一种SPI接口调试方法与流程

本发明涉及SoC领域，特别是涉及一种使用SPI接口对SoC进行调试的方法和装置。

背景技术：

SoC全称是（System on Chip），意为片上系统，也称为芯片级系统，是将系统关键部件集成在一块芯片上。

SPI接口全称是（Serial Peripheral Interface），意为串行外围接口，是Motorola公司首先在其处理器上定义的。

随着SoC设计的日益复杂，调试工作在SoC设计中所占的比例越来越大。现今的SoC中大多支持SPI接口协议，并且一般的芯片都会提供几条边界扫描链，用来实现测试功能。倘若能使用SPI接口读写扫描链上的寄存器来实现对SoC进行调试，则能最大化利用SPI接口和减少其它调试接口的数量。

技术实现要素：

基于上述情况，本发明提出了一种SPI接口调试方法和装置，应用本方法和装置，能够实现通过SPI接口进行对SoC芯片进行调试，向芯片内部指定位置读写数据。

本发明是通过下述技术方案来实现SPI接口对SoC芯片进行调试的：

一种SPI接口调试方法，其特点在于使用SPI接口对芯片内部信号进行读写，该方法包括以下步骤：

101、SPI接收外部输入数据；

102、判断SoC系统是否为调试模式，若SoC系统为非调试模式，则进入步骤103；若SoC系统为调试模式，则进入步骤104;

103、进行正常的SPI数据传输；

104、将接收到的数据进行解码，得到读写模式，操作地址，数据；

105、对步骤104得到的读写模式进行判断，若为写模式则进入步骤106；若为读模式则进入步骤107；

106、将步骤104解码得到的数据写到步骤S4得到的操作地址中；

107、往步骤104得到的操作地址读数据，将读到的数据通过SPI接口进行输出。

附图说明

图1为一个实施例中的SPI接口调试方法流程示意图；

图2为一个实施例中的SPI接口调试装置结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参见图1，在一个实施例中提供了一种SPI接口调试方法。该方法包括：

步骤101，SPI接收外部输入数据。

具体的，通过SPI接口MOSI接收输入的数据，在调试模式下，写模式的输入数据格式为：串行16位命令地址CMD[15:0]，紧接着输入串行16位数据DATA[15:0]；其中串行输入的16位命令地址中，最高位CMD[15]为读写标志位，该位置0以标志着调试模式是写模式；CMD[14:0]为写操作地址；DATA[15:0]写入的数据；

在调试下，读模式的输入数据格式为串行16位命令地址CMD[15:0]；其中串行输入的16位命令地址的最高位CMD[15]为读写标志位，该位置1以标志着调试模式是读模式。

步骤102，判断SoC系统是否为调试模式。

通过检测SoC芯片的调试使能信号是否有效，来判断系统是否进入调试状态；若测试使能信号有效，则标志系统为调试模式；若测试使能信号无效，则系统为非调试模式。

步骤103，进行正常的SPI读写操作。

步骤104，对SPI接收到的数据进行解码，得到读写模式，地址，数据。

具体的，在一个实施例中，对CMD[15]进行判断，为1则为读操作，为0则为写操作。将CMD[14:0]中的数据标记为操作地址，将DATA[15:0]中的数据标记为写数据。

105，判断读写模式，在一个实施例中，对CMD[15]进行判断，为1则为读操作，为0则为写操作。

106，将步骤104解码得到的数据写到步骤S4得到的操作地址中。

107，往步骤104得到的操作地址读数据，将读到的数据通过SPI接口进行输出。

上述SPI接口调试方法，能够实现通过SPI接口进行对SoC芯片进行调试，向芯片内部指定位置读写数据，最大化利用SPI接口和减少其它调试接口的数量。

参见图2，在一个实施例中提供了一种SPI接口调试装置。该装置包括：

SPI数据接收单元201，用于接收从SPI接口输入的数据。

系统状态判断单元202，用于判断SoC芯片的系统是否为调试模式。

数据处理解码单元203，用于对输入的数据进行解码，得到SPI调试的读写模式、操作地址、数据。

读写模式判断单元204，用于判断SPI调试的模式。

读写寄存器单元205，用于根据数据解码单元得到的读写模式、操作地址、数据，来对芯片的边界扫描寄存器进行读写操作。

在一个实施例中，SPI数据接收单元201，接收数据的方法为：

通过SPI接口MOSI接收输入的数据，在调试模式下，写模式的输入数据格式为：串行16位命令地址CMD[15:0]，紧接着输入串行16位数据DATA[15:0]；其中串行输入的16位命令地址中，最高位CMD[15]为读写标志位，该位置0以标志着调试模式是写模式；CMD[14:0]为写操作地址；DATA[15:0]写入的数据；

在调试下，读模式的输入数据格式为串行16位命令地址CMD[15:0]；其中串行输入的16位命令地址的最高位CMD[15]为读写标志位，该位置1以标志着调试模式是读模式。

在一个实施例中，系统状态判断单元202，通过检测SoC芯片的调试使能信号是否有效，来判断系统是否进入调试状态；若测试使能信号有效，则标志系统为调试模式；若测试使能信号无效，则系统为非调试模式。

在一个实施例中，数据处理解码单元203，用于对串行输入命令的最高位CMD[15]进行判断，若为1则为标志着读操作，若为0则标志着为写操作；将串行输入命令CMD[14:0]中的数据标记为操作地址，将DATA[15:0]中的数据标记为写数据。

在一个实施例中，读写寄存器单元205，用于根据数据解码单元得到的读写模式、操作地址、数据，来对芯片的边界扫描寄存器进行读写操作。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。