜集到相关的信息。所述覆盖率评估数据库1设有与被评估对象相匹配的评估规则。本发明测试覆盖率的评估系统还包括检验界面及覆盖率界面，其中检验界面用以对原数据的格式及其内容进行检查，所述覆盖率界面用以定位被评估对象的设计缺陷。请参图3所示，大体上，本发明测试覆盖率的评估系统包括如下评估流程搜集被评估对象的相关信息、制定评估规则、实施评估操作、生成及分析评估结果。相较于现有技术，本发明测试覆盖率的评估系统设有一个高性能、大容量的覆盖率评估数据库1。该覆盖率评估数据库1与一个或者多个数据录入界面2及检验界面相连， 其中，数据录入界面2供各个用户向覆盖率评估数据库1内录入不同部分、不同种类、不同用途的用于评估的原数据，从而解决了现有技术中因被评估对象的相关信息比较分散，搜集效率低的问题。检验界面用以对原数据的格式及其内容进行检查，以判断所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确，保证了数据的准确性。通过设置覆盖率评估数据库1， 纷繁复杂的数据便得到了合理地分类和管理，从而提高了数据的利用率和处理效率。请参图3所示，本发明测试覆盖率的评估方法主要包括如下步骤 Si，建立一个覆盖率评估数据库1(例如，数据库中央服务器)；
S2，提供数据录入界面2，供用户向覆盖率评估数据库1中录入被评估对象的相关信息；所述数据录入界面2对应于多个用户，在被评估对象的整个设计过程中，用户可以通过数据录入界面2，不断地录入已设计完备的信息或者修正之前已经录入覆盖率评估数据库 1中的信息，比如材料清单11、电路板或芯片网表信息12、电路板布局布线信息13、边界扫描器件信息14、非边界扫描器件信息15、测试需求信息16、芯片内部测试相关模块的基本
信息等等；
S3，将上述被评估对象的相关信息进行解析(在本实施方式中，本发明的系统将上述录入的相关信息自动解析)，获取其中对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容进行整理、分类，然后存储到之前已经建立好的覆盖率评估数据库1中； S4，制定评估规则；
S5，启动评估操作，得到被评估对象的覆盖率报告。在步骤S5之前(在本实施方式中为在步骤S4之前)还包括通过检验界面对被评估对象的相关信息进行检查的步骤，其中该步骤检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确，例如，可以通过电路板布局布线示意图来检验材料清单11、电路板网表信息 12及电路板布局布线信息13是否完备或正确，也可以通过模块级树型示意图来检验芯片级模块的基本信息是否完备或正确。当用户确认评估准备数据完备且正确时，就可以执行步骤S5。在得到被评估对象的覆盖率报告之后，本发明的方法还包括通过覆盖率界面对被评估对象的设计缺陷进行定位的步骤(即，生成及分析评估结果)。当然，针对不同的测试技术所获得的覆盖率需要指定不同的评估规则，例如评估板级互连覆盖率时，评估的对象就是那些电路板上连接各个元器件的连接线，此时覆盖率的计算公式可以是以下几种
(a).被任意测试覆盖到的连接线数目/所有连接线数目；
(b).被任意测试覆盖到的连接线数目/所有可测连接线数目；
(c).被边界扫描1149.1标准覆盖到的连接线数目/所有可测连接线数目；
(d).被边界扫描1149.6标准覆盖到的连接线数目/所有可测连接线数目；
(e).被某测试间接覆盖到的连接线数目/所有可测连接线数目。同样，对于评估存储器模块的覆盖率来说，存储器本身的容量将成为评估覆盖率时的一个重要因素。本发明测试覆盖率的评估系统及其方法的受众群广泛，主要有集成电路及硬件工程师、测试诊断工程师、制造工程师、及合同制造商。对于集成电路及硬件工程师来说，在设计的早期阶段，本发明可以帮助他们检查板级、芯片级覆盖率结果，评估当前的测试设计状态，每一个测试技术对于最后成品质量保证的贡献，并且检查是否有缺失的测试。如果可以将电路板或者芯片的测试需求、未覆盖的测试漏洞尽可能早的反馈到设计阶段的话，可以大大提高最后产品的良品率，也节省了大量的重设计时间。对于测试诊断工程师来说，在初始化调试时可以快速的了解被测试产品所支持的测试技术，从而及时准备好所有测试配置文件及其测试用例，大大缩短了整个测试阶段的流程。对于制造工程师来说，他们可以更加容易理解测试需求和测试方案，更加直观地了解电路板的布局布线和测试环境，提高了产品线测试的效率。对于合同制造商来说，当遇到一个问题并且缺少现场应用工程师的支持时，也可以根据本发明来尝试解决问题，提高了效率，并且降低了成本。综上所述，本发明通过设置覆盖率评估数据库1，极大的方便了用户录入用于评估的原数据，提高了数据利用率和处理效率。另外，覆盖率界面为用户图形界面，进而更直观、 更高效的帮助用户完成板级、芯片级综合覆盖率评估。并且，由于受众群广泛，不同的受众群都可以通过本发明得到有用信息，方便用户调整可测性设计，从而提高覆盖率。
