专利名称：Flex二级总线集成电路测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测试领域，特别涉及一种FLEX 二级总线集成电路测试系统。
背景技术：
现有技术中FLEX 二级总线集成电路测试系统主要包括上位控制电脑、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、专用插槽、模拟测试选件、数字测试选件以及测试卡接口，如图1所示。上位控制电脑和系统电源分别与模拟总线背板和数字总线背板连接，模拟总线背板和数字总线背板都设有专用插槽，分别对应插接模拟测试选件和数字测试选件，每个模拟测试选件通过线缆(Cable)和测试卡接口连接，每个数字测试选件直接通过数字总线背板和测试卡接口连接。上位控制电脑作为主控部分，负责运行和控制整个FLEX 二级总线集成电路测试系统。所述模拟测试选件模组和数字测试选件模组包括多个测试选件，每个测试选件负责完成不同的功能，如:电压测试、电流测试、频率测试、数字测试等。所有的模拟测试选件统一插在模拟总线背板上，所有的数字测试选件统一插在数字总线背板上，分别与上位机电脑通讯。测试信号通过测试卡接口输出到外部目标器件，或输入到测试头内部的各个测试选件中进行处理。上位控制电脑根据各个测试选件测得的数据，分析目标器件的各个测试参数是否符合测试程序预设的要求，判断目标器件是否合格，并将测试结果通过GPIB或TTL、RS232等接口与外部的探针台(Prober)或 机械手(Handler)通讯,实现目标器件的测试分选。现有技术存在以下问题:1.数字测试选件采用线缆(Cable)方式与测试卡接口连接，容易产生信号衰减、引入干扰等，无法实现高速的数字测试。2.由于不同的线缆接口是不一样的，所以也会造成外部测试卡接口的不统一。3.测试选件采用自定义总线结构与通用总线背板连接，每个测试选件固定在特定的通用总线背板槽位中，不具有系统的灵活扩展性与灵活配置性。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种FLEX 二级总线集成电路测试系统，使得整个系统的数模总线相互隔离，互不影响，从而提高测试的效率和精度。为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种FLEX 二级总线集成电路测试系统，包含:上位控制电脑、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟测试选件模组及数字测试选件模组；其中，所述模拟总线背板上设有模拟通用接口插槽，所述模拟测试选件模组通过所述模拟通用接口插槽与所述模拟总线背板连接；[0013]所述数字总线背板上设有数字通用接口插槽，所述数字测试选件模组通过所述数字通用接口插槽与所述数字总线背板连接；所述上位控制电脑和所述系统电源均与所述模拟总线背板和所述数字总线背板连接。作为进一步改进，所述模拟测试选件模组包括多个模拟测试选件，其中每一个模拟测试选件上均设有与所述模拟通用接口插槽相配套的总线接口 ；所述数字测试选件模组包括多个数字测试选件；其中每一个数字测试选件均设有与所述数字通用接口插槽相配套的总线接口。作为进一步改进，还包含:器件接口板；所述器件接口板具有被测设备DUT接口；所述模拟测试选件或/和所述数字测试选件通过所述器件接口板上的DUT接口与目标器件连接。作为进一步改进，所述上位控制电脑通过PCI总线、接口板与所述模拟总线背板和所述数字总线背板连接。作为进一步改进，所述上位控制电脑通过PCI总线、通用总线接口与外部的探针台或机械手通讯。作为进一步改进，所述模拟总线背板和所述模拟测试选件模组放置于模拟机箱内，所述数字总线背板和所述数字测试选件模组放置于数字机箱内。数字机箱独立于模拟机箱外，可以方便移动，并可以很容易的实现Docking测试。
作为进一步改进，所述模拟总线背板、所述数字总线背板、所述模拟测试选件模组、所述数字测试选件模组、所述器件接口板集成在所述测试头内。作为进一步改进，所述测试头安装在所述数字机箱内；所述上位控制电脑通过所述数字机箱与所述测试头通讯。作为进一步改进，所述系统电源通过所述数字机箱与所述测试头连接。与现有技术相比较，本实用新型具有以下优点:1、通过模拟总线背板和数字总线背板分别连接模拟测试选件模组和数字测试选件模组，使得整个系统的数模总线相互隔离，互不影响，从而提高测试的效率和精度。2、抛弃数字测试选件模组通过线缆与测试卡接口连接的方式，有效缩短数字测试选件与目标器件之间的信号传输距离。3、整个系统采用数模总线分开设计，所有的模拟测试选件都插在模拟总线背板上，所有的数字测试选件都插在数字总线背板上，并分别和上位机相连，互不影响。4、整个系统采用通用总线设计，所有的模拟测试选件可以在模拟总线背板的总线插槽中任意插放，所有的数字测试选件可以在数字总线背板的总线插槽中任意插放。5、每个数字测试选件上的探针连接器和数字测试选件的数字总线接口同方向设计，这样可以将数字总线背板与器件接口板结合为一体。6、测试头为可移动，便于与外部的探针台(PiOber)或机械手(Handler)进行连接。
