一种提高硬盘可靠性的方法
【专利摘要】本发明公开了一种提高硬盘可靠性的方法，包括：获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度、性能、运行时间以及功耗，获取硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A、B、C以及功耗对应隶属值的最小值D，获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD，其中a=0.1，b=0.2，c=0.3，d=0.4，改变磁盘阵列的大小，并重复上述步骤，以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。与现有的方法相比，本发明的方法可以降低百分之二十到三十的温度。可以有效地减少硬盘错误率，提高硬盘的可靠性。
【专利说明】—种提高硬盘可靠性的方法
【技术领域】
[0001]本发明属于计算机存储领域，更具体地，涉及一种提高硬盘可靠性的方法。
【背景技术】
[0002]存储系统正面临着巨额电费和高错误率等问题，而这些都与存储系统的过高温度有关，实验统计发现温度在很大程度上影响硬盘的寿命。针对能耗较大的问题，当前存储系统的节能策略是尽可能将负载集中到少数的硬盘，让更多的硬盘处于休眠状态，减少高速旋转引起的能耗。即关注于少量硬盘上的大量负载，但这种策略会导致高负载硬盘始终处于高温工作状态，引起硬盘故障率急剧上升。并且在少量硬盘上进行过多的IO操作可能会导致硬盘间温度的差异，这样系统不能有效地制冷。与CPU相比，在现有条件下对存储系统进行温度控制更为困难，首先，存储系统中的温度和电量之间的关系是非线性和离散的，这就给温度控制带来了极大的计算量；其次，存储系统反应慢的特点决定了在精确控制下，系统很容易进入不稳定状态；最后，对硬盘的管理还必须考虑磁盘的使用次数有限。另外，温度的提高会使存储系统就面临性能瓶颈。因此，控制温度从而提高存储设备可靠性具有很重大的意义。
【发明内容】
[0003]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种提高硬盘可靠性的方法，其目的在于通过引入温度预测和反馈机制，有效提高存储设备的可靠性。
[0004]为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种提高硬盘可靠性的方法，包括以下步骤:
[0005](I)获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，包括温度(tO, tl,…，tn)、性能(pO, pl,…，pn)、运行时间(oO, ol,…，on)和功耗(c0, cl,…，cn),其中η表不米样点的数量；
[0006](2)计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度(Tttl, Ttl，...，^、性能^抑，。，…，Ρρη)、运行时间(0。。，O01,…，Om)以及功耗(CcQ，Ccl,…，Ccn)；
[0007](3)获取步骤(2)获得的硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A=(Tt0+Tt+..+Ttn)/n、B= (Pt0+Ptl+~+Ptn)/n、C= (0tQ+0tl+…+0tn)/n 以及功耗对应隶属值的最小值D ；
[0008](4)获取该硬盘阵列的聚合值 F=aA+bB+cC+dD,其中 a=0.1, b=0.2, c=0.3, d=0.4 ；
[0009](5)改变磁盘阵列的大小,重复上述步骤(1)至(4)，以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。
[0010]优选地，步骤(2)具体采用以下公式:
【权利要求】
1.一种提高硬盘可靠性的方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)获取不同采样时刻硬盘阵列的参数，包括温度(to,tl,…，tn)、性能(pO, pi,…，pn)、运行时间(oO, ol,…，on)和功耗(cO, cl,…，cn),其中η表不米样点的数量； (2)计算不同采样时刻硬盘阵列的参数所对应的隶属值，包括温度(Tttl,Ttl,…，Ttn)、性能(PpQ，Ppl,…，Ppn)、运行时间(0。。，O01,…，Om)以及功耗(CcQ，Ccl,…，Ccn)； (3)获取步骤(2)获得的硬盘温度、性能、运行时间对应的隶属值的平均值A=(Tt0+Tt+..+Ttn)/n、B= (Pt0+Ptl+~+Ptn)/n、C= (0tQ+0tl+…+Otn)/n 以及功耗对应隶属值的最小值D ；
(4)获取该硬盘阵列的聚合值F=aA+bB+cC+dD,其中 a=0.1, b=0.2, c=0.3, d=0.4 ； (5)改变磁盘阵列的大小，重复上述步骤(1)至(4)，以获取不同大小磁盘阵列对应的聚合值，并找到使聚合值最大对应的磁盘阵列作为最可靠的磁盘阵列。
2.根据权利要求1所述的，其特征在于，步骤(2)具体采用以下公式:
【文档编号】G06F3/06GK103761057SQ201410024967
【公开日】2014年4月30日 申请日期:2014年1月20日 优先权日:2014年1月20日
【发明者】吴非, 谢长生, 周建, 李想 申请人:华中科技大学