综上所述，以上仅为本发明的较佳实施例而已，不应以此限制本发明的范围，即凡是依本发明权利要求书及发明说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆应仍属本发明专利涵盖的范围内。
权利要求
1.一种测试覆盖率的评估系统，其特征在于，包括覆盖率评估数据库及数据录入界面，被评估对象的相关信息通过数据录入界面而被录入覆盖率评估数据库，通过数据录入界面可以对被评估对象的相关信息进行修改；所述评估系统对被评估对象的相关信息进行解析，以获取对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容同样存储到所述覆盖率评估数据库中，所述覆盖率评估数据库设有与被评估对象相匹配的评估规则。
2.如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于所述数据录入界面对应于不同的数据来源部门，被评估对象的相关信息由这些数据来源部门提供。
3.如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。
4.如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于所述评估系统包括检验界面，所述检验界面用以检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。
5.如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于所述评估系统包括覆盖率界面，所述覆盖率界面用以定位被评估对象的设计缺陷。
6.一种测试被评估对象的覆盖率的方法，其包括如下步骤Si，建立一个覆盖率评估数据库；S2，提供数据录入界面，供用户向覆盖率评估数据库中录入被评估对象的相关信息；S3，将上述被评估对象的相关信息进行解析，获取其中对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容存储到之前已经建立好的覆盖率评估数据库中；S4，制定评估规则；S5，启动评估操作，得到被评估对象的覆盖率报告。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于步骤S5之前还包括通过检验界面对被评估对象的相关信息进行检查的步骤，其中该步骤检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于步骤S2中，所述数据录入界面对应于多个用户，在被评估对象的设计过程中，用户可以通过数据录入界面不断的录入已经设计完备的相关信息及修改之前已经录入的相关信息。
9.如权利要求6所述的方法，其特征在于步骤S2中被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。
10.如权利要求6所述的方法，其特征在于步骤S5之后还包括通过覆盖率界面对被评估对象的设计缺陷进行定位的步骤。
全文摘要
本发明揭示了一种测试覆盖率的评估系统及其方法，所述评估系统包括覆盖率评估数据库及数据录入界面，被评估对象的相关信息通过数据录入界面而被录入覆盖率评估数据库，通过数据录入界面可以对被评估对象的相关信息进行修改；所述评估系统对被评估对象的相关信息进行解析，以获取对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容同样存储到所述覆盖率评估数据库中。本发明的有益效果是通过设置覆盖率评估数据库，极大的方便了用户录入用于评估的原数据，提高了数据利用率和处理效率。
文档编号G06F17/50GK102567551SQ20101058716
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月14日 优先权日2010年12月14日
发明者唐飞 申请人:苏州工业园区谱芯科技有限公司