[0033]图1是与现有技术中集成电路测试系统的连接示意图；图2是根据本实用新型的一较佳实施方式的FLEX 二级总线集成电路测试系统的连接示意图；图3是根据本实用新型的一较佳实施方式的FLEX 二级总线集成电路测试系统的系统结构不意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。本实用新型的实施方式涉及一种FLEX 二级总线集成电路测试系统，如图2和图3所示，包括:上位控制电脑U、系统电源12、模拟总线背板13A、数字总线背板13D、模拟通用接口插槽14A、数字通用接口插槽14D、模拟测试选件模组15A、数字测试选件模组15D、器件接口板16 (DIB)以及被测设备(DUT)接口 17。其中，模拟总线背板13A上设有模拟通用接口插槽14A，模拟测试选件模组15A通过模拟通用接口插槽14A与模拟总线背板13A连接；数字总线背板13D上设有数字通用接口插槽14D，数字测试选件模组I 通过数字通用接口插槽14D与数字总线背板13D连接；上位控制电脑和系统电 源均与模拟总线背板和数字总线背板连接。也就是说，上位控制电脑11和系统电源12分别连接到模拟总线背板13A和数字总线背板13D上。上位控制电脑11用于控制整个测试系统的工作，根据模拟测试选件模组15A和数字测试选件模组I 测量的数据，分析目标器件的各个测试参数是否符合预设的要求，判断目标器件是否合格，并将测试结果与外部的探针台(Prober)或机械手(Handler)通讯，实现目标器件18的测试分选。在本实用新型的较佳实施例中，上位控制电脑11通过PCI总线(PCI BUS)、接口板(Interface Board)与模拟总线背板13A和数字总线背板13D连接。上位控制电脑11通过PCI总线、通用总线接口(GPIB, General-Purpose Interface Bus)与外部的探针台或机械手通讯。系统电源12为整个测试系统供电。模拟测试选件模组15A包括多个模拟测试选件，其中每一个模拟测试选件上均设有与模拟通用接口插槽相配套的总线接口 ；模拟总线背板13A上设有通用模拟接口插槽14A，通用模拟接口插槽14A是可供模拟测试选件进行任意插槽插放的总线插槽。通过该通用模拟接口插槽14A可与多个模拟测试选件进行连接。每个模拟测试选件通过器件接口板16以及DUT接口 17与目标器件18连接。也就是说，本实用新型的测试系统还包含:器件接口板，该器件接口板具有DUT接口，模拟测试选件通过器件接口板上的DUT接口与目标器件连接。DUT接口 17是一种允许用户自定义的信号接口，其可与被测目标器件接触，完成测试系统对被测目标器件18的信号施加和目标器件18输出信号的测量。同样地，数字测试选件模组MD包括多个数字测试选件，其中每一个数字测试选件均设有与数字通用接口插槽相配套的总线接口。数字总线背板13D上设有通用数字接口插槽14D，通用数字接口插槽14D是可供数字测试选件进行任意插槽插放的总线插槽。通过该通用数字接口插槽14D可与多个数字测试选件进行连接。每个数字测试选件也通过器件接口板16以及DUT接口 17与目标器件18连接。每个数字测试选件直接通过接口与器件接口板16相连，器件接口板16与DUT17连接，有效缩短了数字测试选件模组MD与目标器件18之间的信号传输距离。在本实用新型中，模拟测试选件模组15A和数字测试选件模组15D中每个测试选件均设置了与器件接口板16相连的接口以及与通用模拟接口插槽14A和通用数字接口插槽14D相配套的通用总线接口。每个模拟或者数字测试选件上的连接接口都和其对应的测试选件的总线接口相同，并将数字总线背板13D与器件接口板16结合为一体。此外，值得一提的是，模拟总线背板和模拟测试选件模组放置于模拟机箱内，数字总线背板和数字测试选件模组放置于数字机箱内。也就是说，模拟测试选件和数字测试选件分别放置于两个独立的测试机箱内，有效的减少了数字和模拟信号之间的干扰。在本实用新型的实际应用中，可将模拟总线背板13A、数字总线背板13D、通用模拟接口插槽14A、通用数字接口插槽14D、模拟测试选件模组15A和数字测试选件模组15D、器件接口板16(DIB)以及DUT接口 17均集成到一个测试头内，测试头可以安装在数字机箱内。上位控制电脑11和系统电源12可通过走线与测试头通讯连接。上位控制电脑11可控制测试头在操控支架的轨道上升降或者旋转，便于与外部的探针台或机械手进行衔接。与现有技术相比，本实用新型提供的FLEX 二级总线集成电路测试系统具有如下优点:1、通过模拟总线背板和数字总线背板分别连接模拟测试选件模组和数字测试选件模组，使得整个系统的数模总线相互隔离，互不影响，从而提高测试的效率和精度。