太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法的制作方法

技术特征：

1.一种太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，其特征在于，太赫兹系统测试信号为时域信号时，去除频谱散射线具体步骤包括为：

1)检测系统在未放置样品的情况下，扫描得到太赫兹时域参考信号R_Time(t)，对其进行傅里叶变换后，得到参考频域信息R_Time(ω)，根据平均频率计算公式求得参考频谱信号平均频率μ_{r_Time}；

2)在相同的检测系统中，放置被测样品后，扫描得到太赫兹时域测试信号S_{S_Time}(t)，对其进行傅里叶变换后，得到测试频域信息S_{S_Time}(ω)，根据平均频率计算公式求得测试频谱信号平均频率μ_{S_Time}；

3)计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的特征谱线α_Time(ω)；

4)计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的频谱散射线α_{S_Time}(ω)；

5)用步骤3)所得实际测得的被测样品特征谱线减去频谱散射线α_{S_Time}(ω)，得到最终的样品特征谱。

2.根据权利要求1所述太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，其特征在于，太赫兹系统测试信号为频域信号时，去除频谱散射线具体步骤包括为：A：检测系统在未放置样品的情况下，直接获得参考频谱信号R_Freq(ω)，根据平均频率计算公式，求得参考频谱信号平均频率μ_{r_Freq}；

B：在相同的检测系统中，放置被测样品后，获得被测频谱信息S_{S_Freq}(ω)；同样，根据平均频率计算公式，求得测试频谱信号平均频率μ_{s_Freq}；

C：计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的特征谱线α_Freq(ω)；

D：计算得采集信号为时域信息的太赫兹系统检测颗粒样品时的频谱散射线α_{S_Freq}(ω)；

E：用步骤C所得实际测得的被测样品特征谱线减去频谱散射线α_{S_Freq}(ω)，得到最终的样品特征谱。

3.根据权利要求1或2所述太赫兹波检测颗粒样品频谱散射线的去除算法，其特征在于，所述太赫兹系统检测颗粒样品时的频谱散射线α_S(ω)公式如下：

${\mathrm{\α}}_S\left(\mathrm{\ω}\right)=\frac{\mathrm{\π}({{\mathrm{\μ}}_r}^2-{{\mathrm{\μ}}_S}^2)}{4{{\mathrm{d\μ}}_r}^2{{\mathrm{\μ}}_S}^2}{\mathrm{\ω}}^2,$

其中μ_r为根据平均频率计算公式求得参考频谱信号平均频率，μ_S为根据平均频率计算公式求得测试频谱信号平均频率，d为为被测样品的厚度。