2、抛弃数字 测试选件模组通过线缆与测试卡接口连接的方式，有效缩短数字测试选件与目标器件之间的信号传输距离。3、整个系统采用数模总线分开设计，所有的模拟测试选件都插在模拟总线背板上，所有的数字测试选件都插在数字总线背板上，并分别和上位机相连，互不影响。4、整个系统采用通用总线设计，所有的模拟测试选件可以在模拟总线背板的总线插槽中任意插放，所有的数字测试选件可以在数字总线背板的总线插槽中任意插放。5、每个数字测试选件上的探针连接器和数字测试选件的数字总线接口同方向设计，这样可以将数字总线背板与器件接口板结合为一体。6、测试头为可移动，便于与外部的探针台(PiOber)或机械手(Handler)进行连接。本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。
权利要求1.一种FLEX 二级总线集成电路测试系统，其特征在于，包含:上位控制电脑、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟测试选件模组及数字测试选件模组； 其中，所述模拟总线背板上设有模拟通用接口插槽，所述模拟测试选件模组通过所述模拟通用接口插槽与所述模拟总线背板连接； 所述数字总线背板上设有数字通用接口插槽，所述数字测试选件模组通过所述数字通用接口插槽与所述数字总线背板连接； 所述上位控制电脑和所述系统电源均与所述模拟总线背板和所述数字总线背板连接。
2.根据权利要求1所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述模拟测试选件模组包括多个模拟测试选件，其中每一个模拟测试选件上均设有与所述模拟通用接口插槽相配套的总线接口； 所述数字测试选件模组包括多个数字测试选件；其中每一个数字测试选件均设有与所述数字通用接口插槽相配套的总线接口。
3.根据权利要求2所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，还包含:器件接口板； 所述器件接口板具有被测设备DUT接口； 所述模拟测试选件或/和所述数字测试选件通过所述器件接口板上的DUT接口与目标器件连接。
4.根据权利要求1所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述上位控制电脑通过PCI总线、接 口板与所述模拟总线背板和所述数字总线背板连接。
5.根据权利要求1所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述上位控制电脑通过PCI总线、通用总线接口与外部的探针台或机械手通讯。
6.根据权利要求1至5任一项所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述模拟总线背板和所述模拟测试选件模组放置于模拟机箱内，所述数字总线背板和所述数字测试选件模组放置于数字机箱内。
7.根据权利要求1至5任一项所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述模拟总线背板、所述数字总线背板、所述模拟测试选件模组、所述数字测试选件模组、所述器件接口板集成在测试头内。
8.根据权利要求7所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述测试头安装在所述数字机箱内； 所述上位控制电脑通过所述数字机箱与所述测试头通讯。
9.根据权利要求8所述的FLEX二级总线集成电路测试系统，其特征在于，所述系统电源通过所述数字机箱与所述测试头连接。
专利摘要本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种FLEX二级总线集成电路测试系统。本实用新型包含上位控制电脑、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟测试选件模组及数字测试选件模组；其中，模拟总线背板上设有模拟通用接口插槽，模拟测试选件模组通过模拟通用接口插槽与模拟总线背板连接；数字总线背板上设有数字通用接口插槽，数字测试选件模组通过数字通用接口插槽与数字总线背板连接；上位控制电脑和系统电源均与模拟总线背板和数字总线背板连接。通过模拟总线背板和数字总线背板分别连接模拟测试选件模组和数字测试选件模组，使得整个系统的数模总线相互隔离，互不影响，从而提高测试的效率和精度。
文档编号G06F11/267GK203133818SQ201320068748
公开日2013年8月14日 申请日期2013年2月6日 优先权日2013年2月6日
发明者毛国梁, 马劼 申请人:上海宏测半导体科技有限公司